LAPORAN EKSPERIMEN FISIKA III

TEKNIK PEMBUATAN FILM TIPIS MATERIAL ORGANIK DAN

INORGANIK SERTA KARAKTERISASINYA

oleh

Sondang Bulan Simarmata, Willy Christofery S, Gilbert G.P Tampubolon

10217043, 10217083, 10217104

LABORATORIUM FISIKA LANJUT

PROGRAM STUDI FISIKA
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM
INSTITUT TEKNOLOGI BANDUNG
2019-2020
 ABSTRAK

Film tipis adalah suatu lapisan bahan mulai dari fraksi nanometer (satu lapisan)
hingga beberapa mikrometer. Mikroskop merupakan salah satu alat yang penting
pada kehidupan laboratorium, khususnya biologi. Mikroskop merupakan alat
bantu yangmemungkinkan kita dapat mengamati objek yang berukuran sangat
kecil (mikroskopis). SEM (Scanning Elektron Microscope) adalah salah satu jenis
mikroskop elektron yang menggunakan berkas elektron untuk menggambarkan
bentuk permukaan dari material yang dianalisis. Prinsip kerja dari SEM ini adalah
dengan menggambarkan permukaan benda atau material dengan berkas elektron
yang dipantulkan dengan energi tinggi. Dari percobaan ini akan digunakan sampel
bahan P3HT dan P3HT-PCBM serta dengan menggunakan metode karakterisasi
SEM akan diperoleh data berupa morfologi dan EDS dari sampel tersebut.
Didapatkan hasil pengamatan citra SEM untuk morfologi pada sampel P3HT dan
sampel P3HT-PCBM serta Didapatkan hasil pengamatan EDS pada sampel P3HT
dan sampel P3HT-PCBM. Teknologi lapisan tipis dianggap sebagai teknologi
yang hemat energi dalam proses produksi material dan ramah lingkungan, dan
teknologi ini masih berkembang dalam hal kerangkan pembentukan material baru
seperti nanomaterial.

Kata Kunci : EDS, Film tipis, P3HT, P3HT-CBM, SEM

 DAFTAR ISI

ABSTRAK ........................................................................................................i
DAFTAR ISI .......................................................................................................ii
Bab I Pendahuluan .......................................................................................... 1
Bab II Dasar Teori ............................................................................................ 2
II.1 Optical microscope dan Scanning Elektron Microscope .............. 2
Bab III Metode Ekperimen ................................................................................ 5
III.1 Metode Mekanisme pengambilan data SEM. ............................... 5
III.2 Hipotesis........................................................................................ 5
Bab IV Hasil dan Analisa .................................................................................. 6
IV.1 Hasil Eksperimen .......................................................................... 6
IV.1.1 Karakterisasi P3HT ........................................................... 6
IV.1.2 Karakterisasi P3HT-PCBM ............................................... 7
IV.2 Pembahasan ................................................................................... 9
IV.2.1 Pertanyaan dan analisis ..................................................... 9
Bab V Kesimpulan .......................................................................................... 11
DAFTAR PUSTAKA .......................................................................................... 12

ii
 Bab I Pendahuluan

Film tipis adalah suatu lapisan bahan mulai dari fraksi nanometer (satu lapisan)
hingga beberapa mikrometer. Kemajuan dalam teknologi dekomposisi film tipis
selama abad ke-20 telah memungkinkan berbagai terobosan teknologi di berbagai
bidang seperti media perekaman magnetik, perangkat semikonduktor elektronik,
LED, pelapis OPTIK, pembangkit energi (film tipis sel surya), dan penyimpanan
(baterai film tipis) dan hingga kini masih dikembangkan untuk obat-obatan
(pengiriman obat film tipis). Teknologi lapisan tipis dianggap sebagai teknologi
yang hemat energi dalam proses produksi material dan ramah lingkungan, dan
teknologi ini masih berkembang dalam hal kerangkan pembentukan material baru
seperti nanomaterial. Karakterisasi dari suatu material digunakan untuk
mengetahui sifat-sifat fisik, kimia, listrik dan optik dari suatu bahan. Adanya
pengetahuan mengenai sifat-sifat tersebut dapat digunakan sebagai informasi
dalam pengembangan struktur bahan maupun divais yang akan dikembanngkan
atau dibangun. Pada percobaan ini akan dilakukan karakterisasi dengan
menggunakan metode SEM.

Tujuan pada eksperimen ini adalah :

1. Menentukan hasil pengamatan citra SEM untuk morfologi pada sampel

P3HT dan P3HT-PCBM.
2. Menentukan hasil pengamatan EDS pada sampel P3HT dan P3HT-PCBM.

Batasan-batasan pada eksperimen ini adalah :

1. Eksperimen tidak langsung dilakukan menggunakan alat SEM.

2. Data yang diolah bersumber dari data yang diberikan.

Asumsi yang digunakan dalam eksperimen ini adalah:

1. Data yang diberikan berasal dari data hasil percobaan.

2. Tegangan yang digunakan stabil.
3. Alat yang digunakan bekerja dengan baik.

1
 Bab II Dasar Teori

II.1 Optical microscope dan Scanning Elektron Microscope

Mikroskop merupakan salah satu alat yang penting pada kehidupan laboratorium,
khususnya biologi. Mikroskop merupakan alat bantu yangmemungkinkan kita
dapat mengamati objek yang berukuran sangat kecil(mikroskopis). Hal ini
membantu memecahkan persoalan manusia tentang organisme yang berukuran
kecil.

Berdasarkan sumber cahayanya, mikroskop dibedakan menjadi 2, yaitu mikroskop

cahaya dan mikroskop elektron. Mikroskop cahaya dibagi menjadi 2 kelompok
besar, yaitu berdasarkan kegiatan pengamatan dan kerumitan kegiatan
pengamatan yang dilakukan elektron tidak menggunakan cahaya untuk visual
bayangannya, tetapi menggunakan sorotan elektron untuk membuat bayangan
dalam tabung. Transmisi elektron, setelah mengalami penyerapan bagian dari
obyek, memfokuskan magnet dari gambar bayangan. Elektron memiliki panjang
gelombang yang jauh lebih pendek daripada cahaya, perbedaan ini menjadikan
mikroskop elektron sebuah tenaga tetap daripada mikroskop cahaya.

Gambar II.1 Alat miksroskop optik.

Mikroskop optik/cahaya memiliki perbesaran maksimal 1000 kali. Mikroskop

memiliki kaki yang berat dan kokoh agar dapat berdiri dengan stabil. Mikroskop
cahaya memiliki tiga dimensi lensa yaitu lensa objektif, lensa okuler dan lensa

2
kondensor. Lensa objektif dan lensa okuler terletak pada kedua ujung
tabung mikroskop.Lensa okuler pada mikroskop bias membentuk bayangan
tunggal (monokuler) atau ganda (binokuler). Pada ujung bawah mikroskop
terdapat dudukan lensa obektif yang bias dipasangi tiga lensa atau lebih. Di bawah
tabung mikroskop terdapat meja mikroskop yang merupakan tempatpreparat.
Sistem lensa yang ketiga adalah kondensor. Kondensor berperan untuk menerangi
objek dan lensa mikroskop yang lain. Pada mikroskop konvensional, sumber
cahaya masih barasal dari sinar matahari yang dipantulkan oleh suatu cermin datar
ataupun cekung yang terdapat di bawah kondensor. Lensa objektif bekerja dalam
pembentukan bayangan pertama. Lensa ini menentukan struktur dan bagian renik
yang akan menentukan daya pisah spesimen, sehingga mampu menunjukkan
struktur renik yang berdekatan sebagai dua benda yang terpisah. Lensa okuler,
merupakan lensa mikroskop yang terdapat dibagian ujung atas tabung, berdekatan
dengan mata pengamat. Lensa ini berfugsi untuk memperbesar bayangan yang
dihasilkan oleh lensa objektif. Perbesaran bayangan yang terbentuk berkisar
antara 4-25 kali. Lensa kondensor berfungsi untuk mendukung terciptanya
pencahayaan pada objek yang akan difokus, sehingga pengaturannya tepat akan
diperoleh daya pisah maksimal, dua benda menjadi satu.

Gambar II.2 Alat dan kontruksi utama SEM.

SEM (Scanning Elektron Microscope) adalah salah satu jenis mikroskop elektron
yang menggunakan berkas elektron untuk menggambarkan bentuk permukaan
dari material yang dianalisis. Prinsip kerja dari SEM ini adalah dengan

3
menggambarkan permukaan benda atau material dengan berkas elektron yang
dipantulkan dengan energi tinggi. Permukaan material yang disinari atau terkena
berkar elektron akan memantulkan kembali berkas elektron atau dinamakan
berkas elektron sekunder ke segala arah. Tetapi dari semua berkas elektron yang
dipantulkan terdapat satu berkas elektron yang dipantulkan dengan intensitas
tertinggi. Detector yang terdapat di dalam SEM akan mendeteksi berkas elektron
berintensitas tertinggi yang dipantulkan oleh benda atau material yang dianalisis.
Selain itu juga dapat menentukan lokasi berkas elektron yang berintensitas
tertinggi itu.

Ketika dilakukan pengamatan terhadap material, lokasi permukaan benda yang

ditembak dengan berkas elektron yang berintensitas tertinggi discan keseluruh
permukaan material pengamatan. Karena luasnya daerah pengamatan kita dapat
membatasi lokasi pengamatan yang kita lakukan dengan melakukan zoon-in atau
zoon-out. Dengan memanfaatkan berkas pantulan dari benda tersebut maka
informasi dapat di ketahui dengan menggunakan program pengolahan citra yang
terdapat dalam komputer.

SEM (Scanning Elektron Microscope) memiliki resolusi yang lebih tinggi dari
pada mikroskop optic. Hal ini di sebabkan oleh panjang gelombang de Broglie
yang memiliki electron lebih pendekdek daripada gelombang optic. Karena makin
kecil panjang gelombang yang digunakan maka makin tinggi resolusi mikroskop.

SEM mempunyai depthoffield yang besar, yang dapat memfokuskan jumlah

sampel yang lebih banyak pada satu waktu dan menghasilkan bayangan yang baik
dari sampel tiga dimensi. SEM juga menghasilkan bayangan dengan resolusi
tinggi, yang berarti mendekati bayangan yang dapat diuji dengan perbesaran
tinggi. Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya
hanya mampu mencapai 200nm sedangkan elektron bisa mencapai resolusi
sampai 0,1 - 0,2 nm. Dibawah ini diberikan perbandingan hasil gambar mikroskop
cahaya dengan elektron.

4
 Bab III Metode Ekperimen

III.1 Metode Mekanisme pengambilan data SEM.

Sampel harus dalam keadaan kering saat akan diukur dan sampel yang bersifat
isolator harus dicoating terlebih dahulu menggunakan alat coater (metode
sputtering). Lalu sampel ditempatkan di atas holder SEM yang direkatkan dengan
menggunakan carbon tape. Lalu sampel holder kedalam chamber di kolom bawah
dari alat SEM dan siap untuk divakumkan. Setelah vakum sampel siap
dikarakterisasi. Jenis vakum yang akan digunakan diatur (high atau low). Lalu
detektor yang akan digunakan diatur (SEI atau BEI). Lalu magnifikasi diatur dari
kecil ke besar. Lalu FOKUS diatur setelah bagian sampel yang diinginkan sesuai.
Lalu discan untuk hasil akhir image. Jika menggunakan EDS, tombol EDS di klik
setelah didapatkan image yang akan dilihat unsurnya, perbesaran maksimal untuk
EDS adalah 3000x dengan WD 10 mm.

III.2 Hipotesis

Dalam eksperimen ini akan diamati perbedaan warna citra digital ketika alat SEM
diatur pada pengaturan secondary electron (SE) dan background electron (BE).
Hasil citra dari SE akan terlihat berwarna abu-abu homogen sedangkan dengan
menggunakan BE citra foto akan terlihat lebih detail karena citra berasal langsung
dari elemen yang ada di area yang diamati. Elemen dengan nomor atom yang
lebih tinggi akan menyerap lebih banyak elektron daripada elemen dengan nomor
atom yang lebih rendah. Sedangkan pada pengaturan detektor sinar-X, persentase
perbandingan komposisi sampel akan dapat terkuantifikasi pada monitor.

5
 Bab IV Hasil dan Analisa

IV.1 Hasil Eksperimen

Pada percobaan film tipis material organik dan inorganik serta karakterisasinya
akan digunakan metode karakterisasi SEM. Dari percobaan ini akan digunakan
sampel bahan P3HT dan P3HT-PCBM serta dengan menggunakan metode
karakterisasi SEM akan diperoleh data berupa morfologi, penampang lintang
(cross section) dan EDS dari sampel tersebut dan akan diperoleh pengaruh
ketebalan film tipis sampel pada proses pengambilan data SEM terhadap referensi.

IV.1.1 Karakterisasi P3HT

Gambar IV.1.1 Struktur permukaan P3HT

Warna kontras dari sampel P3HT lebih terang hal ini dikarenakan sampel
mengabsorpsi energi dari elektron yang lebih sedikit. Keretakan pada struktur
morfologi sampel tersebut, adanya retak pada struktur morfologi tersebut
diakibatkan karena adanya proses pemanasan yang kurang baik.

6
 Gambar IV.1.2 Spektrum EDS permukaan P3HT

Dari hasil EDS sampel P3HT diperoleh komponen penyusun terbesar adalah
elemen atom C dan O dengan persentase atom C adalah 62,14% dan atom O
adalah 28,53%.

IV.1.2 Karakterisasi P3HT-PCBM

Gambar IV.1.3 Struktur permukaan P3HT-PCBM

Warna kontras dari sampel P3HT-PCBM lebih gelap hal ini dikarenakan sampel
mengabsorpsi energi dari elektron yang lebih banyak. Keretakan pada struktur
morfologi sampel tersebut, adanya retak pada struktur morfologi tersebut
diakibatkan karena adanya proses pemanasan yang kuranng baik.

7
 0

Gambar IV.1.4 Spektrum EDS permukaan P3HT-PCBM

Hasil sampel EDS sampel P3HT-PCBM diperoleh komponen penyusun terbesar

adalah elemen atom C dan O dengan persentase atom C adalah 30,22% dan atom
O adalah 44,65%.

IV.1.3 Penentuan panjang retakan

Gambar IV.1.5 Panjang retakan pada struktur permukaan P3HT

Pada sampel P3HT tersebut dipilih satu garis retakan yang sangat kontras dan
diperoleh panjang retakan sepanjang 80.324 mikrometer.

8
 Gambar IV.1.6 Panjang retakan pada struktur permukaan P3HT-PCBMM

Pada sampel P3HT tersebut dipilih satu garis retakan yang sangat kontras dan
diperoleh panjang retakan sepanjang 88.204 mikrometer.

IV.2 Pembahasan

Pada percobaan film tipis material organik dan inorganik serta karakterisasinya
akan digunakan metode karakterisasi SEM akan dibahas mengenai pertanyaan dan
analisis yang ada pada modul ini.

IV.2.1 Pertanyaan dan analisis

Hasil pengamatan citra SEM untuk morfologi sampel P3HT dan P3HT-PCBM
dapat dilihat pada Gambar IV.1.1 dan Gambar IV.1.2. Berdasarkan nilai energi
band gap dari sampel tersebut yang tertera pada dasar teori, diperoleh bahwa
energi band gap P3HT sebesar 1,9 eV dan energi band gap dari P3HT-PCBM
sebesar 1,8 eV. Berdasarkan hasil morfologi sampel tersebut diperoleh bahwa
adanya perbedaan kontras dari kedua sampel tersebut. Warna kontras dari sampel
P3HT lebih terang dibandingkan warna kontras sampel P3HT-PCBM. Hal ini
dikarenakan adanya energi band gap dari sampel P3HT-PCBM yang lebih kecil
dibandingkan energi band gap sampel P3HT. Semakin kecil energi band gap dari
suatu sampel maka semakin besar peluang dari sampel untuk mengabsorpsi
sehingga akan dihasilkan warna kontras yang lebih gelap. Dengan demikian
diperoleh warna kontrasi dari sampel P3HT yang lebih terang dibandingkan

9
P3HT-PCBM dikarenakan kemampuan mengabsorpis dari sampel P3HT-PCBM
yang lebih besar bila dibandingkan sampel P3HT. Selain dari warna kontras, dapat
diamati juga dari warna yang homogen atau tidak. Dari sampel P3HT-PCBM
dapat dilihat adanya warna yang tidak homogen yaitu ditemui adanya bercak atau
bintik putih pada struktur morfologi sampel P3HT-PCBM, hal ini dapat
diakibatkan karena adanya proses pencampuran dari P3HT dan PCBM yang tidak
merata hal ini mengakibatkan proses absorpsi yang tidak merata bila
dibandingkan dengan sampel P3HT. Selain dari kedua hal diatas, dapat diamati
juga dari keretakan pada struktur morfologi sampel tersebut, adanya retak pada
struktur morfologi tersebut diakibatkan karena adanya proses pemanasan yang
kurang baik.

Hasil pengamatan EDS pada sampel P3HT dan P3HT-PCBM dapat dilihat pada
Gambar IV.1.2 dan Gambar IV.1.4. Dari hasil EDS sampel P3HT diperoleh
komponen penyusun terbesar adalah elemen atom C dan O dengan persentase
atom C adalah 62,14% dan atom O adalah 28,53%. Sedangkan untuk hasil sampel
EDS sampel P3HT-PCBM diperoleh komponen penyusun terbesar adalah elemen
atom C dan O dengan persentase atom C adalah 30,22% dan atom O adalah
44,65%.

10
 Bab V Kesimpulan

1. Kesimpulan yang didapatkan berdasarkan hasil eksperimen Teknik Pembuatan

Film Tipis Material Organik dan Inorganik serta Karakteristiknya adalah
sebagai berikut. Didapatkan hasil pengamatan citra SEM untuk morfologi
pada sampel P3HT yang dapat dilihat pada Gambar IV.1.1 dan sampel P3HT-
PCBM yang dapat dilihat pada Gambar IV.1.3. Dari gambar tersebut,
diperoleh adanya kontras dari struktur morfologi dan retakan dari morfologi
permukaan sampel akibat proses pemanasan.
2. Didapatkan hasil pengamatan EDS pada sampel P3HT yang dapat dilihat pada
Gambar IV.1.2 dan sampel P3HT-PCBM yang dapat dilihat pada Gambar
IV.1.4.dan untuk kedua sampel diperoleh komponen penyusun elemen
terbesar adalah komponen elemen atom C dan O.

11
 DAFTAR PUSTAKA

Kardiman, Marno. (2018) : Analisis Sifat Mekanik Terhadap Bentuk Morfologi

Papan Komposit Sekam Padi sebagai Material Alternatif Pengganti Serat
Kaca, Jurnal Sains dan Teknologi, 2, 21 – 22.

Sujatno, A., Salam, R. (2015) : Studi Scanning Electron Microscopy (SEM)

Untuk Karakterisasi Proses Oxidasi Paduan Zirkonium, Jurnal Forum
Nuklir, 9, 44 – 45.

Pustaka dari Situs Internet :

Salouti, M. (2019): Phyotoynthesis of Nanoscale Materials,

https://www.sciencedirect.com/topics/agricultural-and-biological-
sciences/scanning-electron-microscopes, Download(diturunkan/diunduh)
pada 12 Maret 2020.

12