LAPORAN PRAKTIKUM

ALAT DETEKSI DAN PENGUKURAN RADIASI

“Spektroskopi Gamma dengan Detektor CdTe”

Disusun Oleh:

Nama : Elsinta

NIM : 022000015

Prodi : Elektronika Instrumentasi

Dosen Pengampu:

Risky Nurseila Karthika, M.Sc.

JURUSAN TEKNOFISIKA NUKLIR

POLITEKNIK TEKNOLOGI NUKLIR INDONESIA

YOGYAKARTA

2022
 I. TUJUAN

1. Tujuan Instruksional Umum

Agar peserta mampu memahami teknik dasar pengukuran tenaga sinar gamma
menggunakan detektor CdTe.
2. Tujuan Instruksional Khusus
Agar peserta mampu melakukan kalibrasi energi, dan mengidentifikasi sumber
radioaktif

II. DASAR TEORI

Dewasa ini, telah berkembang berbagai jenis teknik yang dikermbangkan untuk
analisa sample, salah satu teknik yang sering dipergunakan adalah mempergunakan
sinar-x. X-Ray Fluorescence (XRF) dan X-Ray Diffraction (XRD), merupakan 2
metode sering dipilih XRF merupakan alat yang digunakan untuk menganalisis
komposisi kimia beserta konsentrasi unsur-unsur yang terkandung dalam suatu sample
dengan menggunakan metode spektrometri. XRF umumnya digunakan untuk
menganalisa unsur dalam mineral atau batuan. Analisis unsur di lakukan secara
kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk menganalisi jenis
unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif dilakukan untuk
menentukan konsentrasi unsur dalam bahan. Jenis spektrometri XRF ada 2 yaitu :
WDXRF (Wave Length Dispersive XRF) dan EDXRF (Energy Dispersive XRF). Jenis
XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence),
dimana dispersi sinar-x didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang
berupa kristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik memilih panjang
gelombang yang sesuai dengan hukum Bragg (PANalytical, 2009).
Spektrometer XRF adalah alat uji yang digunakan untuk analisis unsur yang
terkandung dalam bahan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif
memberikan informasi jenis unsur yang terkandung dalam bahan yang dianalisis, yang
ditunjukkan oleh adanya spektrum unsur pada energi sinar-x karakteristiknya.
Sedangkan analisis kuantitatif memberikan informasi jumlah unsur yang terkandung
dalam bahan yang ditunjukkan oleh ketinggian puncak spektrum. ((PEBN), 1993)
Prinsip kerja alat XRF adalah sebagai berikut : sinar-x fluoresensi yang dipancarkan
oleh sampel dihasilkan dari penyinaran sampel dengan sinar-x primer dari tabung sinar-
x ( X-Ray Tube), yang dibangkitkan dengan energi listrik darisumber tegangan sebesar
1200 volt. Bila radiasi dari tabung sinar-x mengenai suatu bahan maka elektron dalam
bahan tersebut akan tereksitasi ke tingkat energy yang lebih rendah, sambil
memancarkan sinar-x karakteristik. Sinar-x karakteristik ini ditangkap oleh detektor
diubah ke dalam sinyal tegangan (voltage), diperkuat oleh Preamp dan dimasukkan ke
analizer untuk diolah datanya (Rosika, Dian, & Djoko, 2007). Energi maksimum sinar-
x primer (keV) tergantung pada tegangan listrik (kVolt) dan kuat arus ( 𝜇 Ampere).
Fluoresensi sinar-x tersebut dideteksi oleh detektor SiLi. Pada gambar 1 ditunjukkan
skema analisis sistem menggunakan DX-95. ((PEBN), 1993).

Gambar 1. Skema Spektroskopi XRF DX-95 (PEBN), 1993)

Energi radiasi yang memasuki bahan semikonduktor akan diserap oleh bahan,
dan memberikan energi yang cukup, sehingga beberapa electron dalam kristal
berpindah dari pita valensi ke pita konduksi, sehingga menyisakan hole. Pasangan
elektron dan hole ini seperti juga pasangan ion dalam zat cair atau gas, akan bergerak
apabila ada beda tegangan, seperti ion positif dan ion negatif. Ingat bahwa muatan
positif dalam bahan semikonduktor pada kenyataannya tidak bergerak. Yang
sebenarnya terjadi adalah bahwa hole-hole dalam kristal akan diisi oleh elektron-
elektron tetangganya, elektron-elektron yang bergerak ini pun akan meninggalkan/
membuat hole-hole baru di tempatnya semula. Hal ini menyebabkan seolah-olah hole
itu bergerak.
Detektor semikonduktor terdiri atas bahan tipe–n dan tipe–p seperti ditunjukkan
pada Gambar 1a. Semikonduktor tipe–n dihubungkan dengan kutub positif tegangan
listrik, sedangkan semikonduktor tipe–p dihubungkan dengan kutub negatif tegangan
listrik. Hal ini menyebabkan pembawa muatan positif akan tertarik ke kutub negatif
(atas), dan pembawa muatan negatif akan tertarik ke kutub positif (bawah). Hal ini
menyebabkan timbulnya lapisan kosong muatan (depletion layer) seperti ditunjukkan
pada Gambar 1b. Lapisan kosong muatan ini sama dengan halnya volume sensitif pada
ruangan dalam kamar ionisasi
 Bila ada radiasi pengion memasuki daerah ini, akan terbentuk pasangan “ion-
ion” baru, yaitu elektron dan hole yang masing-masing akan bergerak ke kutub positif
dan kutub negatif. Tambahan elektron dan hole inilah yang akan menyebabkan
terbentuknya pulsa atau arus listrik. Jadi pada detektor ini, energi radiasi diubah
menjadi energi listrik. Dalam detektor CdTe akan dihasilkan sepasang elektron dan hole
untuk tiap energi 4,43 eV. Pada Gambar 2 ditunjukkan sprektrum serta FWHM dan
besaran energy pada masing maisng peak dalam Am-241 yang dicacah dengan detektor
CdTe.
Detektor CdTe merupakan detektor semikonduktor. Detektor ini mempunyai
beberapa karakteristik keunggulan yaitu lebih effisien dibandingkan dengan detektor
isian gas, karena terbuat dari zat padat, serta mempunyai resolusi yang lebih dibanding
dengan detektor sintilasi. Secara skema detektor CdTe ditunjukkan pada Gambar 2.

Gambar 2. Sistem detektor CdTe

Sistem detekktor CdTe Sinar X dan sinar gamma berinteraksi dengan atom
CdTe untuk membentuk pasangan elektron dan hole untuk setiap 4.43 ev energi yang
hilang dari CdTe. Selain bergantung pada energi radiasi yang datang, kehilangan energi
ini juga didominasi oleh adanya efek fotolistrik dan hamburan Compton. Bentuk
spektrum keluaran dari interaksi radiasi Co 57 terhadap detektor CdTe ditunjukkan
pada Gambar 3.

Gambar 3. Spektrum Co 57
Detektor CdTe merupakan detektor yang dibuat dari bahan Cadmium dan
Tellurium. Seperti halnya detektor semikonduktor lainnya, detektor ini bekerja
berdasarkan interaksi sinar-X atau sinar- dengan atom-atom CdTe yang kemudian
menghasilkan sebuah pasangan elektron-hole untuk setiap energi sebesar 4,43 eV.
Medan listrik dari luar digunakan untuk memisahkan pasangan elektron-hole sebelum
mereka bergabung kembali, selain itu menyebabkan elektron bergerak menuju anoda
dan hole menuju katoda, sehingga terkumpul muatan pada elektroda dan menghasilkan
isyarat. Melalui proses pengolahan dan analisa tinggi pulsa akhirnya isyarat tersebut
dapat dicacah dan ditampilkan bentuk spektrumnya. Sruktur detektor CdTe seperti
ditunjukkan pada Gambar 4.

Gambar 4. Struktur Detektor CdTe

Radiasi emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh
detektor. Detektor menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi impuls
elektrik. Amplitudo dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan energi dari foton
– foton yang diterima detektor. Impuls kemudian menuju sebuah perangkat yang
dinamakan MCA (Multi-Channel Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut.
Sehingga akan terbaca dalam memori komputer sebagai channel. Channel tersebut yang
akan memberikan nilai spesifik terhadap sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini,
membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun keakuratan berkurang (Gosseu, 2021)
Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan X-Ray
yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom
pada sampel terkena sinar berenergi tinggi (X-Ray). Berikut adalah penjelasan prinsip
kerja XRF berdasarkan efek fotolistrik.

Gambar 5. (1) Elektron Tereksitasi Keluar (2) Pengisian Kekosongan

Elektron (3) Pelepasan Energi (4) Proses analisis data (Sumantry, 2002)
1) X-Ray ditembakkan pada sampel, jika selama proses penembakan X-Ray mempunyai
energi yang cukup maka elektron akan terlempar (tereksitasi) dari kulitnya yang lebih
dalam yaitu kulit K dan menciptakan vacancy atau kekosongan pada kulitnya,
ditunjukkan pada gambar 1.
2) Kekosongan tersebut mengakibatkan kondisi yang tidak stabil pada atom. Untuk
menstabilkan kondisi maka elektron dari dari tingkat energi yang lebih tinggi misalnya
dari kulit L dan M akan berpindah menempati kekosongan tersebut, seperti yang
ditunjukkan pada gambar 2. Pada proses perpindahan tersebut, energi dibebaskan
karena adanya perpindahan dari kulit yang memiliki energi lebih tinggi (L/M) kedalam
kulit yang memiliki energi paling rendah (K). Emisi yang dikeluarkan oleh setiap
material memiliki karakteristik khusus.
3) Proses tersebut memberikan karakteristik dari X-Ray, yang energinya berasal dari
perbedaan energi ikatan antar kulit yang berhubungan. X-ray yang dihasilkan dari
proses ini disebut X-Ray Fluorescence atau XRF (Gambar 3).
4) Proses untuk mendeteksi dan menganalisa X-Ray yang dihasilkan disebut X-Ray
Fluorescence Analysis. Penggunaan spektrum X-Ray pada saat penyinaran suatu
material akan didapatkan multiple peak (puncak ganda karena adanya K𝛼 dan K𝛽 )
pada intensitas yang berbeda. Model yang lain yaitu alfa, beta, atau gamma dibuat untuk
menandai X-Ray yang berasal dari elektron transisi dari kulit yang lebih tinggi. K
dihasilkan dari transisi elektron dari kulit L ke kulit K dan X-Ray K𝛽 dihasilkan dari
transisi elektron dari kulit M menuju kulit K, seperti gambar berikut:

Gambar 6. Terbentuknya K-alpha dan K-Beta (Sumantry, 2002)

Oleh karena energi setiap atom terdiri dari energi pada kulit atom K, L, M dan
seterusnya maka energi yang diambil untuk analisis adalah energisinar-X yang
dihasilkan oleh salah satu kulit atom tersebut. Pada pengoperasian alat X-Ray
Fluoresence (XRF) diperoleh bahwa rentang energy sinar-X pada peralatan adalah 5 –
50 keV. Oleh karena itu, untuk menganalisis atom U harus diambil pada energi kulit L
(13,61 keV) karena energi kulit K sangat besar (97,13 keV) dan berada di luar
kemampuan alat. Analisis menggunakan alat X-Ray Fluoresence (XRF) akan
 menghasilkan suatu spektrum yang menunjukkan kandungan unsur-unsur pada tingkat
energi tertentu sesuai dengan orbital yang mengalami kekosongan elektron dan
pengisian elektron dari orbital selanjutnya seperti yang ditunjukkan pada gambar
dibawah (Masrukan, 2008)

Gambar 7. Kandungan unsur-unsur pada tingkat energi tertentu 9Sumantry,

2002)

III. ALAT DAN BAHAN

1. Sumber radiasi yang digunakan adalah Am-241

2. Detektor CdTe
3. Software
4. Power supply
5. Preaplifier & amplifier
6. MCA

IV. KESEHATAN DAN KESELAMATAN KERJA

1. Dilarang makan, minum selama praktikum berlangsung.

2. Hindari kontak langsung dengan sumber radioaktif, gunakan pinset/alat sejenisnya
untuk memegang sumber
3. Pastikan sambungan sistem sudah benar dan tegangan tinggi untuk detektor sesuai yang
dibutuhkan
V. PROSEDUR

1. Siapkan bahan dan peralatan yang dibutuhkan.

2. Periksa sambungan sistem seperti ditunjukkan pada Gambar 8.
3. Masukkan kabel power spektrometer dan PC ke jala-jala PLN kemudian hidupkan.
4. Letakkan sumber radioaktif di depan detektor dengan jarak sesuai kebutuhan.
5. Atur gain amplfier , ADC ( jumlah saluran, LLD & ULD), waktu cacah (real time atau
live time) sesuai kebutuhan.
6. Jalankan akuisisi dan tunggu hingga selesai. 7. Catat data-data yang diperlukan dan
masukkan dalam tabel

VI. LANGKAH KERJA

4.1. PERCOBAAN I : IDENTIFIKASI SPEKTRUM GAMMA

1. Letakkan sumber Am-241 sedekat mungkin dengan detektor
2. Jalankan akuisisi dan tunggu hingga selesai.
3. Catat nomor saluran untuk puncak-puncak yang muncul
4. Tentukan FHWM pada daerah masing-masing dengan cara set ROI. Catat nomor
saluran puncak, FWHM, cacah peak area gross, cacah peak area net
5. Simpan file dalam folder

Gambar 8. Blok Diagram Spektrometri Gamma dengan Detektor CdTe

4.2. PERCOBAAN II: RESOLUSI ENERGI GAMMA
1. Buka file untuk sumber Am-241
2. Hitung resolusi detektor R dengan persamaan berikut :
∆𝑬
𝑹= × 𝟏𝟎𝟎% (𝟏)
𝑬
Dimana:
ΔE :lebar setengah puncak maksimum (FWHM)
E : nomor saluran puncak foto
3. Ulangi langkah 1 dan 2 untuk puncak-puncak lainnya.
4. Buatlah grafik energi vs resolusi.

4.3. Percobaan III : Kalibrasi Energi Gamma

1. Jalankan kalibrasi secara manual dengan memasukkan data energy dan nomor saluran
puncak untuk sumber Am-241 dan sumber-X
2. Tetapkan energi sumber-X berdasarkan nomor saluran puncaknya
3. Dari perolehan energy sumber-X tersebut cari nama unsur dalam tabel energi
4.4. Percobaan III : Kalibrasi Energi Gamma
1. Hitung efisiensi detektor untuk sumber Am-241 pada masing-masing puncaknya
dengan persamaan seperti berikut :
∑ 𝑼𝟏 − ∑ 𝑼𝒃 𝟏
𝑬𝒑 = (𝟐)
𝒕 𝛀𝒇𝑨𝑼𝟏
dimana :
Ep :efisiensi detektor
T :waktu pencacahan (s)
U1 :intensitas cacah total di bawah puncak
Ub :intensitas latar pada waktu pencacahan yang sama dengan U1
F :fraksi peluruhan gamma
AU1 :aktivitas sumber (dps)
Ω :faktor geometri :
𝒅
𝛀 = 𝟐𝝅 (𝟏 − ) (𝟑)
√𝒅𝟐 + 𝒓𝟐
D :jarak detektor ke sumber (cm)
R :jari-jari detektor (cm)
 2. Catat parameter lain yang akan digunakan untuk menghitung efisiensi detektor seperti
jarak sumber ke detektor, diameter detektor, aktivitas sumber, fraksi peluruhan gamma
dan sebagainya.
3. Buat grafik energi vs efisiensi.

VII. ANALISIS DAN PERHITUNGAN DATA

Setelah dilakukan rangkaian kerja menurut petunjuk praktikum, berikut ini data
yang didapatkan oleh praktikan:

Sumber radioaktif : Am-241

7.1. Kalibrasi Langsung (Menggunakan Sumber Standar)

Tabel 1. Data Pengamatan Spektrum Energi Gamma Sebelum Kalibrasi

Isotop Energi (nsec)

Am-241 760
Am-241 972
Am-241 1141
Am-241 (𝛾) 1445
Am-241(𝛾) 3262
(tangkap layer speltrum energi sumber radiasi)

Gambar 9. Spektrum energi gamma sumber radiasi Am-241 (sebelum

kalibrasi)
7.2. Kalibrasi Spektrum Energi Gamma

Tabel 2. Data Kalibrasi spektrum energi gamma

Isotop Peak energi standar Energi setelah

Am-241 (KeV) kalibrasi (KeV)
Am-241 13.9 13.9202
Am-241 17.8 17.7294
Am-241 20.8 20.8661
Am-241 (𝛾) 26.4(𝛾) 26.3844
Am-241 (𝛾) 59.5 (𝛾) 59.5003

Perhitungan Persentase Nilai Error

1) Energi Am-241 13,9 keV
nilai standar - nilai praktikum
Kesalahan % = [ ] × 100%
nilai standar
13,9 - 13,9202
Kesalahan % = [ ] × 100% = 0,0862%
13,9

2) Energi Am-241 17,8 keV

nilai standar - nilai praktikum
Kesalahan % = [ ] × 100%
nilai standar
17,9 - 17,7294
Kesalahan % = [ ] × 100% = 0,0095%
17,9

3) Energi Am-241 20,8 keV

nilai standar - nilai praktikum
Kesalahan % = [ ] × 100%
nilai standar
20,8 - 20,8661
Kesalahan % = [ ] × 100% = 0,0032%
20,8

4) Energi Am-241 26,4 (ɤ) keV

nilai standar - nilai praktikum
Kesalahan % = [ ] × 100%
nilai standar
26,4 - 26,3844
Kesalahan % = [ ] × 100% = 0,017%
26,4

5) Energi Am-241 59,9 (ɤ) keV

nilai standar - nilai praktikum
Kesalahan % = [ ] × 100%
nilai standar
 59,9- 59,5003
𝐾𝑒𝑠𝑎𝑙𝑎ℎ𝑎𝑛 % = [ ] × 100% = 5 × 10-6 %
59,9

(tangkap layer speltrum energi sumber radiasi)

Gambar 10. Spektrum energi gamma sumber radiasi Am-241 (sesudah

kalibrasi)

7.3. Perhitungan Resolusi Detektor XRF CdTe XR-100T

Tabel 3. Data resolusi detector XRF CdTe XR-100T

Isotop FWHM (KeV) Energi (KeV) Resolusi

𝑭𝑾𝑯𝑴
× 𝟏𝟎𝟎%
𝑬𝒏𝒆𝒓𝒈𝒊
Am-241 0.792 ± 0.012 13.9202 5.69 %
Am-241 1.172 ± 0.014 17.7294 6.61 %
Am-241 1.134 ±0.025 20.8661 5.43 %
Am-241 (𝛾) 0.803 ± 0,02 26.3844 3.04 %
Am-241 (𝛾) 0.861 ± 0.0047 59.5003 1.44 %
Rata-rata Resolusi 4.44 %
VIII. PEMBAHASAN
Dalam praktikum Alat Deteksi dan Pengukuran Radiasi ini, praktikan
melakukan percobaan serta pengamatan tentang “Spektroskopi Gamma dengan CdTe”.
Pada percobaan kali ini dilakukan 3 percobaan, yaitu mengamati bentuk spektrum
energi gamma, menetukan kalibrasi spektrum energi gamma, dan menentukan resolusi
detektor XRF CdTe XR-T. Praktikum ini menggunakan sumber radioaktif yaitu Am-
241. Praktikum ini bertujuan untuk memahami teknik dasar pengukuran tenaga sinar
gamma menggunakan detektor CdTe, mengetahui cara kalibrasi energi, dan
mengidentifikasi sumber radioaktif serta menentukan resolusi detektor XRF CdTe XR-
100T. Adapun alat dan bahan yang digunakan yaitu detektor CdTe XR-100T, sumber
radioaktif nya yaitu Am-241, software, MCA, power supply, preamplifier & amplifier.
Prinsip kerja detektor CdTe adalah ketika sumber radiasi gamma berinteraksi
dengan bahan germanium murmi maka akan terjadi perpindahan elektron dari pita
valensi menuju pita konduksi, sehingga terjadi kekosongan pada pita valensi yang
disebut dengan hole, selanjutnya membentuk pasangan elektron-lubang (electron-hole
pair). Medan listrik dari luar digunakan untuk memisahkan pasangan elektron-hole
sebelum mereka bergabung kembali, selain itu menyebabkan elektron bergerak menuju
anoda dan hole menuju katoda, sehingga terkumpul muatan pada elektroda dan
menghasilkan isyarat. Melalui proses pengolahan dan analisa tinggi pulsa akhirnya
isyarat tersebut dapat dicacah dan ditampilkan bentuk spektrumnya.
Pada percobaan pertama, praktikan mengamati bentuk energi gamma. Sebelum
itu, dilakukan setting terhadap PC ynag sudah terkoneksi berdasarkan diagram
spektrometer diatas. Sumber radiasi diletakkan 1 cm sejajar dnegan detektor CdTe.
Sumber radiasi tersebut di berikan penahan berupa timbal (pb) walaupun radiasinya
kecil untuk terus mematuhi kesehatan dan keselamatan kerja. Setlah perangkatnya
sudah terhubung dengan baik, pratikan menjadi operator supaya detektor akan
mencacah energi yang melewati depan counter dan untuk waktu cacahnya di setting
selama 120. Setelah selesai mencacah, maka akan keluar spektrum pada monitor.
Sebelum menentukan puncak, praktikan terlebih dahulu mencari referensi untuk 5
puncak dengan sumber Am-241 ini. maka dapat ditentukan puncak nya terdapat 5 peak
atau disebut dengan multiple peak karena lebih dari 2 energi diantaranya 3 energi Am-
241 dan 2 energi Gamma Am-241 dengan nilai energi satuan (nsec) berturut-turut
sebesar 951, 1212 1425 1797, 4084.
 Pada percobaan kedua, praktikan melakukan kalibrasi terhadap energi gamma.
Dari spectrum tersebut, diperoleh 4 photopeak yang masih dalam satuan “nsec”.
Kalibrasi tersebut dilakukan pada MCA dengan menyamakan puncak-puncak spektrum
berdasarkan percobaan pertama dengan data standar Am-241. Setelah dilakukan
pengkalibrasian, barulah satuan yang digunakan menjadi “keV”. Namun, setelah
dibandingkan antara hasil energi yang diperoleh manual oleh praktikan dengan hasil
energy yang terkalibrasi terdapat perbedaan. Kemudian, praktikan melakukan setting
pada Region Of Interest (ROI) dari kelima peak tersebut agar energinya terkalibrasi
yang kemudian nantinya dibandingan hasil dari percobaan dan percobaan kedua ini
untuk melihat apakah terjadi keselahan dan berapa persen error yang didapatkan.
Berdasrkan perhitungan diatas dapat dilihat bahwa error dari kelima peak tersebut
sangat kecil dengan nilainya berturut- turut 0,086%; 0,0095%; 0,0032%; 0,017%; dan
5 x 10-6%. Maka, kedua percobaan ini sudah berjalan dengan baik dan mengikuti
langkah kerja yang diberikan oleh asisten praktikum dan alat-alat yang digunakan juga
memnuhi standar karena persen error yang didapatkan sangat kecil sekali.
Pada percobaan ketiga ini, praktikan melakukan perhitungan resolusi detektor
XRF CdTe XR-100T dengan cara membandingkan nilai FWHM (Full Width Half
Maximum) yang di bagi dengan energi standar dari sumber Am-241.

Gambar 11. Tampilan nilai FWHM

Nilai FWHM diperoleh pada Single Gaussian Peak yang didapatkan saat
dilakukan setting ROI. Berdasarkan data yang sudah lengkap pada tabel 3 maka
diperoleh nilai resolusi kelima peak tersebut berturut-turut sebesar 5,69%; 6,61%;
5,43%; 3,04%; dan 1,44% sehingga diperoleh nilai rata-rata resolusi kelima peak
tersebut yaitu 4,44%. Berdasarkan teori, jika nilai resolusi semakin kecil maka kerja
dari suatu detektor akan semakin baik untuk membedakan kelima puncak yang
 berdekatan. Nilai FWHM yang didapatkan juga kurang dari 1,8 karena menurut teori
untuk dtektor CdTe yang memiliki nilai FWHM kurang dari 1,8 maka detektor tersebut
memiliki resolusi yang baik.

IX. KESIMPULAN

Setelah dilakukan percobaan praktikum Spektroskopi Gamma dengan CdTe dapat

disimpulkan bahwa:

1. Teknik pengukuran tenaga sinar gamma menggunakan detektor CdTe yang menangkap
energi AM-241 dari sumber yang diletakkan di depan detektor. Kemudia, ditangkap
oleh bahan semikonduktor dan menyebabkan pembentukan pulsa yang dikuatkan dan
dianalisis pada MCA untuk menghasilkan spektrum yang nantinya tertampil di monitor.
2. Kalibrasi energi setelah persobaan pertama/ pencacahan pertam telah dilakukan.
Puncak energi yang tertampil nantinya di bandingkan dengan energi yang sudah standar
sesuai dengan data Am-241.
3. Spektrometer Am-241 menghasilkan spektrum sesuai dengan terosi yang ada. Sehingga
diperoleh resolusi yang cukup baik.

X. DAFTAR PUSTAKA

Karthika, Risky N. 2020. Petunjuk Praktikum Alat Deteksi dan Proteksi Radiasi
“Spektroskopi Gamma dengan CdTe”. Yogyakarta : Poltek-Nuklir.
Amptek Inc. 2008. Operating Manual XR-100T CdTe X-Ray Detektor and Preamplifier
With PX4 Digital Pulse Processor and Power Supply. Amptek Inc.USA. Batan.
www.batan.go.id/pusdiklat/elearning/Pengukuran_Radiasi/_ private/ Prinsip%
20Dasar .pdf. diakses tanggal 24 Juni 2022
Cember, Herman. 2000. Introduction to Health Phyisics Fourth Edition. Mc
Graw Hill:New York
Sordo,Stefano Del. 2009. Progress in the Development of CdTe and CdZnTe
Semiconductor Radiation Detektor For Astrophysical and Medical
Applications.Sensors.3491-3526.
Gosseau,D., 2009,Introduction to XRF Spectro scopy, (Online),
http://users.skynet.be/diakses tanggal 24 Juni 2022
XI. LAMPIRAN