XRD (X-RAY DIFFRACTION)

Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu metoda

karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik ini
digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.

A. PRINSIP XRD

Prinsip dari alat XRD (X-ray powder diffraction) adalah sinar X yang dihasilkan dari
suatu logam tertentu memiliki panjang gelombang tertentu, sehingga dengan memfariasi besar
sudut pantulan sehingga terjadi pantulan elastis yang dapat dideteksi. Maka menurut Hukum
Bragg jarak antar bidang atom dapat dihitung dengan data difraksi yang dihasilkan pada besar
sudut – sudut tertentu. Prinsip ini di gambarkan dengan diagram dibawah ini.

Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam
sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan
interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi
kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg :

n.λ = 2.d.sin θ ; n = 1,2,...

dengan λ adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak antara dua bidang
kisi, θ adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal, dan n adalah bilangan bulat
yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal,
maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama
dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh
detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal
yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap puncak
 yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu
dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian
dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Standar ini
disebut JCPDS.

B. SUMBER SINAR
Tabung Sinar-X
Pada umumnya, sinar diciptakan dengan percepatan arus listrik, atau setara dengan
transisi kuantum partikel dari satu energi state ke lainnya. Contoh : radio ( electron berosilasi
di antenna) , lampu merkuri (transisi antara atom). Ketika sebuah elektron menabrak anoda :
a. Menabrak atom dengan kecepatan perlahan, dan menciptakan radiasi bremstrahlung atau
panjang gelombang kontinyu
b. Secara langsung menabrak atom dan menyebabkan terjadinya transisi menghasilkan panjang
gelombang garis
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV
sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal dengan
elektron pada kulit atom. Spektrum Sinar X memilki panjang gelombang 10-5 – 10 nm,
berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki energi 103 -106 eV. Panjang gelombang sinar X
memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber
difraksi kristal.
 Komponen XRD ada 2 macam yaitu:
1. Slit dan film
2. Monokromator

Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar untuk
menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut dipercepat terhadap
suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika
elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam
target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-
komponen, yang paling umum adalah Kα dan Kβ. Ka berisi, pada sebagian, dari Kα1 dan Kα2.
Kα1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua kali lebih intensitas dari
Kα2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo,
Cr). Disaring, oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-
X monokromatik yang diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling
umum untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu Kα =05418Å. Sinar-X ini bersifat
collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar X
pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan
Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor
akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi
suatu arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar komputer.

C. INSTRUMENTASI ALAT

Petunjuk Penggunaan, Penyiapan Sample

 Ambil sepersepuluh berat sample (murni lebih baik)

 Gerus sample dalam bentuk bubuk. Ukuran kurang dari ~10 μm atau 200-mesh lebih
disukai
 Letakkan dalam sample holder
 Harus diperhatikan agar mendapatkan permukaan yang datar dan mendapatkan
distribusi acak dari orientasi-orientasi kisi
 Untuk analisa dari tanah liat yang memerlukan single orientasi, teknik-teknik yang
khusus untuk persiapan tanah liat telah diberikan oleh USGS
D. DATA YANG DIPROLEH

Hasil yang diperoleh dapi pengukuran dengan menggunakan instrument X-Ray

Diffraction (XRD) adalah grafik dikfraktogram. Difraktogram adalah output yang merupakan
grafik antara 2θ (diffraction angle) pada sumbu X versus intensitas pada sumbu Y.
Intensitas sinar-X yang didifraksikan secara terus-menerus direkam sebagai contoh dan
detektor berputar melalui sudut mereka masing-masing. Sebuah puncak dalam intensitas terjadi
ketika mineral berisi kisi-kisi dengan d-spacings sesuai dengan difraksi sinar-X pada nilai θ
Meski masing-masing puncak terdiri dari dua pemantulan yang terpisah (Kα1 dan Kα2), pada
nilai-nilai kecil dari 2θ lokasi-lokasi puncak tumpang-tindih dengan Kα2 muncul sebagai suatu
gundukan pada sisi Kα1. Pemisahan lebih besar terjadi pada nilai-nilai θ yang lebih tinggi .

2θ merupakan sudut antara sinar dating dengan sinar pantul. Sedangkan intensitas
merupakan jumlah banyaknya X-Ray yang didifraksikan oleh kisi-kisi kristal yang
mungkin. Kisi kristal ini juga tergantung dari kristal itu sendiri.
Kisi-kisi ini dibentuk oleh atom-atom penyusun kristal. Jika tidak ada atom-atom yang
menyusun suatu bidang kisi pada kristal, maka sinar X yang dating tidak dapat didifraksikan
atau dengan kata lain tidak ada kisi tersebut.

E. INFORMASI YANG DIDAPAT

Berdasarkan gambar bagan tersebut dapat dijelaskan bahwa pembangkit sinar-x
menghasilkan radiasi ektromagnetik setelah dikendalikan oleh celah
penyimpang (S1)selanjutnya jatuh pada cuplikan/sampel. Sinar yang dihamburkan oleh
 cuplikan dipusatkan pada celah penerima (S2) dan jatuh pada detektor yang sekaligus
mengubahnya menjadi bentuk cahaya tampak (foton).

Informasi yang dapat diperoleh dari analisa dengan menggunakan XRD tersebutyaitu
sebagai berikut:
1. Pembangkit sinar-x menghasilkan radiasi elektromagnetik setelah dikendalikan oleh celah
penyimpang (S)
2. Posisi puncak difraksi memberikan gambaran tentang parameter kisi (a), jarak antar bidang
(dhkl), struktur kristal dan orientasi dari sel satuan (dhkl) struktur kristal dan orientasi dari sel
satuan.
3. Intensitas relatif puncak difraksi memberikan gambaran tentang posisi atom dalam sel satuan.
4. Bentuk puncak difraksi memberikan gambaran tentang ukuran kristal dan ketidaksempurnaan
kisi. (dhkl) dikelompokkan dalam beberapa grup, dengan intensitas relatif paling tinggi pertama
disebut d1, kedua d2, ketiga d3 dan seterusnya.

Dari pola difraksi padatan kristal yang teranalisa oleh XRD tersebut, kita jugaakan
mendapatkan beberapa informasi lain diantaranya :
1. Panjang gelombang sinar X yang digunakan (λ)
2. Orde pembiasan / kekuatan intensitas (n)
3. Sudut antara sinar datang dengan bidang normal (θ)

Dengan persamaan Bragg, kita dapat memperoleh nilai jarak antara dua bidang kisi (d)
berdasarkan sudut sinar datng bidang.
KEGUNAAN DAN APLIKASI

 Kegunaam dan aplikasi XRD:

 Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf
 Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
 Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
 Karakterisasi material kristal
 Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
 Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:

1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film

KEUNTUNGAN DAN KERUGIAN DARI XRD KRISTAL DAN BUBUK

1. Kristal Tunggal
- Keuntungan : Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
- Kerugian : Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
2. Bubuk
- Kerugian : Sulit untuk menentukan strukturnya
- Keuntungan : Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk

Keuntungan utama penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah

kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang
gelombangnya yang pendek. Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang
gelombang 0,5-2,0 mikron. Sinar ini dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron
berenergi tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan saat masuk ke dalam logam dan
menyebabkan elektron pada kulit atom logam tersebut terpental membentuk kekosongan.
Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan memancarkan
kelebihan energinya sebagai foton sinar-X.
X-ray difraksi Instrumen yang tepat dirancang untuk aplikasi dalam microstructure
pengukuran, pengujian dan penelitian mendalam dalam penyelidikan.