Ministério da Educação

UNIVERSIDADE TECNOLÓGICA FEDERAL DO PARANÁ

Câmpus Dois Vizinhos

AULA PRÁTICA 6: ESTUDO DIRIGIDO

MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE TRANSMISSÃO (TEM) E
MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA (AFM)

Professora: Dra. Lucimara Lopes da Silva

Consultem os livros das referências bibliográficas da disciplina que tratam da

utilização de técnicas microscópicas para caracterização de materiais, bem como
livros sobre essas técnicas que existem na biblioteca do campus e o livro que foi
inserido na plataforma EVEA Moodle (Aula Práticas 5, 04abril18) para
responderem as questões do estudo dirigido abaixo:

1. Explique por que as amostras analisadas por microscopia eletrônica de transmissão

(TEM) devem ser finas. Qual é a magnitude de "fina“ nesse caso?
2. No estado sólido, a matéria pode se organizar em diferentes estruturas cristalinas.
No TEM, como podemos explorar a estrutura cristalina das amostras?
3. A figura abaixo apresenta um gráfico de distância da ponta de prova versus a força
que atua nessa ponta. Considerando os diferentes modos de medidas nos
microscópios de força atômica e os limites indicados pelas setas na figura, é correto
afirmar que:

a) II corresponde à região de medidas sem contato e I, à região de trabalho do modo

de contato intermitente.
b) II corresponde à região de medidas sem contato e III, à região de medidas de
contato.
c) I corresponde à região de medidas sem contato e III, à região de medidas de
contato intermitente.

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d) I corresponde à região de trabalho do modo de contato intermitente e III, à região

de medidas sem contato.
e) III corresponde à região de medidas de contato.

4. A micrografia abaixo representa a imagem de um traço de raio laser sob uma

superfície de titânio. Com base nesta imagem, responda:

a) Que informação essencial está faltando na imagem?

b) Que informação se pode tirar da mesma?

5. Com base na micrografia da questão anterior, assinale a(s) alternativa(s) correta(s):

a) A imagem certamente foi obtida com um Microscópio de Força Atômica
(AFM)
b) A imagem certamente foi obtida com um Microscópio Eletrônico de
Varredura (SEM/MEV)
c) A imagem certamente foi obtida com um Microscópio Eletrônico de Transmissão
(TEM/MET)
d) Imagens deste tipo podem ser obtidas tanto com um Microscópio de Força
Atômica (AFM) quanto com um Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM/MEV)
e) Imagens deste tipo podem ser obtidas tanto com um Microscópio Eletrônico de
Varredura (SEM/MEV) quanto com um Microscópio Eletrônico de Transmissão
(TEM/MET)
f) Imagens deste tipo podem ser obtidas tanto com um Microscópio de Força Atômica
(AFM) quanto com um Microscópio Eletrônico de Transmissão (TEM/MET)

Entregar até o dia 25/04/2018.