Anda di halaman 1dari 5

Mekanika Perpatahan &

Analisa Kegagalan

TUGAS 05
Mohammad Ilham Daradjat-1606904964
1. Jelaskan beberapa tools untuk analisa kerusakan!
=
Dalam melakukan analisis untuk keperluan Failure Analisis, biasanya digunakan
beberapa tools sebagai berikut :
1. SEM dan EDS
SEM (Scanning Electron Microscopy) merupakan suatu alat untuk melihat
struktur prmukaan material dengan resolusi yang tinggi (tingkat pembesaran 10-
3000000 kali). Pada dasarnya SEM merupakan suatu jenis mikroskop yang
menggunakan elektron untuk menumbuk suatu spesimen dan menghasilkan
image yang diperbesar.
EDS merupakan suatu bagian dari SEM (dengan tambahan x-ray analyzer)
yang dapat digunakan untuk mengetahui komposisi kimia permukaan
spesimen dengan ukuran luas mikron. Dengan menggunakan SEM dan EDS
maka selain dapat diperoleh image dengan pembeasran yang sangat tinggi juga
dapat diketahui komposisi kimiapada suatu lokasi tertentu.
2. Mikroskop Optik
Mikroskop optik pada dasarnya merupakan suatu mikroskop yang digunakan untuk
melihat struktur permukaan material dengan sumber pencahayaan yang berasal
cahaya. Tingkat pembesaran image pada miroskop optik lebih kecil bila
dibandingkan dengan tingkat pembesaran pada SEM yaitu 4-1000 kali.
3. XRD dan XRF
XRD merupakan suatu metode analisa non destruktif yang didasarkan pada
pengukuran radiasi sinar-X yang terdifraksi oleh bidang kristal keika terjadi
interaksi antara suatu materi dengan radiasi elektromagnetik sinar-X. Dengan XRD
dapat ditentukan struktur kristal spesimen dan juga analisis kimia dari spesimen
tersebut.
XRF juga merupakan suatu tools analisis yang mirip dengan XRD, dimana
analsis unsur-unsur pada spesimen dapat diketahui dari hasil interaksi antara radiasi
gelombang sinar-X dengan materi dimana suatu unsur akan memamcarkan
sinar-x karakteristik yang khusus yang berbeda diantara satu unsur dengan
unsur lainnya.
Mekanika Perpatahan & Mohammad Ilham Daradjat
Analisa Kegagalan 1606904964

2. Jelaskan fungsi dari prinsip kerja tools di atas!


=
Prinsip kerja dari tools di atas:
 SEM, dengan menembakkan elektron yang difokuskan oleh lensa magnetik ke
arah sampel, menyebabkan adanya elektron dari sampel yang terkeksitasi
keluar. Dimana elektron yang tereksitasi ditangakap oleh detektor sehingga
dapat dilihat hasil gambarnya.
Selain fungsi utamanya untuk melihat struktur permukaan spesimen dengan
pembesaran dan resolusi yang tinggi, SEM juga dapat digunakan :
- untuk melihat orientasi kristalografi material
- untuk melihat batas butir material-untuk melihat perbedaan fasa material
- untuk pengujian patah permukaan
- untuk mengevaluasi komposisi kimia permukaan
- untuk pengujian semi konduktor dalam failure analysis, function control dan
design verification.
 EDS, menangkap energy dalam bentuk x-ray yang dihasilkan dari eksitasi elektron
dari kulit terluar ke kulit yang lebih dalam untuk mengisi kekosongan pada kulit
elektron akibat insiden elektron yang membentuk interaksi secondary electrons.
 Mikroskop Optik, memanfaatkan cahaya yang berasal dari mikroskop ini,
maka gambar dapat dilihat. Pada umumnya untuk melihat batas butir.
Selain itu, mikroskop optik dapat digunakan untuk mengetahui :
- jenis fasa/struktur mikro dengan identifikasi struktur mikro.
- komposisi struktur mikro material.
- besar butir material.
 XRD, hasil dari XRD akan berupa grafik, dimana grafik yang diambil adalah
tiga peak tertinggi. Kemudaian dari hasil peak tersebut maka dapat diketahui
senyawa yang terkandung dalam material tersebut. Contohnya FeCO 3.
Dalam analisis kerusakan, XRD memiliki fungsi utama :
- Untuk menentukan struktur kristal :
a. Bentuk dan ukuran sel satuan kristal (d, sudut dan panjang ikatan).
b. Pengindeksan bidang kristal.
c. Jumlah atom per-sel satuan.
- Untuk analisis kimia:
a. Identifikasi/penentuan jenis kristal.
Mekanika Perpatahan & Mohammad Ilham Daradjat
Analisa Kegagalan 1606904964

b. Penentuan kemurnian relatif dan derajat kristalinitas sampel.


c. Deteksi senbyawa barud.Deteksi kerusakan oleh suatu perlakuan.
 XRF, Teknik yang menggunakan insiden gelombang elektromagnetik X-Ray dari X-
Raytube, dsb. Identifikasi yang dihasilkan dari insiden gelombang X-Ray ini adalah
sudut difraksi beserta dengan bidang (dalam miller’s index) dan intensitasnya.

3. Gambarkan sekamatis perbedaan prinsip kerja antara OM & SEM!


=
SEM dan OM/LM:

Dari gambar diatas dapat dilihat bahwa mikroskop optik memiliki skema peralatan
dan cara kerja yang berbeda dengan SEM. Prinsip kerja seara umum untuk
mikroskop optk dan SEM telah dijelaskan pada pertanyaan sebelumnya. Secara
umum perbedaan antara mikroskop optik dan SEM adalah sebagai berikut.
Mekanika Perpatahan & Mohammad Ilham Daradjat
Analisa Kegagalan 1606904964

4. Jelaskan hasil apa saja yang diperoleh dari analisa kerusakan material dengan
menggunakan ke-3 tools di atas!
=
Hasil yang didapat adalah:
 SEM, mendapatkan hasil orientasi kristalografi, batas butir, perbedaan fasa,
komposisi kimia dari material yang diamati.
 XRD, mendapatkan hasil berupa senyawa. Pada umumnya digunakan untuk
melihat apakah ada karat atau tidak.
 XRF dan EDS, hasilnya sama, yaitu dapat mengetahui unsur dari material yang
diamati dengan melihat hasil dari peak yang didapat pada grafik. Yang
membedakan adalah pada XRF sampel berupa serbuk dan pada EDS sampel
berupa padatan atau bongkahan.

5. Jelaskan perbedaan antara secondary electron dan quick backscattered electron pada
hasil pengamatan permukaan material logam!
Mekanika Perpatahan & Mohammad Ilham Daradjat
Analisa Kegagalan 1606904964

=
Secondary electron
Hasil pengamatan lebih dikhususkan untuk kontras topografi permukaan material. Ini
dikarenakan SE yang dihasilkan dengan energy yang rendah, sehingga batas
scanningnya kecil dan hanya deteksi permukaan.
Quick backscattered electron
Hasil yang dihasilkan lebih tinggi atau besar kedalamannya dikarenakan energy yang
dimiliki oleh BSE ini lebih tinggi. Namun, resolusi yang dihasilkan untuk BSE ini lebih
besar sehingga disbanding hasil SE akan lebih tidak jelas gambar yang dihasilkan.
Imaging permukaan yang dihasilkan oleh BSE ini lebih mengarah pada kontras nomor
atom.