Abstract. The research in identification of clay minerals has been done. Two samples of natural clay were taken
from Pacitan in east Java area. Samples were subjected repetitively for two types of treatments. One of treatment was to
forming natural clay into the small pieces granulated and cleaned, and other treatment was to making the samples into
small particles being 200 mesh, re-cleaned and dried over oven at temperature 100-110 ºCelsius.
Natural clays have been analyzed with X-ray Diffraction. There were several parameters being analyzed by X-
ray Diffraction, such as crystalinity, faction angle, and a part of crystal diameter. Natural clay of Pacitan, from East Java,
composed four minerals of clay material and two minerals of non-clay material Clay minerals contained illite,
montmorillonite, chlorite, and vermiculite. Non-clay minerals constituted of fledspar and quartz. The main composition
of natural clay minerals of Pacitan was Illite, which had crystal intensity rating at 1584 until 1711 point. Illite
composition in layers’ content was structured by three-layers types : two layers of silica tetrahedrons and one central di-
octahedral or tri-octahedral layers.
Keyword: Natural Clay, X-Ray Diffraction, Clay, Minerals, and Crystal Intensity
Preparasi sampel
Lempung alam berasal dari Pacitan jawa Timur, C
A
diambil dari lokasi menggunakan cangul
B
dimasukkan ke dalam karung, kemudian
dihancurkan dalam bentuk bongkahan kecil,di Gambar 1. Pemantulan sinar-X terhadap dua buah
cuci, dikeringkan, dipreparasi dengan cara bidang permukaan kristal
dihaluskan menggunakan mesin penghalus lalu
dicuci kembali dengan aquades, dikeringkan. AB = BC = X
AB = BC = d Sin θ
Lempung alam yang telah dikeringkan dihaluskan Dari hubungan diatas diperoleh persamaan ;
lumping porselin kemudian diayak dengan X = d Sin θ
pengayak 200 mesh menjadi partikel 200 mesh, AB + BC = 2 X
kemudian dicuci menggunakan aquades dengan 2 X = 2 d Sin θ Jika; n λ = 2 X
cara pengadukan menggunakan magnetic stirrer, maka:
n λ = 2 d Sin θ
disaring menggunkan kertas saring whatman dan
fakum, d = jarak antar bidang
λ = panjang gelombang
Sampel dikeringkan kembali menggunakan oven n = Jumlah (kuantitas)
dengan suhu 100-110 ºCelsius. Setelah kering, θ = Besar sudut pantul Sinar-X dengan bidang
digerus kembali hingga halus dengan lumpang kristal
porselin, Selanjutnya sampel dianalisa intensitas
kritalinitas dan jenis satuan layer dengan Radiasi CuKα (λ = 1.54 Amstrong) paling banyak
menggunakan instrument X-Ray Diffraction. digunakan. Untuk menekan komponen Kβ dari
radiasi harus digunakan filter, misalnya dengan
Metode Difraksi Sinar–X menggunakan logam Ni yang merupakan salah
satu contoh filter yang sesuai dengan radiasi
Panjang gelombang elektromagnetik yang tersebut.
dipancarkan oleh sinar-X dan ordenya sama
dengan jarak bidang atom dalam kristal yaitu III. HASIL DAN PEMBAHASAN
berkisar antara 0.5-2.5 Amstrong, oleh sebab itu
Identifikasi kristalinitas dan struktur pada
sinar-X mampu menganalisis struktur kristal dan
lempung alam
mengidentifikasi mineral tanah yang berbentuk
kristal [7]. Sinar-X akan menunjukkan gejala
Pengamatan intensitas puncak dari kristalinitas
difraksi jika jatuh pada benda yang jarak antar
kandungan mineral lempung alam dilakukan
bidangnya kira-kira sama dengan panjang
dengan menggunakan difraksi sinar–X. Hasil
gelombang sinar tersebut. sinar-X dihasilkan dari
analisis dengan difraksi sinar–X terhadap dua
tumbukan elektron berkecepatan tinggi dengan
buah sampel yaitu: lempung berwarna kuning (A),
logam sasaran yang memberikan radiasi yang
dan lempung berwarna putih. Gambar.1
karakteristik.
menunjukkan hasil difraksi sinar–X terhadap
lempung berwarna kuning (A), dan Gambar.2
Berdasarkan hipotesis Bragg, “ Jika dua berkas
menunjukkan hasil difraksi sinar-x terhadap
sinar-x yang paralel dengan panjang gelombang
lempung berw arna putih (B).
(n λ) mengenai bidang-bidang kristal yang sama
dengan jarak antar bidang (d), maka perbedaan
Berikut ini adalah tabel identifikasi intensitas
jarak yang ditempuh oleh kedua sinar tersebut
puncak sampel dari gambar difraksi sinar-X
berbanding langsung dengan panjang
dengan menggunakan Sinar- X.
gelombangnya“ [7]
50
Identifikasi Jenis Lempung Alam Menggunakan X-Ray Diffraction
(Fathurrahmi)
51
Identifikasi Jenis Lempung Alam Menggunakan X-Ray Diffraction
(Fathurrahmi)
Mineral lempung merupakan zat padat kristalin Ada dua unit kristalin dasar yang membentuk
dari senyawa alumina-silikat dengan ukuran lempung yaitu: silika tetrahedral dan alumunium
partikel kurang dari 2 µm. Lempung oktahedral. Struktur dasar lempung merupakan
merupakan salah satu dari komponen tanah. filosilikat atau lapisan silikat yang tersusun atas
Komponen-komponen tanah tersebut terdiri dari lembaran tetrahedral-silikon-oksigen dan
dari; mineral non lempung, lempung non kristal, lembaran oktahedral alumunium-oksigen-
zat organik yang berupa koloid dan endapan hidroksil. Bentuk tetrahedral silikon oksigen
garam-garam organik [6]. Feldspar dan Quartz tersusun atas ikatan atom Si dengan empat atom
adalah komponen mineral non lempung. oksigen, dengan posisi keempat atom oksigen
terletak pada empat sudut yang teratur sebagai
52
Identifikasi Jenis Lempung Alam Menggunakan X-Ray Diffraction
(Fathurrahmi)
ligan dan atom Si sebagai atom pusat (Gambar.3). Montmorillonite, Chlorite dan Vermiculite
Bentuk oktahedral alumunium-oksigen dan dengan intensitas kristalin 68 dan 78.
hidroksil tersusun dari satu atom Al yang 2. Sampel Lempung Alam yang berasal
berikatan dengan empat atom oksigen dengan dua Kabupaten Pacitan Jawa Timur
gugus hidrogen yang terletak disekeliling Al mengandung mineral non lempung yaitu
dengan posisi enam sudut oktahedral yang teratur Feldspar dengan intensitas sinar per unit
[4], kristal sebesar 350 dan Quartz sebesar
339.
3. Komposisi Struktur utama Lempung Alam
yang berasal Kabupaten Pacitan Jawa
Timur adalah Illite dengan lapisan
berbentuk tetrahedral silikon oksigen
tersusun atas ikatan atom Si dengan empat
atom oksigen, dengan posisi keempat atom
oksigen terletak pada empat sudut yang
teratur sebagai ligan dan atom Si sebagai
atom pusat
Tetrahedral &Oktahedral Lapisan Tetrahedral
UCAPAN TERIMA KASIH
53
40