Anda di halaman 1dari 31

Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa

Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

MIKROSKOP

Definisi Mikroskop
Mikroskop berasal dari kata mikros dan scopein. Mikros berarti kecil dan scopein
artinya melihat. Jika dijadikan satu maka menjadi mikroskop yang didefinisikan sebagai alat
untuk melihat benda kecil untuk dilihat secara kasat mata. Sejarah mikroskop sendiri diawali
pada masa Anthony Van Leeuwenhoek (1632-1723). Anthony Van Leeuwenhoek membuat
mikroskop pertamanya pada tahun 1675 dengan cara menumpuk beberapaa kaca pembesar.
Melalui percobaan itu Anthony bias mengamati mikroorganisme dalam air. Dari situlah
kemudian kegunaan mikroskop sebagai alat untuk melihat jasad renik mulai dikembangkan.

Bagian-Bagian Mikroskop

Gambar 1. Bagian-bagian mikroskop cahaya

a. Kaki

1
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Kaki berfungsi menopang dan memperkokoh kedudukan mikroskop. Pada


kaki melekat lengan dengan semacam engsel, pada mikroskop sederhana (model
student).

b. Lengan
Dengan adanya engsel antara kaki dan lengan, maka lengan dapat ditegakkan
atau direbahkan. Lengan dipergunakan juga untuk memegang mikroskop pada saat
memindah mikroskop.

c. Cermin
Cermin mempunyai dua sisi, sisi cermin datar dan sisi cermin cekung, berfungsi
untuk memantulkan sinar dan sumber sinar. Cermin datar digunakan bila sumber
sinar cukup terang, dan cermin cekung digunakan bila sumber sinar kurang. Cermin
dapat lepas dan diganti dengan sumber sinar dari lampu. Pada mikroskop model baru,
sudah tidak lagi dipasang cermin, karena sudah ada sumber cahaya yang terpasang
pada bagian bawah (kaki).

d. Kondensor
Kondensor tersusun dari lensa gabungan yang berfungsi mengumpulkan sinar.

e. Diafragma
Diafragma berfungsi mengatur banyaknya sinar yang masuk dengan mengatur
bukaan iris. Letak diafragma melekat pada diafragma di bagian bawah. Pada
mikroskop sederhana hanya ada diafragma tanpa kondensor.

f. Meja preparat
Meja preparat merupakan tempat meletakkan objek (preparat) yang akan
dilihat. Objek diletakkan di meja dengan dijepit dengan oleh penjepit. Dibagian tengah
meja terdapat lengan untuk dilewat sinar. Pada jenis mikroskop tertentu,kedudukan

2
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

meja tidak dapat dinaik atau diturunkan. Pada beberapa mikroskop, terutama
model terbaru, meja preparat dapat dinaik-turunkan.

g. Tabung
Di bagian atas tabung melekat lensa okuler, dengan perbesaran tertentu
(15X, 10X, dan 15 X). Dibagian bawah tabung terdapat alat yang disebut revolver.
Pada revolver tersebut terdapat lensa objektif.

h. Lensa obyektif
Lensa objektif bekerja dalam pembentukan bayangan pertama. Lensa ini
menentukan struktur dan bagian renik yang akan terlihat pada bayangan akhir. Ciri
penting lensa obyektif adalah memperbesar bayangan obyek dengan perbesaran
beraneka macam sesuai dengan model dan pabrik pembuatnya, misalnya 10X, 40X
dan 100X dan mempunyai nilai apertura (NA). Nilai apertura adalah ukuran daya pisah
suatu lensa obyektif yang akan menentukan daya pisah spesimen, sehingga mampu
menunjukkan struktur renik yang berdekatan sebagai dua benda yang terpisah.

i. Lensa Okuler
Lensa mikroskop yang terdapat di bagian ujung atas tabung, berdekatan dengan
mata pengamat. Lensa ini berfungsi untuk memperbesar bayangan yang dihasilkan
oleh lensa obyektif. Perbesaran bayangan yang terbentuk berkisar antara 4 - 25 kali.

j. Pengatur Kasar dan Halus


Komponen ini letaknya pada bagian lengan dan berfungsi untuk mengatur
kedudukan lensa objektif terhadap objek yang akan dilihat. Pada mikroskop dengan
tabung lurus/tegak, pengatur kasar dan halus untuk menaikturunkan tabung sekaligus

3
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

lensa onbjektif. Pada mikroskop dengan tabung miring, pengatur kasar dan halus
untuk menaikturunkan meja preparat.

Macam-Macam Mikroskop
Ada dua jenis mikroskop berdasarkan pada kenampakan obyek yang diamati, yaitu
mikroskop dua dimensi (mikroskop cahaya) dan cmikroskop tiga dimensi (mikroskop
stereo). Sedangkan berdasarkan sumber cahayanya, mikroskop dibedakan menjadi mikroskop
cahaya dan mikroskop elektron.

a. Mikroskop Cahaya
Mikroskop cahaya mempunyai perbesaran maksimum 1000 kali. Mikroskop
mempunyai kaki yang berat dan kokoh dengan tujuan agar dapat berdiri dengan
stabil. Mikroskop cahaya memiliki tiga sistem lensa, yaitu lensa obyektif, lensa okuler,
dan kondensor. Lensa obyektif dan lensa okuler terletak pada kedua ujung tabung
mikroskop. Lensa okuler pada mikroskop bisa berbentuk lensa tunggal (monokuler)
atau ganda (binokuler). Pada ujung bawah mikroskop terdapat tempat dudukan
lensa obyektif yang bisa dipasangi tiga lensa atau lebih. Di bawah tabung mikroskop
terdapat meja mikroskop yang merupakan tempat preparat. Sistem lensa yang ketiga
adalah kondensor. Kondensor berperan untuk menerangi obyek dan lensa-lensa
mikroskop yang lain.
Pada mikroskop konvensional, sumber cahaya masih berasal dari sinar
matahari yang dipantulkan dengan suatu cermin datar ataupun cekung yang
terdapat dibawah kondensor. Cermin ini akan mengarahkan cahaya dari luar
kedalam kondensor. Pada mikroskop modern sudah dilengkapi lampu sebagai
pengganti sumber cahaya matahari.
Mikroskop optic mempunyai bagian-bagian seperti bagan dibawah ini:

4
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Gambar 2. Skema mikroskop optik

Cara kerja dari mikroskop optic adalah dari cahaya lampu yang dibiaskan oleh
lensa condenser, setelah melewati lensa kondenser sinar mengenai spesimen dan
diteruskan oleh lensa objektif. Lensa objektif ini merupakan bagian yang paling
penting dari mikroskop karena dari lensa ini dapat diketahui perbesaran yang
dilakukan mikroskop. Sinar yang diteruskan oleh lensa objektif ditangkap oleh lensa
okuler dan diteruskan pada mata atau kamera. Pada mikroskop ini mempunyai
batasan perbesaran yaitu dari 400 X sampai 1400X.

• Mikroskop Monokuler
Cahaya yang dipancarakan oleh mikroskop
monokuler bekerja untuk mengamati dalam isi
sel, cahaya yang dipancarkan pada mikroskop
monokuler berasal dari lampu. Lensa okuler pada
mikroskop monokuler sangat mudah digunakan
dibandingkan dari lensa okuler pada mikroskop
binokuler.
Mikroskop monokuler memiliki kelebihan
yang Dibandingkan dengan mikroskop binokuler,
jika dilihat dari tata penggunaannya lebih enak
Gambar 3. Bagian-bagian
mikroskop monokuler
5
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

yang menggunakan lensa monokuler. Kalau mikroskop binokuler Mikroskop ini


tidak memiliki kondensor, namun memiliki kedalaman bidang pandang dan jarak
kerja yang panjang.

• Mikroskop Binokuler
Mikroskop binokuler memiliki fungsi yang sama dengan mikroskop monokuler
yang fungsinya sebagai alat yang mengamati isi bagian dalam sel.
Perbedaan yang dimiliki mikroskop binokuler dengan monokuler yaitu lensa
yang dimiliki. mikroskop monokuler memiliki 1 lensa yaitu lensa okuler, sedangkan
mikroskop binokuler memiliki 2 lensa yaitu lensa obyektif dan okuler.

Gambar 4. Bagian-bagian
mikroskop binokuler

b. Mikroskop Stereo
Mikroskop stereo merupakan jenis mikroskop
yang hanya bisa digunakan untuk benda yang
berukuran relatif besar. Mikroskop stereo mempunyai
perbesaran 7 hingga 30 kali. Benda yang diamati

6
Gambar 5. Mikroskop
stereo
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

dengan mikroskop ini dapat terlihat secara tiga dimensi. Komponen utama mikroskop
stereo hampir sama dengan mikroskop cahaya. Lensa terdiri atas lensa okuler dan lensa
obyektif. Beberapa perbedaan dengan mikroskop cahaya adalah: (1) ruang ketajaman
lensa mikroskop stereo jauh lebih tinggi dibandingkan dengan mikroskop cahaya
sehingga kita dapat melihat bentuk tiga dimensi benda yang diamati, (2) sumber cahaya
berasal dari atas sehingga obyek yang tebal dapat diamati. Perbesaran lensa okuler
biasanya 10 kali, sedangkan lensa obyektif menggunakan sistem zoom dengan
perbesaran antara 0,7 hingga 3 kali, sehingga perbesaran total obyek maksimal 30 kali.
Pada bagian bawah mikroskop terdapat meja preparat. Pada daerah dekat lensa
obyektif terdapat lampu yang dihubungkan dengan transformator. Pengatur fokus
obyek terletak disamping tangkai mikroskop, sedangkan pengatur perbesaran terletak
diatas pengatur fokus.

c. Mikroskop Elektron
Sebagai gambaran mengenai mikroskop elektron kita uraikan sedikit dalam
buku ini. Mikroskop elektron mempunyai perbesaran sampai 100 ribu kali, elektron
digunakan sebagai pengganti cahaya. Mikroskop elektron mempunyai dua tipe, yaitu
mikroskop elektron scanning (SEM) dan mikroskop elektron transmisi (TEM). SEM
digunakan untuk studi detil arsitektur permukaan sel (atau struktur renik lainnya), dan
obyek diamati secara tiga dimensi. Sedangkan TEM digunakan untuk mengamati
struktur detil internal sel.

Macam-macam Mikroskop Elektron

• Mikroskop Scanner Electron (SEM)


Mikroskop pemindai elektron (SEM) yang digunakan untuk studi detail arsitektur
permukaan sel (atau struktur jasad renik lainnya), dan obyek diamati secara tiga
dimensi.

7
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Sejarah penemuan
Tidak diketahui secara persis siapa sebenarnya penemu Mikroskop pemindai
elektron (Scanning Electron Microscope-SEM) ini. Publikasi pertama kali yang
mendiskripsikan teori SEM dilakukan oleh fisikawan Jerman dR. Max Knoll pada
1935, meskipun fisikawan Jerman lainnya Dr. Manfred von Ardenne mengklaim
dirinya telah melakukan penelitian suatu fenomena yang kemudian disebut SEM
hingga tahun 1937. Mungkin karena itu, tidak satu pun dari keduanya mendapatkan
hadiah nobel untuk penemuan itu.
Pada 1942 tiga orang ilmuwan Amerika yaitu Dr. Vladimir Kosma Zworykin[2], Dr.
James Hillier, dan Dr. Snijder, benar-benar membangun sebuah mikroskop elektron
metode pemindaian (SEM) dengan resolusi hingga 50 nm atau magnifikasi 8.000 kali.
Sebagai perbandingan SEM modern sekarang ini mempunyai resolusi hingga 1 nm
atau pembesaran 400.000 kali. Mikroskop elektron cara ini memfokuskan sinar
elektron (electron beam) di permukaan obyek dan mengambil gambarnya dengan
mendeteksi elektron yang muncul dari permukaan obyek.

Pada mikroskop scanner elektron mempunyai bagian-bagian seperti pada


skema yang tergambar pada gambar

8
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Gambar 6. Mikroskop scanning elektron dan skemanya

Cara kerja dari mikroskop scanning electron adalah sinar dari lampu
dipancarkan pada lensa kondensor, sebelum masuk pada lensa kondensor
ada pengatur dari pancaran sinar elektron yang ditembakkan. Sinar yang
melewati lensa kondensor diteruskan lensa objektif yang dapat diatur maju
mundurnya. Sinar yang melewati lensa objektif diteruskan pada spesimen
yang diatur miring pada pencekamnya, spesimen ini disinari oleh deteksi x-
ray yang menghasikan sebuah gambar yang diteruskan pada layar monitor.

9
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Pada layar monitor, gambar dibuat


berdasarkan deteksi elektron baru
(elektron sekunder) atau elektron
pantul yang muncul dari permukaan
sampel ketika permukaan sampel
Gambar 7. Mikroskop elektron
tersebut dipindai dengan sinar elektron.
Elektron sekunder atau elektron pantul
yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya
ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray
tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa
dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang
ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3
dimensi.

Gambar 8. Hasil dari SEM

• Mikroskop Transmission Electron (TEM)


Mikroskop transmisi elektron (Transmission electron microscope-
TEM)adalah sebuah mikroskop elektron yang cara kerjanya mirip dengan cara
kerja proyektor slide, di mana elektron ditembuskan ke dalam obyek
pengamatan dan pengamat mengamati hasil tembusannya pada layar.

Sejarah penemuan

10
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Seorang ilmuwan bernama Ernst Ruska [1] menggabungkan penemuan ini dan
membangun mikroskop transmisi elektron (TEM) yang pertama pada tahun
1931. Untuk hasil karyanya ini maka dunia ilmu pengetahuan
menganugerahinya hadiah Penghargaan Nobel dalam fisika pada tahun 1986.
Mikroskop yang pertama kali diciptakannya adalah dengan menggunakan dua
lensa medan magnet, namun tiga tahun kemudian ia menyempurnakan
karyanya tersebut dengan menambahkan lensa ketiga dan mendemonstrasikan
kinerjanya yang menghasilkan resolusi hingga 100 nanometer (nm) (dua kali
lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa itu).

Pada mikroskop transmission elektron, skematik dari mikroskop


dapat dilihat dari gambar:

Gambar 9. Skema dari TEM

Dari skema diatas dapat


diterangkan elektron ditembakkan
dari electron gun yang kemudian

11
Gambar 10. Mikroskop TEM
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

melewati oleh dua lensa kondenser yang berguna menguatkan dari elektron
yang ditembakkan. Setelah melewati dua lensa kondenser elektron diterima oleh
spesimen yang tipis dan berinteraksi, karena spesimen tipis maka elektron yang
berinteraksi dengan spesimen diteruskan pada tiga lensa yaitu lensa objektif,
lensa intermediate dan lensa proyektor. LeJnsa objektif merupakan lensa
utama dari TEM karena batas penyimpangannya membatasi dari redolusi
mikroskop, lensa intermediate sebagai penguat dari lensa objektif dan
untuk lensa proyektor gunanya untuk menggambarkan pada layar flourescent
yang ditangkap film fotografi atau kamera CCD. Hasil dari TEM dapat
dilihat pada gambar

Gambar 11. Hasil dari TEM


Untuk spesimen yang dapat dilihat dengan TEM perlu adanya persiapan
yaitu seperti terlihat pada gambar

12
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Gambar 12. Persiapan spesimen TEM


Dari gambar diatas dapat dijelaskan tahapan pembuatan spesimen.

1. Spesimen dipotong dengan ukuran 3 mm dan ketebalan 300 μm


2. Spesimen digerinda dan dipoles sampai ketebalan 100 μm
3. Spesimen digerinda tengahnya sampai ketebalan 20 μm
4. Spesimen ditembak dengan ion argon sampai berlubang.

• Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)


Scanning Transmission Electron
Microscopy (STEM) adalah
merupakan salah satu tipe yang
merupakan hasil pengembangan dari
Transmission Electron Microscopy
(TEM).
Pada sistem STEM ini, electron

menembus spesimen namun


Gambar 13. Mikroskop STEM
sebagaimana halnya dengan cara kerja

13
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

SEM. Optik elektron terfokus langsung pada sudut yang sempit dengan memindai
obyek menggunakan pola pemindaian dimana obyek tersebut dipindai dari satu sisi
ke sisi lainnya (raster) yang menghasilkan lajur-lajur titik (dots) yang membentuk
gambar seperti yang dihasilkan oleh CRT pada televisi / monitor.

• Reflection Electron Microscope (REM)


Reflection Electron Microscope (REM),
adalah mikroskop elektron yang memiliki
cara kerja yang serupa dengan cara kerja
TEM, namun sistem ini menggunakan
deteksi pantulan elektron pada permukaan
objek. Tehnik ini secara khusus digunakan
dengan menggabungkannya dengan tehnik
refleksi difraksi elektron energi tinggi
Gambar 14. Mikroskop REM
(Reflection High Energy Electron Diffraction)
dan tehnik Refleksi pelepasan spektrum energi tinggi (reflection high-energy loss
spectrum - RHELS)

• Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy (SPLEEM)


Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy (SPLEEM) ini adalah
merupakan Variasi lain yang dikembangkan dari teknik yang sudah ada sebelumnya,
dan digunakan untuk melihat struktur mikro dari medan magnet.

• Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)

14
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Mikroskop ini adalah merupakan pengembangan dari SEM, yang dalam bahasa
Inggrisnya disebut Environmental SEM (ESEM) yang dikembangkan guna mengatasi
obyek pengamatan yang tidak memenuhi syarat sebagai obyek TEM maupun SEM.
Obyek yang tidak memenuhi syarat seperti ini biasanya adalah bahan alami
yang ingin diamati secara detail tanpa merusak atau menambah perlakuan yang
tidak perlu terhadap obyek yang apabila menggunakat alat SEM konvensional perlu
ditambahkan beberapa trik yang memungkinkan hal tersebut bisa terlaksana.

Sejarah penemuan
Teknologi ESEM ini dirintis oleh Gerasimos D. Danilatos, seorang kelahiran
Yunani yang bermigrasi ke Australia pada akhir tahun 1972 dan memperoleh gelar
Ph.D dari Universitas New South Wales (UNSW) pada tahun 1977 dengan judul
disertasi Dynamic Mechanical Properties of Keratin Fibres .
Dr. Danilatos ini dikenal sebagai pionir dari teknologi ESEM, yang merupakan
suatu inovasi besar bagi dunia mikroskop elektron serta merupakan kemajuan
fundamental dari ilmu mikroskopi.
Deengan teknologi ESEM ini maka dimungkinkan bagi seorang peneliti untuk
meneliti sebuah objek yang berada pada lingkungan yang menyerupai gas yang
betekanan rendah (low-pressure gaseous environments) misalnya pada 10-50 Torr serta
tingkat humiditas diatas 100%. Dalam arti kata lain ESEM ini memungkinkan
dilakukannya penelitian obyek baik dalam keadaan kering maupun basah.
Sebuah perusahaan di Boston yaitu Electro Scan Corporation pada tahun 1988 (
perusahaan ini diambil alih oleh Philips pada tahun 1996- sekarang bernama FEI
Company [3] telah menemukan suatu cara guna menangkap elektron dari obyek
untuk mendapatkan gambar dan memproduksi muatan positif dengan cara
mendesain sebuah detektor yang dapat menangkap elektron dari suatu obyek dalam
suasana tidak vakum sekaligus menjadi produsen ion positif yang akan dihantarkan
oleh gas dalam ruang obyek ke permukaan obyek. Beberapa jenis gas telah dicoba
untuk menguji teori ini, di antaranya adalah beberapa gas ideal, gas , dan lain lain.

15
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Namun, yang memberikan hasil gambar yang terbaik hanyalah uap air. Untuk
sample dengan karakteristik tertentu uap air kadang kurang memberikan hasil yang
maksimum.
Pada beberapa tahun terakhir ini peralatan ESEM mulai dipasarkan oleh para
produsennya dengan mengiklankan gambar-gambar jasad renik dalam keadaan
hidup yang selama ini tidak dapat terlihat dengan mikroskop elektron.

Cara kerja
o Pertama-tama dilakukan suatu upaya untuk menghilangkan penumpukan
elektron (charging) di permukaan obyek, dengan membuat suasana dalam ruang
sample tidak vakum tetapi diisi dengan sedikit gas yang akan mengantarkan
muatan positif ke permukaan obyek, sehingga penumpukan elektron dapat
dihindari.
o Hal ini menimbulkan masalah karena kolom tempat elektron dipercepat dan
ruang filamen di mana elektron yang dihasilkan memerlukan
tingkat vakum yang tinggi. Permasalahan ini dapat diselesaikan dengan
memisahkan sistem pompa vakum ruang obyek dan ruang kolom serta filamen,
dengan menggunakan sistem pompa untuk masing-masing ruang. Di antaranya
kemudian dipasang satu atau lebih piringan logam platina yang biasa disebut
(aperture) berlubang dengan diameter antara 200 hingga 500 mikrometer yang
digunakan hanya untuk melewatkan elektron , sementara tingkat kevakuman
yang berbeda dari tiap ruangan tetap terjaga.

16
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Teknik pembuatan preparat yang digunakan pada mikroskop electron

Materi yang akan dijadikan objek pemantauan dengan menggunakan mikroskop


elektron ini harus diproses sedemikian rupa sehingga menghasilkan suatu sampel yang
memenuhi syarat untuk dapat digunakan sebagai preparat pada mikroskop elektron.

Teknik yang digunakan dalam pembuatan preparat ada berbagai macam tergantung
pada spesimen dan penelitian yang dibutuhkan, antara lain :

o Kriofiksasi yaitu suatu metode persiapan dengan menggunakan teknik pembekuan


spesimen dengan cepat yang menggunakan nitrogen cair ataupun helium cair,
dimana air yang ada akan membentuk kristal-kristal yang menyerupai kaca. Suatu
bidang ilmu yang disebut mikroskopi cryo-elektron (cryo-electron microscopy) telah
dikembangkan berdasarkan tehnik ini. Dengan pengembangan dari Mikroskopi cryo-
elektron dari potongan menyerupai kaca (vitreous) atau disebut cryo-electron
microscopy of vitreous sections (CEMOVIS), maka sekarang telah dimungkinkan
untuk melakukan penelitian secara virtual terhadap specimen biologi dalam keadaan
aslinya.

o Fiksasi - yaitu suatu metode persiapan untuk menyiapkan suatu sampel agar tampak
realistik (seperti kenyataannya ) dengan menggunakan glutaraldehid dan osmium
tetroksida.

o Dehidrasi - yaitu suatu metode persiapan dengan cara menggantikan air dengan
bahan pelarut organik seperti misalnya ethanol atau aceton.

o Penanaman (Embedding) - yaitu suatu metode persiapan dengan cara menginfiltrasi


jaringan dengan resin seperti misalnya araldit atau epoksi untuk pemisahan bagian.

o Pembelahan (Sectioning)- yaitu suatu metode persiapan untuk mendapatkan


potongan tipis dari spesimen sehingga menjadikannya semi transparan terhadap
elektron. Pemotongan ini bisa dilakukan dengan ultramicrotome dengan
menggunakan pisau berlian untuk menghasilkan potongan yang tipis sekali. Pisau
kaca juga biasa digunakan oleh karena harganya lebih murah.

17
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

o Pewarnaan (Staining) - yaitu suatu metode persiapan dengan menggunakan metal


berat seperti timah, uranium, atau tungsten untuk menguraikan elektron gambar
sehingga menghasilkan kontras antara struktur yang berlainan di mana khususnya
materi biologikal banyak yang warnanya nyaris transparan terhadap elektron (objek
fase lemah).

o Pembekuan fraktur (Freeze-fracture) - yaitu suatu metode persiapan yang biasanya


digunakan untuk menguji membran lipid. Jaringan atau sel segar didinginkan
dengan cepat (cryofixed) kemudian dipatah-patahkan atau dengan menggunakan
microtome sewaktu masih berada dalam keadaan suhu nitrogen ( hingga mencapai -
100% Celsius)

Patahan beku tersebut lalu diuapi dengan uap platinum atau emas dengan sudut 45
derajat pada sebuah alat evaporator en:evaporator tekanan tinggi.

o Ion Beam Milling - yaitu suatu metode mempersiapkan sebuah sampel hingga
menjadi transparan terhadap elektron dengan menggunakan cara pembakaran ion(
biasanya digunakan argon) pada permukaan dari suatu sudut hingga memercikkan
material dari permukaannya. Kategori yang lebih rendah dari metode Ion Beam
Milling ini adalah metode berikutnya adalah metode Focused ion beam milling,
dimana galium ion digunakan untuk menghasilkan selaput elektron transparan pada
suatu bagian spesifik pada sampel.

o Pelapisan konduktif (Conductive Coating) - yaitu suatu metode mempersiapkan


lapisan ultra tipis dari suatu material electrically-conducting . Ini dilakukan untuk
mencegah terjadinya akumulasi dari medan elektrik statis pada spesimen
sehubungan dengan elektron irradiasi sewaktu proses penggambaran sampel.
Beberapa bahan pelapis termasuk emas, palladium (emas putih), platinum, tungsten,
graphite dan lain-lain, secara khusus sangatlah penting bagi penelitian spesimen
dengan SEM.

18
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Pembesaran pada Mikroskop

Sebagaimana yang telah disebutkan di atas, mikroskop terdiri atas lensa objektif dan lensa
okuler. Maka dapat dikatan bahwa perbesaran mikroskop merupakan perkalian antera
perbesaran oleh lensa objectif dengan perbesaran oleh lensa okuler.

M = Mob X Mok

Keterangan : M = Perbesaran Mikroskop

Mob = Perbesaran Lensa Objektif

Mok = Perbesaran Lensa Okuler

Perbesaran pada mikroskop tergantung pada daya akomodasi mata. Artinya, ketika kita
melihat benda dengan mata berakomodasi akan berbeda dengan tanpa berakomodasi
(akmodasi minimum). Jadi besaran mikroskop terdiri dari perbesaran untuk mata
berakomodasi maksimum dan perbesaran untuk mata tidak berakomodasi (akomodasi
minimum).

• Pengamatan dengan akomodasi maksimum


Untuk pengamatan dengan akomodasi maksimum, maka bayangan yang dibentuk oleh
lensa okuler harus jatuh pada titik dekat mata (PP).

19
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Gambar 15. Pembentukan bayangan saat mata


berakomodasi maksimum

Mata diakatan berakomodasi maksumum jika beda yang dilihat berada pada titik
dekat mata. Begitu juga pada mikroskop, agar mata berakomodasi maksumum, maka
bayangan yang dihasilkan lensa okuler terletak di depan lensa okuler yang jaraknya sama
dengan titik dekat pengamat.

Pada lensa objektif berlaku persamaan:

+ =

Pembesaran oleh lensa objektif dihitung dengan rumus:

mob =

Sementara pada lensa okuler berlaku persamaan:

+ =

Untuk mencari jarak bayangan pada lensa okuler, menggunakan rumus berikut:

20
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

+ =

= +

Pembesaran pada lensa okuler dicari dengan persamaan:

mok =

mok =

mok = +1

dari hasil perbesaran oleh lensa objektif dan lensa okuler tersebut didapatkan perbesaran
mikroskop untuk mata berakomodasi maksimum sebagai berikut:

• Pengamatan dengan mata tidak berakomodasi


Untuk pengamatan dengan mata tidak berakomodasi, maka bayangan yang dibentuk
oleh lensa okuler harus berada pada titik jauh mata.

21
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Gambar 16. Pembentukan bayangan saat


mata tidak berakomodasi

Mata dikatan tidak berakomodasi jika benda yang dilihat berada di jauh tak
terhingga. Karena lensa yang dekat dengan mata adalah lensa okuler, maka benda pada
lensa okuler harus terletak di jauh tak terhingga. Untuk menghasilkan bayangan di tak
terhingga, benda harus diletakan di titik fokus lensa okuler, jadi. pada lensa okuler berlaku
persamaan berikut.

=∞

+ =

Jadi, perbesaran pada lensa okuler dapat dicari dengan persamaan,

mok =

Perbesaran mikroskop untuk mata tanpa berakomodasi dihitung dengan persamaan:

M = mob x mok

22
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

M=-

Keterangan = M = perberaran mikroskop untuk mata berakomodasi

s’ob = jarak bayangan lensa obyektif

sob = jarak benda dari lensa obyektif

sn = titik dekat mata (25 cm)

fok = focus lensa okuler

Panjang Mikroskop
Panjang mikroskop merupakan jarak antara lensa objektif dan lensa okuler. Seperti yang
telah sobat ketahui, bayangan yang dibentuk oleh lensa objektif menjadi benda untuk lensa
okuler. Jarak bayangan lensa objektif ditambah jarak bayangan tersebut ke lensa okuler
menyatakan panjang mikroskop. Jadi panjang mikroskop dapat ditentukan dengan
persamaan berikut:

D =s’ob + sok
Keterangan = D = panjang mikroskop
s’ob = jarak bayangan lensa obyektif
sok = jarak benda lensa okuler

Untuk pengamatan dengan mata tanpa berakomodasi, bayangan dari lensa objektif
haru jatuh di titik fokus lensa okuler. Jadi, panjang mikroskop untuk mata tidak
berakomodasi adalah:

D = s’ob + fok
Keterangan = s’ob = jarak bayangan lensa objektif

23
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Fok = titik focus lensa okuler

Contoh soal
1. Suatu mikroskop terdiri dari dua lensa cembung. Lensa cembung yang berjarak dekat
dengan obyek alias benda dinamakan lensa obyektif dan lensa cembung yang berjarak
dekat dengan mata pengamat dinamakan lensa okuler. Panjang fokus lensa obyektif adalah
2 cm dan panjang fokus lensa okuler adalah 5 cm. Jarak antara lensa obyektif dan lensa
okuler adalah 30 cm. Jika mata pengamat normal dan berakomodasi minimum, tentukan :
a. perbesaran total mikroskop
b. jarak benda dari lensa obyektif.

Pembahasan
Diketahui :Panjang fokus lensa obyektif (fob) = 2 cm
Panjang fokus lensa okuler (fok) = 5 cm
Jarak antara lensa obyektif dan lensa okuler (l) = 30 cm
Titik dekat mata normal (N) = 25 cm

Jawab :

a. Perbesaran total mikroskop


Rumus perbesaran total mikroskop :
M = mob Mok
Keterangan : M = perbesaran total mikroskop, mob = perbesaran linear lensa
obyektif,
Mok = perbesaran sudut lensa okuler.

Perbesaran linear lensa obyektif ketika mata berakomodasi minimum (mob) :

24
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Mob = =

Jarak bayangan dari lensa obyektif (sob’) :

sob’ = l – fok = 30 cm – 5 cm = 25 cm
Jarak benda dari lensa obyektif (sob) :

= - = -

= - =

= = 2cm

Lensa obyektif merupakan lensa cembung sehingga panjang fokus lensa


bertanda positif. Bayangan bersifat nyata sehingga jarak bayangan (sob’) bertanda
positif.
Perbesaran linear lensa obyektif :

Mob = = = 12.5 kali

Perbesaran sudut lensa okuler ketika mata berakomodasi minimum (Mok) :


Mok = N / fok = 25 cm / 5 cm = 5 kali

Perbesaran total mikroskop :

M = mob Mok = (12,5)(5) = 62,5 kali

b. Jarak benda dari lensa obyektif (sob)


Jarak benda dari lensa obyektif telah diperoleh pada perhitungan sebelumnya.
Jarak benda dari lensa obyektif adalah 2 cm.

25
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

2. Seorang bermata normal menggunakan mikroskop cahaya sederhana untuk mengamati


sebuah obyek. Jarak antara lensa obyektif dan lensa okuler adalah 15 cm. Lensa obyektif
mempunyai perbesaran linear 5 kali dan lensa okuler mempunyai perbesaran sudut 20
kali. Apabila mata berakomodasi minimum, tentukan :
a. perbesaran total mikroskop
b. panjang fokus lensa okuler
c. panjang fokus lensa obyektif.

Pembahasan
Diketahui :

Perbesaran linear lensa obyektif (mob) = 5 kali

Perbesaran sudut lensa okuler (Mok) = 20 kali

Titik dekat mata normal (N) = 25 cm

Jarak antara lensa obyektif dan lensa okuler = Panjang mikroskop (l) = 15 cm

Jawab :

a. Perbesaran total mikroskop (M)


Rumus perbesaran total mikroskop :
M = mob Mok
Perbesaran total mikroskop :
M = (5)(20) = 100 kali

b. Panjang fokus lensa okuler (fok)


Rumus perbesaran sudut lensa okuler (Mok) mikroskop ketika mata
berakomodasi minimum :
Mok = N / fok
Ubah rumus ini untuk menghitung panjang fokus lensa okuler (fok) :
fok = N / Mok = 25 cm / 20 = 1,25 cm

26
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

c. Panjang fokus lensa obyektif (fob)


Rumus perbesaran linear lensa obyektif (mob) mikroskop ketik mata
berakomodasi minimum :

Mob = =

Tanda negatif yang menunjukkan bahwa bayangan terbalik dihilangkan dari


rumus ini.

Jarak bayangan nyata dari lensa obyektif (sob’) :

sob’ = l – fok = 15 cm – 1,25 cm = 13,75 cm

Jarak benda dari lensa obyektif (sob) :

Sob = = = 2.75 cm

Panjang fokus lensa obyektif (fob) :

= + = +

= +

= + =

Fob = = 2.29 cm

Panjang fokus lensa obyektif adalah 2,29 cm

Lensa obyektif merupakan lensa cembung sehingga panjang fokus lensa


bertanda positif. Bayangan bersifat nyata sehingga jarak bayangan (sob’)
bertanda positif.

Jarak benda (sob = 2,75 cm) sedikit lebih besar daripada panjang fokus lensa
obyektif (fob = 2,29 cm). Hal ini sesuai dengan kenyataan bahwa obyek yang
diamati menggunakan mikroskop harus ditempatkan di dekat titik fokus
lensa obyektif agar lensa obyektif menghasilkan bayangan nyata yang

27
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

mempunyai perbesaran linear maksimum.

28
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

Daftar Pustaka

• Adrian, Marc; Dubochet, Jacques; Lepault, Jean; McDowall, Alasdair W. (1984).


"Cryo-electron microscopy of viruses". Nature 308 (5954): 32–36.
Bibcode:1984Natur.308...32A. doi:10.1038/308032a0. PMID 6322001.
• Anonim. 2005. Instruction Manual for Home Microscope. Diambil pada tanggal 20
Februari 2009, dari www.homesciencetools.com.
• Anonim. 2008. Mikroskop dan Penggunaannya. Diambil pada tanggal 20 Februari 2008,
dari http://hafidhamr.blogsome.com/2008/06/05/macam-macam-mikroskop/trackback
• Anonim. 2008. Macam-macam Mikroskop. Diambil pada tanggal 20 Februari 2008, dari
www.microscope.com
• Antonovsky, A. (1984). "The application of colour to sem imaging for increased
definition". Micron and Microscopica Acta 15 (2): 77–84. doi:10.1016/0739-6260(84)90005-4.
• Bertazzo, S.; Gentleman, E.; Cloyd, K. L.; Chester, A. H.; Yacoub, M. H.; Stevens, M.
M. (2013). "Nano-analytical electron microscopy reveals fundamental insights into human
cardiovascular tissue calcification". Nature Materials 12 (6): 576–583.
doi:10.1038/nmat3627. PMID 23603848.
• Burgess, Jeremy (1987). Under the Microscope: A Hidden World Revealed. CUP Archive.
p. 11. ISBN 0521399408.
• Danilatos, G.D. (1986). "Colour micrographs for backscattered electron signals in the
SEM". Scanning 9 (3): 8–18. doi:10.1111/j.1365-2818.1986.tb04287.x.
• Danilatos, G.D. (1986). "Environmental scanning electron microscopy in colour". J.
Microscopy 142: 317–325. doi:10.1002/sca.4950080104.
• Dannen, Gene (1998) Leo Szilard the Inventor: A Slideshow (1998, Budapest,
conference talk). dannen.com

29
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

• Erni, Rolf; Rossell, MD; Kisielowski, C; Dahmen, U (2009). "Atomic-Resolution


Imaging with a Sub-50-pm Electron Probe". Physical Review Letters 102 (9): 096101.
Bibcode:2009PhRvL.102i6101E. doi:10.1103/PhysRevLett.102.096101. PMID 19392535.
• "Introduction to Electron Microscopy". FEI Company. p. 15. Retrieved 12 December
2012
• "James Hillier". Inventor of the Week: Archive. 2003-05-01. Retrieved 2010-01-31.
• Kasas, S.; Dumas, G.; Dietler, G.; Catsicas, S.; Adrian, M. (2003). "Vitrification of
cryoelectron microscopy specimens revealed by high-speed photographic imaging".
Journal of Microscopy 211 (1): 48–53. doi:10.1046/j.1365-2818.2003.01193.x.
• Koesmadji Wirjosoemarto, dkk. Tth. Teknik Laboratorium. Bandung: Universitas
Pendidikan Indonesia.
• Kruger DH; Schneck P; Gelderblom HR (May 2000). "Helmut Ruska and the
visualisation of viruses". Lancet 355 (9216): 1713–7. doi:10.1016/S0140-6736(00)02250-9.
PMID 10905259.
• Luft, J.H. (1961). "Improvements in epoxy resin embedding methods". The Journal of
biophysical and biochemical cytology 9 (2). p. 409. PMC 2224998. PMID 13764136.
• Mathys, Daniel, Zentrum für Mikroskopie, University of Basel: Die Entwicklung der
Elektronenmikroskopie vom Bild über die Analyse zum Nanolabor, p. 8
• McMullan D (1993). "Scanning Electron Microscopy, 1928–1965". 51st Annual Meeting
of the Microscopy Society of America. Cincinnati, OH. Retrieved 2010-01-31.
• O'Keefe MA, Allard LF. "Sub-Ångstrom Electron Microscopy for Sub-Ångstrom
Nano-Metrology" (pdf). Information Bridge: DOE Scientific and Technical Information –
Sponsored by OSTI. Retrieved 2010-01-31.
• Rudenberg, H Gunther and Rudenberg, Paul G (2010). "Chapter 6 – Origin and
Background of the Invention of the Electron Microscope: Commentary and Expanded
Notes on Memoir of Reinhold Rüdenberg". Advances in Imaging and Electron Physics 160.
Elsevier. doi:10.1016/S1076-5670(10)60006-7. ISBN 978-0-12-381017-5.
• Ruska, Ernst (1986). "Ernst Ruska Autobiography". Nobel Foundation. Retrieved
2010-01-31.

30
Ilmu Pengetahuan Bumi dan Antariksa
Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Surabaya

• Sabanay, I.; Arad, T.; Weiner, S.; Geiger, B. (1991). "Study of vitrified, unstained
frozen tissue sections by cryoimmunoelectron microscopy". Journal of Cell Science 100 (1):
227–236. PMID 1795028.
• "SPLEEM". National Center for Electron Microscopy (NCEM). Retrieved 2010-01-31.
• "The Scale of Things". Office of Basic Energy Sciences, U.S. Department of Energy.
2006-05-26. Retrieved 2010-01-31.
• Tth. The Compound Light Microscope. Diambil pada tanggal 20 Februari 2008, dari
www.southwestschool.org
• von Ardenne, M and Beischer, D (1940). "Untersuchung von metalloxyd-rauchen mit
dem universal-elektronenmikroskop". Zeitschrift Electrochemie (in German) 46: 270–277.

31