UNIVERSITAS INDONESIA

ANALISA MEKANIKA PERPATAHAN

TUGAS 5

ROBBY ARDIAN BASKORO

1606893071

FAKULTAS TEKNIK
PROGRAM STUDI TEKNIK METALURGI DAN MATERIAL
DEPOK
OKTOBER 2019
1. Jelaskan beberapa Tools untuk analisa kerusakan!
Jawab:
Terdapat beberapa tools yang dapat digunakan dalam melakukan analis untuk keperluan analisa
kegagalan. Alat yang biasanya digunakan dijelaskan sebagai berikut :
- SEM dan EDS
SEM (Scanning Electron Microscopy) merupakan suatu alat yang digunakan untuk melihat
struktur permukaan material dengan resolusi yang tinggi dengan tingkat pembesaran 10
sampai 3000000 kali. Pada dasarnya, SEM merupakan suatu jenis mikroskop yang
menggunakan elektron untuk menumbuk suatu spesimen dan menghasilkan image yang
diperbesar.
EDS merupakan suatu bagian dari SEM (dengan tambahan x-ray analyzer) yang dapat
digunakan untuk mengetahui komposisi kimia permukaan spesimen dengan ukuran luas
mikron. Dengan menggunakan SEM dan EDS maka selain dapat diperoleh image dengan
pembeasran yang sangat tinggi juga dapat diketahui komposisi kimia pada suatu lokasi
tertentu.
- Mikroskop Optik
Mikroskop optik merupakan suatu mikroskop yang digunakan untuk melihat struktur
permukaan material dengan sumber pencahayaan yang berasal dari lingkungan semisal
lampu atau sinar matahari. Tingkat pembesaran image pada miroskop optik sebesar 4-
1000 kali, jauh lebih kecil bila dibandingkan dengan tingkat pembesaran pada SEM.
- XRD dan XRF
XRD merupakan suatu metode analisa tanpa merusak material yang didasarkan pada
pengukuran radiasi sinar-X yang terdifraksi oleh bidang kristal ketika terjadi interaksi
antara suatu materi dengan radiasi elektromagnetik sinar-X. Pengaplikasian XRD dapat
menentukan struktur kristal spesimen dan juga analisis kimia dari spesimen tersebut. XRF
juga merupakan suatu tools analisis yang mirip dengan XRD dimana analisis unsur-unsur
pada spesimen dapat diketahui dari hasil interaksi antara radiasi gelombang sinar-X
dengan materi dimana suatu unsur akan memancarkan sinar-x karakteristik yang khusus
yang berbeda diantara satu unsur dengan unsur lainnya.

2. Jelaskan fungsi dan prinsip kerja Tools diatas!

Jawab :
- SEM dan EDS
Fungsi utama dari SEM dan EDS adalah untuk melihat struktur permukaan specimen
dengan pembesaran dan resolusi yang tinggi. SEM memiliki fungsi lain yang juga dapat
digunakan seperti berikut :
- Melihat orientasi kristalografi material
- Melihat batas butir material
- Melihat perbedaan fasa material
- Melakukan pengujian patah permukaan
- Mengevaluasi komposisi kimia permukaan
- Pengujian semi konduktor dalam failure analysis, function control dan design verification.
Secara umum, gambar pada SEM dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron
sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan
sampel tersebut dipindai dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul
yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya
ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube). Di
layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat.
Prinsip kerja SEM adalah menembakkan permukaan benda dengan berkas elektron
bernergi tinggi. Permukaan benda yang dikenai berkas akan memantulkan kembali berkas
tersebut atau menghasilkan elektron sekunder ke segala arah. Tetapi ada satu arah di
mana berkas dipantulkan dengan intensitas tertinggi. Detektor di dalam SEM mendeteksi
elektron yang dipantulkan dan menentukan lokasi berkas yang dipantulkan dengan
intensitas tertinggi. Arah tersebut memberi informasi profil permukaan benda seperti
seberapa landai dan ke mana arah kemiringan. Pada saat dilakukan pengamatan, lokasi
permukaan benda yang ditembak dengan berkas elektron di-scan ke seluruh area daerah
pengamatan. Lokasi pengamatan dapat dibatasi dengan melakukan zoon-in atau zoom-
out. Berdasarkan arah pantulan berkas pada berbagai titik pengamatan maka profil
permukan benda dapat dibangun menggunakan program pengolahan gambar dalam
 komputer. Secara umum skema alat SEM dapat dilihat pada gambar berikut.
- Mikroskop Optik
Mikroskop optic memiliki fungsi sama seperti mikroskop yang lain, fungsi utama
mikroskop optik adalah untuk menghasilkan gambar permukaan mikrostruktur dari suatu
spesimen dengan tingkat pembesaran yang lebih kecil dari SEM.
Selain itu, mikroskop optik dapat digunakan untuk mengetahui :
- jenis fasa/struktur mikro dengan identifikasi struktur mikro
- komposisi struktur mikro material
- besar butir material
Secara umum, prinsip utama dari mikroskop optik adalah dengan menggunakan
cahaya sebagai sumber untuk mengidentifikasi spesimen. Spesiman yang disinari oleh
cahaya akan dipantulkan melalui lensa-lensa sehingga mengalami pembesaran dan
digunakan untuk mengidentidikasi mikrostruktur material. Secara umum, skema
mikroskop optik dapat dilihat pada gambar berikut.

- XRD dan XRF

Dalam analisis kerusakan, XRD memiliki fungsi utama :
- Untuk menentukan struktur kristal :
o Bentuk dan ukuran sel satuan kristal (d, sudut dan panjang ikatan)
o Pengindeksan bidang kristal
o Jumlah atom per-sel satuan
- Untuk analisis kimia :
o Identifikasi/penentuan jenis kristal
o Penentuan kemurnian relatif dan derajat kristalinitas sampel
o Deteksi senbyawa baru
 o Deteksi kerusakan oleh suatu perlakuan Sedangkan XRF memiliki fungsi utama
dapat menganalisis kandungan unsur-unsur yang ada pada suatu spesimen.
Prinsip dasar cara kerja antara XRF dan XRD cukup mirip dimana menggunakan hasil
interaksi radiasi sinar-X dengan spesimen. Apabila radiasi sinar-X menumbuk suatu materi
maka akan terjadi suatu reaksi diantaranya diserap, ditransmisikan ataupun dipantulkan.
Pada XRD, sinar-X yang dipantulkan oleh kisi kristal akan memiliki suatu sudut tertentu
yang dapat digunakan untuk mengidentifikasi arah kristal dan komposisi dari spesimen
tersebut. Hal ini dapat dilihat pada gambar berikut.

Sedangkan pada XRF, interaksi sinar-X dengan spesimen akan dapat mengionisasi
elektron atau menurunkun elektron ke tingkat kulit yang lebih dalam dan menghasilkan
sinar-X karakteristik yang sangat spesifik untuk tiap jenis unsur. Dengan mengidentidikasi
sinar-X karakteristik tersebut maka dengan XRF dapat ditentukan komposisi unsur yang ada
pada spesimen tersebut.
3. Gambarkan skematis perbedaan prinsip kerja antara OM dan SEM
Perbedaan prinsip kerja antara OM dan SEM dapat dilihat pada tabel berikut.
 Perbandingan hasil gambar yang dihasilkan antara mikroskop optik dan SEM adalah sebagai
berikut.

Secara skematis, perbedaan prinsip kerja antara OM dan SEM dapat dilihat pada gambar berikut.

Dari gambar diatas dapat dilihat bahwa mikroskop optik memiliki skema peralatan dan cara
kerja yang berbeda dengan SEM. Prinsip kerja seara umum untuk mikroskop optik dan SEM telah
dijelaskan pada pertanyaan sebelumnya.

4. Jelaskan hasil apa saja yang akan diperoleh dari analisa kerusakan material dengan menggunakan
ketiga tools diatas.
Jawab :
1. SEM
Penggunaan SEM dalam analisa kerusakan material sangatlah luas, diantaranya adalah
sebagai berikut :
- Memberikan gambar yang memiliki tingkat pembesaran dan resolusi yang lebih tinggi
dari mikroskop optik. Hal ini menjadikan SEM sebuah tools yang penting untuk
 melihat mikrostruktur material dalam analisa kerusakan.
- Dapat membedakan jenis patahan dari permukaan material misalnya apakah material
mengalami patah ductile, patah getas, patah akibat fatik dan sebagainya

- Dengan BSE dapat digunakan untuk melihat composition contrast

- Dapat digunakan untuk memperkirakan awal mula retakan pada suatu material

- Dengan EDS dapat digunakan untuk mengetahui komposisi kimia pada suatu spot
tertentu
2. Mikroskop Optik
Dengan menggunakan mikroskop optik dalam analisa kerusakan, dapat diperoleh informasi
sebagai berikut :
- Dengan menggunakan mikroskop optik secara makro, dapat digunakan untuk melihat
perbedaan jenis patahan.
- Untuk melihat struktur mikro dari specimen
 3. XRD dan XRF
Dengan menggunakan XRD, akan dapat diketahui arah kristal material dan juga komposisi dari
spesimen tersebut.
- Material single kristal akan memberikan sudut difraksi yang tunggal jika dibandingkan
dengan material multi Kristal

- Dengan menggunakan XRF, maka akan dapat diperoleh informasi terkait dengan
kompsosisi unsur yang ada pada suatu spesimen.

5. Jelaskan perbedaan antara Secondary Electron (SE) dan Quick Back Scatter Electron (QBSE)
padahasil pengamatan permukaan material logam.
Jawab :
Jenis elektron yang ditangkap oleh detektor memiliki fungsi yang berbeda antara yang satiu dan
lainnya. Hal ini menyebabkan diperlukan jenis detektor yang berbeda diantara jenis elektron yang
dipantulkan. Untuk secondary electron dan Quick Back Scatter Electron, perbedaannya adalah sebagai
berikut.
- Secondary electron akan ditangkap oleh Secondary electron detector dan akan memberikan
image yang menggambarkan gelap terang material berfdasakan tinggi rendahnya permukaan
material tersebut atau yang biasa disebut dengan topografi permukaan material.

- Quick Back Scatter Electron akan ditangkap oleh Electron Back Scatter Detector dan akan
memberikan image yang menggambarkan gelap terang material berfdasakan dari nomor ataom
dan topografi. Jadi dengan menggunakan BSE, maka SEM dapat digunakan untuk membedakan
fasa pada permukaan material;