Temas de la presentación RAZAVI, H. y ASADZADEH, A.

SOUZA, PEDRINI y TEN CATEN

MONITOREO DE PERFILES

RUBÉN DARÍO GUEVARA GONZÁLEZ

Universidad Nacional de Colombia Sede Bogotá

Seminario I

27 de marzo de 2011
Temas de la presentación RAZAVI, H. y ASADZADEH, A. SOUZA, PEDRINI y TEN CATEN

Temas de la presentación

RAZAVI, H. y ASADZADEH, A. (2010). Measuring Process

Capability for Linear profiles. INTERNATIONAL JOURNAL
OF INDUSTRIAL ENGINEERING AND PRODUCTION
MANAGEMENT (IJIE), 21(3):33-43.
SOUZA, F.S.; PEDRINI, D. y TEN CATEN, C. S. (2011).
Capability Indices for Control Charts Based on Regression
Models.
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Temas de la presentación

RAZAVI, H. y ASADZADEH, A. (2010). Measuring Process

Capability for Linear profiles. INTERNATIONAL JOURNAL
OF INDUSTRIAL ENGINEERING AND PRODUCTION
MANAGEMENT (IJIE), 21(3):33-43.
SOUZA, F.S.; PEDRINI, D. y TEN CATEN, C. S. (2011).
Capability Indices for Control Charts Based on Regression
Models.
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Process capability indices such as Cp , Cpk y Cpm

represent PCRs while dividing allowable process spread
by actual process spread. The numerical result is generally
compared to a minimum acceptable limit in order to decide
on the process performance.
The ratio can also be interpreted as the capability of the
process to produce its scalar quality characteristic within
its specification limits. This argument is slightly different for
linear profiles, since the process must preserve an
algebraic equation rather than single quantities. In
addition, classic single-variable equations for PCRs do not
apply on the multiple variable forms of the profiles.
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Limites de Control de la Carta de Regresion - Mandel (1969)

√
LCS = Y bi + L CMR
LC = Ybi
√
LCI = Ybi − L CMR
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The slope measures in Table 2, are tested for statistical control

using EWMA chart with r = 0,8. The large r makes the method
sensitive to small shifts. If the initial trial shows out of control
points, those points are omitted assuming assignable causes
and the calculations are repeated.
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Límites de Especificación

USL = UCL + s (1)

LSL = LCL − s (2)
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Límites de Especificación

Ti = b0T + b1T x1i + b2T x2i + ... + bkT xki (3)

USLi = b0U + b1U x1i + b2U x2i + ... + bkU xki (4)
LSLi = b0L + b1L x1i + b2L x2i + ... + bkL xki (5)
(6)

donde i = 1, 2, ..., n. b0T , b0U y b0L son los interceptos del valor
objetivo, USL y del LSL. En la mayoría de los casos se admite
que T , LSL y USL son paralelos, luego bjT = bjU = bjL = bj .
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Indices de capacidad GR para procesos con límites de

especificación simétricos

Pn
i=1 USLi − LSLi
USL − LSL = (7)
n
Asumiendo que los límites de especificación sean paralelos,
Pn
USLi − LSLi n(b0U − bOL )
USL − LSL = i=1 = = b0U − bOL
n n
(8)

entonces

b pR = b0U − bOL
C (9)
6b
σR
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Ejemplo
En FASE I, Sea CMR = 70,06

ybi = 89,84 + 9,49x1 − 5,13x2 − 6,48x3 + 12,59x4 − 7,94x12

(10)

En FASE II se toman 100 nuevas muestras,

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Ejemplo
Consíderese

LSU = 160, LSI = 50, T = 105 (11)

Luego

LSUi = 160 + 9,49x1 − 5,13x2 − 6,48x3 + 12,59x4 − 7,94x12

(12)
LSIi = 50 + 9,49x1 − 5,13x2 − 6,48x3 + 12,59x4 − 7,94x12
(13)
Ti = 105 + 9,49x1 − 5,13x2 − 6,48x3 + 12,59x4 − 7,94x12
(14)
(15)