Hasil TEM menampilkan dinding samping yang sangat faceted dan kawat nano SiC-seperti bambu

yang sangat padat, structural cacat (kembar dan tumpukan kesalahan) sepanjang [111]
pertumbuhan arah. Seperti yang terlihat pada gambar HRTEM, cacat struktural mengarah ke
permukaan berkontur yang tidak lurus atau sejajar dengan arah pertumbuhan nanowire. Akibatnya,
penampilan zigzag tertentu dapat diamati di permukaan berkontur kawat nano SiC. Bisa jadi
bahwa pembentukan tumpukan dan SF selama pertumbuhan SiC Nws sepanjang arah [111] adalah
terlalu berlebihan. Wang et al. [14] dan Shim dkk. [26] telah menunjukkan secara berkala SiC Nws
twinsed bahwa Penampilan zigzag adalah karena pengaturan secara berkala segmen kembar
sepanjang arah [111]. Bahkan, samping permukaan kawat terdiri dari {111. Sebaliknya, dari
sebuah sudut pandang energik, akan lebih sulit untuk tumbuh bebas cacat SiC Nws dengan
penampang heksagonal sepanjang arah [111].

Gambar 4b adalah gambar TEM mode terang dari sampel yang menunjukkan keseluruhan SiC
nanowire dan Mg-matrix dengan dua lapisan elektron dan ion-balok dilapisi Pt (biasanya
digunakan sebagai perlindungan permukaan). Pola SAED dari kawat (inset) menunjukkan bahwa
SiC nanowire dengan Struktur kristal kubik 3C berorientasi pada sumbu zona [011]. Di
pembesaran yang lebih tinggi (Gambar 4c) yang twinned SiC nanowire jelas terlihat serta
antarmuka yang berikat dengan Mg-matrix. Mode gambar terang hanya bisa terbentuk oleh berkas
electron langsung dan electron transmisi, dimana detector BF dipasang pada jalur electron
transmisi, sehingga elektron hamburan tidak terdeteksi dan celah disisipkan ke bidang back focal
lensa obyektif, sehingga hanya electron transmissi yang bisa lewat dan membentuk gambar,
sedangkan electron hamburan tidak dapat melewat celah tsb.
Pola difraksi elektron yang dihasilkan dari interaksi elektron dan kisi Kristal, ditampilkan dengan
mengatur sistem lensa proses imaging sehingga bidang fokus (back focal plane) pada lensa objektif
atau objective lens (di mana bidang pola difraksi terbentuk) berperan sebagai bidang objek untuk
intermediate lens. Selanjutnya, pola difraksi yang masih berukuran kecil pada back focal plane
diperbesar melalui intermediate lens, yang kemudian diproyeksikan menuju TEM melalui
projective lens sehingga pola difraksi bisa telihat di screen TEM. Pola difraksi tersebut dihasilkan
dari semua area sampel yang dikenai oleh electron. Hasil pola difraksi akan menunjukkan
perbedaan karakteristik sifat kristal suatu material. Material yang bersifat kristalin akan
menghasilkan pola difraksi berupa spot atau concentric ring. Adapun material yang bersifat
amorphous akan membentuk diffused ring. Material kristalin yang menghasilkan pola difraksi spot
disebut dengan single crystal, sedangkan material yang menghasilkan pola difraksi concentric ring
disebut dengan polycrystals.