Magnet
Magnet
TINJAUAN PUTAKA
Magnet dapat dibuat dari bahan besi, baja, dan campuran logam serta telah
banyak dimanfaatkan untuk industri otomotif dan lainnya. Sebuah magnet terdiri
atas magnet-magnet kecil yang memiliki arah yang sama (tersusun teratur),
magnet-magnet kecil ini disebut magnet elementer. Pada logam yang bukan
magnet, magnet elementernya mempunyai arah sembarangan (tidak teratur)
sehingga efeknya saling meniadakan, yang mengakibatkan tidak adanya kutub-
kutub magnet pada ujung logam. Setiap magnet memiliki dua kutub, yaitu: utara
(N) dan selatan (S). Kutub magnet adalah daerah yang berada pada ujung-ujung
magnet dengan kekuatan magnet yang paling besar berada pada kutub-kutubnya.
(Afza, 2011).
Bahan ini juga mempunyai sifat remanansi, artinya bahwa setelah medan
magnet luar dihilangkan, akan tetap memiliki medan magnet, karena itu bahan ini
sangat baik sebagai sumber magnet permanen. Permeabilitas bahan : µ >> µ0
dengan suseptibilitas bahan : χm >> 0. Contoh bahan ferromagnetik : besi,baja.
2.3.4. Anti Ferromagnetik
Jenis ini memiliki arah domain yang berlawanan arah dan sama pada kedua
arah. Arah domain magnet tersebut berasal dari jenis atom sama pada suatu kristal.
Pada unsur dapat ditemui pada unsur cromium, tipe ini memiliki arah
domain yang menuju dua arah dan saling berkebalikan. Jenis ini memiliki
temperature curie yang rendah sekitar 37 ºC untuk menjadi paramagnetik.
2.3.5 Ferrimagnetik
Jenis tipe ini hanya dapat ditemukan pada campuran dua unsur antara
paramagnetic dan ferromagnetik seperti magnet barium ferit dimana barium (Ba)
adalah jenis paramagnetik dan ferit (Fe) adalah jenis unsur yang termasuk dalam
kategori ferromagnetik .
1. Magnet lunak (soft magnetic material) yaitu material yang sifat magnetnya
sementara. Material soft magnetik mudah mengalami magnetisasi dan
demagnetisasi. Bentuk kurva hysterisis material soft magnetik pipih karena
energi yang hilang saat proses magnetisasi rendah sehingga koersifitasnya
kecil.
2. Magnet keras (hard magnetic material) yaitu material yang sifat magnetnya
permanen. Bentuk kurvanya cembung karena energi yang hilang pada saat
magnetisasi tinggi.
Gambar 2.6 Histeris material magnet (a) Material magnet lunak, (b) Material
Magnet keras. (Sumber: Hilda Ayu, 2013).
B. Besi (Fe)
Besi adalah unsur kimia dengan simbol Fe (dari bahasa Latin: zat besi). Dan
nomor atom 26 Ini merupakan logam dalam transisi deret pertama. Besi
merupakan logam transisi yang paling banyak dipakai karena relatif melimpah
dibumi. Ini adalah massa elemen paling umum di Bumi, membentuk banyak
inti luar dan dalam bumi.
Rasio berat bola serbuk / ball powder ratio (BPR) adalah variabel yang
penting dalam proses milling, rasio berat – serbuk mempunyai pengaruh yang
signifikan terhadap waktu yang dibutuhkan untuk mencapai fasa tertentu dari
bubuk yang dimilling. Semakin tinggi BPR semakin pendek waktu yang
dibutuhkan. Hal ini dikarenakan peningkatan berat bola tumbukkan persatuan
waktu meningkat dan konsekuensinya adalah banyak energi yang ditransfer ke
partikel sebuk dan proses milling berjalan lebih cepat.
Pada proses kompaksi, gaya gesek yang terjadi antar partikel yang digunakan dan
antar partikel komposit dengan dinding cetakan akan mengakibatkan kerapatan
pada daerah tepi dan bagian tengah tidak merata. Dan untuk menghindari
terjadinya perbedaan kerapatan, maka pada saat kompaksi digunakan pelumas
yang bertujuan untuk mengurangi gesekan antara partikel dan dinding cetakan.
2.7 Karakterisasi
Untuk mengidentifikasi suatu material , maka harus dilakukan karakterisasi
terhadap material tersebut. Sehingga secara fisis material tersebut dapat dibedakan
dengan material lainnya. Oleh karena itu maka dilakukan analisa ukuran partikel
serbuk NdFeB menggunakan PSA,Analisa struktur serbuk magnet NdFeB dengan
XRD, pengamatan mikrostruktur magnet NdFeB menggunakan SEM, analisa sifat
magnet pelet magnet NdFeB menggunakan Gaussmeter, Analisa sifat magnetik
bahan dengan menggunakan VSM.
Sieve analyses (analisis ayakan) dalam dunia farmasi sering kali digunakan
dalam bidang mikromeritik. Yaitu ilmu (bagaimana konektifitas antara kalimat
sebelum dan sesudah) yang mempelajari tentang ilmu dan teknologi partikel kecil.
Metode yang paling umum digunakan adalah analisa gambar (mikrografi). Metode
ini meliputi metode mikroskopi dan metode holografi. Seiring dengan
berkembangnya ilmu pengetahuan yang lebih mengarah ke era nanoteknologi, para
peneliti mulai menggunakan Laser Diffraction (LAS). Metode ini dinilai lebih
akurat untuk bila dibandingkan dengan metode analisa gambar maupun metode
ayakan (sieve analyses), terutama untuk sample-sampel dalam orde nanometer
maupun submicron.
Pengukuran partikel dengan menggunakan PSA biasanya menggunakan
metode basah. Metode ini dinilai lebih akurat jika dibandingkan dengan metode
kering ataupun pengukuran partikel dengan metode ayakan dan analisa gambar.
Terutama untuk sampel-sampel dalam orde nanometer dan submicron yang
biasanya memliki kecenderungan aglomerasi yang tinggi. Hal ini dikarenakan
partikel didispersikan ke dalam media sehingga partikel tidak saling beraglomerasi
(menggumpal). Dengan demikian ukuran partikel yang terukur adalah ukuran dari
single particle. Selain itu hasil pengukuran dalam bentuk distribusi, sehingga hasil
pengukuran dapat diasumsikan sudah menggambarkan keseluruhan kondisi
sampel. Beberapa analisa yang dilakukan, antara lain:
Di dalam kisi kristal, tempat kedudukan sederetan ion atau atom disebut
bidang kristal. Bidang kristal ini berfungsi sebagai cermin untuk merefleksikan
sinar –X yang datang. Posisi dan arah dari bidang kristal ini disebut indeks miller.
Setiap kristal memiliki bidang kristal dengan posisi dan arah yang khas, sehingga
jika disinari dengan sinar –X pada analisis XRD akan memberikan difraktogram
yang khas pula. Dari data XRD yang diperoleh, dilakukan identifikasi
puncakpuncak grafik XRD dengan cara mencocokkan puncak yang ada pada
grafik tersebut dengan database ICDD. Dan dapat juga diketahui % Volume fasa
yang dicari, yaitu untuk mengetahui berapa persen fasa mayor dan fasa minor.
Dengan persamaan sebagai berikut :
𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼 𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹 𝑌𝑌𝑌𝑌𝑌𝑌𝑌𝑌 𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷𝐷
%Vol.Fasa Yang dicari = x 100% 2.2
𝐽𝐽𝐽𝐽𝐽𝐽𝐽𝐽𝐽𝐽 ℎ 𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼𝐼 𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆𝑆 ℎ 𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹𝐹
2.7.4 S E M (Scanning Electron Microscope)
Scanning Electron Microscope atau SEM merupakan mikroskop electron yang
banyak digunakan dalam ilmu pengetahuan material. SEM banyak digunakan
karena memiliki kombinasi yang unik, mulai dari persiapan specimen yang simple
dan mudah, kapabilitas tampilan yang bagus serta flesibel. SEM digunakan pada
sampel yang tebal dan memungkinkan untuk dianalisis permukaan. Pancaran
berkas yang jatuh pada sampel akan dipantulkan dan didifraksikan. Adanya
elektron yang terdifraksi dapat diamati dalam bentuk pola-pola difraksi. Elektron
memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya hanya mampu
mencapai 200 nm sedangkan elektron bias mencapai resolusi sampai 0,1- 0,2 nm.
Dibawah ini diberikan perbandingan hasil gambar mikroskop cahaya dengan
elektron.
Ada beberapa sinyal yang penting yang dihasilkan oleh SEM. Dari pantulan
inelastis didapatkan sinyal elektron sekunder dan karakteristik sinar X, sedangkan
dari pantulan elastis didapatkan sinyal backscattered electron . Elektron sekunder
menghasilkan topografi dari benda yang dianalisa, permukaan yang tinggi
berwarna lebih cerah dari permukaan rendah. Sedangkan backscattered electron
memberikan perbedaan berat molekul dari atom-atom yang menyusun permukaan,
atom dengan berat molekul tinggi akan berwarna lebih cerah daripada atom
dengan berat molekul rendah.