KELOMPOK 5

Angga Fristian (1606103030025)

Deni Pahlawi (13061030300 )
Rival Suryadi (1606103030007)
Siska Nurlianti (1606103030058)
Wesi Ultari (1606103030040)

NAMA PERCOBAAN : DIFRAKSI SINAR-X

Tujuan Percobaan :
1. Untuk Mengetahui Pengertian Dan Proses Terjadinya Sinar-X
2. Untuk Mengetahui Pengertian Difraksi Sinar-X Dan Proses Terjadinya Difraksi Sinar-X
3. Untuk Mengetahui Teori Elektron Bersifat Sebagai Partikel

PEMBAHASAN.
1. Sinar –X
Sinar-X adalah gelombang Elektromagnetik dengan panjang gelombang antara 0,5-2,5 A.
Sinar-X dihasilkan dari tumbukan elektron berkecepatan tinggi dengan logam sasaran. Oleh
karena itu, suatu tabung sinar-X harus mempunyai suatu sumber elektron, voltase tinggi, dan
logam sasaran. Selanjutnya elektron elektron yang ditumbukan ini mengalami pengurangan
kecepatan dengan cepat dan energinya diubah menjadi foton sinar-X.
2. Difraksi sinar –X
Difraksi sinar-X adalah salah satu cara untuk mempelajari keteraturan atom atau molekul
dalam suatu struktur tertentu. Jika struktur atom atau molekul tertata secara teratur membentuk
kisi, maka radiasi elektromagnetik pada kondisi eksperimen tertentu akan mengalami penguatan.
Pengetahuan tentang kondisi eksperimen itu dapat memberikan informasi yang sangat berharga
tentang penataan atom atau molekul dalam suatu struktur (Dunitz, 1995)
Apabila suatu bahan dikenai sinar-X maka intensitas sinar-X yang ditransmisikan lebih kecil
dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh bahan dan juga
penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar yang dihantarkan tersebut
ada yang saling menghilangkan karena fasenya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan
karena fasenya sama.Berkas sinar-X yang saling menguatkan disebut sebagai berkas difraksi.

1
 Persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan merupakan
berkas difraksi dikenal sebagai Hukum Bragg. Hukum Bragg menyatakan bahwa perbedaan
lintasan berkas difraksi sinar-X harus merupakan kelipatan panjang gelombang, secara
matematis dirumuskan:
nλ = 2 d sin θ

dengan n (orde pembiasan) bilangan bulat 1, 2, 3 ...... λ adalah panjang gelombang sinar-X ,d
adalah jarak antar bidang, dan θ adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal (sudut
difraksi). Keadaan ini membentuk pola interferensi yang saling menguatkan untuk sudut-sudut
yang memenuhi hukum Brag.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal, maka
bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan
jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor
kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang
terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.
Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki
orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data
pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis
material.
Metode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui struktur dari lapisan tipis yang
terbentuk. Sampel diletakkan pada sampel holder difraktometer sinar X. Proses difraksi sinar X
dimulai dengan menyalakan difraktometer sehingga diperoleh hasil difraksi berupa difraktogram
yang menyatakan hubungan antara sudut difraksi 2θ dengan intensitas sinar X yang dipantulkan.

2
Untuk difraktometer sinar X, sinar X terpancar dari tabung sinar X. Sinar X didifraksikan dari
sampel yang konvergen yang diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus sinar X.
Sinar X ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadi sinyal listrik.
Sinyal tersebut, setelah dieliminasi komponen noisenya, dihitung sebagai analisa pulsa
tinggi. Teknik difraksi sinar x juga digunakan untuk menentukan ukuran kristal, regangan kisi,
komposisi kimia dan keadaan lain yang memiliki orde yang sama.
Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur suatu padatan kristalin adalah
metode difraksi sinar-X serbuk (X-ray powder diffraction) seperti terlihat pada Gambar 6.
Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki ukuran kecil dengan diameter butiran
kristalnya sekitar 10-7 – 10-4 m ditempatkan pada suatu plat kaca. Sinar-X diperoleh dari electron
yang keluar dari filamen panas dalam keadaanvakum pada tegangan tinggi, dengan kecepatan
tinggi menumbuk permukaan logam, biasanya tembaga (Cu).

Sinar-X tersebut menembak sampel padatan kristalin, kemudian mendifraksikan sinar ke

segala arah dengan memenuhi Hukum Bragg. Detektor bergerak dengan kecepatan sudut yang
konstan untuk mendeteksi berkas sinar- X yang didifraksikan oleh sampel. Sampel serbuk atau
padatan kristalin memiliki bidang-bidang kisi yang tersusun secara acak dengan berbagai
kemungkinan orientasi, begitu pula partikel-partikel kristal yang terdapat di dalamnya. Setiap
kumpulan bidang kisi tersebut memiliki beberapa sudut orientasi sudut tertentu Bentuk keluaran
dari difraktometer dapat berupa data analog atau digital. Rekaman data analog berupa grafik
garis-garis yang terekam per menit sinkron, dengan detektor dalam sudut 2θ per menit, sehingga
sumbu-x setara dengan sudut 2θ. Sedangkan rekaman digital menginformasikan intensitas sinar-
X terhadap jumlah intensitas cahaya per detik.

3
4