Elaborado por:
Maria Camila Montoya 09-10553
Diego Alejandro Rodríguez 09-10745
Figura 2.1 Muestra de acero 1020 50X atacada. Figura 2.2 Muestra de latón 50X atacada.
[1] S. Kalpakjian, R. Schmid, “Manufactura, ingeniería y tecnología”, cuarta edición, página 46, 47.
2.1 Tamaño de grano ASTM para latón amarillo
50 μm
Si bien un tamaño de 7.43 está dentro del rango que se estimó en el patrón ocular
austenítico, fue sumamente difícil identificar los granos en esta micrografía porque hay
zonas muy difusas donde no se ve claramente el borde de grano pudiendo así confundir
los granos. El método de Jeffries no es 100% preciso porque depende de cada observador.
El último método realizado para calcular tamaño de grano fue el método de Heyn.
En la Figura 2.1.2 se observa una micrografía a un aumento de 100X y aumento real de
239X.
A diferencia del método anterior, se trazaron tres rectas de 130 mm de longitud y
se contaron las intercepciones con los bordes de grano, asignando 1 punto para cada
borde interceptado, 1.5 para puntos triples y 0.5 si la recta es tangente a un borde de
grano.
50 μm
Figura 2.1.2. Método de Heyn para el latón a 100X.
Para este método se utilizó una cuadrilla de 3x3 cm, con puntos a una distancia
aproximada de 0,5cm cada uno, sobre tres sectores de tres fotomicrografía a 200X. Se
procedió a contar los puntos que estaban sobre la fase en estudio, explicado el cálculo en
la sección 4.2.1 “Método puntual”. A los puntos sobre la fase se les da un valor de 1, y
aquellos que no están sobre dicha fase sino que logran tocarla, se le da un valor de 0,5.
(Ver Figura 2.2.1).
Figura 2.2.1 Método Puntual para acero 1020 a 200X
- Si bien los métodos utilizados para calcular el tamaño de grano no son totalmente
exactos y precisos, se acercan al valor real esperado.
- El método de Heyn es menos preciso pero más fácil de utilizar que el de Jeffries.
- Para el cálculo de fases los tres métodos utilizados pueden presentar valores
distintos.
- En cuanto a precisión, el método de las áreas es el más preciso.
- En cuanto a destreza, el método de los puntos es el más sencillo de utilizar.
4. APÉNDICES
M
2
n
NA = ×(n1 + 2 ) (Ec. 4.1.1)
5000 2
log ( N A )
G= −2,95 (Ec. 4.1.2)
log ( 2)
Dónde:
Ejemplo:
n1= 97
n2= 41
134 mm
M= =239 X
0.56 mm
239 41
NA=
5000 (
97+
2 )
=1342.34
log (1342.34 )
G= −2.95=7.44
log ( 2 )
n1 n2 M NA G
97 41 239X 1342.34 7.44
109 35 239X 1445.16 7.54
86 45 239X 1239.53 7.32
G promedio 7.43 ± 0.11
4.1.2 Método de Heyn:
N
N L=
Lt (Ec. 4.1.3)
M
1
L3 = (Ec.
NL
4.1.4)
Dónde:
Ejemplo:
N = 28
28
=51.48
NL= 130 mm
239
1
L3 = =0.0194
NL
G = [ −6.6457× log ( 0.0194 ) ]−3.298=8.08
N NL L3 G
31.5 57.91 0.0173 8.41
33 60.67 0.0164 8.56
35 64.35 0.0155 8.72
29.5 54.23 0.0184 8.23
31 56.99 0.0175 8.37
30 55.15 0.0181 8.28
28 51.48 0.0194 8.08
30 55.15 0.0181 8.28
26.5 48.72 0.0205 7.92
G promedio 8.32 ± 0.24
Dónde:
Ejemplo:
VV = PP = 14 / 42 = 0,2619
TOTAL
31,9
±
6 9,30
4.2.2 Método de las áreas:
Dónde:
Ejemplo:
VV = AA = (25 mm2 * (324)) / 900 mm2 = 9
TOTAL
17,5
± 9,56
2
Dónde:
TOTAL
24,29 ± 13,35
A' B'
M= (Ec. 4.3.1)
AB
Doá nde:
Ejemplo:
134 mm
M= =239 X
0.56 mm
1 cm 1 ×10 4 μm 1×10 4 μm
( ) = =41.84 μm (Ec. 4.3.2)
M 1 cm 239
41.84 μm → 1cm
50 μm → 1.20 cm