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Ecuaci�n de Scherrer

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Ver tambi�n: factor de forma (desambiguaci�n)
La ecuaci�n de Scherrer , en difracci�n de rayos X y cristalograf�a , es una
f�rmula que relaciona el tama�o de part�culas submicrom�tricas , o cristalitos , en
un s�lido con la ampliaci�n de un pico en un patr�n de difracci�n. Lleva el nombre
de Paul Scherrer . [1] [2] Se utiliza en la determinaci�n del tama�o de part�culas
de cristales en forma de polvo.

La ecuaci�n de Scherrer se puede escribir como:

{\ displaystyle \ tau = {\ frac {K \ lambda} {\ beta \ cos \ theta}}} \ tau = {\


frac {K \ lambda} {\ beta \ cos \ theta}}
d�nde:

{\ displaystyle \ tau} \ tau es el tama�o medio de los dominios ordenados


(cristalinos), que pueden ser m�s peque�os o iguales al tama�o de grano;
{\ displaystyle K} KEs un factor de forma adimensional , con un valor cercano a la
unidad. El factor de forma tiene un valor t�pico de aproximadamente 0,9, pero var�a
con la forma real de la cristalita;
{\ displaystyle \ lambda} \ lambda es la longitud de onda de rayos X ;
{\ displaystyle \ beta} \beta es la ampliaci�n de la l�nea a la mitad de la
intensidad m�xima ( FWHM ), despu�s de restar la ampliaci�n de la l�nea
instrumental, en radianes . Esta cantidad tambi�n se denota a veces como {\
displaystyle \ Delta \ left (2 \ theta \ right)} {\ displaystyle \ Delta \ left
(2 \ theta \ right)};
{\ displaystyle \ theta} \ theta Es el �ngulo de Bragg .

Contenido
1 aplicabilidad
2 Derivaci�n para una simple pila de planos.
2.1 Factor de estructura para un conjunto de N planos igualmente espaciados.
2.2 Determinaci�n del perfil cerca del pico, y por lo tanto el ancho del pico
3 Ampliaci�n del pico por desorden del segundo tipo.
3.1 Longitud de coherencia
4 Lectura adicional
5 referencias
Aplicabilidad
La ecuaci�n de Scherrer se limita a nano part�culas -scale. No es aplicable a
granos mayores de aproximadamente 0.1 a 0.2 �m, lo que excluye los observados en la
mayor�a de las microestructuras metalogr�ficas y ceramogr�ficas .

Es importante darse cuenta de que la f�rmula de Scherrer proporciona un l�mite


inferior en el tama�o de part�cula. La raz�n de esto es que una variedad de
factores pueden contribuir al ancho de un pico de difracci�n adem�s de los efectos
instrumentales y el tama�o de la cristalita; El m�s importante de estos suele ser
la tensi�n no homog�nea y las imperfecciones de la red cristalina. Las siguientes
fuentes de ensanchamiento de picos se enumeran en la referencia: [3] dislocaciones,
fallas de apilamiento, hermanamiento, microestr�s, l�mites de grano, sub-l�mites,
tensi�n de coherencia, heterogeneidades qu�micas y peque�ez de cristalita. (Algunas
de esas y otras imperfecciones tambi�n pueden dar como resultado un cambio de pico,
asimetr�a de pico, ensanchamiento de pico anisotr�pico o afectar la forma del
pico).

Si todas estas otras contribuciones al ancho de pico fueran cero, entonces el ancho
de pico se determinar�a �nicamente por el tama�o de cristalita y se aplicar�a la
f�rmula de Scherrer. Si las otras contribuciones al ancho no son cero, entonces el
tama�o del cristalito puede ser mayor que el predicho por la f�rmula de Scherrer,
con el ancho m�ximo "extra" que proviene de los otros factores. El concepto de
cristalinidad se puede utilizar para describir colectivamente el efecto del tama�o
del cristal y las imperfecciones en la ampliaci�n del pico.

Derivaci�n para una simple pila de planos


Para ver donde la ecuaci�n de Scherrer viene de, es �til considerar el ejemplo m�s
simple posible: un conjunto de N planos separados una distancia. La derivaci�n para
este caso simple, efectivamente unidimensional, es directa. Primero derivaremos el
factor de estructura para este caso, y luego determinaremos una expresi�n para los
anchos de pico.

Factor de estructura para un conjunto de N planos igualmente espaciados


Este sistema, efectivamente un cristal perfecto unidimensional, tiene un factor de
estructura o funci�n de dispersi�n S (q) [4]

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} \ sum _ {j, k = 1} ^ {N} \ mathrm {e} ^ {-
iq (x_ {j} -x_ {k })}} {\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} \ sum _ {j, k = 1}
^ {N} \ mathrm {e} ^ {- iq (x_ {j} -x_ {k })}}

donde por N aviones, {\ displaystyle x_ {j} = aj} {\ displaystyle x_ {j} = aj}, asi
que

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} \ sum _ {k = 1} ^ {N} \ mathrm {e} ^ {-


iqak} \ times \ sum _ {j = 1} ^ {N} \ mathrm {e} ^ {iqaj}} {\ displaystyle S (q) =
{\ frac {1} {N}} \ sum _ {k = 1} ^ {N} \ mathrm {e} ^ {- iqak} \ times \ sum _ {j =
1} ^ {N} \ mathrm {e} ^ {iqaj}}

Factor de estructura S (qa) para N = 31 planos. Se muestran los picos de Bragg


primero y segundo. Vale la pena se�alar que para una red perfecta pero finita,
todos los picos son id�nticos. En particular, todos los picos tienen el mismo
ancho. Adem�s, la parte central (entre los ceros entre corchetes) de cada pico est�
cerca de una funci�n gaussiana , pero la envolvente de las peque�as oscilaciones a
ambos lados de este pico es una funci�n lorentziana .
Las sumas son simples series geom�tricas, definiendo {\ displaystyle y = \ exp
(iqa)} {\ displaystyle y = \ exp (iqa)}, {\ textstyle \ sum _ {j = 1} ^ {N} y ^ {j}
= (yy ^ {N + 1}) / (1-y)} {\ textstyle \ sum _ {j = 1} ^ {N} y ^ {j} = (yy ^ {N +
1}) / (1-y)}, con las otras series an�logas. Entonces

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {\ left [{\ rm {e}} ^ {- iqa} - {\
rm {e}} ^ {- iqa ( N + 1)} \ right]} {\ left [1-e ^ {- iqa} \ right]}} \ times
{frac {\ left [{\ rm {e}} ^ {iqa} - {\ rm {e}} ^ {iqa (N + 1)} \ right]} {\ left
[1-e ^ {iqa} \ right]}}} {\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {\ left
[{\ rm {e}} ^ {- iqa} - {\ rm {e}} ^ {- iqa ( N + 1)} \ right]} {\ left [1-e ^ {-
iqa} \ right]}} \ times {frac {\ left [{\ rm {e}} ^ {iqa} - {\ rm {e}} ^ {iqa (N +
1)} \ right]} {\ left [1-e ^ {iqa} \ right]}}}

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {2 - {\ rm {e}} ^ {iqaN} - {\ rm


{e}} ^ {- iqaN}} { 2 - {\ rm {e}} ^ {iqa} - {\ rm {e}} ^ {- iqa}}}} {\ displaystyle
S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {2 - {\ rm {e}} ^ {iqaN} - {\ rm {e}} ^ {- iqaN}}
{ 2 - {\ rm {e}} ^ {iqa} - {\ rm {e}} ^ {- iqa}}}}

conversi�n a funciones trigonom�tricas

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {1- \ cos [Nqa]} {1- \ cos [qa]}}}
{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {1- \ cos [Nqa]} {1- \ cos [qa]}}}

y finalmente
{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {\ sin ^ {2} [Nqa / 2]} {\ sin ^
{2} [qa / 2]}}} {\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {\ sin ^ {2}
[Nqa / 2]} {\ sin ^ {2} [qa / 2]}}}

lo que da un conjunto de picos en {\ textstyle q_ {P} = 0,2 \ pi / a, 4 \ pi / a, \


ldots} {\ textstyle q_ {P} = 0,2 \ pi / a, 4 \ pi / a, \ ldots}, todos con alturas
{\ displaystyle S (q_ {P}) = N} {\ displaystyle S (q_ {P}) = N}.

Determinaci�n del perfil cerca del pico y, por tanto, del ancho del pico
De la definici�n de FWHM, para un pico en {\ textstyle q_ {P}} {\ textstyle q_ {P}}
y con un FWHM de {\ textstyle \ Delta q} {\ textstyle \ Delta q}, {\ displaystyle S
(q_ {P} \ pm \ Delta q) = S (q_ {P}) / 2 = N / 2} {\ displaystyle S (q_ {P} \ pm \
Delta q) = S (q_ {P}) / 2 = N / 2}, Como la altura del pico es N . Si tomamos el
signo m�s (el pico es sim�trico, entonces cualquiera de los signos funcionar�)

{\ displaystyle S (q_ {P} + \ Delta q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {\ sin ^ {2} [Na
(q_ {P} + \ Delta q / 2) / 2]} {\ sin ^ {2} [a (q_ {P} + \ Delta q / 2) / 2]}} =
N / 2} {\ displaystyle S (q_ {P} + \ Delta q) = {\ frac {1} {N}} {\ frac {\ sin ^
{2} [Na (q_ {P} + \ Delta q / 2) / 2]} {\ sin ^ {2} [a (q_ {P} + \ Delta q / 2) /
2]}} = N / 2}

{\ displaystyle {\ frac {\ sin [Na (q_ {P} + \ Delta q / 2) / 2]} {\ sin [a (q_ {P}
+ \ Delta q / 2) / 2]}} = {\ frac {\ sin [Na \ Delta q / 4]} {\ sin [a \ Delta q /
4]}} = {\ frac {N} {2 ^ {1/2}}}} {\ displaystyle {\ frac {\ sin [Na (q_ {P} + \
Delta q / 2) / 2]} {\ sin [a (q_ {P} + \ Delta q / 2) / 2]}} = {\ frac {\ sin [Na \
Delta q / 4]} {\ sin [a \ Delta q / 4]}} = {\ frac {N} {2 ^ {1/2}}}}

como {\ displaystyle \ Delta q} \ Delta qes peque�o para N no demasiado peque�o ,


entonces {\ displaystyle \ sin [\ Delta qa / 2] \ simeq \ Delta qa / 2} {\
displaystyle \ sin [\ Delta qa / 2] \ simeq \ Delta qa / 2}, y podemos escribir la
ecuaci�n es una sola ecuaci�n no lineal {\ displaystyle \ sin (x) - (x / 2 ^ {1/2})
= 0} {\ displaystyle \ sin (x) - (x / 2 ^ {1/2}) = 0}, para {\ displaystyle x =
Na \ Delta q / 4} {\ displaystyle x = Na \ Delta q / 4}. La soluci�n a esta
ecuaci�n es {\ displaystyle x = 1.39} {\ displaystyle x = 1.39}. Por lo tanto, el
tama�o del conjunto de planos est� relacionado con el FWHM en q por

{\ displaystyle \ tau = Na = {\ frac {5.56} {\ Delta q}}} {\ displaystyle \ tau =


Na = {\ frac {5.56} {\ Delta q}}}

Para convertir a una expresi�n para el tama�o del cristal en t�rminos del ancho del
pico en el �ngulo de dispersi�n {\ displaystyle 2 \ theta} 2 \ theta utilizado en
la difracci�n de rayos X en polvo , observamos que el vector de dispersi�n {\
displaystyle q = (4 \ pi / \ lambda) \ sin (\ theta)} {\ displaystyle q = (4 \ pi /
\ lambda) \ sin (\ theta)}. Entonces el ancho de pico en la variable {\
displaystyle 2 \ theta} 2 \ theta es aproximadamente {\ displaystyle \ beta \
simeq 2 \ Delta q / [{\ rm {d}} q / {\ rm {d}} \ theta] = 2 \ Delta q / [(4 \
pi / \ lambda) \ cos ( \ theta)]} {\ displaystyle \ beta \ simeq 2 \ Delta q / [{\
rm {d}} q / {\ rm {d}} \ theta] = 2 \ Delta q / [(4 \ pi / \ lambda) \ cos ( \
theta)]}, y entonces

{\ displaystyle \ tau = Na = {\ frac {5.56 \ lambda} {2 \ pi \ beta \ cos (\


theta)}} = {\ frac {0.88 \ lambda} {\ beta \ cos (\ theta)}} } {\ displaystyle \
tau = Na = {\ frac {5.56 \ lambda} {2 \ pi \ beta \ cos (\ theta)}} = {\ frac {0.88
\ lambda} {\ beta \ cos (\ theta)}} }

que es la ecuaci�n de Scherrer con K = 0.88.


Esto es todo para 1D conjunto de planos. En el caso experimentalmente relevante de
3D, la forma de {\ displaystyle S (q)} S (q)y, por lo tanto, los picos dependen del
tipo de red cristalina y del tama�o y la forma de la nanocristalita. Las
matem�ticas tambi�n est�n m�s involucradas que en este simple ejemplo ilustrativo.
Sin embargo, para celos�as y formas simples, se han obtenido expresiones para el
FWHM, por ejemplo, por Patterson. [2] Al igual que en 1D, el FWHM var�a como uno de
gran tama�o. Por ejemplo, para una part�cula esf�rica con una red c�bica, [2] el
factor de 5.56 simplemente se convierte en 6.96, cuando el tama�o es el di�metro D,
es decir, el di�metro de un nanocristal esf�rico est� relacionado con el pico FWHM
por

{\ displaystyle D = {\ frac {6.96} {\ Delta q}}} {\ displaystyle D = {\ frac {6.96}


{\ Delta q}}} o en {\ displaystyle \ theta} \ theta : {\ displaystyle D = {\ frac
{1.11 \ lambda} {\ beta \ cos (\ theta)}}} {\ displaystyle D = {\ frac {1.11 \
lambda} {\ beta \ cos (\ theta)}}}

Ampliaci�n del pico debido a desorden del segundo tipo


El tama�o finito de un cristal no es la �nica raz�n posible para los picos
ensanchados en difracci�n de rayos X . Las fluctuaciones de los �tomos sobre las
posiciones de red ideales que preservan el orden de largo alcance de la red solo
dan lugar al factor Debye-Waller , que reduce las alturas de los picos pero no las
ampl�a. [5] Sin embargo, las fluctuaciones que causan que las correlaciones entre
los �tomos cercanos disminuyan a medida que aumenta su separaci�n aumentan los
picos. Esto puede ser estudiado y cuantificado utilizando la misma pila de planos
unidimensional simple como se indic� anteriormente. La derivaci�n se deduce que en
el cap�tulo 9 del libro de texto de Guinier. [5] Este modelo ha sido pionero y
aplicado a una serie de materiales por Hosemann y colaboradores [6]durante varios
a�os. Llamaron a este trastorno del segundo tipo y se refirieron a este
ordenamiento cristalino imperfecto como ordenamiento paracristalino . El desorden
del primer tipo es la fuente del factor Debye-Waller .

Para derivar el modelo comenzamos con la definici�n del factor de estructura.

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} \ sum _ {j, k = 1} ^ {N} \ mathrm {e} ^ {-
iq (x_ {j} -x_ {k })}} {\ displaystyle S (q) = {\ frac {1} {N}} \ sum _ {j, k = 1}
^ {N} \ mathrm {e} ^ {- iq (x_ {j} -x_ {k })}}

pero ahora queremos considerar, por simplicidad, un cristal infinito, es decir, {\


displaystyle N \ to \ infty} N \ a \ infty , y queremos considerar pares de sitios
de celos�a. Para grande {\ displaystyle N} norte, para cada uno de estos {\
displaystyle N} norte aviones, hay dos vecinos {\ displaystyle m} metro los aviones
se alejan, por lo que la suma doble anterior se convierte en una suma �nica sobre
pares de vecinos a cada lado de un �tomo, en las posiciones {\ displaystyle -m}
-metro y {\ displaystyle m} metro distancia entre celos�a, tiempos {\ displaystyle
N} norte. Por lo que entonces

{\ displaystyle S (q) = 1 + {\ frac {2} {N}} \ sum _ {m = 1} ^ {N} \ int _ {- \


infty} ^ {\ infty} {\ rm {d }} (\ Delta x) p_ {m} (\ Delta x) \ cos \ left (mq \
Delta x \ right)} {\ displaystyle S (q) = 1 + {\ frac {2} {N}} \ sum _ {m = 1} ^
{N} \ int _ {- \ infty} ^ {\ infty} {\ rm {d }} (\ Delta x) p_ {m} (\ Delta x) \
cos \ left (mq \ Delta x \ right)}

d�nde {\ displaystyle p_ {m} (\ Delta x)} {\ displaystyle p_ {m} (\ Delta x)} Es la


funci�n de densidad de probabilidad para la separaci�n. {\ displaystyle \ Delta
x} \ Delta x de un par de planos, {\ displaystyle m} metroseparaciones de celos�a
aparte. Para la separaci�n de planos vecinos, asumimos por simplicidad que las
fluctuaciones alrededor del espaciado medio de un vecino son gaussianas, es decir,
que
{\ displaystyle p_ {1} (\ Delta x) = {\ frac {1} {\ left (2 \ pi \ sigma _ {2} ^
{2} \ right) ^ {1/2}}} \ exp \ izquierda [- \ izquierda (\ Delta xa \ derecha) ^
{2} / (2 \ sigma _ {2} ^ {2}) \ derecha]} {\ displaystyle p_ {1} (\ Delta x) = {\
frac {1} {\ left (2 \ pi \ sigma _ {2} ^ {2} \ right) ^ {1/2}}} \ exp \ izquierda
[- \ izquierda (\ Delta xa \ derecha) ^ {2} / (2 \ sigma _ {2} ^ {2}) \ derecha]}

y tambi�n asumimos que las fluctuaciones entre un plano y su vecino, y entre este
vecino y el pr�ximo plano, son independientes. Entonces {\ displaystyle p_ {2} (\
Delta x)} {\ displaystyle p_ {2} (\ Delta x)} Es solo la convoluci�n de dos. {\
displaystyle p_ {1} (\ Delta x)} {\ displaystyle p_ {1} (\ Delta x)}s, etc. Como la
convoluci�n de dos gaussianos es solo otra gaussiana, tenemos que

{\ displaystyle p_ {m} (\ Delta x) = {\ frac {1} {\ left (2 \ pi m \ sigma _ {2} ^


{2} \ right) ^ {1/2}}} \ exp \ left [- \ left (\ Delta x-ma \ right) ^ {2} / (2m \
sigma _ {2} ^ {2}) \ right]} {\ displaystyle p_ {m} (\ Delta x) = {\ frac {1} {\
left (2 \ pi m \ sigma _ {2} ^ {2} \ right) ^ {1/2}}} \ exp \ left [- \ left (\
Delta x-ma \ right) ^ {2} / (2m \ sigma _ {2} ^ {2}) \ right]}

La suma en {\ displaystyle S (q)} S (q) es entonces solo una suma de las


Transformadas de Fourier de Gauss, y as�

{\ displaystyle S (q) = 1 + 2 \ sum _ {m = 1} ^ {\ infty} r ^ {m} \ cos \ left (mqa


\ right)} {\ displaystyle S (q) = 1 + 2 \ sum _ {m = 1} ^ {\ infty} r ^ {m} \ cos \
left (mqa \ right)}

para {\ displaystyle r = \ exp [-q ^ {2} \ sigma _ {2} ^ {2} / 2]} {\ displaystyle
r = \ exp [-q ^ {2} \ sigma _ {2} ^ {2} / 2]}. La suma es solo la parte real de la
suma. {\ displaystyle \ sum _ {m = 1} ^ {\ infty} [r \ exp (iqa)] ^ {m}} {\
displaystyle \ sum _ {m = 1} ^ {\ infty} [r \ exp (iqa)] ^ {m}} y as�, el factor de
estructura del cristal infinito pero desordenado es

{\ displaystyle S (q) = {\ frac {1-r ^ {2}} {1 + r ^ {2} -2r \ cos (qa)}}} {\


displaystyle S (q) = {\ frac {1-r ^ {2}} {1 + r ^ {2} -2r \ cos (qa)}}}

Esto tiene m�ximos en los m�ximos. {\ displaystyle q_ {p} = 2n \ pi / a} {\


displaystyle q_ {p} = 2n \ pi / a}, d�nde {\ displaystyle \ cos (q_ {P} a) = 1} {\
displaystyle \ cos (q_ {P} a) = 1}. Estos picos tienen alturas.

{\ displaystyle S (q_ {P}) = {\ frac {1 + r} {1-r}} \ approx {\ frac {4} {q_ {P} ^
{2} \ sigma _ {2} ^ { 2}}} = {\ frac {a ^ {2}} {n ^ {2} \ pi ^ {2} \ sigma _ {2} ^
{2}}}} {\ displaystyle S (q_ {P}) = {\ frac {1 + r} {1-r}} \ approx {\ frac {4} {q_
{P} ^ {2} \ sigma _ {2} ^ { 2}}} = {\ frac {a ^ {2}} {n ^ {2} \ pi ^ {2} \ sigma _
{2} ^ {2}}}}

es decir, la altura de los picos sucesivos desciende seg�n el orden del pico (y as�
{\ displaystyle q} q) al cuadrado. A diferencia de los efectos de tama�o finito que
ampl�an los picos pero no disminuyen su altura, el desorden reduce las alturas.
Tenga en cuenta que aqu� asumimos que el trastorno es relativamente d�bil, por lo
que todav�a tenemos picos relativamente bien definidos. Este es el l�mite {\
displaystyle q \ sigma _ {2} \ ll 1} {\ displaystyle q \ sigma _ {2} \ ll 1}, d�nde
{\ displaystyle r \ simeq 1-q ^ {2} \ sigma _ {2} ^ {2} / 2} {\ displaystyle r \
simeq 1-q ^ {2} \ sigma _ {2} ^ {2} / 2}. En este l�mite, cerca de un pico podemos
aproximarnos. {\ displaystyle \ cos (qa) \ simeq 1 - (\ Delta q) ^ {2} a ^ {2} / 2}
{\ displaystyle \ cos (qa) \ simeq 1 - (\ Delta q) ^ {2} a ^ {2} / 2}, con {\
displaystyle \ Delta q = q-q_ {P}} {\ displaystyle \ Delta q = q-q_ {P}} y obtener

{\ displaystyle S (q) \ approx {\ frac {S (q_ {P})} {1 + {\ frac {r} {(1-r) ^ {2}}}
\ Delta q ^ {2} a ^ {2}}} \ approx {\ frac {S (q_ {P})} {1 + {\ frac {\ Delta q ^
{2}} {[q_ {P} ^ {2} \ sigma _ {2 } ^ {2} / 2a] ^ {2}}}}}} {\ displaystyle S (q) \
approx {\ frac {S (q_ {P})} {1 + {\ frac {r} {(1-r) ^ {2}}} \ Delta q ^ {2} a ^
{2}}} \ approx {\ frac {S (q_ {P})} {1 + {\ frac {\ Delta q ^ {2}} {[q_ {P} ^ {2} \
sigma _ {2 } ^ {2} / 2a] ^ {2}}}}}}

que es una funci�n de Lorentzian o Cauchy , de FWHM {\ displaystyle q_ {P} ^ {2} \


sigma _ {2} ^ {2} / a = 4 \ pi ^ {2} n ^ {2} (\ sigma _ {2} / a) ^ {2} /una} {\
displaystyle q_ {P} ^ {2} \ sigma _ {2} ^ {2} / a = 4 \ pi ^ {2} n ^ {2} (\ sigma _
{2} / a) ^ {2} /una}, es decir, el FWHM aumenta como el cuadrado del orden del
pico, y as� como el cuadrado del wavector {\ displaystyle q} qen la cima.
Finalmente, el producto de la altura del pico y el FWHM es constante e igual a {\
displaystyle 4 / a} {\ displaystyle 4 / a}, en el {\ displaystyle q \ sigma _ {2} \
ll 1} {\ displaystyle q \ sigma _ {2} \ ll 1}l�mite. Para los primeros picos donde
{\ displaystyle n} norte no es grande, esto es solo el {\ displaystyle \ sigma _
{2} / a \ ll 1} {\ displaystyle \ sigma _ {2} / a \ ll 1} l�mite.

Por lo tanto, el tama�o finito y este tipo de trastorno causan la ampliaci�n del
pico, pero hay diferencias cualitativas. Los efectos de tama�o finito ampl�an todos
los picos por igual, y no afectan las alturas de los picos, mientras que este tipo
de trastorno reduce las alturas de los picos y ampl�a los picos en una cantidad que
aumenta a medida que {\ displaystyle n ^ {2}} n ^ {2}. Esto, en principio, permite
distinguir los dos efectos. Adem�s, significa que la ecuaci�n de Scherrer se aplica
mejor al primer pico, ya que el desorden de este tipo afecta el primer pico al
menos.

Longitud de coherencia
Dentro de este modelo, el grado de correlaci�n entre un par de planos disminuye a
medida que aumenta la distancia entre estos planos, es decir, un par de planos con
10 planos separados tienen posiciones que est�n m�s d�bilmente correlacionadas que
un par de planos que son vecinos m�s cercanos. La correlaci�n est� dada por {\
displaystyle p_ {m}} pm}, para un par de planos m planos aparte. Para m lo
suficientemente grande, el par de planos no est� esencialmente correlacionado, en
el sentido de que la incertidumbre en sus posiciones relativas es tan grande que es
comparable al espaciado de la red, a . Esto define una longitud de correlaci�n, {\
displaystyle \ lambda} \ lambda , definida como la separaci�n cuando el ancho de {\
displaystyle p_ {m}} pm}, cual es {\ displaystyle m ^ {1/2} \ sigma _ {2}} {\
displaystyle m ^ {1/2} \ sigma _ {2}}es igual a una . Esto da

{\ displaystyle \ lambda = {\ frac {a ^ {3}} {\ sigma _ {2} ^ {2}}}} {\


displaystyle \ lambda = {\ frac {a ^ {3}} {\ sigma _ {2} ^ {2}}}}

que es en efecto una estimaci�n de orden de magnitud para el tama�o de los dominios
de las redes cristalinas coherentes. Tenga en cuenta que el FWHM del primer pico se
escala como {\ displaystyle \ sigma _ {2} ^ {2} / a ^ {3}} {\ displaystyle \ sigma
_ {2} ^ {2} / a ^ {3}}, por lo que la longitud de coherencia es aproximadamente 1 /
FWHM para el primer pico.

Lectura adicional
BD Cullity & SR Stock, Elementos de la difracci�n de rayos X , 3� edici�n,
Prentice-Hall Inc., 2001, p 167-171, ISBN 0-201-61091-4 .
R. Jenkins y RL Snyder, Introducci�n a la difractometr�a de rayos X en polvo , John
Wiley & Sons Inc., 1996, p�g. 89-91, ISBN 0-471-51339-3 .
HP Klug & LE Alexander, Procedimientos de difracci�n de rayos X , 2� edici�n, John
Wiley & Sons Inc., 1974, p�g. 687-703, ISBN 978-0-471-49369-3 .
BE Warren, Difracci�n de Rayos X , Addison-Wesley Publishing Co., 1969, p�ginas
251-254, ISBN 0-201-08524-0 . [4]
Referencias
P. Scherrer, G�ttinger Nachrichten Gesell. , Vol. 2, 1918, p�g. 98.
Patterson, A. (1939). "La f�rmula de Scherrer para la determinaci�n del tama�o de
part�culas de rayos X". Fis. Rev . 56 (10): 978�982. Bibcode : 1939PhRv ...
56..978P . doi : 10.1103 / PhysRev.56.978 .
AK Singh (ed.), "T�cnicas avanzadas de rayos X en investigaci�n e industrias", Ios
Pr Inc, 2005. ISBN 1586035371
Warren, BE X-Ray Diffraction .
Guinier, A (1963). Difracci�n de Rayos X . San Francisco y Londres: WH Freeman.
Lindenmeyer, PH; Hosemann, R (1963). "Aplicaci�n de la teor�a de los paracristales
al an�lisis de la estructura cristalina del poliacrilonitrilo" . Revista de F�sica
Aplicada . 34 : 42. Bibcode : 1963JAP .... 34 ... 42L . doi : 10.1063 / 1.1729086 .

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