Struktural, Termal, Sifat Optik Dan Sitotoksisitas Serat Dan Film PMMA ZnO Aplikasi Potensial Dalam Rekayasa Jaringan
Struktural, Termal, Sifat Optik Dan Sitotoksisitas Serat Dan Film PMMA ZnO Aplikasi Potensial Dalam Rekayasa Jaringan
Hal10
2.4. Characterization of the PMMA/ZnO nanocomposite fibers and films
2.4.1. Scanning electron microscopy (SEM)
Gambar SEM dari serat dan film PMMA diperoleh dengan menggunakan mikroskop Shimadzu SSX-
550 SUPERSCAN. Gambar SEM dengan pemetaan seng dan spektrum EDS yang diperoleh dari
permukaan dan penampang nanokomposit PMMA / ZnO diperoleh menggunakan mikroskop elektron
Zeiss EVO LS15. Mikrograf berlapis emas permukaan dan potongan melintang dari serat dan film
diperoleh untuk permukaan cryofractured setelah direndam dalam nitrogen cair.
2.4.2. Difraksi sinar-X (XRD)
Fase kristal hadir dalam nanokomposit PMMA / ZnO diidentifikasi menggunakan Shimadzu XRT
6000 X-ray difraktometer. Difraktogram diperoleh dalam kondisi berikut: 2θ = 10-80º, 40 kV, 30 mA,
radiasi Cu Kα, hitungan waktu 0,60 detik, laju pemindaian 2º / mnt, dan lebar celah 0,30 mm.
Hal13
3. Results and Discussion