Física del

estado sólido
Tabla de contenido Física del estado sólido

P7 Física del
estado sólido
P 7.1 Propiedades de cristales P 7.3 Magnetismo
P 7.1.1 Estructura cristalina 237 P 7.3.1 Diamagnetismo, paramagnetismo
P 7.1.2 Análisis de la estructura cristalina y ferromagnetismo 247
mediante rayos X 238 P 7.3.2 Histéresis ferromagnética 248
P 7.1.3 Análisis de la estructura cristalina
mediante rayos X con el aparato P
de rayos X 239 P 7.4 Microscopia de barrido
P 7.1.4 Deformación elástica y plástica 240
P 7.4.1 Microscopio de efecto túnel 249

P 7.2 Fenómenos de conducción

P 7.2.1 Efecto Hall 241
P 7.2.2 Conducción eléctrica en sólidos 242
P 7.2.3 Fotoconductividad 243
P 7.2.4 Luminiscencia 244
P 7.2.5 Termoelectricidad 245
P 7.2.6 Superconductores 246

236
Física del estado sólido Propiedades de cristales
P 7.1.1
Estructura cristalina

P 7.1.1.1 Estudio de la estructura

cristalina del wolframio con un
microscopio de emisión de
campo

Estudio de la estructura cristalina del wolframio con un microscopio de emisión de campo

En el microscopio de emisión de campo se ha montado una

P 7.1.1.1

No de Cat. Artículo punta fina de un monocristal de wolframio, en el centro de una

pantalla luminiscente de forma esférica. El campo eléctrico entre
554 60 Microscopio de emisión de campo 1 cristal y pantalla alcanza en las cercanías de la superficie una
intensidad de campo tan alta que por efecto túnel pueden salir
554 605 Panel de conexión FEM 1
electrones de potencia del cristal y viajar en dirección radial a la
301 339 Par de pies de soporte 1
pantalla. Allí se forma una imagen aumentada de la distribución
521 70 Fuente de alimentación de alta tensión, 10 kV 1 de la emisión de la punta del cristal en un factor
521 39 Transformador variable de baja tensión 1
R
Amperímetro, CC, I ≤10 A, por ej. V=
531 711 Multímetro METRAmax 4 con 1 r
309 05001 Adaptador-terminal de cable de seguridad 1 R = 5 cm: radio de la pantalla
500 614 Cable de experimentación de seguridad, 25 cm, negro 2 r = 0,1-0,2 Bm: radio de la punta.
500 624 Cable de experimentación de seguridad, 50 cm, negro 2 En el experimento la punta de wolframio se calienta hasta la
500 641 Cable de experimentación de seguridad, 100 cm, rojo 1 incandescencia blanca con el propósito de limpiarla. La estruc-
500 642 Cable de experimentación de seguridad, 100 cm, azul 1 tura generada que aparece en la pantalla después de aplicar el
500 644 Cable de experimentación de seguridad, 100 cm, negro 2 campo eléctrico corresponde a una red cúbica centrada del
wolframio, que se observa en la dirección (110), esto es, en la
dirección de una diagonal de la superficie del cubo. Por último,
en el tubo se hace evaporar una muy pequeña cantidad de
bario, de tal manera que átomos individuales de bario se preci-
pitan sobre la punta de wolframio y generan puntos luminosos
claros sobre la pantalla. Al calentar cuidadosamente la punta de
wolframio se puede ver incluso el movimiento térmico de los áto-
mos de bario.

237
Propiedades de cristales Física del estado sólido
P 7.1.2
Análisis de la estructura
cristalina mediante rayos X

P 7.1.2.1 Reflexión de Bragg:

Determinación de constantes
de red de monocristales
P 7.1.2.2 Método de Laue:
Estudio de la estructura
cristalina de monocristales
P 7.1.2.3 Método de Debye-Scherrer:
Determinación de la distancia
reticular interplanar de
muestras de polvo
policristalino

Método de Laue: Estudio de la estructura cristalina de monocristales

En la difracción de rayos X de longitud de onda Ö en un cristal

P 7.1.2.2

P 7.1.2.3
P 7.1.2.1
se presentan máximos bajo los ángulos de reflexión R, T, H – No de Cat. Artículo
medidos con respecto a los ejes del cristal a, b, c –, si se cum-
plen las condiciones de Laue 554 811 Equipo de rayos X 1 1 1
h · Ö = a · (cos R0 – cos R), h = 0, ± 1, ± 2, ... 559 01 Tubo contador con ventanilla para rayos R, T, H y X 1
k · Ö = b · (cos T0 – cos T), k = 0, ± 1, ± 2, ... 554 77 Monocristal de LiF para la reflexión de Bragg 1
l · Ö = c · (cos H0 – cos H), l = 0, ± 1, ± 2, ... 554 838 Soporte de película para rayos X 1 1

R0, T0, H0: ángulo de incidencia 554 892 Filmpack 2 (película para rayos X) 1 1

W. H. y W. L. Bragg describen de manera simplificada el com- 554 87 Cristal de LiF para la difracción de Laue 1
portamiento de los rayos X en cristales tales como la reflexión en 554 88 Cristal de NaCl para la difracción de Laue 1
una familia de planos paralelos de la red. La reflexión sólo puede 667 091 Pistilo, porcelana, 100 mm, para 667 092 1
darse para el ángulo P que cumple la condición de Bragg 667 092 Mortero, porcelana, Ø 63 mm 1
2 · d · sin P = n · Ö con n = 1, 2 ,3, . . . 311 54 Pie de rey de precisión 1
d: distancia interplanar, n: orden de difracción Adicionalmente se requiere:
PC con Windows 95 1
Para una red cúbica con constante de red a la distancia inter-
planar se puede expresar mediante los índices de Laue h, k, l:
a
d=
öh + k 2 + l 2
2

En el primer experimento se utiliza la reflexión de Bragg de la

radiación de Mo-KR (Ö = 71,080 pm) en monocristales de NaCl y
de LiF para determinar la constante de rejilla. Con un filtro de cir-
conio se puede suprimir la componente KT de los rayos X.
Para el método de Laue en monocristales de NaCl y de LiF del
segundo experimento se utiliza la radiación de frenado del tubo
de rayos X como radiación «blanca». De la posición del reflexe
de «color» sobre una película de rayos X situada detrás del cris-
tal y de su intensidad se puede determinar la estructura cristali-
na y la longitud de los ejes del cristal aplicando las condiciones
de Laue. Patrón de Laue del NaCl Patrón de Debye-Scherrer del NaCl

Para el método de Debye-Scherrer en el último experimento con

radiación Mo-KR se irradian muestras de polvo fino con tamaño ficies cónicas, cuyos ángulos de abertura P se obtienen de una
de grano reducido. Entre muchos de los cristalitos desordena- placa fotográfica. Aquí se determina la distancia interplanar refe-
dos, los rayos X encuentran aquellos cuya orientación cumple rida a P y sus índices de Laue h, k, l y con ello la estructura cris-
con la condición de Bragg. Los rayos difractados llenan super- talina de los cristalitos.

238
Física del estado sólido Propiedades de cristales
P 7.1.3
Análisis de la estructura
cristalina mediante rayos X
con el aparato P de rayos X
P 7.1.3.1 Reflexión de Bragg:
Determinación de constantes
de red de cristales de cloruros
alcalinos
P 7.1.3.2 Método de cristal rotatorio:
Estudio del LiF

Reflexión de Bragg: Determinación de constantes de red de cristales de cloruros alcalinos

Para el análisis de estructura mediante rayos X con el aparato P

P 7.1.3.1 (b)
P 7.1.3.1 (a)

de rayos X se utiliza la radiación Cu-KR (Ö = 154,4 pm) como

P 7.1.3.2

No de Cat. Artículo rayos X monocromáticos. La radiación Cu-KT puede ser suprimi-

da con un filtro de níquel, si se pueden aceptar tiempos de
medición largos como consecuencia de la intensidad de radia-
554 61 Aparato P de rayos X con tubo 1 1 1
ción primaria reducida.
554 63 Portatubo para aparatos P de rayos X 1 1
En el primer experimento se utiliza la reflexión de Bragg en
554 65 Cámara de Debye-Scherrer 1
monocristales de cloruros alcalinos para determinar la constan-
554 66 Accesorios básicos para el aparato P de rayos X 1 1 1 te de red. Como las estructuras cristalinas y las relaciones de
554 67 Accesorios de cristalografía para el aparato P de rayos X 1 1 1 enlace de los cristales concuerdan, las diferencias en las cons-
554 69 Accionamiento motriz 1 tantes de red se debe a la diferencia de tamaño de los iones
554 892 Filmpack 2 (película para rayos X) 1 alcalinos.
559 05 Tubo contador con ventanilla para rayos T, H y X 1 1 En el segundo experimento se demuestra el método del cristal
555 257 Ratemeter P 1 giratorio para el análisis de estructuras en un monocristal de LiF.
555 259 Visualizador digital P con umbral regulable 1
El cristal gira alrededor del eje c vertical, en el haz de rayos X
horizontal. Los rayos X incidentes son difractados en un plano
555 253 Adaptador de alimentación P para el motor a pasos 1 2
cristalino, tan pronto como la condición de Bragg se cumple.
555 250 Motor paso a paso con unidad de mando P 1 1
Esto es, solo se presentan reflexiones (reflexe) discretas, distri-
524 007 CASSYpack-E 1 buidas sobre las superficies cónicas. Las direcciones de las
524 033 Unidad GM 1 reflexiones pueden ser descritas mediante los índices de Laue h,
525 036 Adquisición Universal de Datos 1 k, l.
575 70 Registrador Yt, 1 canal 1
501 46 Par de cables de 100 cm, rojo y azul 1 1
Adicionalmente se requiere:
PC con Windows 3.1x ó Windows 95 1

Esquema del método del cristal giratorio

239
Propiedades de cristales Física del estado sólido
P 7.1.4
Deformación elástica y
plástica

P 7.1.4.1 Estudio del estiramiento

elástico y plástico de alambres
metálicos

Estudio del estiramiento elástico y plástico de alambres de cobre

Bajo la influencia de fuerzas un sólido cristalino cambia su

P 7.1.4.1
forma. Se habla de comportamiento elástico si este vuelve a No de Cat. Artículo
tomar su forma original cuando las fuerzas dejan de actuar. Si
las fuerzas sobrepasan el límite elástico, entonces el cuerpo 550 35 Alambre de cobre, 100 m, Ø 0,20 mm 1
queda deformado. Este comportamiento plástico se debe a la
550 51 Alambre de hierro, 100 m, Ø 0,20 mm 1
migración de dislocaciones en la red cristalina.
342 61 Juego de 12 pesas, cada una de 50 g 2
En el experimento se estudia la tensión de alambres de hierro y 340 911 Polea enchufable Ø 50 mm 1
cobre colgando pesas en un extremo. Un indicador sensible
381 331 Indicador para la dilatación lineal 1
mide la variación de longitud Ws, esto es, el estiramiento
340 82 Escala doble 1
Ws 314 04 Asa de soporte fijable 2
Z= 301 07 Mordaza sencilla de mesa 2
s
301 01 Mordaza múltiple de Leybold 4
s: longitud del alambre
301 25 Bloque de soporte 3
301 26 Varilla de soporte, 25 cm, Ø 10 mm 3
Después de cada nueva carga con una tracción
301 27 Varilla de soporte, 50 cm, Ø 10 mm 1
F 300 44 Varilla de soporte de 100 cm 1
D=
A

F: peso de la pesa,
A: sección transversal del alambre

se verifica si el indicador sin carga retorna a la posición cero, es

decir, si la carga se encuentra por debajo del límite de elastici-
dad DE. La representación de los datos en un diagrama tensión-
estiramiento verifica la validez de la ley de Hook

D = E·Z
E: módulo de elasticidad

hasta un límite de proporcionalidad DP.

Diagrama de tensión-estiramiento de un alambre metálico típico

240
Física del estado sólido Fenómenos de conducción
P 7.2.1
Efecto Hall

P 7.2.1.1 Estudio del efecto Hall en plata

P 7.2.1.2 Estudio del efecto Hall anómalo
en wolframio
P 7.2.1.3 Determinación de la densidad
de los portadores de carga y
movilidad en germanio tipo n
P 7.2.1.4 Determinación de la densidad
de los portadores de carga y
movilidad en germanio tipo p
P 7.2.1.5 Determinación del intervalo de
energías entre bandas del
germanio

Estudio del efecto Hall en plata

En conductores o semiconductores eléctricos que se encuen-

P 7.2.1.2

P 7.2.1.3

P 7.2.1.4

P 7.2.1.5
P 7.2.1.1

No de Cat. Artículo tran en un campo magnético B y por los cuales fluye una co-
rriente I perpendicular al campo magnético se genera una ten-
586 81 Aparato para el efecto Hall (plata) 1 sión eléctrica debido al efecto Hall:
586 84 Aparato para el efecto Hall (wolframio) 1
1
UH = RH · B · l ·
586 850 Aparato básico para el efecto Hall (Ge) 1 1 1 d
586 853 n-Ge en placa impresa 1 d: espesor de la muestra
586 852 p-Ge en placa impresa 1 La constante de Hall
586 851 Ge no dopado en placa impresa 1
1 p · B 2p – n · B 2n
532 13 Microvoltímetro 1 1 RH = ·
516 62 Teslámetro 1 1 e (p · B p + n · B n)2
516 60 Sonda B tangencial 1 1 1 1 e: carga elemental
501 16 Cable de unión de 6 polos, 1,5 m 1 1 1 1
depende de las concentraciones n y p de los electrones y hue-
524 007 CASSYpack-E 1 1 1
cos, así como de las movilidades B n y B p y por ello es un pará-
525 036 Adquisición Universal de Datos 1 1 1
metro que depende del material y de la temperatura.
524 055 Unidad Amplificador 1 1 1
En los primeros dos experimentos se determina la constante de
524 038 Unidad B 1 1 Hall RH de dos conductores eléctricos mediante la medición de
577 19 Resistencia STE, 1 E, 2 W 1 1 1 la tensión de Hall UH en función del campo magnético B para
577 20 Resistencia STE, 10 E, 2 W 1 1 1 diferentes corrientes I. Para la constante de Hall en plata se ob-
521 55 Fuente de alimentación de alto amperaje 1 1 tiene un valor negativo, de lo que se deduce que el transporte de
521 39 Transformador variable de baja tensión 1 1
cargas se debe a los electrones. La constante de Hall del wol-
framio es positiva, esto es, los responsables de la conducción
521 50 Fuente de alimentación de c.a./c.c. de 0 a 15 V 2 2 1
son los huecos.
521 54 Fuente de alimentación de c.c. de 0 a 20 V 1 1 1
En el tercer y cuarto experimento se estudia la dependencia de
562 11 Núcleo en U con yugo 1 1 1 1 la tensión de Hall y de la conductividad eléctrica respecto de la
560 31 Par de zapatas polares perforadas 1 1 1 1 temperatura
562 13 Bobina de 250 espiras 2 2 2 2 D = e · ( p · Bp + n · Bn)
531 090 Multímetro METRAmax 12 1 1 1 1 1
en muestras de germanio dopado. Bajo el supuesto que después
300 41 Varilla de soporte, 25 cm 1 1 1 1 del dopado una de las concentraciones n o p pueda ser despre-
301 01 Mordaza múltiple de Leybold 1 1 1 1 ciada, se determina las concentraciones y la movilidad de los
300 02 Base pequeña de soporte en forma de V 1 1 1 1 1 portadores de carga. En el último experimento, con fines de
501 46 Par de cables de 100 cm, rojo y azul 4 4 7 7 5
comparación se mide la conductividad eléctrica del germanio no
dopado en función de la temperatura. De los datos de la medi-
501 33 Cable de experimentación, 100 cm, negro, 2,5 mm2 2 2
ción se determina la diferencia de energía entre la banda de
Adicionalmente se requiere: valencia y la banda de conducción del germanio.
PC con Windows 3.1x ó Windows 95 1 1 1

241
Fenómenos de conducción Física del estado sólido
P 7.2.2
Conducción eléctrica en
sólidos

P 7.2.2.1 Medición de la resistencia de

un metal noble en función de
la temperatura
P 7.2.2.2 Medición de la resistencia de
un semiconductor en función
de la temperatura

Medición de la resistencia de un metal noble y la resistencia de un semiconductor en función de la temperatura

El estudio de la dependencia de la resistencia específica U res-

P 7.2.2.2 (b)
P 7.2.2.2 (a)
P 7.2.2.1(b)
P 7.2.2.1(a)
pecto de la temperatura es una simple prueba de modelos de
conductividad eléctrica de conductores y semiconductores. En No de Cat. Artículo
conductores eléctricos, U aumenta cuando la temperatura crece,
ya que los choques de los electrones casi libres de la banda de 586 80 Resistencia de metal precioso 1 1
conducción con los troncos de los átomos se hacen cada vez
586 82 Resistencia de semiconductor 1 1
más importantes. Por el contrario, en semiconductores la resis-
555 81 Horno eléctrico tubular, 230 V 1 1 1 1
tencia específica decrece con el aumento de temperatura, por-
que cada vez más electrones de la banda de valencia alcanzan 524 031 Unidad fuente de corriente 1 1 1 1
la banda de conducción y contribuyen a la conductividad. 666 193 Sonda de temperatura de NiCr-Ni 1 1 1 1
524 045 Unidad de temperatura (NiCr-Ni/NTC) 1 1 1 1
En los experimentos se mide los valores de la resistencia depen-
dientes de la temperatura en un circuito puente de Wheatstone. 524 007 CASSYpack-E 1 1 1 1
Para el registro y evaluación de los valores medidos se dispone 524 116 Medir y Evaluar con CASSY 1 1
del sistema de adquisición de datos CASSY asistido por orde- 525 036 Adquisición Universal de Datos 1 1
nador. Para la resistencia de metales nobles se verifica en buena 502 05 Caja para conexión de medidores 1 1 1 1
aproximación la relación 501 45 Par de cables de 50 cm, rojo y azul 1 1 1 1
Adicionalmente se requiere:
T PC con MS-DOS a partir de la versión 3.0 1 - 1 –
R = RU · PC con Windows 3.1x ó Windows 95 – 1 – 1
U
U = 240 K: temperatura de Debye del platino

para la región de temperatura en estudio. Para semiconductores

la evaluación deja entrever una relación de la forma
WE
–
R“e 2kT

J
k = 1,38 · 10–23 : constante de Boltzmann
K
con la diferencia de energía entre bandas WE = 0,48 eV.

242
Física del estado sólido Fenómenos de conducción
P 7.2.3
Fotoconductividad

P 7.2.3.1 Registro de la curva caracterís-

tica corriente-tensión de una
fotorresistencia de CdS
P 7.2.3.2 Determinación de la
sensibilidad espectral de una
fotorresistencia de CdS

Determinación de la sensibilidad espectral de una fotorresistencia de CdS

La fotoconducción es el aumento de conductividad eléctrica D

P 7.2.3.2
P 7.2.3.1

No de Cat. Artículo en un sólido por absorción de luz. En CdS por ej. la energía
absorbida permite la transición de los electrones activadores
578 02 Fotorresistencia STE, LDR 05 1 1 hacia la banda de conducción y el cambio de carga de trampas
460 21 Soporte para elemento de conexión 1 1
bajo la formación de huecos en la banda de valencia. Al aplicar
una tensión U fluye una fotocorriente IF.
450 60 Carcasa de lámpara 1 1
450 51 Bombilla de 6 V/30 W 1 1
El objetivo del primer experimento es la relación entre la foto-
corriente IF y la tensión U para una intensidad de iluminación
562 73 Transformador de 6 V~,12 V~/30 VA 1
constante Fe, así como entre la fotocorriente IF e intensidad de
460 20 Condensador asférico 1 1 iluminación Fe para una tensión constante en una fotorresisten-
472 40 Par de filtros de polarización 1 cia de CdS.
460 08 Lente, f = + 150 mm 1 2
En el segundo experimento, para una tensión constante U se
460 32 Banco óptico con perfil normal, 1 m 1 1 registra la fotocorriente IF de la fotorresistencia de CdS en el
460 34 Riel adicional, 0,5 m, con charnela y escala graduada 1 rango de longitudes de onda de 400 a 1000 nm, normada a una
460 352 Jinetillo, H = 90 mm / B = 50 mm 5 6+1* corriente de fotones N(Ö) constante, y se le compara también con
460 351 Jinetillo, H = 60 mm / B = 50 mm 1 la distancia entre bandas del CdS. A partir del límite de onda
460 14 Rendija variable 2
larga de la curva medida se determina la energía del activador.
Un espectrómetro de prisma selecciona la longitud de onda Ö del
468 30 Filtro de luz de Hg, amarillo 1*
espectro de una lámpara incandescente, con la cual se irradia la
468 31 Filtro de luz de Hg, verde 1*
fotorresistencia durante la medición. La corriente de fotones N(Ö)
468 32 Filtro de luz de Hg, azul 1* medida de la lámpara incandescente se calcula a partir de la
468 33 Filtro de luz de Hg, violeta 1* capacidad de radiación espectral F(Ö).
460 22 Soporte con muelles 1*
521 65 Fuente de alimentación para tubos de 0 a 500 V 1 * Adicionalmente se recomienda

531 28 Multímetro analógico digital METRAHit 14 S 1 1

P 7.2.3.2
P 7.2.3.1

531 30 Multímetro analógico digital METRAHit 18 S 1 1

No de Cat. Artículo
578 62 Elemento fotoeléctrico STE, BPY 47 1
451 15 Lámpara de mercurio de alta presión 1 529 031 Transductor de desplazamiento 1
451 19 Portalámpara E 27 sobre vástago 1 340 85 Juego de 6 pesas, cada una de 50 g 1
451 30 Bobina universal de reactancia 230 V, 50 Hz 1 309 48 Sedal, 10 m 1
557 36 Pila termoeléctrica de Moll 1 300 02 Base pequeña de soporte en forma de V 1
532 13 Microvoltímetro 1 300 41 Varilla de soporte, 25 cm 1
465 32 Prisma de vidrio Flint 1 301 01 Mordaza múltiple de Leybold 1
460 25 Mesa de prisma con soporte 1 500 422 Cable de experimentación, azul, 50 cm 1
460 356 Prolongación 100 1 501 46 Par de cables de 100 cm, rojo y azul 2 2

243
Fenómenos de conducción Física del estado sólido
P 7.2.4
Luminiscencia

P 7.2.4.1 Excitación de la luminiscencia

mediante irradiación con luz
ultravioleta y con electrones

Excitación de la luminiscencia mediante irradiación con luz ultravioleta y con electrones

La luminiscencia es la emisión de luz después de ocurrida una

P 7.2.4.1
absorción de energía. La energía puede ser transferida por No de Cat. Artículo
ejemplo mediante electrones rápidos o mediante fotones, cuyas
energías son mayores que los fotones emitidos. Según el tipo de 555 214 Tubo de luminiscencia P 1
extinción se diferencia entre fluorescencia y fosforescencia: en 555 200 Portatubo P 1
el caso de fluorescencia la emisión de fotones disminuye expo-
555 204 Par de bobinas P 1
nencialmente luego de desactivar la excitación después de un
521 70 Fuente de alimentación de alta tensión, 10 kV 1
tiempo muy breve (en unos 10–8 s). En el caso de la fosfores-
cencia la extinción puede durar varias horas. 521 54 Fuente de alimentación de c.c. de 0 a 20 V 1
451 15 Lámpara de mercurio de alta presión 1
En el experimento se demuestra la luminiscencia de diferentes
cuerpos sólidos después de irradiarlos con luz ultravioleta o con 451 19 Portalámpara E 27 sobre vástago 1
electrones. Se trabaja con vanadato de itrio dopado con europio 451 30 Bobina universal de reactancia 230 V, 50 Hz 1
(rojo fluorescente, tiempo de decaimiento medio), sulfuro de cinc 469 79 Filtro para luz ultravioleta 1
dopado con plata (azul fosforescente, tiempo de decaimiento 450 60 Carcasa de lámpara 1
medio) y sulfuro de cinc dopado con plata y cobalto (amarillo 450 51 Bombilla de 6 V/30 W 1
verdoso fosforescente, tiempo de decaimiento largo). Además se
460 20 Condensador asférico 1
muestra que la radiación infrarroja acelera la extinción de la fos-
468 74 Filtro para luz infrarroja 1
forescencia.
300 11 Base cilíndrica 2
Nota: Con un espectroscopio de bolsillo se puede reconocer las
500 641 Cable de experimentación de seguridad, 100 cm, rojo 2
líneas de emisión dentro de una espectro de bandas.
500 642 Cable de experimentación de seguridad, 100 cm, azul 3
500 612 Cable de experimentación de seguridad, 25 cm, azul 1
467 02 Espectroscopio de bolsillo 1*
* Adicionalmente se recomienda

244
Física del estado sólido Fenómenos de conducción
P 7.2.5
Termoelectricidad

P 7.2.5.1 Efecto Seeback: Determinación

de la tensión termoeléctrica en
función de la diferencia de
temperaturas

Efecto Seeback: Determinación de la tensión termoeléctrica en función de la diferencia de temperaturas

Cuando dos alambres de metal con diferente energía de Fermi EF

P 7.2.5.1

No de Cat. Artículo se tocan, los electrones de uno pasan al otro. El metal con
menor trabajo de salida WA entrega electrones y es positivo. La
557 01 Juego de 3 termopares 1 transferencia termina si la tensión de contacto
590 011 Enchufe de sujeción 2 W – WA, 2
U = A, 1
532 13 Microvoltímetro 1 e
382 34 Termómetro de -10° hasta + 110 °C 1 e: carga elemental
666 767 Placa calentadora, Ø 150 mm, 1500 W 1
ya no existe. Si ambos alambres se ponen en contacto en ambos
664 104 Vaso de precipitados, 400 ml, bajo, de vidrio duro 1 extremos y ambos puntos de contacto presentan una diferencia
de temperatura T = T1 – T2, se genera una tensión eléctrica, esto
es, una tensión termoeléctrica
UT = U(T1) – U(T2),
Aquí la termotensión diferencial
dU
R= T
dT
depende de la combinación de ambos metales.
En el experimento se mide la termotensión UT en función de la
diferencia de temperatura T entre ambos puntos de contacto en
combinaciones fierro-constantán, cobre-constantán y cromo-
níquel-constantán. Uno de los puntos de contacto permanece
constante a temperatura ambiente, el otro es calentado en un
baño de agua. Para determinar la termotensión diferencial se
emplea un ajuste de recta de la forma
UT = R · T
a los valores medidos.
Tensión termoeléctrica en función de la temperatura
Arriba: cromo níquel-constantán, al medio: fierro-constantán, abajo: cobre-constantán

245
Fenómenos de conducción Física del estado sólido
P 7.2.6
Superconductores

P 7.2.6.1 Determinación de la
temperatura crítica de un
superconductor de alta
temperatura
P 7.2.6.2 Efecto Meißner-Ochsenfeld en
un superconductor de alta
temperatura

Determinación de la temperatura crítica de un superconductor de alta temperatura

En 1986 K. A. Müller y J. G. Bednorz consiguieron comprobar que

P 7.2.6.2
P 7.2.6.1
el compuesto Yba2Cu3O7 se hace superconductor a partir de No de Cat. Artículo
una temperatura de transición muy por encima de los valores
conocidos hasta entonces. Desde entonces se ha encontrado 667 552 Kit experimental para determinar la temperatura de transición 1
numerosos superconductores de temperaturas elevadas que 667 551 Kit experimental para efecto Meißner-Ochsenfeld 1
pueden ser enfriados por debajo de la temperatura de transición
524 007 CASSYpack-E 1
con nitrógeno líquido. Como todo superconductor, los supercon-
ductores de elevada temperatura no tienen resistencia eléctrica 525 036 Adquisición Universal de Datos 1

y muestran el fenómeno conocido como efecto Meißner-Och- 501 45 Par de cables de 50 cm, rojo y azul 2
senfeld en donde los campos magnéticos son desalojados fuera Adicionalmente se requiere:
de la muestra superconductora. PC con Windows 3.1x ó Windows 95 1

En el primer experimento se determina la temperatura de transi-

ción del superconductor Yba2Cu3O7. Para ello la substancia es
enfriada con nitrógeno líquido por debajo de su temperatura de
transición Tc = 92 K. En una medición de cuatro puntos se regis-
tra la caída de tensión en la muestra en función de la tempera-
tura de la misma utilizando el sistema de adquisición de datos
CASSY.
En el segundo experimento se detecta la superconductividad del
Yba2Cu3O7 con ayuda del efecto Meißner-Ochsenfeld. Un imán
de alta intensidad de campo magnético y poco peso situado
sobre la muestra, empieza a levitar siempre y cuando la muestra
se haga superconductora al enfriarla y desaloje de su interior al
campo magnético del imán permanente.

Efecto Meißner-Ochsenfeld en un superconductor de alta temperatura

246
Física del estado sólido Magnetismo
P 7.3.1
Diamagnetismo, paramag-
netismo y ferromagnetismo

P 7.3.1.1 Materiales diamagnéticos,

paramagnéticos y ferro-
magnéticos en un campo
magnético inhomogéneo

Materiales diamagnéticos, paramagnéticos y ferromagnéticos en un campo magnético inhomogéneo

Diamagnetismo es el fenómeno en el que un campo magnético

P 7.3.1.1

No de Cat. Artículo externo, en una substancia genera una magnetización que está
en contraposición al campo magnético aplicado según la regla
560 41 Aparato para diamagnetismo y paramagnetismo 1 de Lenz. Por esta razón, en las substancias diamagnéticas situa-
562 11 Núcleo en U con yugo 1
das en un campo magnético inhomogéneo actúa una fuerza en
dirección decreciente de la intensidad de campo. Las subs-
562 13 Bobina de 250 espiras 2
tancias paramagnéticas tienen momentos magnéticos perma-
560 31 Par de zapatas polares perforadas 1
nentes que son dirigidos por un campo magnético externo. Se
Fuente de alimentación de c.c. de 0 a 20 V, 6 A, por ej. genera una magnetización en dirección del campo exterior, de
521 39 Transformador variable de baja tensión 1
tal manera que las substancias son atraídas en dirección cre-
300 02 Base pequeña de soporte en forma de V 1 ciente de la intensidad del campo. Las substancias ferro-
300 41 Varilla de soporte, 25 cm 2 magnéticas adquieren una muy alta magnetización en un campo
301 01 Mordaza múltiple de Leybold 1 magnético y es mayor en varios órdenes de magnitud que el de
501 46 Par de cables de 100 cm, rojo y azul 1 las substancias paramagnéticas.
500 422 Cable de experimentación, azul, 50 cm 1 En el experimento se cuelgan tres varillas de 9 mm de largo con
diferente comportamiento magnético, fáciles de girar y situadas
en un campo magnético inhomogéneo intenso, de tal manera
que éstas son atraídas hacia el campo magnético o desplazadas
fuera del campo magnético según sus propiedades magnéticas.

Disposición de la muestra en el campo magnético

247
Magnetismo Física del estado sólido
P 7.3.2
Histéresis ferromagnética

P 7.3.2.1 Registro de la curva de la

primera imantación y la curva
de histerésis de un material
ferromagnético

Registro de la curva de la primera imantación y la curva de histerésis de un material ferromagnético

En un ferromagneto la inducción magnética

P 7.3.2.1
B = Br · B0 · H No de Cat. Artículo
Vs permeabilidad absoluta
B0 = 4S · 10–7 :
Am magnética del vacío 562 11 Núcleo en U con yugo 1

para un campo magnético creciente H alcanza un valor de satu- 562 12 Dispositivo de sujeción para el yugo 1
ración BS. El índice de permeabilidad Br del ferromagneto 562 13 Bobina de 250 espiras 2
depende de la intensidad de campo magnético H y además del 522 62 Generador de funciones S 12; de 0,1 Hz hasta 20 kHz 1
tratamiento magnético previo del ferromagneto. Por ello es usual 562 73 Transformador de 6 V~,12 V~/30 VA 1
representar la inducción magnética B en una curva de histéresis 524 007 CASSYpack-E 1
como función creciente y decreciente de la intensidad de campo
525 036 Adquisición Universal de Datos 1
H. La curva de histéresis se diferencia de la denominada nueva
524 055 Unidad Amplificador 1
curva, la cual se inicia en el origen del sistema de coordenadas
y solo puede ser medida cuando el material está completamen- 577 19 Resistencia STE, 1 Ω, 2 W 1
te desmagnetizado. 501 38 Cable de experimentación, 200 cm, negro, 2,5 mm2 1
501 33 Cable de experimentación, 100 cm, negro, 2,5 mm2 4
En el experimento una corriente I1 en la bobina primaria de un
transformador temporal lineal creciente (o decreciente) genera 501 28 Cable de experimentación, 50 cm, negro, 2,5 mm2 2

una intensidad de campo magnético Adicionalmente se requiere:

PC con Windows 3.1 ó Windows 95 1
N
H = 1 · I1
L
L: longitud efectiva del núcleo de hierro,
N1: número de espiras de la bobina primaria.
La inducción magnética respectiva B se obtiene por integración
de la tensión U2, que se induce en la bobina del secundario del
transformador:
1
B= · ∫ U2 · dt
A
A: sección transversal del núcleo de hierro
Para el control de la corriente, así como para el registro de los
valores medidos, se utiliza el sistema de adquisición de datos
CASSY asistido por ordenador. Aquí se determina la permeabili-
dad relativa Br sobre la nueva curva y sobre la curva de histére-
sis en función de la intensidad de campo magnético H.

248
Física del estado sólido Microscopia de barrido
P 7.4.1
Microscopio de efecto túnel

P 7.4.1.1 Estudio de una superficie de

grafito con un microscopio de
efecto túnel
P 7.4.1.2 Estudio de una superficie de
oro con un microscopio de
efecto túnel

Estudio de una superficie de grafito con un microscopio de efecto túnel

El microscopio de efecto túnel fue desarrollado por G. Binnig y

P 7.4.1.1-2

H. Rohrer. Este hace uso de una punta fina de metal como sonda
No de Cat. Artículo
local, que se aproxima tanto a una muestra conductora eléctri-
ca, que los electrones alcanzan la punta por efecto túnel de
554 58 Microscopio de efecto túnel 1 naturaleza mecánico-cuántica. Si entre la punta y la muestra se
Adicionalmente se requiere: aplica un campo eléctrico, entonces fluye una corriente eléctri-
PC con Windows 3.1x ó Windows 95 1 ca, la corriente túnel. Como la corriente túnel varía exponencial-
mente con la distancia, pequeñas variaciones de unos 0,01 nm
producen variaciones mensurables de la corriente túnel. La
punta está sujeta a una plataforma que puede moverse en las
tres direcciones espaciales mediante elementos de ajuste piezo-
eléctricos. Para medir la topografía de las muestras se hace un
barrido de la superficie de la muestra con la punta. Al mismo
tiempo en un circuito de control se mantiene constante y con
mucha exactitud la distancia entre la punta y la muestra. Los
movimientos de control son registrados durante el barrido y se
visualizan con un ordenador. La imagen obtenida de esta mane-
ra es una superposición de la topografía de la muestra y la con-
ductividad eléctrica de la superficie de la muestra.
En el experimento se utiliza un microscopio de efecto túnel con-
cebido para prácticas de laboratorio, que trabaja a presión nor-
mal de aire. Al inicio del experimento se elabora la punta de
medición con un alambre de platino. La muestra de grafito se
prepara arrancando el grafito con una cinta adhesiva. La mues-
tra de oro no requiere limpieza si se tiene suficiente cuidado al
manipularla. El estudio de las muestras empieza con un barrido
panorámico. Finalmente se reduce el paso para la punta de
medición hasta que se pueda reconocer claramente en la ima-
gen registrada las posiciones en conjunto de los átomos indivi-
duales de la muestra.

249