Programa de POSTGRADO de la Universidad Carlos III de Madrid
Departamento de Ciencia e Ingeniería de Materiales
e Ingeniería Química
Dania Olmos
Fco. Javier González Benito
1. Introducción
4. Modos de Operación
5. Aplicaciones Prácticas
6. Bibliografía
1. Introducción
1. Introducción
Controla la fuerza que experimenta una punta al aproximarse a la superficie de un material
G.Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber. Atomic Force Microscope. Physical Review Letters, 1986, 56, 930.
Espejo Láser
Fotodetector
Muestra
3. Componentes de un AFM
Fotodetector
+
sum
+ sum
- Force
setpoint
-
Señal de error (“C”)
Compensation
network
Z= f(C)
Señal topográfica
(“Z”)
3. Componentes de un AFM
a) Tubo de barrido o escáner
Imagen tomada de la web:
http://www.azonano.com/details.asp?ArticleID=2114
X
Movimiento de la sonda de
barrido en los ejes X e Y.
Y
Voltaje
Tiempo
Time
3. Componentes de un AFM
a) Tubo de barrido o escáner
Elongación Elongación
Histéresis del
escáner
Closed loop
operation
Voltaje Voltaje
3. Componentes de un AFM
b) Soporte de la punta o sonda de barrido
3. Componentes de un AFM
c) Punta o sonda de barrido
http://www.budgetsensors.com/contact_mode_Al_align
ment_grooves_holder_chip.html
3. Componentes de un AFM
c) Punta o sonda de barrido
3. Componentes de un AFM
d) Fotodetector (2 o 4 cuadrantes)
Fotodetector de 4 cuadrantes
http://knol.google.com/k/-/-/25laaiqlcn2x8/p4xu5v/afm-scheme.png
Fotodetector de 2 cuadrantes
3. Componentes de un AFM
e) Sistema de control de fuerza y retroalimentación
S0 (fuerza)
S0 con la superficie
Transductor Amplificador
Muestra
Distancia
3. Componentes de un AFM
e) Sistema de control de fuerza y retroalimentación
Sensor de fuerza
3. Componentes de un AFM
f) Control y adquisición de datos
4. Modos de Operación
4.1. Contacto
Señal en el (A + B) – (C + D)
fotodetector (A + B) + (C + D)
Constante de
fuerza
Fuerza = constante
Deflexión k
F=kD s
A B D = cte
C D F
Fuerza
F=ks
Deflexión de la Atracción o
micropalanca Dsp = cte
repulsión
Z – imagen de alturas
topografía
Muestra
4. Modos de Operación
4.2. Contacto Intermitente
Image courtesy of Veeco Instruments Inc.
Amplitud
Fase
Frecuencia
A = constante
Z – imagen de alturas;
topografía
∆φ – imagen de fase
4. Modos de Operación
4.2. Contacto Intermitente
Fase
4. Modos de Operación
4.2. No Contacto
No-Contacto
4. Modos de Operación
Fuerza
Fuerza Repulsiva
Contacto
Intermitente
Distancia
Contacto (Separación punta-muestra)
Fuerza Atractiva
4. Modos de Operación
Modo de
Ventajas Desventajas
trabajo
Contacto • Alta velocidad de • Fuerzas laterales ⇒ posible distorsión de
(CM) barrido imagen
• Resolución atómica • Posible aparición de fuerzas normales fuertes
• Cambios bruscos en • Combinación de fuerzas anteriores ⇒ puede
topografía disminuir resolución espacial y dañar muestras
blandas
Contacto • Mayor resolución lateral Ligeramente menor velocidad de barrido que
Intermitente (1 – 5 nm) CM
(TM) • Fuerzas más débiles ⇒
menor daño de muestra
No‐Contacto •Ausencia de fuerzas • Menor resolución lateral
(NCM) aplicadas sobre la • Menor velocidad de barrido
muestra • Útil para muestras hidrofóbicas
5. Aplicaciones
TM-AFM
Altura Fase
(a) UC3M
By D. Olmos
20 µm
Altura Fase
(b) UC3M
By D. Olmos
5 µm
Altura Altura
(c) (d)
20 µm
By D. Olmos
CM-AFM 25 µm
TM-AFM + CM-AFM
Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.
UNIVERSIDAD CARLOS III DE MADRID
5. Aplicaciones
700nm scan.
AFM point-and-click Nanolithography AFM point-and- Imagen 400x480nm
click nanolithography.
Imagen procedente de la galería de imágenes de Veeco Manipulación de nanotubos de carbono
http://www.veeco.com/library/nanotheater/nanotheater_it
em.aspx?dbv=13&ic=11&type=app&typeId=361&id=157& http://www.veeco.com/library/nanotheater/nanotheater_ite
prodGrp=69 m.aspx?type=app&typeId=361&id=164&prodGrp=69
5. Aplicaciones
By J.Gonzalez- Benito
2µm x 2 µm
Crecimiento en espiral de
cristales de PEO