Procedimiento para Medir Indice de Refraccion

Universidad de Costa Rica
Facultad de Ingeniería
Escuela de Ingeniería Eléctrica
IE – 0502 Proyecto Eléctrico
PROCEDIMIENTO DE MEDICIÓN DE ÍNDICE

DE REFRACCIÓN EN PLÁSTICOS Y VIDRIOS
PARA EL LAFTLA
Por:
IVÁN BRIZUELA GUTIÉRREZ
Ciudad Universitaria Rodrigo Facio

7 del 2005
PROCEDIMIENTO DE MEDICIÓN DE ÍNDICE
DE REFRACCIÓN EN PLÁSTICOS Y VIDRIOS
PARA EL LAFTLA
Por:
IVÁN BRIZUELA GUTIÉRREZ
Sometido a la Escuela de Ingeniería Eléctrica

de la Facultad de Ingeniería
de la Universidad de Costa Rica
como requisito parcial para optar por el grado de:
BACHILLER EN INGENIERÍA ELÉCTRICA
Aprobado por el Tribunal:
___________________
Ing. Luis Diego Marín Naranjo M.Sc.
Profesor Guía
___________________ ___________________
Ing. Guillermo Rivero González M.Sc. Prof. Neville Clark Binns M.Sc.
Profesor Lector Profesor Lector
ii
RECONOCIMIENTOS
Agradezco al profesor Luis Diego Marín Naranjo por su apoyo, ayuda y paciencia
durante todo el semestre, por suministrar una guía abierta y flexible, respetando mi trabajo
y mis decisiones.
iii
ÍNDICE GENERAL
ÍNDICE DE FIGURAS...................................................................................vi
ÍNDICE DE TABLAS.................................................................................. viii
NOMENCLATURA........................................................................................ix
RESUMEN........................................................................................................x
CAPÍTULO 1: Introducción ...........................................................................1
1.1 Objetivo General.....................................................................................................1
1.1.1 Objetivos específicos ......................................................................................2
1.2 Metodología ............................................................................................................2
CAPÍTULO 2: Desarrollo teórico ..................................................................3
2.1 El índice de refracción complejo ............................................................................3
2.2 El índice de refracción y la óptica geométrica........................................................7
2.4 Fenómenos que afectan el índice de refracción ....................................................11
2.4.1 Dispersión .....................................................................................................11
2.4.2 Absorción......................................................................................................13
2.4.3 Anisotropía....................................................................................................15
2.4.4 No linealidad.................................................................................................16
2.4.5 Inhomogenidad .............................................................................................16
2.5 El índice de refracción negativo ...........................................................................16
2.6 Interferencia ..........................................................................................................18
2.6.1 Interferometría ..............................................................................................21
2.6.2 El interferómetro de Michelson ....................................................................24
2.7 Telémetros de Tiempo de Viaje.........................................................................27
CAPÍTULO 3: Procedimientos de medición ...............................................28
3.1 Procedimiento utilizando Óptica Geométrica................................................................28
3.2 Procedimiento por medio de Interferometría.................................................................30
3.3 Procedimiento por medio de la técnica de Tiempo de Viaje ........................................32
3.3.1 Preparación del equipo.........................................................................................32
3.3.2 Calibración...........................................................................................................34
3.3.3 Medición ..............................................................................................................36
CAPÍTULO 4: Reparación del Aparato de velocidad de la Luz...............38
4.1 Equipo.............................................................................................................................38
4.2 Análisis del circuito receptor ..........................................................................................40
iv
4.2.1 Amplificador de Corriente BJT con retroalimentación .......................................40
4.2.2 Amplificador de Transresistencia de 1 etapa .......................................................43
4.2.3 Circuito de corte y limitación ..............................................................................45
4.3 Reparación .....................................................................................................................46
CAPÍTULO 5: Resultados experimentales..................................................51
5.1 Formas de onda obtenidas..............................................................................................52
CAPÍTULO 6: Conclusiones y recomendaciones .......................................54
BIBLIOGRAFÍA............................................................................................56
ANEXOS .........................................................................................................58
v
ÍNDICE DE FIGURAS
Figura 2.1 Rayo incidente, relejado y transmitido en la frontera entre dos medios ...............8
Figura 2.2 Índice de refracción de l cuarzo fundido a 18°C con respecto al vació5 .............10
Figura 2.3 El experimento de interferencia de Young5 ........................................................21
Figura 2.4 Esquema de un interferómetro10 ..........................................................................22
Figura 2.5 Analogía al experimento de Young10 ..................................................................23
Figura 2.6 Diagrama completo del interferómetro de Michelson13 ......................................25
Figura 2.7 Patrón de interferencia13 ......................................................................................26
Figura 3.1 Diagrama de montaje utilizando óptica geométrica4 ...........................................28
Figura 3.2 Interferómetro en modo Michelson13 ..................................................................30
Figura 3.3 Diagrama del interferómetro con la mesa giratoria13 ..........................................31
Figura 3.4 Pulso de referencia 11 ...........................................................................................34
Figura 3.5 Alineamiento de los trazos de los canales 1 y 2 del osciloscopio 11 ...................35
Figura 3.6 Pulso de referencia y pulso transmitido a través de una de fibra 11.....................36
Figura 4.1 Circuito impreso del Aparato de Velocidad de la Luz11 .....................................38
Figura 4.2 Circuito esquemático del Aparato de Velocidad de la Luz11 ..............................39
Figura 4.3 Esquemático del circuito receptor 11 ...................................................................40
Figura 4.4 Inversor BJT Simple............................................................................................41
Figura 4.5 Seguidor de voltaje BJT ......................................................................................42
Figura 4.6 Amplificador de Corriente BJT con retroalimentación.......................................42
Figura 4.7 Amplificador de transresistencia de 1 etapa........................................................44
Figura 4.8 Circuito de corte y limitación..............................................................................45
Figura 4.9 Circuito para probar el fotodiodo ........................................................................46
Figura 4.10 Señal en el emisor del transistor del transmisor ................................................47
Figura 4.11 Receptor en proto y transmisor del circuito impreso ........................................48
Figura 4.12 Pulsos de referencia y transmitido a través de una fibra de 20m. .....................49
Figura 4.13 Configuración Darlington..................................................................................50
Figura 4.14 Pulsos de referencia y transmitido a través de una fibra de 20m. .....................50
vi
Figura 5.1 Pulsos de referencia y transmitido a través de una fibra de 20m. .......................52
Figura 5.4 Pulsos de referencia y transmitido a través de una fibra de 2m. .........................53
vii
ÍNDICE DE TABLAS
Tabla 2.1 Algunos índices de refracción5 .............................................................................10

Tabla 2.2 Índice de refracción del agua como función de la longitud de onda15..................12
Tabla 5.1 Resultados experimentales....................................................................................51
viii
NOMENCLATURA
BJT Transistor de unión Bipolar (siglas en ingles)

ISO Organización internacional para la estandarización (siglas en ingles)
LAFTLA Laboratorio de Fotónica y tecnología laser aplicada
POF Fibra óptica plástica (siglas en ingles)
TLC Tratado de libre comercio
ix
RESUMEN
Es importante la elaboración de un documento de procedimientos para la medición
de índices de refracción de materiales ópticos transparentes para el LAFTLA, requerido
para el proyecto de metrología óptica que se desarrolla. Este documento será de gran
ayuda para servicios a la industria de plásticos y vidrios específicamente. En este trabajo se
documentan y analizan tres métodos diferentes: óptica geométrica, interferometría y tiempo
de Viaje.
Se documenta además, una pequeña investigación bibliográfica del índice de
refracción, acerca de las propiedades, características y fenómenos que lo afectan.
Se realiza una reparación del equipo de laboratorio llamado Aparato de Velocidad
de la Luz y se realizan varias mediciones para verificar el funcionamiento del equipo y del
procedimiento. Es importante que este equipo trabaje con transistores nuevos, con altos
valores de ganancia de corriente en pequeña señal para que su funcionamiento sea optimo,
además sería muy conveniente que estos dispositivos se monten sobre bases para
transistores, para facilitar posibles reparaciones futuras.
x
CAPÍTULO 1: Introducción
Es importante definir un procedimiento normalizado para la medición de índices de
refracción de materiales ópticos transparentes para el Laboratorio de Fotónica y Tecnología
Láser, requerido para el proyecto de metrología óptica que se desarrolla. Este documento
será de gran ayuda para servicios a la industria de plásticos y vidrios específicamente.
Debido a que del índice de refracción de un material depende la cantidad de luz que
es reflejada, absorbida o como se afecta algún parámetro del campo óptico, es importante
analizar y probar con equipo existente en el laboratorio, tres métodos para establecer con
base a un patrón conocido, la exactitud de cada uno. Los métodos son: por óptica
geométrica, por tiempo de viaje y por interferometría. Se harán pruebas sobre muestras de
vidrio, plásticos y fibras ópticas de vidrio y plástico.
La guía se realizara dentro del programa de investigación en el LAFTLA y bajo la
supervisión del profesor M.Sc Luis Diego Marín Naranjo.
1.1 Objetivo General
Elaborar un documento de procedimientos para la medición del índice de refracción
de plásticos y vidrios utilizando equipo del LAFTLA para proyectos de servicio en
metrología óptica
1
1.1.1 Objetivos específicos
Describir la teoría y aplicación del índice de refracción en la metrología óptica.
Analizar diferentes métodos para medición de índice de refracción como óptica
geométrica, tiempo de viaje e interferometría.
Reparar el equipo medidor de la velocidad de la luz en una fibra óptica.
Verificar la veracidad y exactitud del procedimiento de Tiempo de Viaje mediante
una comparación de laboratorio con los datos proporcionados por un fabricante
1.2 Metodología
Durante las primeras cuatro semanas del semestre escolar se trabajara en el
desarrollo teórico del proyecto, utilizando tanto bibliografía del profesor como de la
Universidad. Las siguientes 7 semanas se trabajarán en el laboratorio con un mínimo de 2
horas por semana bajo la supervisión del profesor guía, los miércoles de 8 a 10 am. Las
últimas cinco semanas se trabajara en la redacción de los capítulos adicionales del trabajo.
2
CAPÍTULO 2: Desarrollo teórico
2.1 El índice de refracción complejo
El parámetro utilizado para describir la interacción de la radiación electromagnética
con la materia es el índice de refracción complejo n~ , el cual es una combinación de una
parte real y una parte imaginaria
n~ = n − iκ (2.1-1)
Donde n es llamado índice de refracción, y κ es llamado coeficiente de extinción. Como se
vera mas adelante κ está directamente relacionado (κ ≈ α ) al coeficiente de absorción α
del medio. En un material dieléctrico como el vidrio, muy poca luz es absorbida, por lo
tanto κ ≈ 0 .
El índice de refracción de un material es el factor por el cual la radiación
electromagnética es “frenada” (con respecto al espacio libre) cuando pasa a través de un
material. El índice de refracción para un material en general está dado por:
εµ
n= = ε r µr (2.1-2)
ε 0 µ0
Donde µr es la permeabilidad relativa del material.
La permeabilidad indica el grado de magnetización de un material que responde
linealmente a un campo magnético. La permeabilidad magnética es representada con el
símbolo µ y µ0 es la permeabilidad del espacio libre.
3
Para un material no magnético y para frecuencias ópticas (µr =1), el cuadrado del
índice de refracción es la constante dieléctrica ε del material, algunas veces expresada
como la permitividad relativa εr del material multiplicada por la permitividad del espacio
libre ε0.
n = εr (2.1-3)
Esta ecuación muestra que si n es complejo entonces εr también debe ser complejo,
por lo tanto se puede definir la constante dieléctrica compleja ε~r :
ε~r = ε 1 + iε 2 (2.1-4)
Por analogía con la ecuación (2.1-3), se puede observar que n~ y ε~r están
relacionadas por:
n~ 2 = ε~r (2.1-5)
Con este resultado se pueden obtener las relaciones explicitas entre las partes reales
e imaginarias de n~ y ε~r , combinando las ecuaciones (2.1-1), (2.1-4) y (2.1-5)
ε1 = n 2 − κ 2 (2.1-6)
ε 2 = 2nκ (2.1-7)
( ( ))
1
1 2 2 2
n= ε 1 + ε 21 + ε 2 (2.1-8)
2
4
( ))
1
ε=
1
2
(
− ε 1 + ε 21 + ε 2
2 2 2
(2.1-9)
Se puede notar que si el medio es poco absorbente se puede suponer que κ ≈ 0 lo
que simplifica (2.1-8) y (2.1-9) a:
n = ε1 (2.1-10)
ε2 (2.1-7)
κ=
2n
Estas ecuaciones muestran que el índice de refracción es básicamente determinado
por la parte real de la constante dieléctrica, mientras que la absorción es básicamente
determinada por la parte imaginaria. Esta generalización no es valida para materiales o
medios con alto coeficiente de absorción.
La velocidad de toda radiación electromagnética en el vació es la misma,
2,99792458 × 10 8 metros por segundo y es denotada por c. Así, si υ es la velocidad de fase
de una radiación a una frecuencia especifica en un material especifico, el índice de
refracción estará dado por:
c
n= (2.1-11)
υ
La velocidad de fase de una onda es la razón a la cual la fase de una onda se
propaga en el espacio. Esta es la velocidad a la cual la fase de cualquier componente de
5
frecuencia de la onda se propaga. La velocidad de fase está dada en términos de la
frecuencia angular de la onda y el vector de onda k:
ω
υp = (2.1-12)
k
El índice de refracción es generalmente mayor que la unidad, entre más denso es el
material, mas es “frenada” la luz. Sin embargo a ciertas frecuencias (rayos X) n será menor
que la unidad. Esto no contradice la Teoría de la Relatividad, la cual sostiene que ninguna
señal portadora de información puede propagarse más rápido que c, ya que la velocidad de
fase no es la misma que la velocidad de grupo o la velocidad de la señal. La velocidad de
grupo es la razón con la cual la forma completa de la amplitud de una onda se propaga a
través del espacio, es también pensada como la velocidad a la que la energía o información
es llevada a través de la onda. Esta velocidad está definida al igual que la de fase en
términos de la frecuencia angular de la onda y el vector de onda k:
∂ω
υg = (2.1-13)
∂k
Para la luz, la velocidad de grupo y la velocidad de fase están relacionadas por la
formula:
υ gυ p = c 2 (2.1-14)
Algunas veces el “índice refractivo de velocidad grupal” usualmente llamado índice
de grupo, es definido como:
c
ng = (2.1-15)
υg
6
Donde υg es la velocidad de grupo. Este valor no debe ser confundido con n, el cual
está definido con respecto a la velocidad de fase.
En una microescala una onda electromagnética es frenada en un material porque el
campo eléctrico causa una perturbación en las cargas de cada átomo (principalmente en los
electrones) proporcional a la permitividad. Esta oscilación de cargas causa la radiación de
una onda electromagnética, la cual está ligeramente fuera de fase con la original. La suma
de las dos ondas da como resultado una onda con la misma frecuencia pero con longitud de
onda más corta llevando a una disminución en la velocidad de viaje.
Si los índices de refracción de dos materiales son conocidos entonces es posible
calcular el ángulo para el cual la radiación será refractada al pasar del primer material al
segundo, por medio de la Ley de Snell.
2.2 El índice de refracción y la óptica geométrica
Un número de fenómenos ópticos es adecuadamente explicado considerando que la
energía en una onda sigue caminos estrechos llamados rayos, además se supone que esta
onda es plana, siendo sus frentes normales al rayo incidente a una superficie como se ilustra
en la figura 2.1. Esta suposición, de que la luz viaja en trayectorias rectas que se pueden
representar como rayos, es la condición de la óptica geométrica.
7
Figura 2.1 Rayo incidente, relejado y transmitido en la frontera entre dos medios
La óptica geométrica estudia los rayos, la reflexión y la refracción, estos fenómenos
pueden ser descritos por las siguientes leyes:
1. En el vació los rayos viajan a una velocidad de c = 2,99792458 × 10 8 m/s. En
cualquier otro medio los rayos viajan a una velocidad menor dada por:
c
υ= (2.2-1)
n
El factor n es el índice de refracción del medio. La refracción causa que las ondas se
propaguen con una velocidad menor que en el espacio libre sin embargo no afecta
propiamente la intensidad de la onda.
2. Los rayos viajan en trayectorias rectas a menos que sean desviados por algún
cambio en el medio que se propagan.
8
3. Para una frontera plana entre dos medios el ángulo del rayo reflejado es igual al
ángulo del rayo de incidencia (Fig. 2.1)
θr =θi (2.2-2)
4. Si parte de la energía de una onda cruza la frontera entre los dos medios, la
dirección del rayo transmitido estará gobernada por la Ley de Snell:
sin θ t n1
= (2.2-3)
sin θ i n 2
Donde n1 y n2 son los índices de refracción de los medios por donde se propaga el
rayo y θt es el ángulo del rayo transmitido o refractado.
De la ley de Snell se nota que para cuando un rayo pasa de un medio a otro con
índice de refracción mayor (n1< n2) el ángulo de transmisión es menor que el ángulo de
incidencia, o sea el rayo se acerca a la normal de la frontera entre las superficies y
viceversa, cuando un rayo pasa de un medio a otro con índice de refracción menor (n1> n2)
el rayo se aleja de la normal.
La tabla 2.1 muestra algunos ejemplos del índice de refracción de varios materiales.
Nótese que para la mayoría de los propósitos, el aire puede considerarse como equivalente
al vació en su refracción de la luz.
9
Tabla 2.1 Algunos índices de refracción5
Medio Índice Medio Índice

Vació (exactamente) 1,00000 Vidrio refractario típico 1,52
Aire (1 atm y 20°) 1,00029 Cloruro de sodio 1,54
Agua (20°) 1,33 Poliestireno 1,55
Acetona 1,36 Bisulfuro de carbono 1,63
Alcohol etílico 1,36 Cristal de roca denso 1,65
Solución de azúcar (30%) 1,38 Zafiro 1,77
Cuarzo fundido 1,46 El cristal de roca más denso 1,89
Solución de azúcar (80%) 1,49 Diamante 2,42
Para una longitud de onda de 589 nm (luz amarilla del sodio)
El índice de refracción de un material varía generalmente con la longitud de onda de
la luz(véase figura 2.2). La refracción puede usarse entonces para analizar un haz de luz en
sus longitudes de onda constituyentes, como ocurre en un arco iris.
Figura 2.2 Índice de refracción de l cuarzo fundido a 18°C con respecto al vació5
10
2.4 Fenómenos que afectan el índice de refracción
2.4.1 Dispersión
El índice de refracción de un material varía con la frecuencia (excepto en el vació,
donde todas las frecuencias viajan a la misma velocidad c). Este efecto es conocido como
dispersión y es lo que causa que un prisma divida la luz blanca en su espectro constitutivo
de colores; explica los arcoiris y es la causa de las aberraciones cromáticas en los lentes.
En general el índice de refracción es una función de la frecuencia ν de la luz
n = n(ν ) o alternativamente con respecto de la longitud de onda n = n(λ ) . La tabla 2.2
muestra valores del índice de refracción del agua como función de la longitud de onda,
junto con el color aproximado en la parte visible del espectro.
11
Tabla 2.2 Índice de refracción del agua como función de la longitud de onda15
Longitud de onda (nm) Índice de refracción Color

Parte real Parte imaginaria
400 1.34451 2.11E-10
425 1.34235 1.62E-10
450 1.34055 3.30E-10
475 1.33903 4.31E-10
500 1.33772 8.12E-10
525 1.33659 1.74E-09
550 1.33560 2.47E-09
575 1.33472 3.53E-09
600 1.33393 1.06E-08
625 1.33322 1.41E-08
650 1.33257 1.76E-08
675 1.33197 2.41E-08
700 1.33141 3.48E-08
Para la luz visible y para la mayoría de los materiales transparentes se tiene
que 1 < n(λ rojo ) < n(λ amarillo ) < n(λ azul ) o alternativamente
dn
<0 (2.4-1)
dλ
Lo que significa que el índice de refracción se reduce cuando la longitud de onda aumenta.
Para un medio transparente la dependencia del índice de refracción de la longitud de
12
onda puede ser cuantificada por una formula empírica, la ecuación de Sellmeier, esta
ecuación para el caso de un vidrio está dada por:
B1λ2 B2 λ2 B3λ2
n 2 (λ ) = 1 + + + (2.4-2)
λ2 − C1 λ2 − C2 λ2 − C3
Donde B1,2,3 y C1,2,3 son los experimentalmente determinados coeficientes de
Sellmeier. Estos coeficientes son usualmente usados para medir λ en micrómetros.
La ecuación de Sellmeier es usada para determinar la dispersión de la luz en un
medio refractante. Para ciertos materiales como los cristales, se utiliza una forma diferente
de la ecuación (2.4-2)
La consecuencia más común en la óptica de la dispersión es la separación de la luz
blanca en un espectro de colores por medio de un prisma. De la ley de Snell se vio que el
ángulo de refracción de un haz en un prisma depende del índice de refracción del material y
dado que el índice de refracción varía con la longitud de onda, el ángulo con el que la luz es
refractada también varía con la longitud de onda, causando así la separación angular de los
colores.
2.4.2 Absorción
En la óptica el termino absorción se refiere a la absorción de fotones por parte de un
material.
13
En regiones del espectro electromagnético en donde el material no absorbe, el
índice de refracción se incrementa con la frecuencia. Cerca de los picos de absorción el
índice de refracción disminuye con la frecuencia.
La absorción de la luz por un medio óptico es cuantificada por el coeficiente de
absorción α. Este es definido como la fracción de potencia absorbida en una unidad de
longitud del medio.
Si un haz se propaga en la dirección z y la intensidad (potencia óptica por unidad de
área) para una posición en z es I(z), entonces el decrecimiento de la intensidad en una
porción del recorrido dz es:
dI = −αdz × I ( z ) (2.4-3)
Esto puede ser integrado para obtener la Ley de Beer:
I (z ) = I 0 e −αz (2.4-4)
Donde I0 es la intensidad óptica en z =0. El coeficiente de absorción es una función
de la frecuencia, de esta manera es como algunos materiales pueden absorber un color pero
no otro.
El campo eléctrico del haz tendrá también una dependencia espacial y temporal
dada por:
E ( z , t ) = E0 e i ( kz −ωt ) (2.4-5)
14
donde k es el vector de onda y ω es la frecuencia angular y están relacionados por:
2π nω
k= = (2.4-6)
(λ / n ) c
En esta relación, si se generaliza con el índice de refracción complejo, se obtiene:
ω ω
k = n~ = (n + iκ ) (2.4-7)
c c
sustituyendo (2.4-7) en (2.4-5):
E ( z , t ) = E 0 e i (ωn t / c −ωt )
~
(2.4-8)
= E 0 e −κωz / c e i (ωnz / c −ωt )
2
EE* = E0 e −κωz / c (2.4-9)
La intensidad óptica de la onda es proporcional al cuadrado del campo eléctrico
I ∝ EE * por lo que comparando (2.4-9) con (2.4-4) resulta que:
2κω 4πκ
α= = (2.4-10)
c λ
Esto muestra que la absorción α es directamente proporcional al coeficiente de extinción κ.
2.4.3 Anisotropía
El índice de refracción de cierto medio puede ser diferente dependiendo de la
polarización y dirección de la luz a través de un medio. Este fenómeno es conocido como
birrefringencia o anisotropía y es descrito por el campo de la óptica de cristales. En el caso
15
mas general la constante dieléctrica puede ser un tensor de rango 2 (una matriz 3 por 3), lo
que no puede ser descrito por índices de refracción sino únicamente por polarizaciones a lo
largo de los ejes principales.
2.4.4 No linealidad
Los campos eléctricos más fuertes de la luz de más alta intensidad, como la salida
de un laser, pueden causar que el índice de refracción de un material varié conforme la luz
lo atraviesa, dando lugar a la óptica no lineal. Al efecto de que el índice de refracción varíe
cuadráticamente con el campo eléctrico, o sea varié linealmente con la intensidad, se le
llama efecto óptico de Kerr y causa fenómenos de auto enfoque y auto modulación de fase.
Cuando el índice varía linealmente con el campo se le llama efecto Pockels.
2.4.5 Inhomogenidad
Si en un material el índice de refracción no es constante, sino que varía
gradualmente con la posición, el material es conocido como un medio de índice gradual y
es descrito por la óptica de índice gradual. La luz pasando a través de un material de este
tipo puede ser doblada o enfocada, este efecto puede ser aprovechado para construir lentes,
fibras ópticas y otros dispositivos
2.5 El índice de refracción negativo
Casi todos los materiales que se pueden encontrar en la óptica, tienen valores
positivos de permitividad ε y permeabilidad µ. Sin embargo muchos metales como la plata
16
y el oro poseen permitividad negativa para longitudes de onda visibles. Un material
teniendo ya sea ε o µ negativo es opaco a la radiación electromagnética
Todos los materiales transparentes poseen índice de refracción positivo porque
poseen ambos εr y µr positivos (Ver ecuación 2.1-2).
Recientemente la investigación ha demostrado la existencia de índices de refracción
negativos, lo cual puede ocurrir si ε y µ son simultáneamente negativos y dado que el
producto εµ es positivo n es real. Bajo estas circunstancias es necesario tomar la raíz
negativa para n. Aunque esto no puede ocurrir en la naturaleza, si puede ser logrado con los
llamados metamateriales. El físico Víctor Veselago probó que tales materiales son
transparentes a la luz.
Los metamateriales tienen numerosas propiedades:
• La inversión de la ley de Snell: aunque esta ley todavía aplica, los rayos son
refractados alejándose de la normal cuando entran en un material.
• El efecto Doppler es invertido: una fuente de luz moviéndose hacia un
observador aparenta reducir su frecuencia
• La radiación de Cerenkov apunta a la dirección contraria
• La velocidad de grupo es antiparalela a la velocidad de fase
17
2.6 Interferencia
Si la condición de la óptica geométrica no se cumple, no se puede describir el
comportamiento de la luz mediante rayos, sino que se debe considerar específicamente su
naturaleza ondulatoria.
Un haz de luz puede ser modelado como una onda con campos eléctricos y
magnéticos oscilantes. Cuando dos o más haces de luz se encuentran en el espacio, sus
campos se combinan de acuerdo al principio de superposición, es decir los campos
eléctricos y magnéticos estarán determinados por la suma vectorial de los campos de cada
onda individual.
Si los haces de luz son generados en la misma fuente generalmente existe cierto
grado de correlación entre la frecuencia y la fase de las oscilaciones. En un punto en el
espacio la luz de los haces puede estar continuamente en fase, en este caso, el campo
combinado siempre será un máximo y se podrá observar una mancha brillante. En otro
punto la luz de los haces puede estar continuamente en desfase y un mínimo o una mancha
oscura podrá ser observada.
Suponiendo que dos ondas están descritas por:
E1 = E10 e iφ1 (2.6-1a)
E 2 = E 20 e iφ1 (2.6-1b)
La teoría electromagnética dice que el campo resultante simplemente será la suma:
18
E = E1 + E 2 (2.6-2)
Sin embargo la cantidad observable es la intensidad:
I = E = E1 + E2 = E1 + E2 + 2 E1 E2 cos(φ1 − φ 21 )
2 2 2 2
(2.6-3)
= I1 + I 2 + 2 E1 E2 cos ∆φ
Donde
∆φ = φ1 − φ 2 (2.6-4)
Como puede observarse la intensidad resultante no es únicamente la suma de las
intensidades (= I 1 + I 2 ) de las dos ondas parciales. Se dice que las dos ondas interfieren y
2 I 1 I 2 cos ∆φ es llamado termino de interferencia. También se puede observar que
cuando:
∆φ = (2n + 1)π para n = 0,1,2,...
cos ∆φ = −1 y I alcanza su mínimo. Las dos ondas están en antifase lo que significa que
están en interferencia destructiva.
Cuando:
∆φ = 2πn para n = 0,1,2,...
19
cos ∆φ = 1 y la intensidad alcanza su máximo. Las dos ondas están en fase, lo que significa
que las ondas están en interferencia constructiva. Para dos ondas de igual intensidad
(I 1 I 2 = I 0 ) la ecuación (2.6-2) se transforma en:
 ∆φ 
I = 2 I 0 [1 + cos ∆φ ] = 4 I 0 cos 2   (2.6-5)
 2 
Thomas Young realizó por vez primera en 1801 un experimento de interferencia. El
experimento de Young proporcionó la primera prueba concluyente de la naturaleza
ondulatoria de la luz, debido a que demostró que el espaciamiento de las franjas de
interferencia depende de la longitud de onda, los experimentos de Young proporcionaron la
primera medición directa de la longitud de onda de la luz.4
Por supuesto que no existía el láser en tiempos de Young, así que él creó una fuente
de luz coherente al permitir que la luz solar incidiera sobre una abertura angosta S, como se
muestra en la figura 2.3. Las pequeñas ondas que se esparcen de S, dan frentes de onda
coherentes que pasan por las dos aberturas. En sus experimentos Young usó orificios más
bien que rendijas, y como resultado el patrón de la interferencia era más complicado. No
obstante, sus conclusiones con respecto a la naturaleza ondulatoria de la luz fueron co-
rrectas. Incluso cuando se realiza con láser, el experimento de la rendija doble se conoce,
por lo general, como el experimento de Young. 5
20
Figura 2.3 El experimento de interferencia de Young5
Las aberturas de Young pueden ser utilizadas como un interferómetro sencillo. Si el
espaciamiento entre las aberturas es conocido, el espaciamiento de los máximos y mínimos
puede ser usado para determinar la longitud de onda de la luz y viceversa si la longitud de
onda de luz es conocida, el espaciamiento entre las aberturas puede ser determinado del
patrón de interferencia
2.6.1 Interferometría
El fenómeno de interferencia puede ser observado en interferómetros. Las ondas de
luz pueden interferir solamente si son emitidas desde la misma fuente y dependerá de la
distancia óptica y de la longitud de onda de la luz emitida por la fuente. La distancia óptica
o ancho óptico de un elemento es definida como la distancia que la luz viajaría en el vació
en el mismo período de tiempo que le toma atravesar el elemento óptico de interés, es decir
la distancia en el vació equivalente. El ancho óptico de un material está dado por:
t op = t ⋅ n (2.6-6)
21
donde t es la distancia o ancho físico y n es el índice de refracción del material.
La mayoría de los interferómetros consisten, como se muestra en la figura 2.4, de
los siguientes elementos:
Figura 2.4 Esquema de un interferómetro10
Fuente de luz.
Elemento divisor de la luz en dos o mas ondas parciales.
Caminos diferentes de propagación, donde las ondas parciales sufren de diferentes
contribuciones de fase.
Elemento superponedor o combinador de las ondas parciales.
Detector para la observación de la interferencia.
Dependiendo de cómo la luz es dividida los interferómetros se pueden clasificar en
dos tipos, divisores de onda y divisores de amplitud. Sin embargo existen otras
configuraciones que caen fuera de estas clasificaciones.
2.6.1.1 División de frente de onda
Un ejemplo de interferómetro divisor de frente de onda es el interferómetro de
Young (Figura 2.3). El frente de onda incidente (luego de pasar S0), pasa por otras dos
aberturas S1 y S2 ubicadas en la pantalla B. Los frentes de onda esféricos emergentes
22
interfieren entre sí, resultando en el patrón de interferencia que se muestra en la pantalla C.
Esto es análogo al caso de dos fuentes de luz como las de la figura 2.5
Figura 2.5 Analogía al experimento de Young10
Cuando la distancia z entre las pantallas B y C es mucho más grande que la
separación D de S1 y S2, se puede aproximar la diferencia de distancia geométrica s de la
luz que llega a un punto arbitrario x en la pantalla C:
s x D
= ⇒s= x (2.6-7)
D z z
La diferencia de fase es entonces:
2π 2πD
∆φ = s= x (2.6-8)
λ λz
Lo cual insertado en la expresión general para la distribución de intensidad
resultante, la ecuación (2.6-3) da:
  D 
I (x ) = 2 I 1 + cos 2π x   (2.6-9)
  λz  
Se obtienen franjas de interferencia perpendiculares a la dirección de la pantalla con
un periodo espacial λz / D el cual disminuye conforme la distancia entre S1 y S2 aumenta.
23
2.6.1.2 División de amplitud
Este tipo de interferómetros funcionan dividiendo una onda en dos ondas parciales,
las cuales son posteriormente recombinadas para formar un patrón de interferencia. Antes
de ser recombinadas la distancia óptica de una de las ondas parciales puede ser variada una
distancia 2x para producir un desfase ∆φ = (2π / λ )2 x .
De esta manera la distribución de intensidad resulta en:
 4πx 
I (x ) = 2 I 1 + cos  (2.6-10)
 λ 
El interferómetro de división de amplitud mas conocido es el interferómetro de
Michelson.
2.6.2 El interferómetro de Michelson
En 1881, 78 años después de que Young introdujera su experimento de las dos
aberturas, A.A. Michelson diseño y construyó un interferómetro usando un principio
similar. Originalmente Michelson diseño su interferómetro con el propósito de comprobar
la existencia del éter, un medio hipotético en el cual se propagaba la luz. Debido en parte a
sus esfuerzos, el éter ya no es considerado una hipótesis viable. Mas allá de esto el
interferómetro de Michelson se ha convertido en un instrumento altamente usado para
medir la longitud de onda de la luz, para usar la longitud de onda de una luz conocida para
medir distancias extremadamente pequeñas y para investigar medios ópticos.
La figura 2.6 muestra un diagrama completo del interferómetro de Michelson. El
haz de luz llega al divisor de haces, el cual refleja 50% de la luz incidente y transmite el
24
otro 50%. El haz incidente es dividido en dos haces, un haz es transmitido hacia el espejo
movible (M1) y el otro es reflejado hacia el espejo fijo (M2). Los dos espejos reflejan de
nuevo la luz hacia el divisor de haces. La mitad de la luz de M1 es reflejada por el divisor
de haces hacia la pantalla de observación y la mitad de la luz de M2 es transmitida a través
del divisor de haces hacia la pantalla de observación.
Figura 2.6 Diagrama completo del interferómetro de Michelson13
De esta manera el haz original es dividido y las porciones resultantes de los haces
divididos son vueltas a unir. Ya que los haces provienen de la misma fuente, sus fases están
correlacionadas. Cuando una lente es colocada entre el laser y el divisor de haces, el haz de
luz se esparce y un patrón de interferencia de anillos brillantes y oscuros como el de la
figura 2.7 aparece en la pantalla de observación.
25
Figura 2.7 Patrón de interferencia13
Moviendo M1, la longitud del camino de uno de los haces puede ser variada. Debido
a que el haz atraviesa el camino entre el espejo M1 y el divisor de haces dos veces,
moviendo M1 ¼ de longitud de onda hacia el divisor de haces se reducirá el camino óptico
del haz ½ de longitud de onda. El patrón de interferencia va a cambiar, el radio de la
mancha correspondiente al primer máximo va a disminuir y ahora este espacio es ocupado
por el primer mínimo. Si M1 es movido ¼ de onda adicional hacia el divisor de haces el
radio del primer máximo nuevamente se reducirá y el máximo y mínimo intercambiaran
posiciones, sin embargo este patrón no se podrá distinguir del original.
Moviendo lentamente el espejo una determinada distancia dm, y contando m o sea
el número de veces que el patrón de franjas es restaurado a su estado original, la longitud
de onda de la luz puede ser calculada por:
2d m
λ= (2.6-11)
m
Si la longitud de onda de la luz es conocida, el mismo procedimiento puede ser
utilizado para medir dm
26
2.7 Telémetros de Tiempo de Viaje
Un telémetro es un instrumento que en principio se utiliza para medir una distancia
a un blanco remoto. Básicamente existen tres tipos de técnicas que sirven para llevar a cabo
la medición óptica de una distancia:
Interferometría
Triangulación: el objetivo es apuntado desde dos puntos separados por una distancia
D, medida perpendicularmente desde la línea de vista principal. Midiendo el ángulo
α formado por las dos líneas de vista, la distancia es encontrada como L = D / α .
Tiempo de viaje:
Estos telémetros están basados en la medida del tiempo de viaje T = 2 L / c que tarda la
luz en ir a un objetivo y regresar. La incertidumbre ∆T de la medida se refleja en una
distancia “incierta” ∆L = c∆T / 2 . Si se está utilizando una fuente luminosa de pulsos se
requiere que la duración del pulso τ sea lo suficientemente corta para la resolución deseada
o sea τ < ∆T . Similarmente si se usa una fuente modulada senoidal, la frecuencia de
modulación ω necesita ser lo suficientemente alta para que ω > 1 / ∆T .
27
CAPÍTULO 3: Procedimientos de medición
3.1 Procedimiento utilizando Óptica Geométrica
Utilizando un haz laser y la óptica geométrica, específicamente la Ley de Snell es
posible preparar un procedimiento para la medición experimental del índice de refracción:
A. Pegue con cinta adhesiva una hoja de papel milimétrico a una superficie de montaje
vertical metálica. (Figura 3.1). Se conecta magnéticamente una pieza rectangular de
vidrio o plástico a la superficie de montaje. Coloque un “esparcidor” de haz en la
apertura del laser para que el haz sea esparcido tanto a través del material como en la
cara de la superficie de montaje.
Figura 3.1 Diagrama de montaje utilizando óptica geométrica4
28
B. Se rota el vidrio o plástico para que el haz laser entre a un ángulo de 30° y salga al otro
extremo del material.
C. En el papel milimétrico se marca cuidadosamente los puntos por donde el haz laser
entra y sale del vidrio o plástico.
D. Mida el ángulo de incidencia el cual está formado por el haz de entrada y la normal a la
superficie de entrada del haz.
E. Mida el ángulo de refracción formado por el haz refractado dentro del material y la
normal a la superficie de entrada del haz.
F. Ahora se puede calcular el índice de refracción usando la ley de Snell:
1,0003 ⋅ sin θ i
n2 = (3.1-1)
sin θ t
G. Se repite el procedimiento varias veces variando cada vez el ángulo de incidencia.
29
3.2 Procedimiento por medio de Interferometría
A. Se coloca el interferómetro en el modo Michelson, y se alinea (Figura 3.2).
Figura 3.2 Interferómetro en modo Michelson13
B. Se coloca la mesa rotatoria entre el divisor de haces y el espejo movible, perpendicular
al camino óptico, asegurándose de que la distancia con respecto al espejo sea la
suficiente como para que la mesa pueda girar sin problemas. (Figura 3.3)
30
Figura 3.3 Diagrama del interferómetro con la mesa giratoria13
C. Monte el vidrio o el acrílico en la placa magnética del puntero rotador.
D. Posicione el puntero de manera que el “0” en la escala del Vernier este alineado con el
cero de la escala en grados que se encuentra en la base del interferómetro.
E. Remueva el lente que está frente al laser. Coloque la pantalla de observación entre el
vidrio o acrílico y el espejo movible. Si aparece una mancha brillante y algunas otras
manchas secundarias ajuste el ángulo de la tabla de rotación hasta que solo halla una
mancha brillante, luego realinee la escala del puntero. De esta manera la placa de vidrio
o acrílico se encuentra completamente perpendicular al camino óptico del haz.
F. Reemplace la pantalla de observación y los lentes con el fin de hacer los ajustes
necesarios para obtener un patrón de franjas claro en la pantalla de observación.
31
G. Rote lentamente la mesa moviendo el brazo medidor. Cuente el número de transiciones
de franjas que ocurren mientras se va rotando la mesa desde 0 grados hasta un ángulo θ
de por lo menos 10 grados.
H. De esta manera, con las mediciones realizadas y con la formula que provee el fabricante
del interferómetro se puede calcular el índice de refracción del material n:
(2t − Nλ 0 )(1 − cos θ )

n= (3.2-1)
2t (1 − cos θ ) − Nλ 0
Donde:
t: el ancho del virio o acrílico
N: número de transiciones que se contaron
λ0: Longitud de onda en el vació de la luz de la fuente.
3.3 Procedimiento por medio de la técnica de Tiempo de Viaje
Para este procedimiento se utiliza el equipo llamado Aparato de velocidad de la luz en
Fibra Óptica.
3.3.1 Preparación del equipo

1. Encienda el osciloscopio.
2. Haga los siguientes arreglos en el osciloscopio:
• Coloque el interruptor de modo vertical en A
• Coloque el modo disparador en auto
• Coloque el interruptor de fuente de disparo en el canal 1
32
• Coloque el disparamiento en pendiente positiva
• Coloque el control de voltaje del canal 1 en 1 voltio por división
• Coloque el control de voltaje del canal 2 en 0,5 voltios por división
• Coloque el acoplamiento de entrada de ambos canales en AC
• Coloque la base de tiempos en 50 ns por división
• Coloque el modo vertical en ALT
3. Conecte la punta del canal 1 al punto de pruebas azul marcado como Referencia en
el aparato de la velocidad de la luz.
4. Conecte la tierra de la punta del canal 1 al punto de tierra de prueba blanco que está
debajo del punto de prueba Referencia.
5. Conecte la punta del canal 2, al punto de prueba blanco Retraso en el aparato.
6. Conecte la tierra de la punta del canal 2 al punto de tierra de prueba blanco que está
debajo del punto de prueba Retraso.
7. Mueva el selector de entrada del canal 2 a la posición de tierra.
8. Conecte la alimentación del circuito (el convertidor 110VAC-DC).
9. Tan pronto como conecte el adaptador de AC, tanto el LED amarillo como el LED
de fibra óptica D3 deberán encenderse.
10. Coloque el potenciómetro para el retraso de calibración en la posición de las 12 en
punto.
11. Afloje las roscas del LED de fibra óptica D3 y del detector D8.
33
12. Seleccione 15cm de fibra óptica plástica e inserte un extremo hasta el fondo del
LED D3, luego talle suavemente la rosca.
13. Inserte hasta el fondo el otro extremo de la fibra en el detector de fibra óptica D8
luego proceda a tallar suavemente la rosca del detector.
3.3.2 Calibración
Es importante calibrar este aparato para asegurar resultados acertados en la
actividad de medición. La calibración será hecha con 15 cm de fibra óptica para simular
una distancia de cero. Aunque si bien es cierto que 15 cm no es una distancia cero, el
retraso a través de esta fibra será menor de un nanosegundo, valor no suficientemente
grande para afectar la veracidad del aparato o del equipo de medición.
1. Un pulso deberá ser observado en el canal 1 de la pantalla del osciloscopio. Deberá
ser de 3,5 voltios de amplitud aproximadamente y de 35 ns de ancho. El ancho es
medido al 50% de amplitud del pulso. Ver figura 3.4. Este pulso de calibración
servirá como referencia para mediciones subsecuentes.
Figura 3.4 Pulso de referencia 11
34
2. Coloque el selector de entrada del canal 2 de tierra a acoplamiento AC
3. Un segundo pulso con amplitud de 1 a 1,5 voltios de amplitud y 75 ns de ancho
deberá ser observado. Este es el pulso recibido a través de los 15cm de fibra.
4. Utilizando las perillas de posicionamiento vertical, alinee las bases de los trazos del
canal 1 y 2 con la segunda línea vertical de la pantalla del osciloscopio.
5. Utilizando la perilla de posicionamiento vertical, alinee el canal 1 con la segunda
línea horizontal de la pantalla del osciloscopio.
6. Rote la perilla de calibración en el aparato hasta que el pico del pulso recibido
coincida con el pico del punto de referencia como se muestra en la figura 3.5.
Figura 3.5 Alineamiento de los trazos de los canales 1 y 2 del osciloscopio 11
7. Reajuste la escala de la base de tiempo / tiempo de barrido a 20ns por división.
8. Alinee finamente la perilla de calibración del retraso, con el objetivo de lograr una
mejor coincidencia de los picos de los pulsos de referencia y transmitido.
9. Cuidadosamente afloje las roscas del LED D3, del detector D8 y remueva los 15cm
de fibra.
35
3.3.3 Medición
Finalmente se puede proceder a medir la velocidad de la luz a través de la fibra
óptica, para luego proceder a obtener el índice de refracción de esta, mediante la ecuación
(2.1-11) y recordando que υ = L / t . Utilizando el osciloscopio se medirá el tiempo
requerido por los pulsos del LED para atravesar un tramo de fibra óptica.
1. Inserte uno de los extremos de la fibra hasta el fondo del LED D3 y suavemente
apriete la rosca.
2. Inserte el otro extremo de la fibra en el detector D8 y suavemente apriete la rosca.
3. Observe la pantalla del osciloscopio. El pulso recibido debe haberse movido hacia
la derecha del pulso de referencia, con una reducción de amplitud de
aproximadamente el 50%.Ver figura 3.6
Figura 3.6 Pulso de referencia y pulso transmitido a través de una de fibra 11
36
4. Muy cuidadosamente mida, en nanosegundos, la diferencia de tiempo entre el pulso
de referencia y el pulso de retraso. Haga la medición desde la segunda línea vertical
usada en la calibración inicial, hasta el pico del nuevo pulso recibido.
5. Escriba el resultado de sus medidas del paso 4 y proceda a calcular el índice de
refracción.
37
CAPÍTULO 4: Reparación del Aparato de velocidad de la Luz
Este equipo básicamente tiene el mismo principio de funcionamiento de un
telémetro de tiempo de viaje. Como ya se ha expuesto, el índice de refracción es
directamente proporcional a la velocidad de la luz en un medio entre la velocidad de la luz
al vació (Ec 2.1.11). Si se conoce la longitud de una fibra y se puede medir el tiempo que
tarda un pulso de luz en atravesarla, por la relación υ = L / t , se puede determinar la
velocidad de la luz a través de la fibra y en consecuencia el índice de refracción.
4.1 Equipo
El equipo es como el que se muestra en la figura 4.1. Está formado por un
transmisor y un receptor en una misma tarjeta impresa.
Figura 4.1 Circuito impreso del Aparato de Velocidad de la Luz11
38
El transmisor está formado por dos multivibradores monoestables (74LS221) y por
un generador de pulsos (TLC555). Este circuito da un pulso de referencia en la patilla de la
tarjeta marcada como REFERENCIA y por medio de un potenciómetro rotulado como
Calibración de Retraso se puede aumentar o disminuir el retraso con el que este pulso es
enviado al LED D3. Además en el transmisor está ubicada la fuente de alimentación,
primero un convertidor AC-DC transforma el voltaje de 120VAC a 12 VDC y luego un
convertidor DC/DC reduce el voltaje de 12VDC a 5VDC para alimentar tanto al transmisor
como al receptor.(Figura 4.2)
Figura 4.2 Circuito esquemático del Aparato de Velocidad de la Luz11
39
El receptor está formado por una serie de amplificadores de corriente y
convertidores de corriente a voltaje construidos con transistores BJT (2N5179). Al final del
circuito está la patilla rotulada como RETRASO en la cual se obtiene el pulso luego de que
ha pasado a través de la fibra.
4.2 Análisis del circuito receptor
Para determinar la señal esperada en cada sección del circuito con el objetivo de
identificar el punto de falla se procedió a analizar etapa por etapa el circuito receptor. El
esquemático del circuito receptor se muestra en la figura 4.3
Figura 4.3 Esquemático del circuito receptor 11
Este circuito básicamente se puede dividir en tres etapas, la primera corresponde a
un amplificador de corriente BJT con retroalimentación, la segunda corresponde a un
amplificador de transresistecia de una etapa y la tercera corresponde a un circuito de corte y
limitación.
4.2.1 Amplificador de Corriente BJT con retroalimentación
El transistor de unión bipolar acepta una corriente iB de entrada y produce una
corriente iC como salida. Si esta corriente pasa a través de un resistor conectado a una
40
fuente de voltaje, la entrada de corriente al BJT puede ser utilizada para controlar el voltaje
que aparece a través de las terminales de salida del BJT. A este circuito se le llama inversor
BJT y se muestra en la figura 4.4. Funciona como una especie de convertidor de corriente a
voltaje, en el que los incrementos de la corriente de entrada generan decrementos en el
voltaje de salida. Esta configuración es a veces llamada amplificador de emisor común.
Figura 4.4 Inversor BJT Simple
Existe otro amplificador llamado amplificador de colector común, este básicamente
es un seguidor de voltaje. Su voltaje de salida es esencialmente una replica de la entrada, lo
cual pudiera pensarse que es de poco valor, pero el uso práctico estriba en la relación entre
sus corrientes de entrada y de salida, en el seguidor BJT, la primera será mucho más
pequeña que la última y aunque no se produce ganancia de voltaje, si produce tanto una
ganancia de corriente como de potencia ya que iLOAD es mucho mayor que la corriente de
base (Figura 4.5)
41
Figura 4.5 Seguidor de voltaje BJT
El Amplificador de Corriente BJT con retroalimentación está formado por un
seguidor de voltaje cuya entrada es la salida de un inversor de voltaje interconectados,
además, mediante una red de retroalimentación formada por RF y RE (Figura 4.6) con el fin
de aumentar la ganancia de los dos circuitos o etapas BJT.
Figura 4.6 Amplificador de Corriente BJT con retroalimentación
Para el circuito impreso la fuente de corriente is del Inversor BJT es el fotodiodo, el
cual suministra corriente a la base del transistor Q1.
42
La red de retroalimentación deriva una fracción de iE2 a la base de Q1.
RE
iF = −iOUT = βiOUT (4.2-1)
RE + RF
Donde
RE
β =− (4.2-2)
RE + RF
La ganancia de lazo abierto de este circuito para una RF grande o un factor β de
retroalimentación pequeño (β= 0,175 para el circuito del equipo) es:
RC
Ai = − β o1 β o 2 (4.2-3)
RC + rπ 2 + (β o 2 + 1)RE
Donde βo1 y βo2 son los parámetros de ganancia de corriente en pequeña señal de los
transistores y rπ es la impedancia de entrada del transistor.
La ganancia total del circuito con la retroalimentación conectada o la ganancia de
lazo cerrado será:
iOUT Ai
AFB = = (4.2-4)
iS 1 + Ai β
4.2.2 Amplificador de Transresistencia de 1 etapa
La señal de salida del amplificador de corriente BJT realimentado se pasa a través
del capacitor C7 del circuito impreso, este capacitor actuará como un circuito abierto a los
43
voltajes y corrientes de polarización de CD pero actuará como un corto circuito para los
voltajes y corrientes de señal.
La segunda etapa del receptor está conformada por un amplificador de
transresistencia (entrada de corriente, salida de voltaje) cuya entrada es la salida del
amplificador de corriente luego de pasar por C7. Este circuito que se muestra en la figura
4.7 es típicamente utilizado para convertir la señal de corriente de un detector o sensor de
alta impedancia en una señal de voltaje. Una transformación como esta permite que una
carga de baja impedancia sea manejada a un nivel de alta potencia sin un consumo de
potencia significativo por parte del sensor.
Figura 4.7 Amplificador de transresistencia de 1 etapa
La aplicación directa de la división de corriente al puerto de entrada del
amplificador da como resultado
 v  RF
ib =  iS + OUT  (4.2-5)
 RF  RF + rπ
44
La ganancia de lazo abierto para esta configuración de circuito es:
RF RF
Ar = − β 0 RC (4.2-6)
RF + rπ RF + RC
y la ganancia de lazo cerrado:
vOUT Ar
AFB = = (4.2-7)
iS 1 + Ar β
siendo:
1
β =− (4.2-8)
RF
4.2.3 Circuito de corte y limitación
La tercer y última etapa del receptor consiste en un sencillo circuito de limitación de
voltaje, en la salida de este circuito es donde se toma señal del pulso recibido a través de la
fibra. El esquemático de este circuito se muestra en la figura 4.8.
Figura 4.8 Circuito de corte y limitación
45
4.3 Reparación
Uno de los problemas que se tenía cuando se comenzó a trabajar con el equipo era
que el pulso de referencia obtenido en la patilla marcada como REFERECIA del transmisor
no tenía la forma esperada, ni en amplitud ni en ancho, además de que se tenía mucho ruido
en la señal. Esto se solucionó fácilmente sustituyendo el transistor Q1 y los dos integrados,
el 555 y el 74LS221 lo que evitó que se tuviera que estudiar a fondo el circuito del
transmisor.
El mayor problema fue obtener una señal en el receptor. Primero se revisó que el
LED emisor y el fotodiodo fueran efectivamente los que se tenían que utilizar, un IF-E96 y
un IF-D91 respectivamente. Luego se procedió a revisar que el detector no estuviera
dañado, utilizando circuitos sencillos de prueba como el de la figura 4.9
Figura 4.9 Circuito para probar el fotodiodo
Como con este circuito se obtenía una respuesta correcta en el detector, se procedió
entonces a revisar los pulsos emitidos por el transmisor, ya que se pensó que no tenían una
forma apropiada para una buena emisión del LED D3, debido a que la señal en la base del
transistor Q1 del transmisor presentaba picos de amplitud muy pronunciados (Figura 4.10).
46
Al no tener una buena emisión del pulso en el LED, no se tendría una buena detección en el
fotodiodo y por ende no se obtendría una señal clara en la salida del circuito receptor.
Figura 4.10 Señal en el emisor del transistor del transmisor
Esta hipótesis no se estudió por mucho tiempo ya que el pulso de referencia tenía
una amplitud y un ancho que correspondía con la el procedimiento de medición y aunque la
señal del LED y la señal de referencia se obtienen en partes diferentes del circuito, el hecho
de que la señal de referencia tuviera la forma correcta era indicador de que el transmisor
estaba funcionando correctamente.
La siguiente suposición que fue que los transistores probablemente no se
encontraban en buen estado y se procedió a ver la señal punto por punto del circuito
impreso en el osciloscopio, sin obtener resultados que dieran una pista de algún transistor
dañado.
Como en el laboratorio se contaba con tres transistores nuevos 2N5179, se procedió
a armar el circuito receptor en una proto (Figura 4.11) y se puso a trabajar con el transmisor
del circuito impreso sin obtener resultados alentadores.
47
Figura 4.11 Receptor en proto y transmisor del circuito impreso
Nuevamente se dudo del fotodiodo y se midió el flujo de emisión del LED para
determinar, con ayuda de las hojas del fabricante, la corriente que producía el fotodiodo. Se
determinó que esta corriente era de 0,07µA, sin embargo este resultado no ayudaba mucho
puesto que no se conocía bien el funcionamiento del circuito, lo que provoco que se
elaborara un estudio mas detallado del circuito receptor. A esta altura del trabajo el profesor
facilitó un multímetro que permite medir el parámetro de ganancia de corriente β0 de un
transistor, por lo que se procedió a medir la ganancia de cada uno de los transistores nuevos
que se utilizaban en la proto. Hasta este momento se daba por un hecho que los transistores
nuevos estaban en buen estado, sin embargo al realizar las mediciones de ganancia se
descubrió que uno de estos transistores estaba dañado, además la ganancia de otro tenía un
valor muy pequeño (β0=27). El tercer transistor presentaba un valor apropiado de ganancia
(β0=210)
48
El siguiente paso consistió en reemplazar los transistores. Se tuvieron que comprar
transistores equivalentes al 2N5179 ya que estos no se consiguen en el país. Se compraron
dos transistores NTE316 con valores intermedios de ganancia de 82 y 100. Tan pronto
como se sustituyeron en la proto se obtuvo un pulso de salida. Los transistores del circuito
impreso se sustituyeron provisionalmente con los transistores que se utilizaban en la proto y
se procedió a realizar las mediciones con una fibra de 20m obteniendo un pulso de muy
baja amplitud y con un nivel de ruido considerable (Figura 4.12)
Figura 4.12 Pulsos de referencia y transmitido a través de una fibra de 20m.
Aunque el equipo ya funcionaba, su operación no era la optima. Se procedió a
quitar los transistores del circuito impreso y a colocarlos nuevamente en la proto. Se armó
una configuración Darlington (Figura 4.13) con los transistores que tienen una ganancia de
82 y 27. La combinación de los dos dispositivos se comporta como un BJT npn de un βF
mas alto.
49
Figura 4.13 Configuración Darlington
El transistor que se conectó con esta configuración es el del inversor BJT de la
primera etapa y mejoró notablemente la señal de salida como se muestra en la figura 4.14.
Tomando en cuenta que la escala vertical de la figura 4.12 es de 50mV por división y la de
la figura 4.14 es de 100 mV por división.
Con estos resultados se acordó con el profesor realizar las mediciones con el
circuito receptor de la proto, para comprar posteriormente en el extranjero los transistores
2N5179 de alta ganancia que se necesitan para el funcionamiento optimo del equipo.
50
CAPÍTULO 5: Resultados experimentales
Las mediciones se realizaron solamente con el Aparato de Velocidad de la Luz de
Fibra Óptica, se hicieron en fibras plásticas cortas de 20m, 15m, 10m y 2m. Para obtener un
dato mas aproximado del largo de fibra se realizaron varias mediciones con una cinta
métrica, estos son los resultados obtenidos:
Tabla 5.1 Resultados experimentales
L 20m 15m 10m 2m

19.96 14.835 9.587 1.998
19.7 14.804 9.586 1.997
19.98 14.81 9.586 1.995
Mediciones
19.978 1.998
19.998 2
19.975 1.995
Promedio (L) 19.93183 14.81633 9.58633 1.99717
Tiempo (∆t) 1.00E-07 7.40E-08 4.80E-08 1.00E-08
n 1.50409 1.49731 1.50110 1.50109
Error (%) 1.20887 0.53099 0.90993 0.90888
El índice de refracción se obtuvo mediante la formula:
c c ⋅ ∆t
n= = (5.1)
υ L
Con c = 2,99792458 × 10 8 m/s y nFab=1,492 para una fibra POF
Como se puede observar en la tabla 5.1 los resultados son bastante aproximados al
dato suministrado por el fabricante, obteniendo un error máximo de 1,27 %. No hay que
olvidar que realizando mas mediciones del largo de la fibra L con una cinta métrica de
51
mejor calidad o si se conoce con exactitud la longitud de la fibra, se corregiría un poco el
nivel de error introducido por este dato.
5.1 Formas de onda obtenidas
52
53
CAPÍTULO 6: Conclusiones y recomendaciones
Es importante conocer la importancia que tiene el índice de refracción en la
tecnología, gracias al manejo de este parámetro es que se puede hacer viajar la luz a través
de una fibra óptica dada la diferencia entre los índices de la cubierta y el núcleo,
actualmente el índice de refracción es también un parámetro importante en el desarrollo de
memorias holográficas.
El hecho de que exista un procedimiento preciso para medir índices de refracción
tendrá un papel más importante si entra en vigencia el Tratado de Libre Comercio TLC
entre Centroamérica y Estados Unidos, ya que al tener que subir los niveles de calidad en
los productos, específicamente la industria de plástico y vidrio, es importante que las
empresas se sometan a procesos de acreditación y certificación como los ISO, en los cuales
la existencia de procedimientos definidos y normados es vital para obtener una aprobación.
Se ha observado que tanto el procedimiento de obtención del índice de refracción
mediante interferometría así como por Tiempo de Viaje son métodos muy exactos mientras
que el método por medio de óptica geométrica depende mas que todo de la persona que
realiza la medición, lo cual es indicador de que este no es el mejor método para determinar
n. Sin embargo para fines didácticos este procedimiento resulta bastante ilustrativo y por
esto se puede implementar en prácticas de laboratorio. Por el costo del equipo y por el
tiempo que requiere el montaje y calibración de los equipos, los métodos de Interferometría
y Tiempo de viaje no son muy aptos para implementar en practicas de laboratorio.
Claramente estos procedimientos son los que se utilizarían para proyectos de metrología.
54
Es de suma importancia que el equipo de Velocidad de la Luz en Fibra Óptica sea
reparado con transistores de alta ganancia (>200) para que este trabaje de manera óptima,
ya que al estar formado por una serie de circuitos amplificadores y convertidores BJT la
ganancia de los transistores tiene mucho peso en la ganancia global de los circuitos, por lo
que se recomienda asegurarse de valores altos de β0 a la hora de comprar los transistores,
ya sean los 2N5179 o los equivalentes NTE 316. Cuando se coloquen los transistores en el
circuito impreso no se debería de cortar en exceso las patillas o bien, se deberían de colocar
sobre bases transistores, con el fin de facilitar una reparación en caso de que volviera a
fallar un transistor u otro componente.
Si el índice de refracción de una fibra es conocido, ya sea porque el fabricante lo
suministra o porque se obtuvo con una muestra pequeña de fibra, este equipo se puede
utilizar para determinar con una gran exactitud la distancia de un tramo determinado de
fibra.
55
BIBLIOGRAFÍA
Libros:
1. Donati, S. “Electro-Optical Instrumentation”, 1 edición, Prentice Hall, United
States of America, 2004.
2. Fox, M. “Optical Properties of Solids”, 1 edición, Oxford University Press,
United States of America, 2001.
3. Gasvick, K.J. “Optical Metrology”, 3 edición, John Wiley & Sons, England, 2002.
4. Gottileb, H.H. “Metrologic. Experiments Using a Helium Neon Laser” 11
edición, Metrologic Instruments Inc, United States of America, 1984.
5. Halliday, D. “Física Vol. 2”, 4 edición, CECSA, México, 1999.
6. Hayt, W. “Teoría Electromagnética”, 5 edición, McGraw Hill, México, 1991.
7. Horestein, M. N. “Microelectrónica: Circuitos y Dispositivos”, 2 edición,
Prentice Hall, México, 1995.
8. Martín, V.D. “Optoelectronics Vol. 3”, 1 edición, Prompt Publications, United
9. Palais C., J. “Fiber Optic Communications”, 4 edición, Prentice Hall, United
10. Wilson, J. “Optoelectronics An Introduction” 3 edición, Prentice Hall Europe,
Great Britain, 1998.
56
Páginas web:
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SL_man.pdf
12. “Industrial Fiber Optics, Inc. 2003 Product Catalog”, http://www.i-
fiberoptics.com/Cat03_p1-30_lo.pdf
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down_files/Optica.pdf.
14. “Refractive Index”, http://en.wikipedia.org/wiki/Index_of_refraction.
15. “Refractive index as a function of wavelength”, http://www.philiplaven.com/
p20.html.
57
ANEXOS
58
HOJAS DEL FABRICANTE
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SEMICONDUCTOR TECHNICAL DATA by 2N2369/D

NPN Silicon
COLLECTOR

3
*Motorola Preferred Device
2
BASE
1
EMITTER
3
2
1
MAXIMUM RATINGS
Rating Symbol Value Unit
Collector – Emitter Voltage VCEO 15 Vdc CASE 22–03, STYLE 1
TO–18 (TO–206AA)
Collector – Emitter Voltage VCES 40 Vdc
Collector– Base Voltage VCBO 40 Vdc
Emitter– Base Voltage VEBO 4.5 Vdc
Collector Current (10 ms pulse) IC(Peak) 500 mA
Collector Current — Continuous IC 200 mA
Total Device Dissipation @ TA = 25°C PD 0.36 Watt
Derate above 25°C 2.06 mW/°C
Total Device Dissipation @ TC = 100°C PD 0.68 Watts
Derate above 100°C 6.85 mW/°C
Operating and Storage Junction TJ, Tstg – 65 to +200 °C
Temperature Range
THERMAL CHARACTERISTICS
Characteristic Symbol Max Unit
Thermal Resistance, Junction to Ambient RqJA 486 °C/W
Thermal Resistance, Junction to Case RqJC 147 °C/W
ELECTRICAL CHARACTERISTICS (TA = 25°C unless otherwise noted)

Characteristic Symbol Min Max Unit
OFF CHARACTERISTICS
Collector – Emitter Breakdown Voltage (IC = 10 mA, VBE = 0) V(BR)CES 40 — Vdc
Collector – Emitter Sustaining Voltage(1) (IC = 10 mAdc, IB = 0) VCEO(sus) 15 — Vdc
Collector – Base Breakdown Voltage (IC = 10 mA, IB = 0) V(BR)CBO 40 — Vdc
Emitter – Base Breakdown Voltage (IE = 10 mAdc, IC = 0) V(BR)EBO 4.5 — Vdc
Collector Cutoff Current ICBO mAdc
(VCB = 20 Vdc, IE = 0) 2N2369 — 0.4
(VCB = 20 Vdc, IE = 0, TA = 150°C) 2N2369A — 30
Collector Cutoff Current ICES — 0.4 mAdc
(VCE = 20 Vdc, VBE = 0) 2N2369A
Base Current IB — 0.4 mAdc
(VCE = 20 Vdc, VBE = 0) 2N2369A
1. Pulse Test: Pulse Width v 300 ms, Duty Cycle v 2.0%.

Preferred devices are Motorola recommended choices for future use and best overall value.
Motorola Small–Signal Transistors, FETs and Diodes Device Data 1

 Motorola, Inc. 1996

ELECTRICAL CHARACTERISTICS (TA = 25°C unless otherwise noted) (Continued)
Characteristic Symbol Min Max Unit
ON CHARACTERISTICS
DC Current Gain(1) hFE —
(IC = 10 mAdc, VCE = 1.0 Vdc) 2N2369 40 120
2N2369A — 120
(IC = 10 mAdc, VCE = 1.0 Vdc, TA = –55°C) 2N2369 20 —
(IC = 10 mAdc, VCE = 0.35 Vdc, TA = –55°C) 2N2369A 20 —

(IC = 30 mAdc, VCE = 0.4 Vdc) 2N2369A 30 —
(IC = 100 mAdc, VCE = 1.0 Vdc) 2N2369A 20 —
(IC = 100 mAdc, VCE = 2.0 Vdc) 2N2369 20 —

Collector – Emitter Saturation Voltage(1) VCE(sat) Vdc
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc) 2N2369 — 0.25
2N2369A — 0.20
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc, TA = +125°C) 2N2369A — 0.30

(IC = 30 mAdc, IB = 3.0 mAdc) 2N2369A — 0.25
(IC = 100 mAdc, IB = 10 mAdc) 2N2369A — 0.50

Base – Emitter Saturation Voltage(1) VBE(sat) Vdc
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc) All Types 0.70 0.85
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc, TA = +125°C) 2N2369A 0.59 —
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc, TA = –55°C) 2N2369A — 1.02
(IC = 30 mAdc, IB = 3.0 mAdc) 2N2369A — 1.15
(IC = 100 mAdc, IB = 10 mAdc) 2N2369A — 1.60
SMALL– SIGNAL CHARACTERISTICS

Current – Gain — Bandwidth Product fT 500 — MHz
(IC = 10 mAdc, VCE = 10 Vdc, f = 100 MHz)
Output Capacitance Cobo — 4.0 pF
(VCB = 5.0 Vdc, IE = 0, f = 1.0 MHz)
Input Capacitance Cibo — 4.0 pF
(VEB = 1.0 Vdc, IC = 0, f = 1.0 MHz)
SWITCHING CHARACTERISTICS
Storage Time ts — 13 ns
(IC = IB1 = 10 mAdc, IB2 = –10 mAdc)
Turn–On Time ton — 12 ns
(IC = 10 mAdc, IB1 = 3.0 mA, IB2 = –1.5 mA, VCC = 3.0 Vdc)
Turn–Off Time toff — 18 ns
(IC = 10 mAdc, IB1 = 3.0 mA, IB2 = –1.5 mA, VCC = 3.0 Vdc)
1. Pulse Test: Pulse Width v 300 ms, Duty Cycle v 2.0%.
2 Motorola Small–Signal Transistors, FETs and Diodes Device Data

PACKAGE DIMENSIONS
NOTES:
1. DIMENSIONING AND TOLERANCING PER ANSI
–A– Y14.5M, 1982.
2. CONTROLLING DIMENSION: INCH.
B 3. DIMENSION J MEASURED FROM DIMENSION A
MAXIMUM.
E 4. DIMENSION F APPLIES BETWEEN DIMENSION P
C AND L. DIMENSION D APPLIES BETWEEN
DIMENSION L AND K MINIMUM. LEAD DIAMETER
SEATING
–T– PLANE IS UNCONTROLLED IN DIMENSION P AND
BEYOND DIMENSION K MINIMUM.
F L
P 5. DIMENSION E INCLUDES THE TAB THICKNESS.
K (TAB THICKNESS IS 0.51(0.002) MAXIMUM).
INCHES MILLIMETERS
DIM MIN MAX MIN MAX
STYLE 1: A 0.209 0.230 5.31 5.84
PIN 1. EMITTER B 0.178 0.195 4.52 4.95
D 3 PL C 0.170 0.210 4.32 5.33
2. BASE
0.36 (0.014) M T A M H M 3. COLLECTOR D 0.016 0.021 0.406 0.533
E ––– 0.030 ––– 0.762
F 0.016 0.019 0.406 0.483
N G 0.100 BSC 2.54 BSC
N H 0.036 0.046 0.914 1.17
–H– 2 J 0.028 0.048 0.711 1.22
1 3 G K 0.500 ––– 12.70 –––
L 0.250 ––– 6.35 –––
J M 45 _BSC 45_BSC
M N 0.050 BSC 1.27 BSC
CASE 22–03 P ––– 0.050 ––– 1.27
(TO–206AA)
ISSUE R
Motorola reserves the right to make changes without further notice to any products herein. Motorola makes no warranty, representation or guarantee regarding
the suitability of its products for any particular purpose, nor does Motorola assume any liability arising out of the application or use of any product or circuit, and
specifically disclaims any and all liability, including without limitation consequential or incidental damages. “Typical” parameters which may be provided in Motorola
data sheets and/or specifications can and do vary in different applications and actual performance may vary over time. All operating parameters, including “Typicals”
must be validated for each customer application by customer’s technical experts. Motorola does not convey any license under its patent rights nor the rights of
others. Motorola products are not designed, intended, or authorized for use as components in systems intended for surgical implant into the body, or other
applications intended to support or sustain life, or for any other application in which the failure of the Motorola product could create a situation where personal injury
or death may occur. Should Buyer purchase or use Motorola products for any such unintended or unauthorized application, Buyer shall indemnify and hold Motorola
and its officers, employees, subsidiaries, affiliates, and distributors harmless against all claims, costs, damages, and expenses, and reasonable attorney fees
arising out of, directly or indirectly, any claim of personal injury or death associated with such unintended or unauthorized use, even if such claim alleges that
Motorola was negligent regarding the design or manufacture of the part. Motorola and are registered trademarks of Motorola, Inc. Motorola, Inc. is an Equal
Opportunity/Affirmative Action Employer.
How to reach us:

USA / EUROPE / Locations Not Listed: Motorola Literature Distribution; JAPAN: Nippon Motorola Ltd.; Tatsumi–SPD–JLDC, 6F Seibu–Butsuryu–Center,
P.O. Box 20912; Phoenix, Arizona 85036. 1–800–441–2447 or 602–303–5454 3–14–2 Tatsumi Koto–Ku, Tokyo 135, Japan. 03–81–3521–8315
MFAX: RMFAX0@email.sps.mot.com – TOUCHTONE 602–244–6609 ASIA/PACIFIC: Motorola Semiconductors H.K. Ltd.; 8B Tai Ping Industrial Park,
INTERNET: http://Design–NET.com 51 Ting Kok Road, Tai Po, N.T., Hong Kong. 852–26629298
*2N2369/D*
6 ◊ 2N2369/D
Motorola Small–Signal Transistors, FETs and Diodes Device Data
140 COMMERCE DRIVE
MONTGOMERYVILLE, PA
18936-1013
PHONE: (215) 631-9840
FAX: (215) 631-9855
2N5179
RF & MICROWAVE DISCRETE
LOW POWER TRANSISTORS
Features
• Silicon NPN, TO-72 packaged VHF/UHF Transistor
• Low Noise, NF = 4.5 dB (max) @ 200 MHz
• High Current-Gain-Bandwidth Product 1.4 Ghz (typ) @ 10 mAdc

2 1. Emitter
1 3 2. Base
•
3. Collector
Characterized with S-Parameters 4 4. Case
TO-72
DESCRIPTION:
Silicon NPN transistor, designed for VHF and UHF equipment. Ideal for pre-driver, low noise amplifier, and oscillator
applications.
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS (Tcase = 25°C)

Symbol Parameter Value Unit
VCEO Collector-Emitter Voltage 12 Vdc
VCBO Collector-Base Voltage 20 Vdc
VEBO Emitter-Base Voltage 2.5 Vdc
IC Collector Current 50 mA
Thermal Data
PD Total Device Dissipation @ TA = 25ºC 300 mWatts
Derate above 25ºC 1.71 mW/ ºC
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2N5179
ELECTRICAL SPECIFICATIONS (Tcase = 25°C)
STATIC
(off)
Symbol Test Conditions Value
Min. Typ. Max. Unit
VCEO(sus) Collector-Emitter Sustaining Voltage
(IC = 3.0 mAdc, IB = 0) 12 - - Vdc
BVCBO Collector-Base Breakdown Voltage
(IC=1.0 µAdc, IE=0) 20 - - Vdc
BVEBO Emitter Base Breakdown Voltage
(IE = 0.01 mAdc, IC = 0) 2.5 - - Vdc
ICBO Collector Cutoff Current
(VCB = 15 Vdc, IE = 0) - - .02 µA
(on)
HFE DC Current Gain
(IC = 3.0 mAdc, VCE = 1.0 Vdc) 25 - 250 -
VBE(sat) Base-Emitter Saturation Voltage
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc) - - 1.0 Vdc
VCE(sat) Collector-Emitter Saturation Voltage
(IC = 10 mAdc, IB = 1.0 mAdc) - - 0.4 Vdc
DYNAMIC
Min. Typ. Max. Unit
fT Current-Gain - Bandwidth Product
(IC = 5.0 mAdc, VCE = 6 Vdc, f = 100 MHz) 900 1500 - MHz
CCB Collector-base Capacitance
(VCB = 10 Vdc, IE = 0, f = 1.0 MHz) - - 1.0 pF
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2N5179
FUNCTIONAL
Min. Typ. Max. Unit
NF Noise Figure (figure 1) IC = 1.5 mAdc, VCE = 6.0
Vdc, f = 200 MHz - - 4.5 dB
GPE Common-Emitter Amplifier IC = 1.5 mAdc, VCE = 6.0

Power Gain (figure 1) Vdc, f = 200 MHz 20 - - dB
POUT
PIN (RL=50 OHMS)
(RS=50 OHMS)
Figure 1. 200 MHz Amplifier for Power Gain and Noise Figure specifications.
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2N5179
FUNCTIONAL (CONT)
Min. Typ. Max. Unit
G Maximum Unilateral Gain (1) IC = 5 mAdc, VCE = 6.0 Vdc,
U max
f = 200 MHz - 17 - dB
MAG Maximum Available Gain IC = 5 mAdc, VCE = 6.0 Vdc,

f = 200 MHz - 18 - dB
2 Insertion Gain IC = 5 mAdc, VCE = 6.0 Vdc,
|S21|
f = 200 MHz - 12 - dB
Note: 1. Maximum Unilateral Gain = |S21|2 / (1 - |S11|2) (1 - |S22|2)
Table 1. Common Emitter S-Parameters, @ VCE = 6 V, IC = 5 mA
f S11 S21 S12 S22

(MHz) |S11| ∠φ |S21| ∠φ |S12| ∠φ |S22| ∠φ
100 .471 -90 6.78 122 .023 64 .844 -51
200 .314 -145 4.20 100 .034 58 .780 -93
300 .230 156 2.76 91 .043 65 .768 -134
400 .171 108 2.17 86 .056 63 .756 -177
500 .168 54 1.86 79 .062 62 .741 140
600 .149 -9 1.53 71 .069 66 .740 98
700 .137 -72 1.31 67 .073 71 .739 54
800 .119 -129 1.18 64 .092 74 .744 8
900 .153 -174 1.13 58 .101 68 .742 -38
1000 .171 122 .979 49 .106 71 .749 -82
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2N5179
MSC1305.PDF 10-25-99
NTE316
Silicon NPN Transistor
High Gain, Low Noise Amp
Features:
D High Current Gain–Bandwidth Product
D Low Noise Figure
D High Power Gain
Absolute Maximum Ratings:

Collector–Emitter Voltage, VCEO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15V
Collector–Base Voltage, VCBO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30V
Emitter–Base Voltage, VEBO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3V
Continuous Collector Current, IC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50mA
Total Continuous Device Dissipation (TA = +25°C), PD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 200mW
Derate Above 25°C . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.14mW/°C
Storage Temperature Range, Tstg . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . –65° to +200°C
Electrical Characteristics: (TA = +25°C unless otherwise specified)

Parameter Symbol Test Conditions Min Typ Max Unit
OFF Characteristics
Collector–Emitter Breakdown Voltage V(BR)CEO IC = 5mA, IB = 0 15 – – V
Collector–Base Breakdown Voltage V(BR)CBO IC = 0.1mA, IE = 0 30 – – V
Emitter–Base Breakdown Voltage V(BR)EBO IE = 0.1mA, IC = 0 3.5 – – V
Collector Cutoff Current ICBO VCB = 5V, IE = 0 – – 10 nA
ON Characteristics
DC Current Gain hFE VCE = 5V, IC = 2mA 25 – 250
Dynamic Characteristics
Current Gain–Bandwidth Product fT VCE = 5V, IC = 10mA, f = 100MHz 1400 – – MHz
Collector–Base Capacitance Ccb VCB = 10V, IE = 0, f = 1kHz – 0.8 1.0 pF
Small–Signal Current Gain hfe VCE = 5V, IC = 2mA, f = 1kHz 25 – 250
Collector–Base Time Constant rb ’Cc VCE = 5V, IE = 2mA, f = 31.8MHz 2 – 12 ps
Noise Figure NF VCE = 5V, IC = 2mA, RS = 50Ω, – – 4.5 dB
f = 450MHz
Functional Test
Common–Emitter Amplifier Power Gain Gpe VCE = 5V, IC = 2mA, f = 450MHz 15 – – dB
.220 (5.58) Dia
.185 (4.7) Dia
.190
(4.82)
.030 (.762)
.500
(12.7)
Min
.018 (0.45) Dia
Base
Emitter
Collector
45°
Case
.040 (1.02)
DM74LS221 Dual Non-Retriggerable One-Shot with Clear and Complementary Outputs
August 1986
Revised April 2000
DM74LS221 Dual Non-Retriggerable One-Shot

with Clear and Complementary Outputs
General Description Features
The DM74LS221 is a dual monostable multivibrator with ■ A dual, highly stable one-shot
Schmitt-trigger input. Each device has three inputs permit- ■ Compensated for VCC and temperature variations
ting the choice of either leading-edge or trailing-edge trig-
gering. Pin (A) is an active-LOW trigger transition input and ■ Pin-out identical to DM74LS123 (Note 1)
pin (B) is an active-HIGH transition Schmitt-trigger input ■ Output pulse width range from 30 ns to 70 seconds
that allows jitter free triggering for inputs with transition ■ Hysteresis provided at (B) input for added noise
rates as slow as 1 volt/second. This provides the input with immunity
excellent noise immunity. Additionally an internal latching ■ Direct reset terminates output pulse
circuit at the input stage also provides a high immunity to
■ Triggerable from CLEAR input
VCC noise. The clear (CLR) input can terminate the output
pulse at a predetermined time independent of the timing ■ DTL, TTL compatible
components. This (CLR) input also serves as a trigger ■ Input clamp diodes

input when it is pulsed with a low level pulse transition
( ). To obtain the best and trouble free operation from
this device please read operating rules as well as the Fair-
Note 1: The pin-out is identical to DM74LS123 but, functionally it is not;
child Semiconductor one-shot application notes carefully refer to Operating Rules #10 in this datasheet.
and observe recommendations.
Ordering Code:
Order Number Package Number Package Description
DM74LS221M M16A 16-Lead Small Outline Integrated Circuit (SOIC), JEDEC MS-012, 0.150 Narrow
DM74LS221SJ M16D 16-Lead Small Outline Package (SOP), EIAJ TYPE II, 5.3mm Wide
DM74LS221N N16E 16-Lead Plastic Dual-In-Line Package (PDIP), JEDEC MS-001, 0.300 Wide
Devices also available in Tape and Reel. Specify by appending the suffix letter “X” to the ordering code.
Connection Diagram Function Table

Inputs Outputs
CLEAR A B Q Q
L X X L H
X H X L H

X X L L H

H L ↑

H ↓ H
↑ (Note 2) L H
H = HIGH Logic Level
L = LOW Logic Level
X = Can Be Either LOW or HIGH
↑ = Positive Going Transition

↓ = Negative Going Transition
= A Positive Pulse
= A Negative Pulse
Note 2: This mode of triggering requires first the B input be set from a
LOW-to-HIGH level while the CLEAR input is maintained at logic LOW
level. Then with the B input at logic HIGH level, the CLEAR input whose
positive transition from LOW-to-HIGH will trigger an output pulse.
© 2000 Fairchild Semiconductor Corporation DS006409 www.fairchildsemi.com

Functional Description
The basic output pulse width is determined by selection of may be reduced or terminated by use of the active low
an external resistor (RX) and capacitor (CX). Once trig- CLEAR input. Stable output pulse width ranging from 30 ns
gered, the basic pulse width is independent of further input to 70 seconds is readily obtainable.
transitions and is a function of the timing components, or it
Operating Rules 8. Duty cycle is defined as tW/T × 100 in percentage, if it

goes above 50% the output pulse width will become
1. An external resistor (RX) and an external capacitor
shorter. If the duty cycle varies between LOW and
(CX) are required for proper operation. The value of CX HIGH values, this causes output pulse width to vary, or
may vary from 0 to approximately 1000 µF. For small jitter (a function of the REXT only). To reduce jitter, REXT
time constants high-grade mica, glass, polypropylene, should be as large as possible, for example, with
polycarbonate, or polystyrene material capacitor may REXT = 100k jitter is not appreciable until the duty cycle
be used. For large time constants use tantalum or spe-
approaches 90%.
cial aluminum capacitors. If timing capacitor has leak-
ages approaching 100 nA or if stray capacitance from 9. Under any operating condition CX and RX must be kept
either terminal to ground is greater than 50 pF the tim- as close to the one-shot device pins as possible to min-
ing equations may not represent the pulse width the imize stray capacitance, to reduce noise pick-up, and
device generates. to reduce I-R and Ldi/dt voltage developed along their
2. When an electrolytic capacitor is used for CX a switch- connecting paths. If the lead length from CX to pins (6)
ing diode is often required for standard TTL one-shots and (7) or pins (14) and (15) is greater than 3 cm, for
to prevent high inverse leakage current. This switching example, the output pulse width might be quite different
diode is not needed for the DM74LS221 one-shot and from values predicted from the appropriate equations.
should not be used. A non-inductive and low capacitive path is necessary to
ensure complete discharge of CX in each cycle of its
Furthermore, if a polarized timing capacitor is used on
operation so that the output pulse width will be accu-
the DM74LS221, the positive side of the capacitor
rate.
should be connected to the “CEXT” pin (Figure 1).
10. Although the DM74LS221's pin-out is identical to the
3. For CX >> 1000 pF, the output pulse width (tW) is DM74LS123 it should be remembered that they are not
defined as follows: functionally identical. The DM74LS123 is a retrigger-
tW = KRX CX able device such that the output is dependent upon the
input transitions when its output “Q” is at the “High”
where [RX is in kΩ]
state. Furthermore, it is recommended for the
[CX is in pF] DM74LS123 to externally ground the CEXT pin for
[tW is in ns] improved system performance. However, this pin on
the DM74LS221 is not an internal connection to the
K ≈ Ln2 = 0.70
device ground. Hence, if substitution of an DM74LS221
4. The multiplicative factor K is plotted as a function of CX onto an DM74LS123 design layout where the CEXT pin
for design considerations: (See Figure 4). is wired to the ground, the device will not function.
5. For CX < 1000 pF see Figure 3 for tW vs. CX family 11. VCC and ground wiring should conform to good high-
curves with RX as a parameter. frequency standards and practices so that switching
6. To obtain variable pulse widths by remote trimming, transients on the VCC and ground return leads do not
the following circuit is recommended: (See Figure 2). cause interaction between one-shots. A 0.01 µF to 0.10
7. Output pulse width versus VCC and temperatures: Fig- µF bypass capacitor (disk ceramic or monolithic type)
ure 5 depicts the relationship between pulse width vari- from VCC to ground is necessary on each device. Fur-
ation versus VCC. Figure 6 depicts pulse width variation thermore, the bypass capacitor should be located as
versus temperatures. close to the VCC-pin as space permits.
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Operating Rules (Continued)
Note: “Rremote” should be as close to the one-shot as possible.

FIGURE 1. FIGURE 2.
FIGURE 3. FIGURE 4.
FIGURE 5. FIGURE 6.
Note: For further detailed device characteristics and output performance, please refer to the Fairchild Semiconductor one-shot application note AN-372.
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Absolute Maximum Ratings(Note 3)
Note 3: The “Absolute Maximum Ratings” are those values beyond which
Supply Voltage 7V the safety of the device cannot be guaranteed. The device should not be
operated at these limits. The parametric values defined in the Electrical
Input Voltage 7V
Characteristics tables are not guaranteed at the absolute maximum ratings.
Operating Free Air Temperature Range 0°C to +70°C The “Recommended Operating Conditions” table will define the conditions
for actual device operation.
Storage Temperature Range −65°C to +150°C
Recommended Operating Conditions

Symbol Parameter Min Nom Max Units
VCC Supply Voltage 4.75 5 5.25 V
VT+ Positive-Going Input Threshold Voltage
1 2 V
at the A Input (VCC = Min)
VT− Negative-Going Input Threshold Voltage
0.8 1 V
at the A Input (VCC = Min)
VT+ Positive-Going Input Threshold Voltage
1 2 V
at the B Input (VCC = Min)
VT− Negative-Going Input Threshold Voltage
0.8 0.9 V
at the B Input (VCC = Min)
IOH HIGH Level Output Current −0.4 mA
IOL LOW Level Output Current 8 mA
tW Pulse Width Data 40
ns
(Note 4) Clear 40
tREL Clear Release Time (Note 4) 15 ns
Rate of Rise or Fall of
1
Schmitt Input (B) (Note 4)
Rate of Rise or Fall of
1
Logic Input (A) (Note 4)
REXT External Timing Resistor (Note 4) 1.4 100 kΩ
CEXT External Timing Capacitance (Note 4) 0 1000 µF
DC Duty Cycle RT = 2 kΩ 50
%
(Note 4) RT = REXT (Max) 60
TA Free Air Operating Temperature 0 70 °C
Note 4: TA = 25°C and VCC = 5V.
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Electrical Characteristics
over recommended operating free air temperature range (unless otherwise noted)
Typ
Symbol Parameter Conditions Min Max Units
(Note 5)
VI Input Clamp Voltage VCC = Min, II = −18 mA −1.5 V
VOH HIGH Level VCC = Min, IOH = Max
2.7 3.4 V
Output Voltage VIL = Max, VIH = Min
VOL LOW Level VCC = Min, IOL = Max
0.35 0.5
Output Voltage VIL = Max, VIH = Min V
VCC = Min, IOL = 4 mA 0.4
II Input Current @ Max Input Voltage VCC = Max, VI = 7V 0.1 mA
IIH HIGH Level Input Current VCC = Max, VI = 2.7V 20 µA
IIL LOW Level VCC = Max A1, A2 −0.4
Input Current VI = 0.4V B −0.8 mA
Clear −0.8
IOS Short Circuit VCC = Max
−20 −100 mA
Output Current (Note 6)
ICC Supply Current VCC = Max Quiescent 4.7 11
mA
Triggered 19 27
Note 5: All typicals are at VCC = 5V, TA = 25°C.
Note 6: Not more than one output should be shorted at a time, and the duration should not exceed one second.
Switching Characteristics
at VCC = 5V and TA = 25°C
From (Input)
Symbol Parameter Conditions Min Max Units
To (Output)
tPLH Propagation Delay Time A1, A2 CEXT = 80 pF
70 ns
LOW-to-HIGH Level Output to Q REXT = 2 kΩ
tPLH Propagation Delay Time B CL = 15 pF
55 ns
LOW-to-HIGH Level Output to Q RL = 2 kΩ
tPHL Propagation Delay Time A1, A2
80 ns
HIGH-to-LOW Level Output to Q
tPHL Propagation Delay Time B
65 ns
tPLH Propagation Delay Time Clear to
65 ns
LOW-to-HIGH Level Output Q
tPHL Propagation Delay Time Clear
55 ns
tW(out) Output Pulse A1, A2 CEXT = 0
Width Using Zero to Q, Q REXT = 2 kΩ
20 70 ns
Timing Capacitance RL = 2 kΩ
CL = 15 pF
tW(out) Output Pulse A1, A2 CEXT = 100 pF
Width Using External to Q, Q REXT = 10 kΩ
600 750 ns
Timing Resistor RL = 2 kΩ
CL = 15 pF
CEXT = 1 µF
REXT = 10 kΩ
6 7.5 ms
RL = 2 kΩ
CL = 15 pF
CEXT = 80 pF
REXT = 2 kΩ
70 150 ns
RL = 2 kΩ
CL = 15 pF
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LM555 Timer
February 2000
LM555
Timer
General Description Features
The LM555 is a highly stable device for generating accurate n Direct replacement for SE555/NE555
time delays or oscillation. Additional terminals are provided n Timing from microseconds through hours
for triggering or resetting if desired. In the time delay mode of n Operates in both astable and monostable modes
operation, the time is precisely controlled by one external re- n Adjustable duty cycle
sistor and capacitor. For astable operation as an oscillator, n Output can source or sink 200 mA
the free running frequency and duty cycle are accurately
n Output and supply TTL compatible
controlled with two external resistors and one capacitor. The
circuit may be triggered and reset on falling waveforms, and n Temperature stability better than 0.005% per ˚C
the output circuit can source or sink up to 200mA or drive n Normally on and normally off output
TTL circuits. n Available in 8-pin MSOP package
Applications
n Precision timing
n Pulse generation
n Sequential timing
n Time delay generation
n Pulse width modulation
n Pulse position modulation
n Linear ramp generator
Schematic Diagram
DS007851-1
© 2000 National Semiconductor Corporation DS007851 www.national.com

LM555
Connection Diagram
Dual-In-Line, Small Outline
and Molded Mini Small Outline Packages
DS007851-3
Top View
Ordering Information
Package Part Number Package Marking Media Transport NSC Drawing
8-Pin SOIC LM555CM LM555CM Rails
M08A
LM555CMX LM555CM 2.5k Units Tape and Reel
8-Pin MSOP LM555CMM Z55 1k Units Tape and Reel
MUA08A
LM555CMMX Z55 3.5k Units Tape and Reel
8-Pin MDIP LM555CN LM555CN Rails N08E
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LM555
Absolute Maximum Ratings (Note 2) Soldering Information
If Military/Aerospace specified devices are required, Dual-In-Line Package
please contact the National Semiconductor Sales Office/ Soldering (10 Seconds) 260˚C
Distributors for availability and specifications. Small Outline Packages
Supply Voltage +18V (SOIC and MSOP)
Power Dissipation (Note 3) Vapor Phase (60 Seconds) 215˚C
LM555CM, LM555CN 1180 mW Infrared (15 Seconds) 220˚C
LM555CMM 613 mW See AN-450 “Surface Mounting Methods and Their Effect
on Product Reliability” for other methods of soldering
Operating Temperature Ranges surface mount devices.
LM555C 0˚C to +70˚C
Storage Temperature Range −65˚C to +150˚C
Electrical Characteristics (Notes 1, 2)

(TA = 25˚C, VCC = +5V to +15V, unless othewise specified)
Parameter Conditions Limits Units
LM555C
Min Typ Max
Supply Voltage 4.5 16 V
Supply Current VCC = 5V, RL = ∞ 3 6
VCC = 15V, RL = ∞ 10 15 mA
(Low State) (Note 4)
Timing Error, Monostable
Initial Accuracy 1 %
Drift with Temperature RA = 1k to 100kΩ, 50 ppm/˚C
C = 0.1µF, (Note 5)
Accuracy over Temperature 1.5 %
Drift with Supply 0.1 %/V
Timing Error, Astable
Initial Accuracy 2.25 %
Drift with Temperature RA, RB = 1k to 100kΩ, 150 ppm/˚C
C = 0.1µF, (Note 5)
Accuracy over Temperature 3.0 %
Drift with Supply 0.30 %/V
Threshold Voltage 0.667 x VCC
Trigger Voltage VCC = 15V 5 V
VCC = 5V 1.67 V
Trigger Current 0.5 0.9 µA
Reset Voltage 0.4 0.5 1 V
Reset Current 0.1 0.4 mA
Threshold Current (Note 6) 0.1 0.25 µA
Control Voltage Level VCC = 15V 9 10 11
V
VCC = 5V 2.6 3.33 4
Pin 7 Leakage Output High 1 100 nA
Pin 7 Sat (Note 7)
Output Low VCC = 15V, I7 = 15mA 180 mV
Output Low VCC = 4.5V, I7 = 4.5mA 80 200 mV
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LM555
Electrical Characteristics (Notes 1, 2) (Continued)
(TA = 25˚C, VCC = +5V to +15V, unless othewise specified)

Parameter Conditions Limits Units
LM555C
Min Typ Max
Output Voltage Drop (Low) VCC = 15V
ISINK = 10mA 0.1 0.25 V
ISINK = 50mA 0.4 0.75 V
ISINK = 100mA 2 2.5 V
ISINK = 200mA 2.5 V
VCC = 5V
ISINK = 8mA V
ISINK = 5mA 0.25 0.35 V
Output Voltage Drop (High) ISOURCE = 200mA, VCC = 15V 12.5 V
ISOURCE = 100mA, VCC = 15V 12.75 13.3 V
VCC = 5V 2.75 3.3 V
Rise Time of Output 100 ns
Fall Time of Output 100 ns
Note 1: All voltages are measured with respect to the ground pin, unless otherwise specified.
Note 2: Absolute Maximum Ratings indicate limits beyond which damage to the device may occur. Operating Ratings indicate conditions for which the device is func-
tional, but do not guarantee specific performance limits. Electrical Characteristics state DC and AC electrical specifications under particular test conditions which guar-
antee specific performance limits. This assumes that the device is within the Operating Ratings. Specifications are not guaranteed for parameters where no limit is
given, however, the typical value is a good indication of device performance.
Note 3: For operating at elevated temperatures the device must be derated above 25˚C based on a +150˚C maximum junction temperature and a thermal resistance
of 106˚C/W (DIP), 170˚C/W (S0-8), and 204˚C/W (MSOP) junction to ambient.
Note 4: Supply current when output high typically 1 mA less at VCC = 5V.
Note 5: Tested at VCC = 5V and VCC = 15V.
Note 6: This will determine the maximum value of RA + RB for 15V operation. The maximum total (RA + RB) is 20MΩ.
Note 7: No protection against excessive pin 7 current is necessary providing the package dissipation rating will not be exceeded.
Note 8: Refer to RETS555X drawing of military LM555H and LM555J versions for specifications.
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LM555
Applications Information
MONOSTABLE OPERATION NOTE: In monostable operation, the trigger should be driven
In this mode of operation, the timer functions as a one-shot high before the end of timing cycle.
(Figure 1). The external capacitor is initially held discharged
by a transistor inside the timer. Upon application of a nega-
tive trigger pulse of less than 1/3 VCC to pin 2, the flip-flop is
set which both releases the short circuit across the capacitor
and drives the output high.
DS007851-7
FIGURE 3. Time Delay
ASTABLE OPERATION
If the circuit is connected as shown in Figure 4 (pins 2 and 6
connected) it will trigger itself and free run as a multivibrator.
DS007851-5 The external capacitor charges through RA + RB and dis-
FIGURE 1. Monostable charges through RB. Thus the duty cycle may be precisely
set by the ratio of these two resistors.
The voltage across the capacitor then increases exponen-
tially for a period of t = 1.1 RA C, at the end of which time the
voltage equals 2/3 VCC. The comparator then resets the
flip-flop which in turn discharges the capacitor and drives the
output to its low state. Figure 2 shows the waveforms gener-
ated in this mode of operation. Since the charge and the
threshold level of the comparator are both directly propor-
tional to supply voltage, the timing internal is independent of
supply.
DS007851-8
FIGURE 4. Astable
DS007851-6 In this mode of operation, the capacitor charges and dis-
VCC = 5V Top Trace: Input 5V/Div. charges between 1/3 VCC and 2/3 VCC. As in the triggered
TIME = 0.1 ms/DIV. Middle Trace: Output 5V/Div. mode, the charge and discharge times, and therefore the fre-
RA = 9.1kΩ Bottom Trace: Capacitor Voltage 2V/Div. quency are independent of the supply voltage.
C = 0.01µF
FIGURE 2. Monostable Waveforms
During the timing cycle when the output is high, the further
application of a trigger pulse will not effect the circuit so long
as the trigger input is returned high at least 10µs before the
end of the timing interval. However the circuit can be reset
during this time by the application of a negative pulse to the
reset terminal (pin 4). The output will then remain in the low
state until a trigger pulse is again applied.
When the reset function is not in use, it is recommended that
it be connected to VCC to avoid any possibility of false trig-
gering.
Figure 3 is a nomograph for easy determination of R, C val-
ues for various time delays.
7 www.national.com
INDUSTRIAL FIBER OPTICS
Speed of Light Apparatus
With Industrial Fiber Optics’ Speed of Light
Apparatus, measuring the speed of light is now easy
and quite accurate. Such was not the case for many
centuries. The famed Galileo – after he attempted
to measure the speed of light with an unlikely
arrangement of lanterns and flags on tall towers –
decided that light must travel at infinite speed. Later,
Armande Fizeau used an elaborate mechanism with
mirrors, lens and a huge rotating cogwheel to deter-
mine if the speed of light was, in fact, not infinite.
He got close. After many years we now know light
does not travel at infinite speed, but rather 299,
792.4562 meters per second in a vacuum.
With the proper combination of electronics,
electro-optics and fiber optics this once-difficult
measurement is simple and can be conducted in
any lab or classroom. All that’s needed is a 60 ×
100 cm table, 110 VAC electrical power, oscillo-
scope and the Speed of Light Apparatus. An integral part of the Speed of Light Apparatus is an easily understood full-
To conduct this experiment, first apply 110 VAC color, often lighthearted manual. It begins by tracing the early steps of techni-
power to the oscilloscope and Speed of Light cal pioneers in their quest to understand light. The manual also includes
Apparatus, then connect oscilloscope probes to detailed step-by-step set-up and measurement instructions and examples with
apparatus test points. After calibration, the oscillo- equations for calculating the speed of light. In addition, assembly instructions are
scope monitors the reference and delayed pulses, included for those who purchase this as a kit.
the time delay is measured and the speed of light
calculated. F E AT U R E S
◆ All solid-state transmitter/receiver design
◆ Low-voltage electronics operation
◆ Fiber optic delay requires no optical alignment
◆ Safe, visible LED light source
◆ Quick set-up and measurement
◆ Impact-resistant, protective enclosure
◆ Rubber feet on chassis bottom for adhesion on smooth surfaces
◆ Contained light beam is ideal for small areas
◆ 28-page full-color manual with step-by step assembly, operation
instructions and sample oscilloscope displays
(The apparatus consists of an electronics circuit board in protective plastic
enclosure, two fiber optic cables, test connections for all outputs and a 110
VAC-to-DC power adapter. The optical fibers terminate in simple cinch-collet
connectors for easy assembly and efficient coupling. A 20 MHz oscilloscope
is required.) Adapters for 220 VAC will be furnished upon request.
A typical oscilloscope display depicts the refer-
ence signal and the delayed optical signal through
KIT VERSION IF-SL-K
optical fiber (100 ns of delay through 20 meters of
optical fiber.) ASSEMBLED VERSION IF-SL-A
22 INDUSTRIAL FIBER OPTICS, INC. • w w w. i - f i b e r o p t i c s . c o m

Fiber Cable
J A C K E T E D C O M M U N I C AT I O N F I B E R
Industrial Fiber Optics is an authorized distributor for Mitsubishi Rayon optical fiber. Our compa-
ny maintains inventories of Mitsubishi Eska®, Super Eska and Eska Premier PMMA optical fiber
and fiber cable. We offer overnight delivery, credit card purchases and service schedules to meet
individual customer delivery requirements. The table below lists the types of Eska fiber cable in
our inventory. Note that the part numbers for a complete spool are different than the part num-
ber when purchasing fiber by the meter. Not all varieties of fiber cable are available by the meter
because of limited demand. Specification sheets on each type of fiber cable and a graph of attenu-
ation versus wavelength values can be found on the Industrial Fiber Optics web site
ESKA FIBER JACKET ATTEN. TENSILE LENGTH

PRODUCT DIA.(mm) MAT’L / JACKET (dB/m) * STREN. PER STOCK NUMBER SPEC.
GRADE CODE ✕ NUM. COLOR DIA.(mm) WEB / PDF (kg) SPOOL (m) SPOOL METER SHEETS
SUPER SH2001 0.5 ✕ 1 PE (BLK) 1.0±0.07 <0.22 2 1000 810116 N/A WEB / PDF
ESKA® SH3001 .75 ✕ 1 PE (BLK) 2.2±0.07 <0.20 5 500 810117 810118 WEB / PDF
SH4001 1.0 ✕ 1 PE (BLK) 2.2±0.07 <0.20 9 500 810004 IF-C-E1000 WEB / PDF
SH4001 1.0 ✕ 1 PE (BLK) 2.2±0.07 <0.20 9 1000 810005 N/A WEB / PDF
A.2.2±0.07
SH4002 1.0 ✕ 2 PE (BLK) B.4.4±0.10 <0.20 14 500 810025 IF-C-D1000 WEB / PDF
ESKA ® GH4001 1.0 ✕ 1 PE (BLK) 2.2±0.07 <.14 8 500 810012 810011 WEB / PDF
PREMIER
A.2.2±0.07
GH4002 1.0 ✕ 2 PE (BLK)
B.4.4±0.10
<.14 14 500 810027 810026 WEB / PDF
GHCP4001 1.0 ✕ 1 XPE (BLK) 2.2±0.07 <.14 8 500 810120 810119 WEB / PDF
GHCP4002 1.0 ✕ 2 XPE (BLK) 2.2±0.07 <.14 14 500 810125 810124 WEB / PDF
GHV4001 1.0 ✕ 1 PVC (GRAY) 2.2±0.07 <.14 7 500 810013 810110 WEB / PDF
GHV4002 1.0 ✕ 2 PVC (GRAY) 2.2±0.07 <.14 14 500 810130 N/A WEB / PDF
PE (BLK) A.5.0±0.20
GHTT4001 1.0 ✕ 1 PVC (GRAY) B.2.2±0.07
<.14 25 500 810135 N/A WEB / PDF
6.0±0.20
GHTT4002 1.0 ✕ 2 PE (BLK) A.2.2±0.07 <.14 45 400 810140 N/A WEB / PDF
PVC (GRAY) B.4.3±0.10
HEAT DH4001 1.0 ✕ 1 XPE (BLK) 2.2±0.07 <0.3 14 500 810016 N/A WEB / PDF
RESISTANT1
HEAT
RESISTANT2 FH4001 1.0 ✕ 1 XPE (BLK) 2.2±0.07 <0.7 14 500 810017 N/A WEB / PDF
ESKA MEGA® MH4001 1.0 ✕ 1 PE (BLK) 2.2±0.07 <.14 7 500 810018 N/A WEB / PDF
PE: Polyethylene 1 Fiber core material is heat resistant 115ºC type

PVC: Polyvinylchloride 2 Fiber core material is heat resistant 125ºC type
XPE: Crosslink polyethylene * Measured at room temperature with 650 nm collimated light
Graph of attenuation versus wavelength can be found on web site.
OPTICAL PROPERTIES
REFRACTIVE INDEX OPER. FIBER ACCEPTANCE
GRADE CORE CLADDING TEMP.(Cº) NA ANGLE
Super Eska® 1.492 1.402 -55~+70 0.51 60º
Eska Premier® 1.492 1.402 -55~+85 0.51 60º
Eska D 1.492 1.392 -55~+115 0.54 65º
Eska F 1.582 1.392 -55~+125 0.75 97º
Eska Mega® 1.492 1.456 -40~+85 0.30 35º
INDUSTRIAL FIBER OPTICS, INC. • w w w. i - f i b e r o p t i c s . c o m 69

Plastic Fiber Optic Red LED IF-E96
DESCRIPTION
The IF-E96 is a low-cost, high-speed, visible red LED housed in a “connector-
less” style plastic fiber optic package. The output spectrum is produced by a
GaAlAs die which peaks at 660 nm, one of the optimal transmission windows
of PMMA plastic optical fiber. The device package features an internal micro-
lens and a precision-molded PBT housing to maximize optical coupling into
standard 1000 µm core plastic fiber cable.
A P P L I C AT I O N H I G H L I G H T S
The performance/price ratio of the IF-E96 is particularly attractive for high vol-
ume design applications. The visible red output has low attenuation in PMMA
plastic fiber and aids in troubleshooting installations. When used with an IF-D96
photologic detector the IF-E96 can achieve data rates of 5 Mbps. Fast transition
times and low attenuation make the IF-E96 an excellent device selection for
A P P L I CAT I O N S low cost analog and digital data links up to 75 meters.
➤ Low Cost Analog and Digital F E AT U R E S
Data Links
◆ High Performance at Low Cost
➤ Automotive Electronics
◆ Visible Red Output Aids Troubleshooting
➤ Digitized Audio
◆ Low Transmission Loss with PMMA Plastic Fiber
➤ Medical instruments
◆ Fast Transition Times
➤ PC-to-Peripheral Data Links
◆ Mates with standard 1000 µm core jacketed plastic fiber cable
➤ Robotics Communications
◆ No Optical Design required
➤ Motor Controller Triggering
◆ Internal Micro-Lens for Efficient Optical Coupling
➤ EMC/EMI Signal Isolation
◆ Inexpensive Plastic Connector Housing
➤ Local Area Networks
◆ Connector-Less Fiber Termination
➤ Intra-System Links: Board-to-
◆ Light-Tight Housing Provides Interference-Free Transmission
Board, Rack-to-Rack
M A X I M U M R AT I N G S C HA R A C T E R I S T I C S (TA=25°C)
(TA =25°C)
Parameter Symbol Min. Typ. Max. Unit
Operating and Storage Peak Wavelength λPEAK 650 660 670 nm
Temperature Range
(TOP,TSTG) .....................-40° to 85°C Spectral Bandwidth (50% of IMAX) ∆λ – 20 – nm
Junction Temperature (TJ) .............85°C Output Power Coupled into Plastic Fiber
(1 mm core diameter). Distance Lens to Fiber Φ min 125 200 300 µW
Soldering Temperature ≤0.1 mm, 1 m SH4001 fiber, IF=20 mA -9.0 -7.0 -5.2 dBm
(2 mm from case bottom)
(TS) t ≤ 5s .................................240°C Switching Times (10% to 90% and
90% to 10%) (IF=20 mA) tr, tf – .1 – µs
Reverse Voltage (VR).........................5 V
Capacitance (F=1 MHz) C0 – 30 – pF
Power Dissipation
(PTOT) TA =25°C .....................60 mW Forward Voltage (IF=20 mA) Vf – – 1.8 V
De-rate Above 25°C ............1.1 mW/°C Temperature Coefficient, λPEAK TCλ 0.2 nm/K
Forward Current, DC (IF) ...........35 mA
Surge Current (IFSM)
t ≤ 10 µs ..................................150 mA

IF-E96 Plastic Fiber Optic Red LED
FIGURE 1. Normalized power launched versus forward current. FIGURE 3. Cross-section of fiber optic device.
F I B E R T E R M I NAT I O N I N S T R U C T IO N S
1. Cut off the ends of the optical fiber with a single-
edge razor blade or sharp knife. Try to obtain a
precise 90-degree angle (square).
2. Insert the fiber through the locking nut and into the
connector until the core tip seats against the internal
micro-lens.
3. Screw the connector locking nut down to a snug fit,
locking the fiber in place.
FIGURE 2. Typical spectral output versus wavelength.
PACKAGE IDENTIFICATION:
◆ Blue housing w/ Pink dot
• PIN 1. Cathode
• PIN 2. Anode
FIGURE 4. Case outline.

Plastic Fiber Optic Photodiode IF-D91
DESCRIPTION
The IF-D91 is a high-speed photodiode detector housed in a “connector-less”
style plastic fiber optic package. Optical response of the IF-D91 extends from
400 to 1100 nm, making it compatible with a wide range of visible and near-
infrared LED and laser diode sources. This includes 650 nm visible red LEDs
used for optimum transmission in PMMA plastic optic fiber. The detector pack-
age features an internal micro-lens and a precision-molded PBT housing to
ensure efficient optical coupling with standard 1000 µm core plastic fiber cable.
A P P L I C AT I O N H I G H L I G H T S
The fast response times of the IF-D91 make it suitable for high-speed digital data
links. When used with an appropriate LED or laser diode source the IF-D91 is
capable of 100 Mbps data rates. The IF-D91 also can be used in analog video
links with bandwidths up to 70 MHz. The integrated design of the IF-D91
A P P L I C AT I O N S provides simple, cost-effective implementation in a variety of analog and digital
➤ High-Speed Digital Data Links applications.
➤ Local Area Networks F E AT U R E S
➤ Motor Controller Triggering ◆ Fast Rise and Fall Times
➤ Video Links
◆ Mates with Standard 1000 µm Core Jacketed Plastic Fiber Optic Cable
➤ Medical Instruments
◆ No Optical Design Required
➤ Automotive Electronics
◆ Inexpensive Plastic Connector Housing
➤ Robotics Communications
◆ Internal Micro-Lens for Efficient Optical Coupling
➤ EMC/EMI Signal Isolation
◆ Connector-Less Fiber Termination
➤ Fiber Optic Modems
◆ Light-Tight Housing provides Interference Free Transmission
M A X I M U M R AT I N G S C HA R A C T E R I S T I C S (TA=25°C)
(TA =25°C) Parameter Symbol Min Typ Max Unit
Operating and Storage Wavelength for Maximum Photosensitivity λPEAK – 880 – nm
Temperature Range Spectral Bandwidth (S=10% of SMAX) ∆λ 400 – 1100 nm
(TOP,TSTG)......................-40° to 85°C
Rise and Fall Times (10% to 90% and 90%
Junction Temperature (TJ) .............85°C to 10%) (RL=50 Ω, VR=20V, λ=850 nm) t r, tf – 5 – ns
Total Capacitance (VR=20 V, EE=0,
Soldering Temperature f=1.0MHz) CT – 4 – pF
(2 mm from case bottom)
(TS) t ≤ 5s .................................240°C Responsivity min. @ 880 nm R – .4 – µA/µW
@ 632 nm – .2 – µA/µW
Power Dissipation Reverse Dark Current (VR=30 volts, EE=0) ID – – 60 nA
(PTOT) TA =25°C ...................100 mW
Reverse Breakdown Voltage V(BR)R 60 – – V
De-rate Above 25°C ..........1.33 mW/°C Forward Voltage Vf – 1.2 – V

IF-D91 Plastic Fiber Optic Photodiode
FIGURE 3. Cross-section of fiber optic device.

FIGURE 1. Typical detector response versus wavelength.
F I B E R T E R M I NAT I O N I N S T R U C T IO N S
1. Cut off the ends of the optical fiber with a single-
edge razor blade or sharp knife. Try to obtain a
precise 90-degree angle (square).
2. Insert the fiber through the locking nut and into the
connector until the core tip seats against the internal
micro-lens.
3. Screw the connector locking nut down to a snug fit,
locking the fiber in place.
FIGURE 2. Circuit diagram for measuring rise and fall times.
B R
W
NOTES: MILLIMETERS INCHES

1. Y AND Z ARE DATUM DIMENSIONS AND
C T IS A DATUM SURFACE.
DIM MIN MAX MIN MAX
L S A 23.24 25.27 .915 .995
E 2. POSITIONAL TOLERANCE FOR D ø (2 PL):
T ø 0.25 (0.010) M T Y M Z M B 8.64 9.14 .340 .360
Z C 9.91 10.41 .390 .410
K 3. POSITIONAL TOLERANCE FOR F DIM (2 PL):
Y D 1.52 1.63 .060 .064
0.25 (0.010) M T Y M Z M
E 4.19 4.70 .165 .185
4. POSITIONAL TOLERANCE FOR H DIM (2 PL):
A A D
F 0.35 0.51 .014 .020
0.25 (0.010) M T Y M Z M
H G 3.81 BSC .150 BSC
5. POSITIONAL TOLERANCE FOR Q ø (2 PL): H 0.18 0.33 .007 .013
F ø 0.25 (0.010) M T Y M Z M
J J 7.62 BSC .300 BSC
6. POSITIONAL TOLERANCE FOR B (2 PL): K 10.35 11.87 .408 .468
X
ø 0.25 (0.010) M T L 1.14 1.65 .045 .065
7. DIMENSIONING AND TOLERANCING PER ANSI N 2.54 BSC .100 BSC
Y14.5M, 1982. Q 3.05 3.30 .120 .130
8. CONTROLLING DIMENSION: INCH 10.48 10.99 .413 .433
A R
G PACKAGE IDENTIFICATION: S 6.98 BSC .275 BSC
1 2
1 2 ◆ Black housing w/ Orange dot U 0.83 1.06 .032 .042
• PIN 1. Anode V 7.49 7.75 .295 .305
• PIN 2. Cathode W 5.08 BSC .200 BSC
X 10.10 10.68 .397 .427
FIGURE 4. Case outline.

Procedimiento para Medir Indice de Refraccion

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Universidad de Costa Rica

IE – 0502 Proyecto Eléctrico

PROCEDIMIENTO DE MEDICIÓN DE ÍNDICE

IVÁN BRIZUELA GUTIÉRREZ

Ciudad Universitaria Rodrigo Facio

Sometido a la Escuela de Ingeniería Eléctrica

BACHILLER EN INGENIERÍA ELÉCTRICA

Aprobado por el Tribunal:

Tabla 2.1 Algunos índices de refracción5 .............................................................................10

BJT Transistor de unión Bipolar (siglas en ingles)

LAFTLA Laboratorio de Fotónica y tecnología laser aplicada

POF Fibra óptica plástica (siglas en ingles)

TLC Tratado de libre comercio

Es importante la elaboración de un documento de procedimientos para la medición

de índices de refracción de materiales ópticos transparentes para el LAFTLA, requerido

ayuda para servicios a la industria de plásticos y vidrios específicamente. En este trabajo se

documentan y analizan tres métodos diferentes: óptica geométrica, interferometría y tiempo

Se documenta además, una pequeña investigación bibliográfica del índice de

refracción, acerca de las propiedades, características y fenómenos que lo afectan.

Se realiza una reparación del equipo de laboratorio llamado Aparato de Velocidad

transistores, para facilitar posibles reparaciones futuras.

Es importante definir un procedimiento normalizado para la medición de índices de

refracción de materiales ópticos transparentes para el Laboratorio de Fotónica y Tecnología

será de gran ayuda para servicios a la industria de plásticos y vidrios específicamente.

vidrio, plásticos y fibras ópticas de vidrio y plástico.

La guía se realizara dentro del programa de investigación en el LAFTLA y bajo la

supervisión del profesor M.Sc Luis Diego Marín Naranjo.

1.1 Objetivo General

Elaborar un documento de procedimientos para la medición del índice de refracción

de plásticos y vidrios utilizando equipo del LAFTLA para proyectos de servicio en

Describir la teoría y aplicación del índice de refracción en la metrología óptica.

Analizar diferentes métodos para medición de índice de refracción como óptica

geométrica, tiempo de viaje e interferometría.

Reparar el equipo medidor de la velocidad de la luz en una fibra óptica.

Verificar la veracidad y exactitud del procedimiento de Tiempo de Viaje mediante

una comparación de laboratorio con los datos proporcionados por un fabricante

Durante las primeras cuatro semanas del semestre escolar se trabajara en el

Universidad. Las siguientes 7 semanas se trabajarán en el laboratorio con un mínimo de 2

2.1 El índice de refracción complejo

El parámetro utilizado para describir la interacción de la radiación electromagnética

con la materia es el índice de refracción complejo n~ , el cual es una combinación de una

parte real y una parte imaginaria

Donde n es llamado índice de refracción, y κ es llamado coeficiente de extinción. Como se

vera mas adelante κ está directamente relacionado (κ ≈ α ) al coeficiente de absorción α

El índice de refracción de un material es el factor por el cual la radiación

electromagnética es “frenada” (con respecto al espacio libre) cuando pasa a través de un

material. El índice de refracción para un material en general está dado por:

Donde µr es la permeabilidad relativa del material.

La permeabilidad indica el grado de magnetización de un material que responde

linealmente a un campo magnético. La permeabilidad magnética es representada con el

símbolo µ y µ0 es la permeabilidad del espacio libre.

índice de refracción es la constante dieléctrica ε del material, algunas veces expresada

por lo tanto se puede definir la constante dieléctrica compleja ε~r :

e imaginarias de n~ y ε~r , combinando las ecuaciones (2.1-1), (2.1-4) y (2.1-5)

Se puede notar que si el medio es poco absorbente se puede suponer que κ ≈ 0 lo

que simplifica (2.1-8) y (2.1-9) a:

Estas ecuaciones muestran que el índice de refracción es básicamente determinado

por la parte real de la constante dieléctrica, mientras que la absorción es básicamente

determinada por la parte imaginaria. Esta generalización no es valida para materiales o

medios con alto coeficiente de absorción.

La velocidad de toda radiación electromagnética en el vació es la misma,

2,99792458 × 10 8 metros por segundo y es denotada por c. Así, si υ es la velocidad de fase

de una radiación a una frecuencia especifica en un material especifico, el índice de