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Notas de Aplicacin

Caracterizacin de Conectores Coaxiales


Mark A. Goodberlet y James B. Mead

os conectores coaxiales pueden utilizarse en la medicin de las propiedades elctricas de circuitos de microondas (p. ej. lneas de cinta y de microcinta i), o como una interfaz permanente del circuito. Cuando se utilizan con este ltimo propsito, los conectores pueden degradar el rendimiento del circuito a menos de que sus propiedades elctricas sean caracterizadas y tomadas en cuenta durante la etapa de diseo. Una manera conveniente de caracterizar los conectores se logra empleando el modelo circuital mostrado en la Figura 1, el cual utiliza parmetros de impedancia [1] Zij, descritos por:

Z ij =

Vi para ( I k = 0, k j ) , Ij

(1)

(calibracin al nivel del dispositivo bajo prueba) [6], [7]; todos los cuales son tpicamente de implementacin ms complicada o ms costosa que el mtodo descrito a continuacin. El mtodo que aqu se propone para la caracterizacin de conectores se basa en datos medidos y es exacto en el sentido de que su formulacin terica no requiere hacer ninguna aproximacin ni suposicin. Para su implementacin, se comienza con la construccin de redes simples de microondas, cada una de las cuales consiste en una lnea de transmisin (lnea-T) terminada en ambos de sus extremos por el conector. Utilizando el circuito de la Figura 1 para representar los conectores y la lnea-T se obtiene la red de la Figura 2, donde A=Z11Z21 B=Z22Z21 C=Z21 E=Z11Z21 F=Z21 (parmetros-Z del conector), (parmetros-Z del conector), (parmetros-Z del conector), (parmetros-Z de la lnea-T), (parmetros-Z de la lnea-T). (2) (3) (4) (5) (6)

donde Vi e Ij son los voltajes y corrientes con sentido convencional tal y como se muestra en la Figura 1. Aunque es ms comn caracterizar los dispositivos de microondas empleando parmetros-S [1] Sij, hemos escogido utilizar los parmetros de impedancia debido a que simplifican la derivacin de las ecuaciones que se presentan en este artculo. Adems, la conversin entre estos dos tipos de parmetros es directa [2]. Ntese que los parmetros Zij tienen partes reales e imaginarias, ambas son funcin de la frecuencia, y que la representacin de la Figura 1 slo es vlida para dispositivos recprocos (esto es, que presentan Z12=Z21) [1], siendo ste el caso de los conectores. Entre los mtodos convencionales para determinar los parmetros Zij de un conector se cuentan el uso de simuladores tridimensionales (3-D) electromagnticos [3], el ajuste de datos medidos con modelos de circuito equivalente simples del conector [4], [5], y mtodos generalizados de desincrustacin
i

Las expresiones cerradas que relacionan los parmetros-Z de la red con los parmetros del conector (A, B, C) se derivan a continuacin. Estas expresiones, junto con mediciones de los parmetros-Z, componen un sistema de ecuaciones a partir del cual es posible encontrar una solucin para (A, B, C).

N. del T.: En ingls a estas lneas se les denomina stripline y microstrip respectivamente.
Mark A. Goodberlet y James B. Mead estn con ProSensing Inc, 107 Sutherland Rd., Amherst, MA 01002 EUA, markg@prosensing.com. Traductor: Reydezel Torres-Torres, INAOE, Mxico (reydezel@inaoep.mx)

Figura 1. Representacin de circuito equivalente para un dispositivo recproco de dos puertos.

Figura 2. Representacin de la red para la caracterizacin de conectores. Fundamento Terico La derivacin de las expresiones que relacionan los parmetros-Z de la red con los parmetros-Z del conector comienza con las siguientes observaciones a la Figura 2: 1) Debido a que una lnea-T ideal es recproca y simtrica (esto es, que presenta Z11=Z22), se deduce de la Figura 2 que slo dos bloques de impedancia, (E y F), son necesarios para modelar la lnea-T. 2) Los parmetros-Z de la lnea-T pueden ser calculados exactamente a partir de la teora de lneas de transmisin [8]. 3) Debido a que la red completa es recproca y simtrica, puede ser representada por el circuito equivalente mostrado en la Figura 3, donde: J=Z11Z21 K=Z21 (parmetros-Z de la red), (parmetros-Z de la red). (7) (8)

Figura 3. Representacin de dos puertos para la red de la Figura 2.

X = S R2 , Y = S ( F1K1 + F2 K 2 ) + 2QR ,

(16) (17) (18)

Z = Q 2 ( F1 F2 ) 2 .

Las operaciones en (9) y (10) generarn un conjunto de ocho soluciones para (A, B, C). La seleccin de la solucin apropiada y otros pasos en el procedimiento de caracterizacin del conector son discutidos a continuacin. Mtodo Experimental A continuacin se detallan los pasos para llevar a cabo el procedimiento propuesto para la caracterizacin experimental de conectores: 1) Disear y construir dos redes para la caracterizacin de conectores del tipo que se muestra en la Figura 2; cada una con una lnea-T de diferente longitud. La impedancia de la lnea-T (esto es, su ancho) debe ser la misma a la que se va a utilizar en la tarjeta donde se pretende utilizar el conector. 2) Definir los planos de referencia de fase del conector. El plano de referencia de fase para el lado coaxial de la mayora de los conectores es estndar [9]. Sin embargo, la localizacin del plano de referencia de fase para el conector del lado de la tarjeta es arbitraria (una localizacin recomendada se propone en la seccin donde se ve el ejemplo de caracterizacin). 3) Utilizar las ecuaciones conocidas [8] para calcular los parmetros-Z de la lnea-T en la red #1 y obtener (E1, F1) utilizando (5) y (6). De manera similar calcular (E2, F2) para la lnea-T de la red #2. 4) Medir los parmetros-S (en magnitud y fase) para cada red. 5) Asegurarse de que los parmetros-S medidos en 4) presentan reciprocidad y simetra estableciendo S12= S21 y S11= S22. De manera alternativa, establecer S22= S11= (S11+S22)/2 y S12= S21= (S12+S21)/2, lo cual puede tener el beneficio adicional de mejorar la exactitud de la solucin al reducir el ruido en la medicin. 6) Convertir los parmetros-S que fueron calculados en 5) a parmetros-Z y despus obtener (J1, K1) y (J2, K2) utilizando (7) y (8). 7) Usar los valores de (E1, F1) y (E2, F2) calculados en 3) junto con (J1, K1) y K2 calculados en 6) a partir de (9)(18) para obtener ocho soluciones para (A, B, C). 8) Convertir los valores de (A, B, C) calculados en 7) a parmetros-Z utilizando (2)-(4); esto da como resultado ocho soluciones para la caracterizacin del conector. 9) Identificar la solucin correcta utilizando los mtodos de seleccin que se discuten en la siguiente seccin.

Aplicando (1) al circuito de la Figura 2 se obtienen expresiones para J y K que son funciones de los parmetros del conector (A, B, C). Estas expresiones, junto con mediciones de J y K, componen un sistema de dos ecuaciones con tres incgnitas, (A, B, C). Para tener una solucin nica para (A, B, C) se requiere de una tercera ecuacin, la cual puede escribirse utilizando mediciones de una segunda red. Esta segunda red debe ser diferente a la primera, y esta diferencia se logra simplemente utilizando una lnea de transmisin de longitud diferente. En lo sucesivo, estas dos redes sern nombradas #1 y #2. Las soluciones para (A, B, C) derivadas de esta manera pueden ser escritas como:

C=

Z , Y Y + 2X 2X X

(9)

B = ( F1 + E1 + C ) F12 +

F1C 2 , K1

(10)

A = J1

C ( B + E1 ) , B + E1 + C

(11)

donde los subndices en E, F, J y K identifican a la red, y

P = ( F2 F1 ) + ( E2 E1 ) ,

(12) (13) (14)

Q = ( P 2 F12 F22 ) / 2 , R= F1 F + 2 , 2 K1 2 K 2
F1 F2 , K1 K 2

S=

(15)

10) Repetir los pasos 3-9 para cada frecuencia medida. Seleccin de la Solucin En su mayor parte, la solucin correcta para los parmetros-Z del conector puede ser identificada a partir de las ocho posibles soluciones discutidas previamente haciendo cumplir la conservacin de la energa para un dispositivo pasivo de dos puertos [1].

| S11 |2 + | S 21 |2 < 1 | S 22 |2 + | S12 |2 < 1

(19) (20)

donde el operador complejo ||2, indica la magnitud al cuadrado. Los criterios adicionales de seleccin necesarios son discutidos a continuacin. En general, las ocho soluciones pueden ser organizadas en cuatro pares. Las soluciones en un mismo par difieren slo por el signo de Z21 o equivalentemente, por una diferencia de 180 en la fase de S21 (S21). Al verificar que se cumplen (19) y (20) se eliminan tres de los cuatro pares de soluciones. La razn por la cual las soluciones posibles se reducen a un par en vez de reducirse a una sola despus de hacer dicha verificacin es la siguiente. La medicin y anlisis de microondas tpicamente confinan S21 para cualquier dispositivo en el rango [180, +180]. Con esta restriccin en mente, ntese que la fase de S21 correspondiente a la red de la Figura 2 permanece sin cambio siempre y cuando la fase de S21 para cada conector presente un cambio de 180. Esto quiere decir que una limitacin fundamental de nuestro mtodo es que la fase de S21 para el conector ser determinada con una ambigedad de 180 (esto es, con el mtodo se obtienen dos posibles soluciones para el conector). En muchas aplicaciones esta ambigedad es
TABLA 1 Especificaciones para la tarjeta de circuito impreso de microondas.
Material de la tarjeta Espesor del substrato Constante dielctrica del substrato Factor de disipacin del substrato Espesor de la capa de cobre RT-5880, Rogers Corporation 0.51 mm 2.20 +/ 0.02 0.0009 0.018 mm (1/2 oz)

irrelevante. Sin embargo, el hecho de que la diferencia entre las soluciones es grande facilita la seleccin de la solucin correcta cuando S21 es importante. Los pares de soluciones para el conector pueden numerarse (p. ej., 14). No obstante, la solucin correcta no siempre corresponder a un par con un nmero especfico. Generalmente, el procedimiento correcto para identificar la solucin correcta es mediante la aplicacin de las expresiones (19) y (20), y no basndose en la numeracin de los pares. Si se desea determinar las soluciones para varias frecuencias, es de gran ayuda en esta identificacin el corregir los datos de S21 de manera que sean continuos al representarse grficamente en funcin de la frecuencia. Una excepcin en este proceso de identificacin es cuando S21 presenta un salto de 360 como resultado de la limitacin convencional [180, +180] para expresar S21. La experiencia nos indica que en algunas ocasiones (aproximadamente 10% de las soluciones) la aplicacin de (19) y (20) eliminar slo dos de los cuatro pares de soluciones. El tercer par de soluciones puede comnmente ser eliminado por medio de la imposicin de un lmite inferior adicional al lmite superior expresado en (19) y (20). Esta nueva restriccin establece un lmite inferior para la prdida por absorcin del conector, y para el cual un valor de 1 dB (0.8 en escala lineal) resulta conveniente. Puede llegar a suceder que la aplicacin de (19) y (20) elimine los cuatro pares de soluciones. Esto comnmente es un indicativo de que: 1) la medicin de las redes de la Figura 2 no tiene la suficiente exactitud, o 2) las redes no fueron ensambladas con el debido cuidado (p. ej., los conectores no fueron soldados consistentemente en la tarjeta). El primer problema requiere de una nueva calibracin del equipo de medicin, mientras que el segundo puede ser parcialmente corregido llevando a cabo el paso 5) del mtodo experimental previamente descrito. Sin embargo, debe de hacerse el mayor esfuerzo posible para colocar los conectores en la tarjeta de forma consistente. Una buena prctica es el uso de varias redes para hacer la caracterizacin, tanto por su utilidad para verificar la validez de los resultados como tambin porque para frecuencias especficas algunas redes permiten una mejor determinacin de las soluciones que otras. Ejemplo de Caracterizacin de un Conector En el desarrollo del ejemplo se utiliz un conector SMA (subminiatura versin A) de montaje de borde (parte #142-0701881) fabricado por Johnson Components Inc., Waseca, Minnesota. Este conector fue empleado como interfase en un circuito con lneas de microcinta implementado en la tarjeta descrita en la Tabla 1 y con una frecuencia de operacin objetivo de 16 GHz. La manera en que se monta el conector en la tarjeta se describe en las Figuras 4 y 5, donde se muestran las almohadillas ii de cobre en la parte superior de la tarjeta (del lado del circuito) en la cual se suelda la carcasa del conector. Esta carcasa tambin es soldada al plano de tierra en la parte inferior de la tarjeta. Las dimensiones de las almohadillas son las recomendadas por Johnson Components para este conector y espesor de tarjeta. El plano de referencia de fase en el lado de la tarjeta donde se encuentra el conector se ubica a 5.16 mm del borde de la tarjeta (ver Figura 5). Se eligi esta distancia porque en ese punto es donde comienza la lnea de microcinta
ii

Figura 4. Conector #140-0701-881 (dorado) montado en la tarjeta de circuito de microondas (gris). Se muestra adems una lnea del circuito y las almohadillas para el montaje del conector, ambas grabadas en el cobre (verde) de la parte superior de la tarjeta.

N. del T.: En ingls denominadas pads.

Conclusiones Los conceptos discutidos en este artculo estn relacionados de manera cercana a los de desincrustacin [6]. Sin embargo, las tcnicas de desincrustacin estn dedicadas a la medicin de las propiedades elctricas del dispositivo bajo prueba (DBP); mientras que los conectores se consideran simplemente como un mecanismo de interfase que introduce errores en el proceso de medicin del DBP. Por esta razn, algunas tcnicas de desincrustacin no caracterizan explcitamente los conectores y otras transiciones, en vez de eso solamente eliminan su efecto de los datos experimentales por medio de una calibracin [7]. Otra particularidad que distingue nuestro mtodo de la desincrustacin tpica, es que utiliza Figura 5. Vista superior de la tarjeta de circuito impreso donde se aprecian la lnea de mediciones de dos puertos en vez de alimentacin del circuito (etiquetada como circuit trace) y las almohadillas para el un solo puerto. Los procedimientos montaje del conector (las dimensiones estn dadas en mm). clsicos de desincrustacin basados en mediciones de un solo puerto [6], [7] requieren el empleo de tres cargas de calibracin, las cuales tpicamente son una con terminacin en corto-circuito, una terminada en circuito abierto, y una con terminacin resistiva (50 ). Sin embargo, cuando estas cargas deben ser implementadas utilizando lneas de cinta o de microcinta, su caracterizacin elctrica es difcil, lo cual dificulta tambin el obtener resultados exactos al aplicar el mtodo de desincrustacin. Haciendo una comparacin, el mtodo que proponemos emplea secciones de lneas-T en vez de cargas, por lo que su construccin y caracterizacin es mucho ms simple y precisa. Adems, el hecho de que la red que proponemos en nuestro mtodo de caracterizacin (ver Figura 2) consta de dos conectores puestos espalda con espalda sugiere que existe alguna redundancia en las mediciones, lo que reduce el error, como ha sido demostrado [6]. El mtodo de desincrustacin reportado en [10] emplea mltiples lneas-T de manera similar a la que proponemos en este artculo. Sin embargo, dicho mtodo tiene restringida su aplicacin a los casos en que ciertas suposiciones puedan ser aplicadas (p. ej. Z11=Z22). Haciendo esta consideracin, puede notarse que el mtodo propuesto aqu puede simplificarse al uso de una sola red con lnea-T en vez de dos cuando se supone que Z11=Z22 para el conector. Sin embargo, como se presenta originalmente, nuestro mtodo no emplea este tipo de suposiciones. Figura 4. Parmetros-S obtenidos para el conector #140En resumen, se ha presentado un mtodo que se basa en 0701-881. datos medidos para la caracterizacin de conectores utilizados como interfase en las transiciones de una tarjeta de circuito con ancho de 1.57 mm e impedancia de 50 . Las lneas-T impreso a cable coaxial en el rango de microondas. La utilizadas en la implementacin de las redes de caracterizacin implementacin es directa, y las expresiones cerradas llevan a de la Figura 2 tienen tambin una impedancia de 50 y sus una rpida obtencin de los resultados. Debe tenerse en cuenta longitudes (establecidas de manera arbitraria) son 44.09 mm y que la caracterizacin de un conector es tpicamente vlida slo 40.77 mm. para un tipo de tarjeta, un espesor de tarjeta, un ancho de las La caracterizacin del conector #142-0701-881 en la tarjeta lneas del circuito, y para un patrn geomtrico de las de material RT5880 fue llevada a cabo aplicando el mtodo almohadillas de cobre utilizadas para el montaje del conector. descrito previamente. La Figura 6 muestra los parmetros-S Cuando cualquiera de estos factores cambia, una nueva resultantes en el rango de frecuencia de 12.5-18.5 GHz. caracterizacin debe llevarse a cabo.

Agradecimientos Los autores agradecen a R. Rhea (Eagleware-Elanix) y a A. Bompastore (Hittite Microwave Corp.) por la orientacin proporcionada a travs del Foro de los Fundadores de Eagleware en http://www.eagleware.com, a R. Lamoureux (ProSensing Inc.) por el apoyo tcnico, y a P. Beaulieu (IMI Inc.) por la produccin de las tarjetas de circuito de microondas. Este trabajo fue apoyado por el Centro de Sensores Avanzados y Antenas para Comunicacin de la Universidad de Massachussets bajo el contrato 05-002907. Referencias
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Mag., vol. 2.2, pp. 67, Oct. 2003. [4] J.S. Wight, O.P. Jain, W.J. Chudobiak y V. Makios, Equivalent circuits of microstrip impedance discontinuities and launchers, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 22, no. 1, pp. 4852, 1974. [5] A. Bompastore, De-embedding S-parameter data from a GENESYS connector model, presentado en 2005 MTT-S, Longbeach, CA. [6] R.F. Bauer y P. Penfield, De-embedding and unterminating, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 22, no. 3, pp. 282 288, 1974. [7] De-embedding and embedding S-parameter networks using a vector network analyzer, Agilent Technologies, Palo Alto, CA, Nota de aplicacin de Agilent 1364-1, 2004. [8] K.C. Gupta, R. Garg, I. Bahl y P. Bhartia, Microstrip Lines and Slotlines. Norwood, MA: Artech House, 1996. [9] Standard for Precision Coaxial Connectors (DC-110 GHz), IEEE Std 287-1968, 1968. [10] C. Wan, B. Nauwelaers y W. DeRaedt, A simple error correction method for two-port transmission parameter measurement, IEEE Microwave Guided Wave Lett., vol. 8, no. 2, pp. 5859, 1998.

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