Morales Moh Josué Ezequiel 26 de marzo del 2019

Lugo Saldaña José Fernando

Microscopio electrónico de barrido (SEM) y microscopio

electrónico de barrido ambiental (ESEM)
El desarrollo del microscopio electrónico de barrido (SEM) es uno de los
principales logros de la física aplicada en el siglo XX, los microscopios electrónicos
de barrido son importantes por la profundidad de detalle que muestran, lo que ha
llevado a una variedad de descubrimientos importantes. Los primeros modelos de
microscopios electrónicos de barrido (SEM) eran peores que muchos microscopios
ópticos. En ese momento, los SEM solo eran capaces de obtener una resolución
de alrededor de 200 Angstroms, en comparación con la resolución de Angstroms
del microscopio electrónico de transmisión (TEM). A medida que se desarrollaba el
microscopio electrónico, atraía a más y más investigadores, incluido Charles
Oatley, del Departamento de Ingeniería de la Universidad de Cambridge. Charles
Oatley y sus estudiantes armaron su primer SEM en 1948, y cuatro años más
tarde, estaba produciendo imágenes tridimensionales.
El sueño de Oatley era poner un SEM relativamente barato en el mercado, ya que
veía las vastas implicaciones que tendría un mayor poder de aumento en la
búsqueda de disciplinas que iban desde la ingeniería hasta la investigación de
partículas
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO (SEM)
En el microscopio electrónico de barrido se acelera un haz de electrones en la
columna del microscopio, mediante una diferencia de potencial que puede ir desde
50 hasta 30 000 voltios. Un bajo voltaje es útil para muestras muy sensibles, como
podrían ser las muestras biológicas sin preparación adicional o muestras muy
aislantes. Los voltajes elevados se utilizan para muestras metálicas, ya que éstas
en general no sufren daños y de esta manera se aprovecha la menor longitud de
onda para tener una mejor resolución. Los electrones acelerados salen del cañón,
y se enfocan mediante las lentes condensadora y objetiva, cuya función es reducir
la imagen del filamento, de manera que incida en la muestra un haz de electrones
lo más pequeño posible (para así tener una mejor resolución). Con las bobinas
deflectoras se barre este fino haz de electrones sobre la muestra.
El principal uso del SEM se da en la biología celular. Aunque permite una menor
capacidad de aumento que el microscopio electrónico de transmisión, éste permite
apreciar con mayor facilidad texturas y objetos en tres dimensiones que se hayan
pulverizado con un metal antes de su observación. Por esta razón solamente
pueden observarse organismos muertos, y no se puede ir más allá de la textura
externa que se quiera ver.
Este instrumento permite la observación y caracterización superficial de materiales
inorgánicos y orgánicos, entregando información morfológica del material
analizado. A partir de él se producen distintos tipos de señal que se generan
desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus características. Con
él se pueden observar los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de
diversos materiales, además del procesamiento y análisis de las imágenes
obtenidas.

MICROSCOPIO ELECTÓNICO DE BARRIDO AMBIENTAL (ESEM)

Pese a su gran potencial, la técnica SEM cuenta con algunas limitaciones:
– El ensayo debe realizarse en condiciones de vacío (alto vacío) lo que
impide estudiar muestras que no sean estables a baja presión.
– No pueden usarse muestras húmedas, contaminadas o que puedan
desprender gases bajo presión.
– Las muestras deben metalizarse antes el ensayo.
La microscopía electrónica de barrido ambiental o ESEM, denominada así debido
a que las muestras pueden examinarse en condiciones de presión ambientales, es
decir, a la presión atmosférica o muy cercana a su valor. Igualmente, ya no es
necesario metalizar la muestra para obtener una imagen de alta resolución.
Lo microscopios ESEM disponen de un analizador de gases (BSED). Se puede
igualmente variar las condiciones de humedad, presión y temperatura de la
cámara de ensayo (hasta 1.500 grados) lo que es bastante útil para determinadas
investigaciones. En lugar del vacío donde opera la SEM, en la ESEM puede
utilizase vapor de agua, aire, oxigeno, helio o nitrógeno, dependiendo de nuestras
necesidades. En la cámara de ensayo podrían introducirse otros mecanismos que
sometan a fuerzas a las muestras (compresión, flexión, etc.) analizado de este
modo el comportamiento de materiales bajo tensión.
ESEM es especialmente útil para materiales no metálicos, no recubiertos y
biológicos. La presencia de gas, principalmente argón, alrededor de una muestra
permite trabajar con una presión superior a 500 Pa en comparación con los
requisitos de SEM convencionales, muestras al vacío de aproximadamente 10-3 a
10-4 Pa. Este nivel de vacío crea la posibilidad de operar en condiciones no
conductoras. Muestras sin ningún tipo de preparación o especímenes hidratados
sin carga.
En la siguiente tabla se muestran sintetizan las principales características que
diferencian a ambos microscopios.
 SEM ESEM
Preparación Se cubre con una cinta Se cubre con una cinta de carbono
de las de carbono
muestras
Requerimiento La muestra debe de La muestra puede estar húmeda y no necesita
de lasestar seca y estar metalizada
muestras metalizada
Refrigeración Se requiere un No requiere de un sistema de refrigeración
sistema de especial
refrigeración,
usualmente el sistema
utiliza nitrógeno liquido
Filamento Pistola de emisión de Filamento de tungsteno
tungsteno (FEG)
Presión 10-3 a 10-9 Pa 500-2500 Pa
Vacío Se requiere alto vacío No requiere alto vacío
Resolución 1-20 nm pero puede Alrededor de 5 nm
alcanzar hasta 0.4 nm
Voltaje 1-30 kV 1-15 kV
Detector de Low voltaje High Gaseous Secondary Electron Detector
electrones Contrast Detector
secundarios
Ventajas Alta resolución, ideal La muestra no requiere estar secas ni
para muestras no metalizadas, es ideal para muestras
biológicas biológicas
Desventajas Las muestras La resolución es menor en comparación a la
biológicas se cargan del SEM.
en la superficie lo que
genera una distorsión
en la imagen, requiere
sistema de
refrigeración y un
sistema para evitar
perturbaciones.
Imagen
tomada
Imagen del
microscopio

BIBLIOGRAFÍA
1.- G. D. Danilatos “Introduction to the ESEM instrument”. Microscopy Research
and Technique. Agosto 1993.
2.- Frederic Doucet “Visualisation of natural aquatic colloids and particles - A
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3.- “Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)” Disponible en http://www.linan-
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4.- Danilatos, GD (1988). Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido
ambiental. Avances en electrónica y electrónica de electrónica . 71 . Prensa
Académica. pp. 109-250.
5.- Hitachi breaks SEM resolution barrier, Disponible en www. labtechnologist.com,
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6.- H.L.Chhatwal, T.R.Goswami, A liquid nitrogen cooled sample stage for a
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