Memasuki abad ke-20, sekitar tahun 1930-an, perkembangan teknologi mesin-mesin manufaktur

semakin pesat dan mendorong perkembangan alat-alat ukur ke tahap selanjutnya. Perkembangan
alat-alat ukur tersebut sampai kepada tingkat sensitifitas yang sangat tinggi, seperti
dikembangkannya berbagai macam sistem gauge berbasis udara dan berbasis elektronik. Sistem
gauge berbasis elektronik yang paling berkembang pada saat itu adalah linear voltage differential
transformer (LVDT) pada tahun 1946. LVDT mendominasi gauge sistem selama bertahun-tahun.
Kelebihan utama LVDT adalah memiliki resolusi yang sangat tinggi, yaitu mencapai 0.1 μm.
Sedangkan, keterbatasan utama dari LVDT adalah kemampuan LVDT hanya untuk pengukuran
panjang yang sangat pendek. Sehingga, pada abad ke-20 sistem gauge block secara umum
mendominasi pengukuran di indusstri karena sistem gauge block dapat melakukan pengukuran
panjang sampai mencapai ratusan milimeter walaupun tingkat accuracynya di bawah LVDT.

Pada pertengahan abad ke-20, yaitu sekitar tahun 1960, banyak studi yang dilakukan untuk
mempelajari stabilitas dari sebuah gauge block. Berbagai macam metode dan material baru untuk
membuat sebuah gauge block sangat berkembang pada periode ini. Sekarang ini, sebuah gauge
block mempunyai tingkat kestabilan panjang yang sangat tinggi. Variasi panjang sebuah gauge block
bervariasi antara (0.1 – 0.5 ) nm/tahun (Dorion 2008).

Perkembangan selanjutnya dari teknologi pengukuran panjang adalah teknologi laser interferometer
dan skala linier (linear scale). Perkembangan dari kedua teknologi tersebut adalah didorong oleh
dibutuhkannya sebuah alat ukur panjang yang mempunyai tingkat keakuratan yang lebih tinggi dari
gauge block dan mempunya kemampuan untuk mengukur berbagai skala panjang (Kunzmann et al
1993). Hal pertama yang dikembangkan adalah sistem interferometer yang mempunyai tingkat
akurasi yang sangat tinggi, bahkan lebih tinggi dari LVDT.

Laser interferometer bahkan digunakan untuk mengukur atau mengecek (meng-kalibrasi) sistem
gauge block. Namun, pada saat itu, interferometer merupakan sistem yang sangat mahal dan
penggunaannya terbatas pada laboratorium.laboratorium metrology tingkat nasional di beberapa
negara tertentu. Hal ini mendorong berkembangnya alat skala linier (linear scale) yang juga
menggunakan laser dengan konfigurasi yang jauh berbeda dengan sistem laser interferometer.