Interferometer
Interferometer
PENDAHULUAN
1.3 Tujuan
Eksperimen Fisika (Interferometer) Page 1
Adapun tujuan dari pembuatan makalah ini adalah sebagai berikut :
a. Mengetahui sejarah interferometer
b. Mengetahui pengertian interferometer dan macam-macam inteferometer
c. Mengetahui bagian-bagian interferometer berserta fungsinya
d. Mengetahui langkah-langkah menggunakan interferometer
e. Mengetahui prinsip kerja interferometer
f. Mengetahui data hasil percobaan menggunakan interferometer
BAB II
PEMBAHASAN
Eksperimen Fisika (Interferometer) Page 2
2.1 Sejarah Interferometer
Albert Michelson lahir di Strelno, Polandia pada tanggal 19 Desember 1852. Ketika
baru berusia 2 tahun, ia dan keluarganya pindah ke Amerika Serikat, dan mengubah
kewarganegaraan menjadi warga negara Amerika Serikat. Michelson dan keluarganya
tinggal di San Fransisco. Ia adalah Fisikawan pertama dari Amerika Serikat yang
menerima hadiah Nobel dalam bidang Sains. Michelson muda masuk sekolah menengah
di San Fransisco pada tahun 1859. Setelah lulus, ia kemudian melanjutkan pendidikannya
ke Akademi Kelautan Amerika Serikat. Pada tahun 1873 ia mengarungi Hindia Barat
selama 2 tahun sebelum ia memutuskan menjadi dosen Fisika dan Kimia di Akademi di
bawah Admiral Sampson.
Cermin 2
5 8
3
2
4
digerakkan dipndahkan sejauh , satu berkas akan menempuh jarak ekstra yang sama
λ
2 4
dengan (karena bergerak mundur maju sepanjang jarak ). Dalam hal ini, kedua berkas
λ λ
akan berinterferensi destruktif dan akan terlihat gelap. Sementara M 2bergerak menjauhi,
akan terlihat terang (ketika perbedaan lintasan sebesar λ), kemudian gelap, dan
seterusnya.
Pengukuran panjang gelombang yang sangat tepat dapat dilakukan dengan
4
interferometer. Gerakan cermin M 2 sejauh saja menghasilkan perbedaan yang jelas
λ
antara terang dang gelap. Untuk λ = 400 nm, ini berarti ketepatan 100 nm atau 10 -4 mm.
Jika cermin M 2dimiringkan, rangkaian titik terang dan gelap akan terlihat menggantikan
serangkaian pinggiran. Dengan menghitung jumlah pinggiran, atau sebagainya,
pengukuran panjang yang sangat tepat dapat dilakukan.
Gambar 15. Grafik pengukuran panjang gelombang laser dioda merah I (650 nm)
Sumber : Fatah. 2008. Tanggal diakses 2 April 1024 jam 12.14 WIB
Gambar 16. Grafik pengukuran panjang gelombang laser dioda merah II (635 nm ~
670 nm)
Gambar 18. Pola interferensi (a) dengan sumber laser He-Ne (b) sumber laser dioda
merah I (c) sumber laser dioda merah II dan (d) sumber laser dioda hijau
Sumber : Fatah. 2008. Tanggal diakses 2 April 1024 jam 12.14 WIB
Pada gambar 18.a dapat dilihat bahwa pola interferensi yang dihasilkan oleh laser He-
Ne mempunyai pola interferensi berupa lingkaran yang membentuk cincin interferensi
dan memiliki pusat pola di tengah cincin yang lebih tajam dibandingkan dengan laser
dioda merah dan laser dioda hijau. Ketika sumber berupa laser dioda merah (18.b) dan
(18.c) pola interferensi gelap dan terangnya terpisah dengan jelas dan bisa diamati dengan
baik sehingga jarak antar frinji gelap maupun terangnya dapat diukur. Sedangkan untuk
pola interferensi yang dibentuk oleh laser dioda hijau, pola yang diperoleh lebih rapat dan
tajam dari pola interferensi pada sumber laser dioda merah. Hal ini disebabkan karena
panjang gelombang laser dioda hijau lebih pendek. Hal ini sesuai dengan yang dinyatakan
oleh Soedojo (1992) semakin pendek panjang gelombang suatu sumber cahaya, maka
semakin pendek pula jarak pemisahan antara pola-pola terang yang terjadi. Gambar 19
Gambar 19. Lebar interferensi (a) dengan sumber laser He-Ne (b) sumber laser
dioda merah I (c) sumber laser dioda merah II dan (d) sumber laser dioda hijau
Sumber : Fatah. 2008. Tanggal diakses 2 April 1024 jam 12.14 WIB
Pada gambar 19 dapat dilihat bahwa pola interferensi yang terbentuk untuk laser yang
panjang gelombangnya besar memiliki jumlah frinji yang lebih sedikit dibanding pada
laser dengan panjang gelombang yang lebih kecil. Dapat dilihat pada laser He-Ne (19.a)
bahwa jumlah frinji yang terbentuk lebih sedikit dibandingkan dengan laser merah I dan
II. Lebar frinji terang yang terbentuk lebih lebar dan lebih tajam dibanding dengan laser
dioda merah dan laser dioda hijau. Untuk laser diode merah I (19.b) jarak antar pola
terang pertama dengan pola terang kedua adalah lebih lebar dan jumlah frinji yang
terbentuk pada layar juga lebih sedikit dibanding dengan laser dioda merah II. Pada
gambar (19.c) tampak bahwa jarak antar frinjinya lebih sempit dan jumlah frinji yang
terbentuk lebih banyak dibanding dengan laser dioda merah I.
Sedangkan untuk laser dioda hijau (19.d), pola interferensinya tampak berhimpit dan
frinji yang terbentuk pada layar lebih banyak dibandingkan dengan laser yang lainnya.
Banyak atau sedikitnya jumlah frinji yang terbentuk tergantung pada beda lintasan optik
antara kedua cahaya yang saling berinterferensi. Semakin besar beda lintasan optik antara
kedua cahaya akan menyebabkan pola-pola interferensi (frinji) semakin banyak.
Demikian pula sebaliknya semakin kecil beda lintasan optik akan mengakibatkan jumlah
Eksperimen Fisika (Interferometer) Page 20
frinji semakin sedikit. Hal ini sesuai dengan yang dinyatakan Soedojo(1992) bahwa
banyak atau sedikitnya jumlah frinji yang terbentuk tergantung pada beda lintasan optik
antara kedua cahaya yang saling berinterferensi.
Contoh lain dalam menentukan panjang gelombang sumber cahaya laser He-Ne
adalah terdapat pada Tabel 2.
Tabel 2. Data percobaan menentukan panjang gelombang sumber cahaya laser He-Ne
Keterangan
N = jumlah frinji pada layar
ΔN = perubahan jumlah frinji
dm = pergeseran movable mirror dalam skala µm
Analisis Data Percobaan
ΔNλ
Data dianalisis dengan persamaan : Δd ¿ → λ= 2. Δd/ ΔN
2
2. Δd 2(1,6 .10−6)
λ= = =¿6,4 x 10-7 m
ΔN 5
2. Δd 2(1,5 .10−6)
λ= = =¿6,0 x 10-7 m
ΔN 5
2. Δd 2(1,7.10−6)
λ= = =¿6,8 x 10-7 m
ΔN 5
2. Δd 2(1,4 . 10−6)
λ= = =¿5,6 x 10-7 m
ΔN 5
2. Δd 2(1,4 . 10−6)
λ= = =¿5,6 x 10-7 m
ΔN 5
2. Δd 2(1,6 .10−6)
λ= = =¿6,4 x 10-7 m
ΔN 5
∑λ=36,8 x 10-7m
∑ λ 36,8 x 10−8
λ́ = = = 6,13 x 10-7 m
n 6
BAB III
PENUTUP
3.1 Kesimpulan
Berdasarkan tujuan yang telah dibuat maka dapat disimpulkan bahwa:
a. Sejarah interferometer
Pada tahun 1887, Michelson menemukan alat Interferometer yang digunakan
bersama kimiawan Amerika Edward Williams Morley. Interferometer umumnya
digunakan untuk mengukur perpindahan yang sangat kecil dengan menggunakan
properti gelombang cahaya (atau radiasi misalnya neutron energi rendah lainnya).
b. Pengertian interferometer dan macam-macam inteferometer
Eksperimen Fisika (Interferometer) Page 22
Interferometer adalah alat yang dipergunakan untuk mengetahui pola-pola
interferensi suatu gelombang. Setiap interferometer memiliki bentuk interferensi
gelombang yang berbeda-beda. Hal ini karena setiap interferometer memiliki
karakteristik yang berbeda-beda.
c. Bagian-bagian interferometer berserta fungsinya
Interferometer terdiri atas beberapa bagian yaitu meja interferometer, sumber
cahaya (laser), bangku sumber cahaya, lensa konveks, beam splitter, cermin yang
terdiri dari adjustable mirror dan movable mirror, layar dan mikrometer sekrup.
d. Langkah-langkah menggunakan interferometer
Aturlah letak alat interferometer sesuai modul/referensi. Hal yang pertama
yang dilakukan adalah mengatur pola gelap terang frinji pada layar dengan mengatur
posisi movable mirror untuk menhasilkan inteferensi. Kemudian lihatlah skala yang
terbaca pada mikrometer.
e. Prinsip kerja interferometer
Interferometer berkerja jika ada dua sumber cahaya yang koheren. Dua
sumber cahaya yang koheren akan menimbulkan beda fase sehingga menimbulkan
pola interferensi pada layar interferometer.
f. Data hasil percobaan menggunakan interferometer
Data yang didapatkan dari hasil percobaan ini adalah panjang gelombang sinar
sumber berdasarkan pola interferensi.
3.2 Saran
a. Pada saat menggunakan alat interferometer sebaiknya pratikan sabar pada saat
melakukan percobaan karena percobaan interferometer membutuhkan pengkalibrasian
dengan cara mengatur posisi laser, beam spliter, kedua cermin, dan lensa agar sinar
laser yang melewati semua peralatan tersebut tepat segaris.
b. Sebaiknya pada saat melakukan percobaan interferometer ini perlu hati-hati pada saat
melakukan pergeseran pada movable mirror karena ordenya dalam skala mikrometer.