BAB 1

PENDAHULUAN

A. Latar Belakang

Sinar X pertama kali ditemukan oleh Wilhem Conrad Rontgen pada

tahun 1895. Dinamakan dengan sinar-X pada waktu itu dikarenakan tidak
diketahuinya apa sebenarnya sinar tersebut, maka disebutlah dengan sinar-X.
Sinar-X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada
material maupun manusia. Disamping itu, sinar- X dapat digunakan dalam
analisis kualitatif dan kuantitatif material.Pada waktu suatu material dikenai
sinar X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas
sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga
penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. berkas sinar X yang
dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda
ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama.

Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai

berkas difraksi.Seperti kita ketahui bahwa perumusan matematika yang telah
di buat oleh Bragg tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar
X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Sinar X dihasilkan
dari tumbukan antara elektron berkecepatan tinggi dengan logam target. Dari
prinsip kerja inilah yang kemudian dimanfaatkan dan dibuat beberapa jenis
alat dengan menerapkan prinsip dari Hukum Bragg.

Salah satu jenis alat tersebut adalah X-Ray Diffraction (XRD), alat ini
merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg
dengan menggunakan metode karakterisasi material yang paling tua dan yang
paling sering digunakan. Teknik ini yang digunakan sebagai alat untuk
mengidentifikasi suatu fasa dari kristalin di dalam suatu material dengan cara
 menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran suatu
partikel.

B. Rumusan Masalah

1. Apa yang dimaksud dengan X-Ray Difraction (XRD) ?

2. Bagaimana prinsip kerja dari XRD beserta sumber energi yang

digunakan ?

3. Bagaimana instrumentasi alat dari XRD ?

4. Bagaimana Skema kerja dari XRD ?

5. Apa saja kegunaan dari XRD?

6. Apa contoh data dan pengolahan data yang dihasilkan dari XRD ?

C. Tujuan

1. Mengetahui yang dimaksud dengan X-Ray Difraction (XRD)

2. Mengetahui prinsip kerja beserta sumber energi yang digunakan dari XRD

3. Mengetahui instrumentasi alat

4. Mengetahui Skema kerja dari XRD

5. Mengetahui kegunaan dari XRD

6. Mengetahui contoh data dan pengolahan data yang dihasilkan dari XRD
 BAB II

PEMBAHASAN

A. Pengertian XRD

XRD merupakan teknik analisis non-destruktif untuk mengidentifikasi

dan menentukan secara kuantitatif tentang bentuk-bentuk berbagai kristal,
yang disebut dengan fase. Identifikasi diperoleh dengan membandingkan pola
difraksi dengan sinar-X. XRD dapat digunakan untuk menentukan fase apa
yang ada didalam bahan dan konsentrasi bahan-bahan penyusunnya. XRD
juga dapat mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal
serta karakterisasi material kristal. XRD juga dapat mengidentifikasi mineral-
mineral yang berbutir halus seperti tanah liat.

Pada X-RD, sinar X dipilih karena merupakan radiasi elektromagnetik

yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan
oleh interaksi anatara berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit
atom. Spektrum Sinar X memiliki panjang gelombang 10-5 – 10 nm,
berfrekuensi 1017 – 1020 Hz dan memiliki energi 103 – 106 eV. Panjang
gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom
sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.

Efek radiasi sinar X terhadap molekul mengakibatkan terjadinya

ionisasi. Sinar X bisa berupa partikel atau gelombang. Karena berupa
gelombang elektromagnetik, sinar X menjalar pada medium apapun dengan
kecepatan yang hampir tetap setara dengan kecepatan cahaya dalam vakum.
Sinar X dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi.
 Elektron itu mengalami perlambatan saat masuk ke dalam logam dan
menyebabkan elektron pada kulit atom logam tersebut terpental membentuk
kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat
kosong dengan memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar X.

Ada dua proses yang terjadi bila seberkas sinar X ditembakkan ke

sebuah atom, yaitu (1) energi berkas sinar X terserap oleh atom, atau (2) sinar
X dihamburkan oleh atom. Bila seberkas radiasi elektromagnetik dilewatkan
melalui celah sempit, maka akan terjadi difraksi. Difraksi sinar X merupakan
proses hamburan sinar X oleh bahan kristal. Sinar X dapat didifraksikan oleh
kristal sehingga dapat digunakan untuk menentukan struktur kristal zat padat.
Dengan mengetahui struktur kristalnya, maka sifat-sifat material dapat
ditentukan. Dalam interaksinya dengan materi, sinar X juga dapat mengalami
polarisasi linier. Berkas sinar X terpolarisasi dapat diperoleh dengan cara
hamburan, dimana berkas hamburan sinar X oleh materi yang dapat diukur
adalah intensitas.

B. Prinsip Kerja XRD dan Sumber Energi yang digunakan

1. Prinsip Kerja XRD

Prinsip dari alat XRD (X-ray powder diffraction) adalah sinar X yang
dihasilkan dari suatu logam tertentu memiliki panjang gelombang tertentu,
sehingga dengan memfariasi besar sudut pantulan sehingga terjadi pantulan
elastis yang dapat dideteksi. Maka menurut Hukum Bragg jarak antar bidang
atom dapat dihitung dengan data difraksi yang dihasilkan pada besar sudut –
sudut tertentu. Prinsip ini di gambarkan dengan diagram dibawah ini.
 Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh
atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam
fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Dasar dari
penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah
berdasarkan persamaan Bragg :
n.λ = 2.d.sin θ ; n = 1,2,...
dengan λ adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak
antara dua bidang kisi, θ adalah sudut antara sinar datang dengan bidang
normal, dan n adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada
sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang
memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal
tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian
diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal
yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang
dihasilkannya. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu
bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi.
Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian
dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis
material. Standar ini disebut JCPDS.
2. Sumber Energi
Tabung Sinar-X
Pada umumnya, sinar diciptakan dengan percepatan arus listrik,
atau setara dengan transisi kuantum partikel dari satu energi state ke
lainnya. Contoh : radio ( electron berosilasi di antenna) , lampu merkuri
(transisi antara atom). Ketika sebuah elektron menabrak anoda :
a. Menabrak atom dengan kecepatan perlahan, dan menciptakan radiasi
bremstrahlung atau panjang gelombang kontinyu
b. Secara langsung menabrak atom dan menyebabkan terjadinya transisi
menghasilkan panjang gelombang garis
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi
tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh interaksi
antara berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom.
Spektrum Sinar X memilki panjang gelombang 10-5 – 10 nm,
berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki energi 103 -106 eV. Panjang
gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom
sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.
Komponen XRD ada 2 macam yaitu:
1. Slit dan film
2. Monokromator
Sinar-X dihasilkan ketika partikel bermuatan listrik, misalnya
elektron bergerak dengan kecepatan tinggi yang tumbukan pada logam
berat. Tenaga kinetik partikel elektron berubah menjadi radiasi
elektromagnetik. Dengan katan lain, di suatu tabung sinar katode dengan
pemanasan kawat pijar elektron-elektron di hasilkan, kemudian electron-
elektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan
suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika elektron-
elektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektron-
elektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan.
Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-komponen, yang paling
umum adalah Kα dan Kβ. Ka berisi, pada sebagian, dari Kα1 dan Kα2.
Kα1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua kali
lebih intensitas dari Kα2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan
karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas
perak atau kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-X
monokromatik yang diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan
sasaran yang paling umum untuk diffraction kristal tunggal, dengan
radiasi Cu Kα =05418Å. Sinar-X ini bersifat collimated dan mengarahkan
 ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar X pantul itu
direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi
persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di
dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat
penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan
dikeluarkan pada printer atau layar komputer.

C. Instrumentasi alat

Petunjuk Penggunaan, Penyiapan Sample

1. Ambil sepersepuluh berat sample (murni lebih baik)
2. Gerus sample dalam bentuk bubuk. Ukuran kurang dari ~10 μm atau 200-
mesh lebih disukai
3. Letakkan dalam sample holder
4. Harus diperhatikan agar mendapatkan permukaan yang datar dan
mendapatkan distribusi acak dari orientasi-orientasi kisi
5. Untuk analisa dari tanah liat yang memerlukan single orientasi, teknik-
teknik yang khusus untuk persiapan tanah liat telah diberikan oleh USGS
D. Skema Kerja dari XRD
Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur suatu
padatan kristalin, adalah metoda difraksi sinar-X serbuk (X-ray powder
diffraction). Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki sejumlah
besar kristal kecil dengan diameter butiran kristalnya sekitar 10 -7 – 10–4 m
ditempatkan pada suatu plat kaca dalam difraktometer seperti terlihat pada
Gambar

Gambar: Skema difraktometer sinar-X serbuk. Tabung sinar-X akan

mengeluarkan sinar-X yang yang difokuskan sehingga mengenai sampel oleh
pemfokus, detektor akan bergerak sepanjang lintasannya, untuk merekam pola
difraksi sinar-X.

Pola difraksi yang dihasilkan berupa deretan puncak-puncak difraksi

dengan intensitas relatif yang bervariasi sepanjang nilai 2θ tertentu. Besarnya
intensitas relatif puncak dari deretan puncak tersebut bergantung pada jumlah
atom atau ion yang ada, dan distribusinya di dalam sel satuan material
tersebut. Pola difraksi setiap padatan kristalin khas, yang bergantung pada kisi
kristal, unit parameter, dan panjang gelombang sinar-X yang digunakan.
Dengan demikian, sangat kecil kemungkinan dihasilkan pola difraksi yang
sama untuk suatu padatan kristalin yang berbeda.
 Pola Difraksi Sinar-X Serbuk

Metode Le Bail

Pada pola difraksi sinar-X serbuk sering terjadi adanya overlap pada
puncak difraksi terutama pada nilai 2θ yang tinggi. Dengan adanya overlap
tersebut menyebabkan sulitnya pemisahan intensitas dari tiap-tiap pemantulan
sinar, sehingga penentuan struktur sukar dilakukan. Namun, dengan metoda
Rietveld, kini dimungkinkan untuk menentukan struktur kristal, terutama
untuk struktur yang relatif sederhana, dari data difraksi serbuk.

Sebagai langkah awal penggunaan metoda Rietveld, sering digunakan

metoda Le Bail. Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai puncak difraksi
dihitung dengan hanya menggunakan parameter sel satuan dan parameter
yang mendefinisikan puncak. Dari analisis Le Bail akan didapatkan parameter
sel dan plot Le Bail mirip plot Rietveld.
 Hasil Refinement Pola Difraksi Sinar-X Serbuk Menggunakan Metode
Le Bail Dengan Menggunakan Program Rietica.

Selain itu, metode yang sering digunakan untuk menganalisa struktur

kristal adalah metode Scherrer. Ukuran kristallin ditentukan berdasarkan
pelebaran puncak difraksi sinar X yang muncul. Metode ini sebenarnya
memprediksi ukuran kristallin dalam material, bukan ukuran partikel. Jika
satu partikel mengandung sejumlah kritallites yang kecil-kecil maka informasi
yang diberikan metiode Schrerrer adalah ukuran kristallin tersebut, bukan
ukuran partikel. Untuk partikel berukuran nanometer, biasanya satu partikel
hanya mengandung satu kristallites. Dengan demikian, ukuran kristallinitas
yang diprediksi dengan metode Schreer juga merupakan ukuran partikel.
Berdasarkan metode ini, makin kecil ukuran kristallites maka makin lebar
puncak difraksi yang dihasilkan, seperti diilustrasikan pada Gambar 4. Kristal
yang berukuran besar dengan satu orientasi menghasilkan puncak difraksi
yang mendekati sebuah garis vertikal. Kristallites yang sangat kecil
menghasilkan puncak difraksi yang sangat lebar. Lebar puncak difraksi
tersebut memberikan informasi tentang ukuran kristallites.

Gambar 4, mengindikasikan bahwa makin lebar puncak difraksi sinar

X maka semakin kecil ukuran kristallites. Ukuran kristallites
yangmenghasilkan pola difraksi pada gambar bawah lebih kecil dari pada
ukuran kristallites yang menghasilkan pola diffraksi atas. Puncak diffraksi
dihasilkan oleh interferensi secara kontrukstif cahaya yang dipantulkan oleh
bidang-bidang kristal.

Scherrer Formula :

Keretangan:
 Ukuran kristal (satuan: nm) dinotasikan dengan symbol (D).
  FWHM (Full width at half maksimum) atau integral breadth dari
punakdinotasikan dengan symbol (B).

 Hukum Bragg dinotasikan dengan symbol (θ).

 Panjang gelombang sinar X dinotasikan dengan symbol (λ)

E. Kegunaan dan aplikasi

Kegunaam dan aplikasi XRD antara lain :
1) Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf
2) Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
3) Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
4) Karakterisasi material Kristal
5) Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
6) Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:

1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film

F. Data dan Informasi Yang Diperoleh

1. Data yang diperoleh

Hasil yang diperoleh dapi pengukuran dengan menggunakan
instrument X-Ray Diffraction (XRD) adalah grafik dikfraktogram.
Difraktogram adalah output yang merupakan grafik antara 2θ (diffraction
angle) pada sumbu X versus intensitas pada sumbu Y.
Intensitas sinar-X yang didifraksikan secara terus-menerus direkam
sebagai contoh dan detektor berputar melalui sudut mereka masing-masing.
Sebuah puncak dalam intensitas terjadi ketika mineral berisi kisi-kisi dengan
d-spacings sesuai dengan difraksi sinar-X pada nilai θ Meski masing-masing
puncak terdiri dari dua pemantulan yang terpisah (Kα1 dan Kα2), pada nilai-
nilai kecil dari 2θ lokasi-lokasi puncak tumpang-tindih dengan Kα2 muncul
sebagai suatu gundukan pada sisi Kα1. Pemisahan lebih besar terjadi pada
nilai-nilai θ yang lebih tinggi .

2θ merupakan sudut antara sinar dating dengan sinar pantul.

Sedangkan intensitas merupakan jumlah banyaknya X-Ray yang didifraksikan
oleh kisi-kisi kristal yang mungkin. Kisi kristal ini juga tergantung dari kristal
itu sendiri.
Kisi-kisi ini dibentuk oleh atom-atom penyusun kristal. Jika tidak ada
atom-atom yang menyusun suatu bidang kisi pada kristal, maka sinar X yang
dating tidak dapat didifraksikan atau dengan kata lain tidak ada kisi tersebut.
2. Informasi yang diperoleh
Berdasarkan gambar bagan tersebut dapat dijelaskan
bahwa pembangkit sinar-x menghasilkan radiasi ektromagnetik setelah
dikendalikan oleh celah penyimpang (S1)selanjutnya jatuh pada
cuplikan/sampel. Sinar yang dihamburkan oleh cuplikan dipusatkan pada
celah penerima (S2) dan jatuh pada detektor yang sekaligus mengubahnya
menjadi bentuk cahaya tampak (foton).

Informasi yang dapat diperoleh dari analisa dengan menggunakan

XRD tersebutyaitu sebagai berikut:
1. Pembangkit sinar-x menghasilkan radiasi elektromagnetik setelah
dikendalikan oleh celah penyimpang (S)
2. Posisi puncak difraksi memberikan gambaran tentang parameter
kisi (a), jarak antar bidang (dhkl), struktur kristal dan orientasi dari
sel satuan (dhkl) struktur kristal dan orientasi dari sel satuan.
3. Intensitas relatif puncak difraksi memberikan gambaran tentang
posisi atom dalam sel satuan.
4. Bentuk puncak difraksi memberikan gambaran tentang ukuran
kristal dan ketidak sempurnaan kisi. (dhkl) dikelompokkan dalam
beberapa grup, dengan intensitas relatif paling tinggi pertama
disebut d1, kedua d2, ketiga d3 dan seterusnya.
Dari pola difraksi padatan kristal yang teranalisa oleh
XRD tersebut, kita juga akan mendapatkan beberapa
informasi lain diantaranya :
1. Panjang gelombang sinar X yang digunakan (λ)
2. Orde pembiasan / kekuatan intensitas (n)
3. Sudut antara sinar datang dengan bidang normal (θ)

Dengan persamaan Bragg, kita dapat memperoleh nilai jarak antara

dua bidang kisi (d) berdasarkan sudut sinar datng bidang.

DAFTAR PUSTAKA
Catatan Radigraf. 2015 : Proses Pembentukan Sinar-X. Di Unduh di :
http//catatanradiograf.blogspot.com/2010/02/proses-pembentukan-sinar-
x.html /26/10/2015 at 21.25pm

Material Cerdas Indonesia. 2015 : Difraksi 2 Diunduh di

http://materialcerdas.wordpress.com/teori-dasar/difraksi-2/ 26/10/2015 at
21.30pm

X-Ray Diffraction (XRD). 2015 Di Unduh di

http://akudanduniakusajatitik.blogspot.com/2012/06/x-ray-diffraction-part-
3.html /27/10/2015 at 7.59 am

SOAL DAN JAWABAN

1. Zakia Amni : Kristal yang dalam bentuk bubuk, kapan dikatakan Kristal dan
kapan amorf ?
Jawab :
Amorf adalah strutur dari suatu material dimana atom-atomnya tersusun
secara teratur.
Kristal adalah atom-atom atau ion-ion ataupun molekul-molekulyang ter
Susun secara berulangdan memiliki keteraturan jarak jauh dalam ruang 3 dimensi.
Perbedaan padatan ktistal dan amorf dan Padatan Kristal :
1. Padatan Amorf
 Hanya ada suatu tatanan jarak dekat dalam padatan amorf
 Padatan amorf tidak memiliki titik leleh yang jelas mereka melunak
dalam berbagai suhu.
 Padatan amorf menjalani pemecahan tak teratur.
 Padatan amorf yang isotrofik, sifat bebas dari arah dimana mereka
diukur.
 Kurang Keras.

Contoh: Serat Kaca, Napthalere

2. Padatan Kristal
 Ada suatu tatanan jarak jauh dalam kristal.
 Titik lelehnya pada suhu yang jelas.
 Padatan kristal dapat dibelah disepanjang bidang tepat.
 Padatan kristal, pada umumnya anisotrofik (artinya sifat-sifat mereka
seperti konduktivitas listrik, indeks bias, ekspansi termal pada arah
yang berbeda.
 Lebih Keras.

Contoh: Tembaga, Kalium Nitrat, Asam Benzoat.

2. Mengapa sampel yang akan diuji harus sepersepuluh (murni lebih baik) ?
 Jawab:karna ukuran sampel holder kecil dan sepersepuluh itu adalah yang akan
mewakili sampel logam yang akan diuji. Dan biasanya yang akan digunakan
hanya 1% dari sampel dalam bentuk padatan.
3. Jelaskan kation anion serta katoda anoda pada analisa sampel ?
Jawab :
a. katoda bermuatan negative yang terdapat pada tabung yang terdiri dari
fillamen. Dimana fillamen berfungsi membantu terbentuknya electron, pada
proses pemanasan dengan aliran listrik.
b. Anoda bermuatan positif yang terdiri dari target dan perputaran tabung.
Dimana target merupakan bagian anoda yang yang ditembakkan olh oleh
aliran electron terfokus yang berasal dari katoda.