See discussions, stats, and author profiles for this publication at: https://www.researchgate.

net/publication/342359208

X-Ray Diffaction (XRD)

Article · June 2020

CITATIONS READS

0 3,873

1 author:

Rista Yuniar Christyaningsih

Universitas Diponegoro
2 PUBLICATIONS   0 CITATIONS   

SEE PROFILE

Some of the authors of this publication are also working on these related projects:

For quantum physics assignments View project

All content following this page was uploaded by Rista Yuniar Christyaningsih on 22 June 2020.

The user has requested enhancement of the downloaded file.

 Aplikasi Fisika Kuantum-Hamburan
Pada ”X-Ray Diffaction (XRD)”

Fiska Kuantum merupakan cabang ilmu fisika yang menjelaskan tentang

partikel yang berukuran sangat kecil atau bisa disebut dengan partikel mikroskopis.
Dalam fisika kuantum, kita berurusan dengan ukuran pada skala atomik dan bahkan
subatomik guna mempelajari karakteristik/sifat partikel. Richard Feynman
mengatakan “if you think you understand quantum mechanics, you don’t
understand quantum mechanics”.

Pada fisika kuantum, kita harus meninggalkan konsep klasik. Dalam fisika
klasik, suatu benda memiliki lintasan gerak yang pasti. Namun dalam ranah
kuantum, partikel tidak bergerak pada lintasan yang pasti. Lebih hebat lagi, lintasan
yang mungkin ditempuh sebuah partikel tak-berhingga jumlahnya. Akibatnya,
diperlukan konsep matematika yang lebih rumit untuk menjelaskan fenomena
dalam ranah kuantum.

Erwin Schrödinger merupakan salah satu tokoh dalam fisika kuantum.

Persamaannya yang terkenal, yaitu persamaan Schrödinger, dapat diibaratkan
sebagai hukum Newton dalam ranah kuantum. Jika hukum Newton digunakan
untuk mengetahui posisi benda pada waktu tertentu, persamaan Schrodinger
digunakan untuk mendapatkan fungsi gelombang (wave function) dari benda yang
kita tinjau. Dari fungsi gelombang kita dapat mengetahui karakter benda, seperti
posisi, momentum, energi, dll.

Teknologi yang terkait dengan fisika kuantum tentang hamburan salah

satunya adalah XRD atau X-Ray Diffaction. X-Ray diffraction (XRD) merupakan
metode yang sangat penting dalam bidang karakterisasi material. Metode ini
digunakan untuk memproleh informasi dalam skala atomik, baik pada material
kristal maupun nonkristal (amorf ). Kondisi jenis sample bisa berbentuk padatan
berupa lembaran , maupun serbuk yang sudah dihaluskan.
Secara umum teknik XRD dapat digambarkan seperti diagram pada gambar berikut:

Sinar datang (1,2,3…) dengan panjang gelombang l mengenai rangkaian atom yang
membentuk pola teratur pada bidang hkl dengan jarak antar bidang d hkl akan
menghasilkan sinar pantul (1’,2’,3’…) dengan intensitas yang diukur sebagai fungsi
sudut pantul terhadap sudut datang (2q). Interferensi konstruktif hanya dapat terjadi
jika Hukum Bragg dipenuhi.

n λ = 2 d sin θ

Dengan transformasi Fourier, informasi intensitas fungsi 2q dapat diubah kembali

menjadi gambaran 3 dimensi kerapatan elektron dalam kristal yang merupakan
informasi tentang grup ruang (space group), ukuran kristal (lattice parameters),
posisi atom, serta crystallite size dan strain
 Prinsip kerja dari X-Ray Diffraction adalah Sinar -X yang dihasilkan pada
tabung sinar X ditembakkan ke spesimen melewati rangkaian celah logam dengan
nomor atom tinggi, seperti molibdenum atau tantalum. Celah logam ini digunakan
sebagai penyejajar berkas sinar-X. Setelah terdifraksi oleh spesimen, berkas ini
akan melewati rangakaian celah yang lain. Celah anti-hambur mengurangi radiasi
latar dan meningkatkan rasio puncak dengan latar dengan cara memastikan bahwa
detektor hanya dapat menerima sinar-X hanya dari area spesimen. Berkas yang
telah melewati celah penerima akan menjadi konvergen. Konvergensi berkas
menentukan lebar berkas yang sampai ke detektor. Peningkatan lebar celah akan
meningkatkan intensitas refleksi maksimum pada pola difraksi namun, sebaliknya,
akan menurunkan resolusi. Puncak difraksi atau refleksi pada pola difraksi sesuai
dengan sinar-X yang didifraksikan dari bidang kristal tertentu. Setiap puncak
memiliki intensitas atau ketinggian yang berbeda, dimana intensitas ini sebanding
dengan jumlah foton sinar-X atau energi tertentu yang terhitung oleh detektor pada
setiap sudut 2θ. Posisi puncak difraksi tergantung pada struktur kristal, khususnya
bentuk dan ukuran sel satuan, pada material spesimen. Posisi ini dapat pula
dipengaruhi oleh panjang gelombang sinar-X yang digunakan. Jumlah puncak
difraksi suatu material akan bertambah seiring dengan menurunnya tingkat simetri
struktur kristal material tersebut.
 Teknik karakterisasi XRD telah dilakukan oleh banyak peneliti untuk
memperoleh informasi terkait :

1. Informasi struktur kristal zat padat termasuk geometri dan konstanta kisinya.
2. Ukuran kristal.
3. Orientasi kristal tunggal maupun poli kristal.
4. Fase yang terbentuk baik dari sintesis material maupun reaksi kimia.
5. Identifikasi material yang belum diketahui.

Berikut beberapa teknik umum XRD.

 Small Angle X-ray Scattering (ukuran, bentuk dan distribusi partikel)

 Gracing Incidence X-Ray Scattering (ukuran, bentuk dan distribusi partikel
pada lapisan tipis)
 Gracing Incidence XRD (aplikasi untuk lapisan tipis)
 In-plane XRD (aplikasi untuk lapisan ultra tipis)
 X-ray Reflectivity (densitas, tebal dan interface lapisan tipis)
 Texture (Pole Figure dan Orientation Distribution Function)
 Residual Stress (Tegangan sisa pada logam)
 Single Crystal (Protein, small molekul)
 Pair Distribution Function (amorf, short range order, atomic substitution)
 In-situ (temperature, pressure, formation, structure change etc)
 Amorphous content, % crystallinity (Farmasi, Biologi, Kimia, Fisika)
 REFERENSI

Callister, W. D. (2007). Materials science and engineering: an introduction.

NewYork: Wiley and Sons, Inc.

Suryanarayana, C., dan Norton, M. G. (2007). X-ray diffraction: a practical

approach: Springer Science & Business Media.

Dynatech. 2019. Teknik XRD: X-Ray Difraction, Definisi, Prinsip, Beserta Gambar
di www.dynatech-int.com (Akses 19 Juni 2020)

View publication stats