Spektroskopi Difraksi Sinar-X (X-ray difraction/XRD)

Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah

satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan
hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin
dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk
mendapatkan ukuran partikel
Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh
atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa
tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan
difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan
Bragg :
n.λ = 2.d.sin θ ; n = 1,2,...
Dengan λ adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah
jarak antara dua bidang kisi, θ adalah sudut antara sinar datang dengan bidang
normal, dan n adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada
sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki
panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar
yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai
sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel,
makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap puncak yang muncul
pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu
dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran
ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua
jenis material. Standar ini disebut JCPDS.
Keuntungan utama penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material
adalah kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi
akibat panjang gelombangnya yang pendek. Sinar-X adalah gelombang
elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,5-2,0 mikron. Sinar ini dihasilkan
dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami
perlambatan saat masuk ke dalam logam dan menyebabkan elektron pada kulit
atom logam tersebut terpental membentuk kekosongan. Elektron dengan energi
yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan memancarkan kelebihan
energinya sebagai foton sinar-X.
Metode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui struktur dari lapisan
tipis yang terbentuk. Sampel diletakkan pada sampel holder difraktometer sinar X.
Proses difraksi sinar X dimulai dengan menyalakan difraktometer sehingga
diperoleh hasil difraksi berupa difraktogram yang menyatakan hubungan antara
sudut difraksi 2θ dengan intensitas sinar X yang dipantulkan. Untuk difraktometer
sinar X, sinar X terpancar dari tabung sinar X. Sinar X didifraksikan dari sampel
yang konvergen yang diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus
sinar X. Sinar X ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadi sinyal
listrik. Sinyal tersebut, setelah dieliminasi komponen noisenya, dihitung sebagai
analisa pulsa tinggi. Teknik difraksi sinar x juga digunakan untuk menentukan
ukuran kristal, regangan kisi, komposisi kimia dan keadaan lain yang memiliki
orde yang sama.

SUMBER DAN SIFAT SINAR X

Tabung sinar-X
Pada umumnya, sinar diciptakan dengan percepatan arus listrik, atau setara
dengan transisi kuantum partikel dari satu energi state ke lainnya. Contoh : radio (
electron berosilasi di antenna) , lampu merkuri (transisi antara atom)
Ketika sebuah elektron menabrak anoda :
1. Menabrak atom dengan kecepatan perlahan, dan menciptakan radiasi
bremstrahlung atau panjang gelombang kontinyu
2. Secara langsung menabrak atom dan menyebabkan terjadinya transisi
menghasilkan panjang gelombang garis
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi
sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas
elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum Sinar X memilki
panjang gelombang 10-5 – 10 nm, berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki
energi 103 -106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan
jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.
Difraksi Sinar X merupakan teknik yang digunakan dalam karakteristik
material untuk mendapatkan informasi tentang ukuran atom dari material kristal
maupun nonkristal. Difraksi tergantung pada struktur kristal dan panjang
gelombangnya. Jika panjang gelombang jauh lebih dari pada ukuran atom atau
konstanta kisi kristal maka tidak akan terjadi peristiwa difraksi karena sinar akan
dipantulkan sedangkan jika panjang gelombangnya mendekati atau lebih kecil
dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa difraksi. Ukuran atom
dalam orde angstrom (Å) maka supaya terjadi peristiwa difraksi maka panjang
gelombang dari sinar yang melalui kristal harus dalam orde angstrom (Å).

Skema Tabung Sinar X

Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan
logam target. Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar X harus
terdiri dari beberapa komponen utama, yaitu :
a. Sumber elektron (katoda)
b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron
c. Logam target (anoda)
Ketiga komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar X.
Skema tabung sinar X dapat dilihat pada Gambar
KOMPONEN DALAM XRD
Komponen XRD ada 2 macam yaitu:
1. Slit dan film
2. Monokromator
Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat
pijar untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut
dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan
menembak target dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi
yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik
spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-
komponen, yang paling umum adalah Kα dan Kβ. Ka berisi, pada sebagian, dari
Kα1 dan Kα2. Kα1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua
kali lebih intensitas dari Kα2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan
karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau
kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang
diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum
untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu Kα =05418Å. Sinar-X ini
bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar,
intensitas Sinar X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X
tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu
puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat
penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan
dikeluarkan pada printer atau layar komputer.

PROSEDUR DIFRAKSI SINAR X

Percobaan dengan menggunakan difraksi sinar X kebanyakan terbatas pada
zat padat saja. Hasil yang paling baik akan diperoleh apabila digunakan satu
kristal tunggal. Tetapi, percobaan difraksi sinar ini dapat pula dilakukan dengan
menggunakan padatan dalam bentuk serbuk yang sebenarnya terdiri dari kristal-
kristal yang sangat kecil. Atau dapat juga menggunakan padatan dalam bentuk
kumparan yang biasa digunakan untuk menentukan struktur molekul yang
mempunyai ukuran yang sangat besar, seperti DNA, protein, dan sebagainya.
Alat yang digunakan untuk mengukur dan mempelajari difraksi sinar X
dinamakan Goniometer. Pada metoda kristal tunggal, sebuah kristal yang
berkualitas baik diletakkan sedemikian rupa sehingga dapat berotasi pada salah
satu sumbu kristalnya. Ketika kristal itu diputar pada salah satu sumbu putar,
seberkas sinar X monokromatik dipancarkan ke arah kristal. Ketika kristal
berputar, perangkat-perangkat bidang yang ada dalam kristal berurutan akan
memantulkan berkas sinar X. berkas sinar X yang dipantulkan ini kemudian
direkam pada sebuah piringan fotografik. Jika yang digunakan piringan datar,
akan diperoleh suatu pola seperti terlihan pada gambar dibawah ini. tetapi apabila
yang digunakan adalah film fotografik yang lengkung berbentuk silinder dengan
kristal yang diuji terletak ditengah silinder, maka akan diperoleh suatu deretan
spot yang berbentuk garis lurus sehingga pengukuran akan menjadi semakin
mudah.

Gambar Difraksi sinar X menggunakan metode rotasi kristal

Masalah utama dalam metoda difraksi sinar X ini adalah bagaimana

menghubungkan pola spot yang diperoleh dengan posisi ion atau atom dalam unit
sel. Memang dari jarak antar spot, kita dapat mengetahui dimensi unit sel, tetapi
letak atom atau ion dalan unit sel sangat sulit ditentukan . Salah satu cara untuk
mengatasi hal diatas adalah dengan jalan mula-mula kita menduga struktur
molekul dan kemudian memperkirakan difraksi sinar X yang mungkin diperoleh.
Difraksi sinar X yang kita perkirakan kemudian kita bandingkan dengan hasil
percobaan. Adanya perbedaan antara pola difraksi hasil perkiraan dan hasil
percobaan menunjukkan struktur molekul yang kita perkirakan masih salah
dengan membandingkan kedua pola difraksi, kita dapat membuat perbaikan-
perbaikan sehingga hasilnya diperoleh struktur molekul yang tepat, tetapi dalam
beberapa kasus, misalnya apabila jumlah atom dalam unit sel sangat banyak,
metode diatas menjadi tidak parktis lagi. Dalam kasus seperti ini biasanya posisi
atom atau ion ditentukan berdasarkan intensitas relatif dari spot yang diasilkan.
Ketika sinar X menumbuk kristal, sebenarnya elektron yang terdapat di
sekeliling atom atau ionlah yang menyebabkan terjadinya pemantulan. Makin
banyak jumlah elektron yang terdapat disekeliling atom pada suatu bidang, makin
besar intensitas pemantuklan yang disebabkan oleh bidang tersebut dan akan
mengakibatkan makin jelasnya spot yang terekam dalam film. Dengan
menggunakan metode sintesis fourier, kita dapat menghubungkan intensitas spot
dengan kepekatan distribusi elektron dalam unit sel. Dengan mengamati
kepekatan dalam unit sel, kita dapat menduga letak atom dalam unit sel tersebut.
Atom akan terletak pada daerah-daerah yang mempunyai kepekatan distribusi
elektron maksimum.
Dengan menggunakan metode difraksi sinar X, struktur molekul yang sangat
kompleks dapat ditentukan. Misalnya struktur DNA yang sangat kompleks dapat
ditentukan dengan metode sinar X seperti yang telah dilakukan oleh Crick,
Wilkins dan Watson

PETUNJUK PENGGUNAAN, PENYIAPAN SAMPLE

 Ambil sepersepuluh berat sample (murni lebih baik)
 Gerus sample dalam bentuk bubuk. Ukuran kurang dari ~10 μm atau 200-
mesh lebih disukai
 Letakkan dalam sample holder
 Harus diperhatikan agar mendapatkan permukaan yang datar dan
mendapatkan distribusi acak dari orientasi-orientasi kisi
  Untuk analisa dari tanah liat yang memerlukan single orientasi, teknik-
teknik yang khusus untuk persiapan tanah liat telah diberikan oleh USGS

Pengumpulan Data
Intensitas sinar-X yang didifraksikan secara terus-menerus direkam sebagai
contoh dan detektor berputar melalui sudut mereka masing-masing. Sebuah
puncak dalam intensitas terjadi ketika mineral berisi kisi-kisi dengan d-spacings
sesuai dengan difraksi sinar-X pada nilai θ Meski masing-masing puncak terdiri
dari dua pemantulan yang terpisah (Kα1 dan Kα2), pada nilai-nilai kecil dari 2 θ
lokasi-lokasi puncak tumpang-tindih dengan Kα2 muncul sebagai suatu gundukan
pada sisi Kα1. Pemisahan lebih besar terjadi pada nilai-nilai θ yang lebih tinggi .

KEGUNAAN DAN APLIKASI

Kegunaam dan aplikasi XRD:
 Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf
 Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
 Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
 Karakterisasi material kristal
 Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
 Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:

1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film
KEUNTUNGAN DAN KERUGIAN DARI XRD KRISTAL DAN BUBUK
1. Kristal Tunggal
- Keuntungan
Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
- Kerugian
Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
2. Bubuk
- Kerugian
Sulit untuk menentukan strukturnya
- Keuntungan
Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk
 DAFTAR PUSTAKA

I.chorkendroff, J.W. Niemantsverdiet. Concepts of Modern Catalysis and

Kinetics. Wliey-VCH GmbH&Co. New York. 2003. Hal 143 -147
http://ardiannisworld.blogspot.com/2008/01/difraksi-neutron_31.htm
http://www.chem-is-try.org/
http://labinfo.files.wordpress.com
http://serc.carleton.edu/