Introducción
La simulación de escenarios mediante la
utilización de software es un habito de la
actualidad que toma fuerza respecto al clásico
analisis teórico, tanto así que resulta
especialmente útil en las áreas de la ingeniería,
pues sirve como herramienta de contrastación
de lo esperado frente a un ambiente
supuestamente real.
Se parte de este hecho para el este documento,
pues se busca contrastar las ideas teóricas con Figura 1, circuito a analizar.
un medio simulado.
Objetivos Tras la simulación y obtención de respuestas
1.Conocer el funcionamiento de la del diodo (figura 2), se procede a responder las
herramienta de simulación de circuitos Orcad preguntas de la guía.
2. Contrastar la aproximación de resultados de
un circuito simulado respecto a los cálculos
teóricos realizados.
3. Simular y verificar resultados en un circuito
con un diodo. Figura 2, Salida característica del diodo
Equipo empleado ¿El resultado de la simulación parece un
- Computador. modelo de un diodo real? Explique el
- OrCAD porqué de la aproximación
Procedimiento Sí, porque es evidente que posee un
Se crea un proyecto nuevo en la herramienta comportamiento exponencial en los valores de
OrCAD, en función de simular el ruptura, esto entre lo que se esperaría del
comportamiento del diodo D1N4148, se material, también puede añadirse es un
procede a realizar un circuito de prueba, y se comportamiento real dado que el diodo se
simula con un compartimiento DC Sweep. Se comporta como un abierto no ideal hasta llegar
procede entonces a observar la curva a -100 v en donde empieza a pasar corriente
característica y el comportamiento del diodo. mínima superior a 1mA.
Resultados obtenidos en la practica
Se procede a realizar el siguiente circuito en Posterior al proceso anterior, se procede a
orcad. retirar la resistencia del esquemático, y
observar el comportamiento de carga del diodo Primero, analizar el Vg, el cual, gracias al
naturalmente. cursor, es fácil identificar en 600 mV,
posterior a esto, aplicamos la ley de ohm para
hallar la resistencia inducida por el diodo.
𝑉 =𝐼∗𝑅
𝑉 600𝑚𝑉
=𝑅→ = 600 𝑜ℎ𝑚
𝐼 1𝑚𝐴
Se procede entonces a alterar los valores
internos de ruptura del diodo, siendo estos
nuevos en 150 V, y se grafica la salida en
Figura 3, esquemático nuevo
función de observar el nuevo comportamiento
de la simulación (figura 7).