Anda di halaman 1dari 43

MMS 8110803 - KARAKTERISASI MATERIAL + LAB

MICROSTRUCTURE ANALYSIS

Departemen Metalurgi dan Material Fakultas Teknik Universitas Indonesia


Tel: +(62 21) 7863510 Fax : +(62 21) 7872350 Email: ahyuwono@metal.ui.ac.id
Instrumentasi Analisis Mikrostruktur

1. Optical Microscope
2. Scanning Electron Microscope
3. Transmission Electron Microscope
PENGAMATAN DENGAN MIKROSKOP
OPTIK
 Mikroskop adalah alat bantu untuk mengamati obyek
yang tak dapat diamati dengan mata biasa.
 Daya pisah atau resolusi adalah kemampuan mikroskop
mengamati secara terpisah jarak yang terkecil di antara
2 titik dari suatu obyek.
 Resolusi makin besar, makin besar perbesaran yang
dimiliki alat tersebut
 Mata manusiajarak resolusi 700.000 A
 Mikroskop optik jarak resolusi 1900 A
 SEM jarak resolusi 250 A
 TEM jarak resolusi 3 A
PENGAMATAN MIKROSKOP OPTIK
SETELAH ETSA
a. Butir-butir dari cuplikan
hasil pengetsaan yang
diamati dengan mikroskop
b. Bentuk Permukaan butir
hasil poles dan etsa yang
menghasilkan refleksi
cahaya yang berbeda

Al-7075
PENGAMATAN MIKROSKOP OPTIK
SETELAH ETSA
a. Permukaan alur
(groove) pada batas
butir dan karakteristik
refleksi cahayanya.
b. Foto mikrostruktur dari
cuplikan polikristal hasil
polis dan etsa
BAGIAN MIKROSKOP OPTIK

Olympus Light Microscope


PENGAMATAN DENGAN SCANNING
ELECTRON MICROSCOPE
Perbesaran
OM 4x – 1000x
SEM 10x – 3000000x
Aplikasi :
•Mengamati struktur
maupun bentuk permukaan
yang berskala lebih halus
•Dilengkapi Dengan EDS
(Electron Dispersive X ray
Spectroscopy)
•Dapat mendeteksi
unsur2 dalam material.
•Permukaan yang
diamati harus
penghantar elektron
PENGAMATAN DENGAN SCANNING
ELECTRON MICROSCOPE

Field Emission SEM


PERBEDAAN MIKROSKOP OPTIK,
SEM DAN TEM
PERBEDAAN MO DAN SEM

MO : resolusi/daya pisah SEM: resolusi/daya


lebih rendah pisah lebih tinggi
Kombinasi perbesaran dan daya pisah yang lebih besar dan kemampuan deteksi unsur pada
permukaan material SEM lebih teliti untuk riset dan industri
ELEKTRON YANG BERHAMBUR DAN
DITANGKAP SEM SAAT SAMPEL DITEMBAK
ELEKTRON
TERANG GELAP YANG DIHASILKAN SEM

Perbedaan lokasi
menyebabkan energi
juga berbeda
TEMPAT SAMPEL DI SCANNING
ELECTRON MICROSCOPE
HAMBURAN ELEKTRON DIDETEKSI DAN
ENERGINYA DITAMPILKAN DALAM BENTUK
GAMBAR DAN GRAFIK
Tiap Jenis hamburan
elektron ditangkap detektor
yang berbeda
Tempat Sampel
CONTOH PENGAMBILAN GAMBAR
DENGAN MIKROSKOP OPTIK MAKRO
Perpatahan Ductile
bentuk cup-cone
pada Alumunium

Bentuk patahan getas pada


baja karbon sedang
Bentuk permukaan rata dan
berbintik-bintik terang
PENAMPAKAN PATAH DUCTILE DENGAN
SEM

“Dimple” yang bulat merupakan lubang-lubang micro yang merupakan


awal perpatahan ductile yang bertambah sedikit demi sedikit
PENAMPAKAN PATAH BRITTLE DENGAN
SEM

A.Patah Transgranular; patah B. Patah Intergranular; Perambatan


memotong antar butir, karena retak terjadi disepanjang batas butir,
bidang patah yang terjadi pada karena adanya pengotor yang
beberapa arah yang berbeda. membuat batas butir jadi getas
CONTOH STRUKTUR MIKRO BEBERAPA
JENIS BAJA KARBON, BAJA PERKAKAS
DAN BAJA TAHAN KARAT , DENGAN
MIKROSKOP OPTIK

Baja 1008 setelah dinormalisasi setelah Baja 0,2 %, diaustenisasi High Strength Low Alloy
pengubahan bentuk 60%, nital 4%, ferit dan diquench, struktur Steel (0,2%C), hot rolled,
(terang) dan Perlit halus (gelap) martensit, 8% Na2S2O3, struktur fetit dan perlit,4%
500X picral,kemudian 2%
nital,200x
CONTOH STRUKTUR MIKRO BEBERAPA
JENIS BAJA KARBON, BAJA PERKAKAS
DAN BAJA TAHAN KARAT

Baja 10B35 austenisasi I jam 870oC, quench di air yang diberi pengadukan, temper 1 jam
230oC a), dibagian inti Martensit Temper, dipermukaan Ferit, karena terjadi dekarburisasi,
nital 1%, 500x b) Sama dengan a tapi Potensial karbon lebih memadai c) Sama dengan a
dan b tapi diaustenisasi dengan potensial karbon yang benar, tak terdapat lapisan
dekarburisasi, struktur mikro martensit temper ,1% nital, 500x
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
CONTOH STRUKTUR MIKRO
BAJA AISI 52100
PENGHITUNGAN BESAR BUTIR DAN
FRAKSI VOLUME FASA PADA
MATERIAL
Tujuan :
 Untuk dapat mengontrol tercapainya fraksi volume fasa atau
besar butir tertentu yang dihasilkan dalam suatu proses, misalnya
dalam proses pengecoran
 Untuk menghitung distribusi/ penyebaran partikel atau pori dari
suatu produk, misal hasil pengecoran, atau pengerolan dan lain2.
Obyek yang diamati:/diukur:
1. Fraksi Volume
2. Luas Permukaan & panjang garis perunit volume
3. Ukuran butir.
4. Distribusi ukuran partikel.
PENGHITUNGAN BESAR BUTIR DAN
FRAKSI VOLUME FASA PADA
MATERIAL
PERHITUNGAN FRAKSI VOLUME
 Menentukan fraksi volume dari fasa/kandungan
tertentu
Teknik perhitungan yang sederhana;
 Melihat struktur mikro,memperkirakan fraksi
luas. (Kemungkinan salahnya besar)
 Membandingkan struktur mikro dengan
perbesaran tertentu terhadap standar tertentu
yang terdiri dari beberapa jenis gambar struktur
yang ideal dengan presentase yang berbeda
PERHITUNGANFRAKSI VOLUME
PERHITUNGAN FRAKSI VOLUME
DENGAN PERBANDINGAN
PERHITUNGAN FRAKSI VOLUME
DENGAN PERBANDINGAN
METODA PERHITUNGAN
FRAKSI VOLUME

1. Analisa luas
Metode ini menunjukkan fraksi luas Aa, dari potongan
dua dimensi adalah suatu perhitungan fraksi volume;

Vv =A/AT (Rumus A1)

Dimana; A adalah jumlah luas fasa yang dimaksud 


danAT adalah luas total pengukuran. Pengukuran dapat
dengan metode Planimetri atau dengan memotong foto
fasa yang dimaksud dan mencoba membandingkan
lebar fasa yang dimaksud dengan lebar foto yang
dimaksud. Metode ini kurang sesuai untuk fasa halus.
METODA PERHITUNGAN
FRAKSI VOLUME

2. Analisa Garis
Metode ini mendemonstrasikan ekivalensi antara fraksi
garis LL dan fraksi volume.
Pada analisa garis, total panjang dari garis2 yang ditarik
sembarang memotong fasa yang diukur L dibagi dengan
total panjang garis LT untuk memperoleh fraksi garis:

LL = L /LT = Vv (rumus A2)

3. Perhitungan titik
Perhitungan ASTM E562 Metode ini menggunakan point
grid dua dimensi.
METODA PERHITUNGAN
FRAKSI VOLUME

• Test grid diletakkan pada lensa okuler atau dapat


diletakkan didepan layar proyeksi atau foto dengan
bantuan lembaran plastik. Perbesaran harus cukup
tinggi sehingga lokasi titik uji terhadap struktur tampak
jelas.
• Perbesaran diusahan sekecil mungkin dimana hasil
memungkinkan. Perbesaran disesuaikan dengan daya
pisah dan ukuran area untuk ketelitian statistik.
• Semakin kecil pengukuran, semakin banyak daerah
yang dapat dianalisa dengan derajat ketelitian statistik
tertentu.
• Titik potong adalah perpotongan 2 garis grid;

PP = P /PT = L /nPo (Rumus A3)


METODA PERHITUNGAN
FRAKSI VOLUME
• Dimana n adalah jumlah perhitungan dan Po jumlah dari
titik grid. Jadi
• PT = nPo, jumlah total titik uji. Grid uji pada lensa okuler
umumnya menggunakan jumlah titik terbatas
yaitu,9,16,25 dst, dengan jarak teratur.

• Sedangkan untuk grid yang digunakan didepan screen


mempunyai 16,25,29,64 atau 100 titik. Fraksi Volume
sekitar 50% sangat baik menggunakan jumlah grid
sedikit, seperti 25 titik. Untuk Volume fraksi yang amat
rendah baik digunakan grid dengan jumlah titik yang
banyak. Dalam kebanyakan pekerjaan, fraksi Volume
dinyatakan dengan persentase dengan dikalikan 100.
Ketiga metode dapat dianggap mempunyai ketelitian
yang sama.
Vv =AA = LL=P (Rumus A4) Lihat gambar 6.6
METODA PERHITUNGAN
FRAKSI VOLUME
METODE PERHITUNGAN
BESAR BUTIR

1. PLANIMETRI(JEFFERIES)
Jumlah butir/mm2 = (f) (n1+n2/2) = NA
No Butir ASTM Lihat tabel
F = Bilangan Jefferies =M2/5000
5000 mm2 = Luas Lingkaran
Rumus Empiris : G = [3,322 Log (NA) –
2,95]
METODE PERHITUNGAN
BESAR BUTIR

2. INTERCEPT (HEYNE)
PL = P/ LT/M

Panjang garis Perpotongan ;


L3 = 1/PL
P = Jml titik potong batas butir dengan lingkaran
LT = Panjang Garis Total
M = Perbesaran
Dari PL atau L3 , pat dilihat di tabel besar butir
ASTM
Empiris ; G = 6,646 log (L3) – 3,298
TABEL PENGUKURAN BESAR BUTIR
ASTM E112
TABEL PENGUKURAN BESAR BUTIR
ASTM E112
CONTOH PERHITUNGAN PLANIMETRI

Foto 100x, dari baja Mangan


yang dianil 1040oC,aging 620oC
untuk memunculkan perlit halus
pada batas butir. Lingkaran
mempunyai diameter 79.8 mm,
luas area 5000 mm2.
Penghitungan dilakukan untuk
butiryang sepenuhnya didalam
lingkaran (44) dan butir yang
terpotong lingkaran (25). Faktor
pengali planimetri untuk 100x
adalah 2. Jumlah butir/mm2
pada 1 x adalah
(2)(44 + 25/2) = 113. Besar Butir
ASTM G, adalah (3.322 log 113)
- 2.95 = 3.87 (sekitar 3.9 atau 4).
CONTOH PERHITUNGAN INTERCEPT

Ketiga lingkaran memiliki


diameter 79.5, 47.8, dan 31,
panjang total 500mm.
Perbesaran total 500×, dan
oleh sebab itu panjang garis
sesungguhnya 1mm.
Jumlah titik terpotong oleh
ketiga lingkaran adalah 60
dan adal 7 titik pertemuan
tiga titik. Jadi, P = 7(1.5) + 60
= 70.5, and PL = 70.5 / 1 mm
= 70.5/mm. Sehingga, l =
1/PL = 0.0142 mm. Besar
Butir ASTM dapat dihitung
dengan rumus
G = -6.6457(log 0.0142) -
3.298 = 8.98 (Sekitar 9).
CONTOH PERHITUNGAN KOMBINASI
Penghitungan ukuran butir bahan dua
fasa dengan penghitungan titik dan
intercept Foto 500×, paduan Ti-6Al-
2Sn-4Zr-2Mo t,diforging pada 955 °C
(1750 °F) dengan fasa alfa dan beta,
dianil pada 970 °C (1775 °F) ,
menghasilkan alfa primer (putih) dan
fasa eutektoid alpha-beta. Sampel
dietsa dengan larutan Kroll's
.Penghitungan titik untuk menghitung
jumlah alfa equiaxed (48.5%). Ketiga
lingkaran memiliki keliling 500 mm.
Penghitungan dilakukan untuk fasa alfa
yang terpotong ketiga
lingkaran(76).Jumlah panjang garis
linear , l, dihitung; l =
(0.485)(500/500)/76 = 0.006382 mm.
Besar Butir ASTM , G, dihitung: G = -
6.646(log 0.006382) - 3.298 = 11.29
(sekitar 11.3 atau 11,5)