TARIF BIAYA PENGUJIAN

LABORATORIUM PUSAT PENELITIAN FISIKA LIPI

TMT 3 SEPTEMBER 2016 Halaman 1
JenisPengujian Biaya Per Sampel (Rupiah) Status alat Ket.*

Diploma/S1 300,000
S2/S3 400,000
X-Ray Diffraction (XRD) Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 400,000
Umum/Industri 500,000
Diploma/S1 375,000
Analisa X-Ray Diffraction S2/S3 405,000 Dapat Digunakan (software analisa
PP No. 32 Tahun 2016
(XRD) Instansi Pemerintah 405,000 expired)
Umum/Industri 550,000
Diploma/S1 300,000
Scanning Electron Microscope S2/S3 400,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
(SEM) Instansi Pemerintah 400,000
Umum/Industri 500,000
Diploma/S1 400,000
Scanning Electron Microscope
S2/S3 700,000
(SEM) dan EDS Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 700,000
(Point/Mapping)
Umum/Industri 900,000
Diploma/S1 500,000
Scanning Electron Microscope
S2/S3 1,000,000
(SEM) dan EDS Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 1,000,000
(Point+Mapping)
Umum/Industri 1,300,000
Diploma/S1 400.000/running
S2/S3 500.000/running
Coating SEM Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 500.000/running
Umum/Industri 800.000/running
 Halaman 2
Imaging, HR TEM 1,000,000
Transmission Electron
Imaging, HR TEM, EDAX 1,250,000 Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Microscopy (TEM)
Imaging, HR TEM, EDAX, SAED 1,500,000
Diploma/S1 250,000
S2/S3 500,000
FTIR Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 500,000
Umum/Industri 1,000,000
Diploma/S1 300,000
S2/S3 400,000
XRF Portabel Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah/Umum/Industri 400,000
Umum/Industri>>SEWA 6.000.000/hari
Diploma/S1 500,000
S2/S3 700,000
BET (Surface Area) Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 700,000

Umum/Industri 1,000,000
Diploma/S1 750,000
BET (Surface Area + Poresize S2/S3 1,000,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Distribution) Instansi Pemerintah 1,000,000
Umum/Industri 1,500,000
Diploma/S1 350,000
Vibrating Sample Magnetometer S2/S3 700,000
Sedang rusak PP No. 32 Tahun 2016
(VSM) Instansi Pemerintah 700,000
Umum/Industri 900,000
Diploma/S1 250,000
Uji Kekerasan (Vickers S2/S3 350,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Hardness) Instansi Pemerintah 350,000
Umum/Industri 500,000
 Halaman 3
Diploma/S1 25.000/jam
S2/S3 50.000/jam
Ball Mill Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 50.000/jam
Umum/Industri 100.000/jam
Diploma/S1 250,000
S2/S3 400,000
PSA Mikro Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 400,000
Umum/Industri 600,000
Diploma/S1 400,000
S2/S3 750,000
PSA Nano Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 750,000
Umum/Industri 1,000,000
Diploma/S1 250,000
Uji Tarik (Tensile Strenght) atau
S2/S3 350,000
Uji Kekuatan Tekuk (Bending Sedang rusak PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 350,000
Strenght)-UTM
Umum/Industri 450,000
Diploma/S1 250,000
Uji Tekan (Compression Strenght) S2/S3 350,000
Sedang rusak PP No. 32 Tahun 2016
-UTM Instansi Pemerintah 350,000
Umum/Industri 500,000
Diploma/S1 200,000
Uji Picosecond Laser S2/S3 200,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
TC SPC untuk Pengujian Instansi Pemerintah 250,000
Umum/Industri 350,000
Diploma/S1 200,000
Uji Nd-YAG Laser untuk S2/S3 250,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Fabrikasi bahan Instansi Pemerintah 250,000
Umum/Industri 350,000
 Halaman 4
Diploma/S1 350,000
Uji Electrochemical Impedance S2/S3 550,000
Dapat Digunakan (khusus Internal) PP No. 32 Tahun 2016
Spectroscopy (EIS) Instansi Pemerintah 550,000
Umum/Industri 900,000
Diploma/S1 50,000
Uji Cyclic Voltametry S2/S3 75,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
(CV) Instansi Pemerintah 75,000
Umum/Industri 150,000
Diploma/S1 400,000
S2/S3 550,000
Uji Konduktivitas Listrik Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 550,000
Umum/Industri 700,000
Diploma/S1 450,000
S2/S3 600,000
Uji TGA (TGA-DSC) Sedang rusak PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 600,000
Umum/Industri 750,000
Diploma/S1 50,000
S2/S3 75,000
Uji Charge/Discharge Dapat Digunakan (khusus Internal) PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 75,000
Umum/Industri 150,000
Diploma/S1 400,000
S2/S3 550,000
Uji Resistivitas Listrik Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 550,000
Umum/Industri 700,000
Diploma/S1 400,000
Uji Konstanta Dielektrik-
S2/S3 550,000
VE (suhu rendah s.d. 250˚C Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 550,000
tanpa Nitrogen cair)
Umum/Industri 700,000
 Halaman 5
Uji Konstanta Dielektrik- VE Diploma/S1 500,000
(suhu rendah s.d. 250˚C dengan S2/S3 650,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
Nitrogen Instansi Pemerintah 650,000
cair) Umum/Industri 900,000
Diploma/S1 500,000
Uji Potensial Zeta S2/S3 850,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
(Zeta Potential) Instansi Pemerintah 850,000
Umum/Industri 1,100,000
Diploma/S1 125,000
Mikroskop Polarisasi S2/S3 150,000
Dapat Digunakan PP No. 32 Tahun 2016
(Optik) Instansi Pemerintah 150,000
Umum/Industri 250,000
Diploma/S1 100,000
S2/S3 200,000
Uji Kuat Magnet (Gaussmeter) Sedang rusak PP No. 32 Tahun 2016
Instansi Pemerintah 200,000
Umum/Industri 500,000
FE-SEM 600,000
Field Emission-Scanning Electron
FE-SEM + EDS (Point/Line) 800,000 Dapat Digunakan Kontrak Pengujian
Microscope (FE-SEM)
FE-SEM + EDS (Mapping) 900,000
Focused Ion Beam (FIB) Sampel FIB (Preparasi Sampel TEM) 6,500,000
Paduan Logam FIB + EDS 6,700,000 Dapat Digunakan Kontrak Pengujian
(Alloy) FIB + EDS + TEM 8,000,000
FIB (Preparasi Sampel TEM) 8,000,000
Focused Ion Beam (FIB) Sampel
FIB + EDS 8,200,000 Dapat Digunakan Kontrak Pengujian
Keramik
FIB + EDS + TEM 9,500,000
FIB + EDS + TEM + EDS 10,000,000
2D FIB + EDS + EBSD
Focused Ion Beam (FIB) 3,250,000 Dapat Digunakan Kontrak Pengujian
(Bukan Preparasi Sampel TEM
FIB + EDS + TEM 1.000.000/jam
Diploma/S1 750,000
Uji Stack Performance PEMFC S2/S3 1,000,000
Dapat Digunakan Kontrak Pengujian
Single Cell (SMART2) Instansi Pemerintah 1,000,000
Umum/Industri 1,500,000