CIENCIA DE LOS MATERIALES

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (MEB)

INTEGRANTES:

LAURA MANOSALVA CONTRERAS

ANA MARÍA NAVAS

NATALIE JULIETH ESTRADA CALDERÓN

DOCENTE:

ING. MAYERLY JHOJANA FERNÁNDEZ TORRES

UNIVERSIDAD PONTIFICIA BOLIVARIANA

SECCIONAL BUCARAMANGA

FACULTAD INGENIERÍA INDUSTRIAL

22/04/2019
 CONTENIDO

1. INTRODUCCIÓN..................................................................................................................................... 4
2. MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (MEB) ................................................................................ 5
2.1. Técnica MEB ...................................................................................................................................... 5
2.2. Funcionamiento ................................................................................................................................ 6
2.3. Principios fundamentales de la microscopía electrónica de barrido (SEM) ..................................... 7
2.4. Los componentes esenciales de todos los SEM ................................................................................ 8
2.5. Ventajas del MEB .............................................................................................................................. 9
2.6. Aplicaciones generales del MEB ....................................................................................................... 9
2.7. Limitaciones del MEB ........................................................................................................................ 9
3. METODOLOGÍA ................................................................................................................................... 10
4. RESULTADOS ....................................................................................................................................... 10
5. CONCLUSIONES ................................................................................................................................... 10
6. BIBLIOGRAFÍA...................................................................................................................................... 11
 1. INTRODUCCIÓN

Por medio de este laboratorio se busca conocer el funcionamiento del microscopio electrónico
de barrido. Lograr identificar como este barre un haz de electrones sobre un área de un
determinado tamaño para así obtener una imagen y caracterización de los materiales orgánicos
e inorgánicos presentes. A su vez, identificar las ventajas que esta técnica posee con respecto
a otras y cuáles son sus principales aplicaciones en la industrial de acuerdo a los análisis y
datos que esta técnica ofrece.
 2. MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (MEB)

Equipo consistente en un microscopio electrónico que permite la observación y estudio de

muestras sólidas y conductoras mediante la interacción de un haz de electrones con la superficie
del material objeto de estudio, que proporciona imágenes de gran resolución de la topografía
superficial de la muestra, que pueden ser tratadas y analizadas posteriormente. Para la preparación
de muestras no conductoras, se dispone de un equipo de sputtering que deposita una fina capa de
soro sobre la superficie.

2.1. Técnica MEB

La microscopía de barrido de electrones (MEB) es una técnica de análisis superficial, que consiste
en enfocar sobre una muestra electrodensa (opaca a los electrones) un fino haz de electrones
acelerado con energías de excitación desde 0.1kV hasta 30kV.

El haz de electrones se desplaza sobre la superficie de la muestra realizando un barrido que obedece
a una trayectoria de líneas paralelas. La interacción del haz de electrones con la muestra produce
diversas señales (electrones secundarios, electrones retro dispersados, emisión de rayos X,
etc.), que son recogidas por distintos detectores; los cuales permiten la observación,
caracterización y microanálisis superficial de materiales tanto orgánicos como inorgánicos.
 2.2.Funcionamiento

Un microscopio de barrido de electrones funciona con un haz de electrones producido por una
fuente que puede ser un cañón termoiónico (filamento de tungsteno o de hexaboruro de lantano) o
un cañón de emisión de campo FEG, de las siglas en inglés Field Emission Gun.

Al cañón se le aplica un potencial eléctrico que acelera el haz de electrones hacia una columna,
éste es focalizado por medio de lentes electromagnéticas sobre la muestra (toda la trayectoria de
los electrones debe estar en vacío, de lo contrario, los electrones colisionarían con las moléculas
de aire y serán absorbidos). Los electrones chocan e interactúan con la muestra produciendo varias
señales que podrán ser recogidas de acuerdo con la señal y con los detectores presentes. La
magnificación de la imagen se produce por un conjunto de lentes electromagnéticas que mediante
un tratamiento adecuado de las señales electrónicas son proyectadas en un tubo de rayos catódicos
(CRT).

Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan principalmente las siguientes partículas

Electrones retro dispersados (e1)

Electrones secundarios (e2)

Además de radiación electromagnética (rayos X) y otras partículas menos significativas.

El microscopio se encuentra internamente equipado con unos detectores que recogen la energía y
la transforman en las siguientes imágenes y datos:

Detector de electrones secundarios: (SEI – Secundary Electron Image) con los que obtenemos las
imágenes de alta resolución.

Detector de electrones retro dispersados: (BEI – Backscattered Electron Image) Con menor
resolución de imagen pero mayor contraste para obtener la topografía de la superficie.
Detector de energía dispersiva: (EDS – Energy Dispersive Spectrometer) detecta los rayos X
generados y permite realizar un análisis espectrográfico de la composición de la muestra.

La imagen de cabecera muestra el primer microscopio electrónico de uso en España, que data de
1946. En la siguiente imagen aparece un microscopio actual.

2.3.Principios fundamentales de la microscopía electrónica de barrido (SEM)

Los electrones acelerados en un SEM transportan cantidades significativas de energía cinética, y

esta energía se disipa como una variedad de señales producidas por las interacciones de la muestra
de electrones cuando los electrones incidentes se desaceleran en la muestra sólida. Estas señales
incluyen electrones secundarios (que producen imágenes SEM), electrones retrodispersados
( BSE ), electrones difractados difractados ( EBSD, que se utilizan para determinar las estructuras
cristalinas y orientaciones de los minerales), fotones ( rayos X característicos que se utilizan para
el análisis elemental y continuo). Rayos X), luz visible ( catodoluminiscencia - CL), Y calor. Los
electrones secundarios y los electrones retrodispersados se usan comúnmente para obtener
imágenes de las muestras: los electrones secundarios son más valiosos para mostrar la morfología
y la topografía en las muestras y los electrones retrodispersados son más valiosos para ilustrar los
contrastes en la composición en muestras multifásicas (es decir, para una rápida discriminación de
fase). Generación de rayos x. Se produce por colisiones inelásticas de los electrones incidentes con
electrones en ortitales discretos (conchas) de átomos en la muestra. A medida que los electrones
excitados regresan a estados de energía más bajos, producen rayos X que tienen una longitud de
onda fija (que está relacionada con la diferencia en los niveles de energía de los electrones en
diferentes capas para un elemento dado). Por lo tanto, se producen rayos X característicos para
cada elemento en un mineral que es "excitado" por el haz de electrones. El análisis SEM se
considera "no destructivo"; es decir, los rayos X generados por las interacciones de electrones no
conducen a la pérdida de volumen de la muestra, por lo que es posible analizar los mismos
materiales repetidamente.
 2.4.Los componentes esenciales de todos los SEM

Fuente de electrones ("pistola")

Lentes electrónicas

Etapa de muestra

Detectores para todas las señales de interés.

Display / dispositivos de salida de datos

Requisitos de infraestructura:

Fuente de alimentación

Sistema de vacío

Sistema de refrigeración

Piso libre de vibraciones

Sala libre de campos magnéticos y eléctricos ambientales.

Los SEM siempre tienen al menos un detector (generalmente un detector de electrones
secundario), y la mayoría tiene detectores adicionales. Las capacidades específicas de un
instrumento en particular dependen en gran medida de los detectores que alberga.

2.5.Ventajas del MEB

Su gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes permitiendo

enfocar y observar amplias zonas de la muestra al mismo tiempo.

Puede producir imágenes de alta resolución (de hasta 3 nm), es decir, que detalles muy cercanos
en la muestra pueden ser observados separadamente a alta magnificación.

La relativamente sencilla preparación de las muestras.

Se pueden observar muestras de tamaños desde centímetros hasta muestras del orden de
nanómetros.

2.6.Aplicaciones generales del MEB

Arqueología, ciencia de materiales, análisis de fallas, corrosión y desgaste, fibras y textiles,

metalurgia, nanotecnología, recubrimientos, películas delgadas, interfaces, semiconductores,
tribología, ciencias biológicas, ciencias básicas, ciencias biomédicas, biotecnología, farmacia,
medicina, odontología, ciencias forenses, estudios geológicos, ingeniería civil, ingeniería eléctrica
y electrónica, ingeniería de alimentos, ingeniería mecánica, ingeniería química

2.7.Limitaciones del MEB

Por las características de funcionamiento de este tipo de equipos, se requiere que las muestras sean
conductoras y que estén libres de humedad.
No es posible observar la estructura interna y detalles ultraestructurales de las muestras, para esto
se requiere un Microscopio de transmisión de electrones MET o TEM, de las siglas en inglés
Transmission Electron Microscopy.

3. METODOLOGÍA

Con base en la práctica realizada, se buscó observar las imágenes de manera ampliada de muestras
de cabello e insectos, por medio del microscopio de barrido.

Este tipo de microscopio cuenta con una fuente de electrones de los cuales existen 12 tipos donde
los más importantes son: los electrones secundarios, electrones retro dispersados y electrones de
rayos X, la muestra se ubica en la parte de debajo de microscopio donde se logra ver únicamente
su superficie dado que normalmente la muestra es gruesa y no es atravesada por estos electrones.

El microscopio de barrido utilizado cuenta con 4 detectores donde se ubican los tres tipos de
electrones antes mencionados y los cuales dan información específica sobre la muestra. El
secundario ofrece la información topográfica, es decir, la imagen con sensación de 3D; los retro
dispersados entregan una topografía y es importante para determinar si un material ha tenido
procesos químicos o térmicos y por último, el detector de rayos X el cual identifica los elementos
de la tabla periódica que están presentes en la muestra.

Por ende, a través de este equipo se logra obtener micrografías a un millón o dos millones de
aumento y con una resolución de 2 nanómetros.

Para realizar este procedimiento, la muestra destinada, es decir, los tres tipos de cabello y el insecto
deben estar secos y ser conductores, por ende, debe extraerse toda la humedad que estos poseen a
través de un equipo especial para luego ser recubiertos de oro y por ultimo ser llevados al
microscopio de barrido y así obtener las mejores condiciones de imagen ampliada de los cabellos
e insecto utilizado.

4. RESULTADOS

5. CONCLUSIONES
 6. BIBLIOGRAFÍA

https://investigaciones.uniandes.edu.co/microscopio-electronico-de-barrido-meb/

https://www.ecured.cu/Microscopio_electr%C3%B3nico_de_barrido#Descripci.C3.B3n_del_Mi
croscopio_Electr.C3.B3nico_de_Barrido_.28_MEB_.29

https://www.upc.edu/sct/es/equip/714/microscopio-electronico-barrido-meb-sem.html

https://www.patologiasconstruccion.net/2012/12/la-microscopia-electronica-de-barrido-sem-i-
concepto-y-usos/

https://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/SEM.html