BAB II

KAJIAN PUSTAKA

2.1. Manganese Oxide (MnO)

Manganese oxide (MnO) adalah oksidan alami dari logam tertentu seperti
As (III) dan Cr (III). MnO muncul di tanah sebagai lapisan pada partikel tanah,
pada retakan dan vena, dan sebagai nodul yang berdiameter 2 cm. Sebagian besar
oksida Mn amorf. Bentuk Mn oksida yang paling stabil adalah pirolusit tetapi
tidak umum di tanah. Birnessit adalah Manganese Oxide yang paling umum di
tanah (Sparks, 2003). Manganese Oxide adalah bahan penting karena aplikasi
luasnya, seperti media penyimpan magnetik berkepadatan tinggi, katalis,
pertukaran ion, adsorbsi molekul, bahan elektrokimia, varistor dan transformasi
energi surya (Ren et al, 2006).
Manganese Oxide memiliki sifat magnetik dan sifat elektrokimia terbaik
dibandingkan dengan MnO2, Mn2O3 dan Mn3O4. Sifat elektrokimia yang sangat
baik cocok untuk bahan baterai lithium-ion core-shell. Karena kemurniannya,
manganese Oxide juga digunakan dalam produksi gelas dan keramik, serta dalam
industri elektronik. MnO memiliki sifat magnetik nanopartikel MnO pada suhu
transisi 42 K. Sifat magnetik yang dimiliki oleh MnO tergantung pada suhu
nanopartikel MnO dan sifat feromagnetik pada perbesaran 5000x, 8000x, dan
20000x. Dapat disimpulkan bahwa nanopartikel MnO dapat berubah menjadi
feromagnetik dan antiferro-magnetik dipengaruhi oleh distribusi suhu yang sama
dan tindakan pengadukan yang buruk dalam pencampuran MnO. Sifat magnetik
yang dimiliki oleh MnO dipengaruhi oleh blocking temperature, energi
anisotropik dan suhu Currie. (Sasongko dkk, 2017).

2.2. Scanning Electron Microscopy (SEM)

SEM merupakan alat yang digunakan untuk menganalisis material secara
multivariate dengan banyak variabel. Scanning Electron Microscopy (SEM)
digunakan untuk mengamati detail permukaan sel atau struktur mikroskopik
lainnya, dan mampu menampilkan pengamatan obyek secara tiga dimensi yang
menembakkan permukaan benda dengan berkas elektron berenergi tinggi.
Permukaan benda yang dikenai berkas akan memantulkan kembali berkas tersebut
berupa elektron sekunder ke segala arah sehingga menghasilkan sinyal yang berisi
informasi mengenai topografi permukaan sampel, komposisi dan morgologi
sampel (Cheng, 2019).
2.2.1. Komponen Scanning Electron Microscopy (SEM)
Menurut Irianto, 2013 Pada sebuah Scanning Electron Microscopy
(SEM) terdapat beberapa peralatan utama antara lain:
1. Pistol elektron (Electron Gun), menghasilkan partikel-partikel elektron.
Elektron gun memiliki beberapa komponen penting, yaitu filament, sebuah
biasing cicuit, sebuah Wehnelt cap, dan sebuah ekstraksi anoda.
2. Lensa untuk elektron, berupa lensa magnetis karena elektron yang
bermuatan negatif dapat dibelokkan oleh medan magnet.
3. Sistem vakum, karena elektron sangat kecil dan ringan maka jika ada
molekul udara yang lain elektron yang berjalan menuju sasaran akan
terpencar oleh tumbukan sebelum mengenai sasaran sehingga
menghilangkan molekul udara menjadi sangat penting
4. Spesimen stage fungsinya seperti meja pada mikroskop yaitu berfungsi
untuk meletakkan objek / preparat.

Gambar 2.1 Skema dan Komponen pada SEM

Sumber : Irianto, 2013
2.2.2. Komponen Scanning Electron Microscopy (SEM)
Menurut Irianto, 2013 Pada Scanning Electron Microscopy (SEM)
terdapat prinsip kerja sebagai berikut:
1. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron
sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika
permukaan sampel tersebut dipindai dengan sinar elektron yang
ditembakan oleh pistol elektron.
2. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya
diperkuat sinyalnya dan difokuskan ke sampel oleh lensa magnetik.
3. Sinar elektron yang terfokus memindai (scan) keseluruhan sampel dengan
diarahkan oleh koil pemindai
4. Kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang
pada layar monitor CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar
struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat.
5. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan,
sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3
dimensi.
2.2.3. Kelebihan dan Kekurangan Scanning Electron Microscopy (SEM)
1. Kelebihan Scanning Electron Microscopy (SEM)
a) Preparasi sampel cepat dan sederhana.
b) Ukuran sampel relatif besar.
c) Rentang perbesaran yang luas, berkisar 3 – 150.000 kali.
2. Kelemahan Scanning Electron Microscopy (SEM)
a) Jika dibandingkan dengan TEM, SEM memiliki resolusi yang lebih
rendah.
b) Menggunakan vakum.
c) Hanya dapat mengamati bagian permukaan.
d) Memerlukan coating dengan Au (Katoda)