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Absorción de Rayos X como Función de la Profundidad

Eduardo Casas Martínez1*


1EscuelaSuperior de Física y Matemáticas (ESFM). Av. Instituto Politécnico Nacional Edificio 9,
Unidad Profesional Adolfo López Mateos, Zacatenco, Delegación Gustavo A. Madero, C.P. 07738,
México, Distrito Federal.

RESUMEN: Verificamos la ley de absorción de radiación como función de la profundidad,


empleando una serie de laminillas de aluminio como material de transmisión de rayos X. Con ayuda
del difractómetro de polvos, hacemos incidir un haz de rayos X sobre una muestra cristalina de
grafito pirolítico. Caracterizamos la muestra cristalina, para determinar la mayor intensidad del pico
de Bragg en un rango para 2𝜃 de 29.6° a 31.4°. Se midió la intensidad del haz procedente de
la fuente para diferentes espesores superponiendo laminillas de aluminio de 15 micras de espesor.

OBJETIVOS: Se verificará la ley de absorción de la radiación como función de la


profundidad a partir de la difracción del has de rayos X incidentes sobre la muestra
cristalina de grafito pirolítico. Empleando como material de transmisión una serie de
laminillas de aluminio.

DESARROLLO EXPERIMENTAL: Mediante el empleo del difractómetro de polvos de rayos


X; colocamos en el porta muestra un cristal de grafito pirolítico, cuya finalidad fue lograr un
haz monocromado procedente de la fuente de rayos X; esto se logra a partir de al difracción
de los planos (001) del cristal de grafito pirolítico. Como primer paso, caracterizamos la
muestra cristalina, identificando los parámetros del pico de Bragg de mayor intensidad
ubicado en la posición angular de acuerdo a 𝜃 = 10.94°, 𝜒 = 1.6°, 2𝜃 = 21.88° y 𝜙 = 71.0°;
para 2𝜃 realizamos un barrido en el intervalo de 29.6° a 31.4°. Medimos la emisión
de rayos X como primer registro, únicamente considerando la óptica habitual, es decir; para
la fuente de rayos X empleamos una rendija de 1.0 𝑚𝑚 de apertura, mientras que el
detector, se emplea una rendija de 0.1 𝑚𝑚 de apertura. No interponemos ninguna
laminilla de aluminio entre la muestra cristalina monocromadora del haz de rayos X y el
detector.

Para las siguientes mediciones procedimos a determinar el espesor de la laminilla de


aluminio, el cual es igual a 15 𝜇𝑚. Colocamos la primer laminilla de aluminio, sobre una
ventana semejante a las rendijas que complementan la óptica del difractómetro. Realizamos
el primer barrido y determinamos el área bajo la curva. De manera análoga y manteniendo
fijo el intervalo en 2𝜃 superponemos una segunda laminilla de aluminio, a fin de

1 *
Autor para la correspondencia. E-mail: e.igual.mxc.alcuadrado@gmail.com Tel. 55-34-97-58-08
incrementar el espesor del material de transmisión. En este contexto, se realizaron 7
mediciones para diferentes espesores.

RESULTADOS:

Difracción para los planos (001) libre Difracción para los planos (001) con una laminilla
Intensidad [cuentas/seg]

Intensidad [cuentas/seg]
𝐴0 = 17836.0 [𝐶𝑝𝑠] 𝐴1 = 16364.5 [𝐶𝑝𝑠]

2𝜃 [Grados] 2𝜃 [Grados]

Difracción para los planos (001) con dos laminillas Difracción para los planos (001) con tres laminillas
Intensidad [cuentas/seg]
Intensidad [cuentas/seg]

𝐴2 = 14915.9 [𝐶𝑝𝑠] 𝐴3 = 13680.2 [𝐶𝑝𝑠]

2𝜃 [Grados] 2𝜃 [Grados]
Intensidad [cuentas/seg] Difracción para los planos (001) con cuatro laminillas Difracción para los planos (001) con cinco laminillas

Intensidad [cuentas/seg]
𝐴4 = 12621.9 [𝐶𝑝𝑠] 𝐴5 = 11459.0 [𝐶𝑝𝑠]

2𝜃 [Grados] 2𝜃 [Grados]
Difracción para los planos (001) con siete laminillas Difracción para los planos (001) con ocho laminillas

Intensidad [cuentas/seg]
Intensidad [cuentas/seg]

𝐴7 = 9633.9 [𝐶𝑝𝑠] 𝐴8 = 8871.9 [𝐶𝑝𝑠]

2𝜃 [Grados] 2𝜃 [Grados]

Gráfica 1: Espectro de absorción de la fuente de rayos X, de acuerdo a la intensidad transmitida sin laminilla
de aluminio 𝐴0 , primera laminilla de aluminio 𝐴1 , … , 𝐴8 . Con una configuración de 𝜃 = 10.94°, 𝜒 = 1.6°, 2𝜃 = 21.88°
y 𝜙 = 71.0°; para un barrido en 2𝜃 de 29.6° a 31.4°.
𝐴0
𝐴1
𝐴2
𝐴3
𝐴4
[cuentas/seg]
Intensidad
𝐴5
𝐴7
𝐴8

2𝜃 [Grados]

Gráfica 2: Espectro de absorción para la fuente de rayos X como función de la


profundidad a partir del incremento en el espesor de una laminilla de Aluminio
como material de transmisión.

ANÁLISIS Y DISCUSIÓN:

Con la información obtenida de las gráficas para diferentes espesores de la laminilla,


elaboramos la siguiente gráfica (área bajo la curva [cps] contra espesor de la laminilla).
Obteniendo así la siguiente gráfica:

Gráfica 3: Intensidad en cuantas por segundo contra espesor de la


laminilla de aluminio.
Observamos la verificación de la ley de absorción de la radiación como función de la
profundidad donde se ha empleado como material de transmisión una serie de laminillas
de aluminio. A partir de la caracterización de la muestra cristalina, se lograron identificar
los parámetros del pico de Bragg de mayor intensidad para los ángulos: 𝜃 = 10.94°, 𝜒 =
1.6°, 2𝜃 = 21.88° y 𝜙 = 71.0°.

La información mostrada en la gráfica anterior, presenta cierta tendencia en la curva, misma


que se puede modelar proponiendo una función de forma exponencial decreciente, de
acuerdo con el comportamiento observado.

CONCLUSIONES:

A partir del análisis pertinente para las intensidades registradas como función del espesor
de la laminilla de transmisión, se ha logrado determinar el comportamiento para la
intensidad del has incidente. Es importante hacer énfasis en que únicamente se tomaron
siete mediciones, es decir: se utilizaron siete laminillas de aluminio superpuestas de una en
una. Se observa la caída en la intensidad respecto al incremento del grosor del material de
transmisión. Si bien se puede inferir el comportamiento en forma exponencial decreciente
refiriéndonos a la intensidad quizá será necesario incrementar el número de mediciones a
fin de corroborar el comportamiento planteado para la curva presentada en la gráfica No.3.

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