9 Conversion AD v6 0PW

Instrumentacin Electrnica
Tema 9
CONVERSIN ANALGICO/DIGITAL
Universidad de Burgos. Area de Tecnologa Electrnica.
Ignacio Moreno Velasco Versin 6.0
Ignacio Moreno Velasco
Area de Tecnologa Electrnica. Universidad de Burgos
INDICE
1.2.2.1.INTRODUCCIN ____________________________________________________________________________ 3 CONVERSIN A/D___________________________________________________________________________ 4 PRINCIPIOS DE LA CONVERSIN A/D ______________________________________________________________ 4 Funcin de transferencia ideal_____________________________________________________________ 4 Cuantificacin__________________________________________________________________________ 6
2.1.1.2.1.2.2.2.-
PARMETROS ESTTICOS ______________________________________________________________________ 7 Error de offset__________________________________________________________________________ 7 Error de ganancia_______________________________________________________________________ 8 Alinealidad ____________________________________________________________________________ 8
2.2.1.2.2.2.2.2.3.2.3.-
MUESTREO ________________________________________________________________________________ 11 Muestreo ideal ________________________________________________________________________ 11 Velocidad de muestreo __________________________________________________________________ 12 Muestreo-retencion (Sample & Hold) ______________________________________________________ 15 Submuestreo __________________________________________________________________________ 17
2.3.1.2.3.2.2.3.3.2.3.4.2.4.2.5.-
PARMETROS DINMICOS _____________________________________________________________________ 19 TIPOS DE CONVERTIDORES A/D_________________________________________________________________ 25 Convertidor paralelo (Flash) _____________________________________________________________ 25 Aproximaciones sucesivas _______________________________________________________________ 27 ADC por integracin ___________________________________________________________________ 29 Convertidor tensin-frecuencia ___________________________________________________________ 30 Comparacin de los A/D ________________________________________________________________ 31
2.5.1.2.5.2.2.5.3.2.5.4.2.5.5.-
Apuntes de Instrumentacin electrnica (ver. 6.0)
3 I.T.I. Electrnica
1.- Introduccin
Diagrama de bloques de un sistema genrico con procesamiento digital de seal:
En captulos anteriores hemos tratado los primeros bloques del diagrama que acondicionan la seal, en el ejemplo amplificacin y filtrado. En este captulo trataremos los siguientes bloques anteriores al procesado digital de seal, es decir, Sample & Hold y conversin A/D.
3 I.T.I. Electrnica
2.- Conversin A/D
Diagrama de bloques de un sistema de adquisicin de datos multicanal conectable a un ordendor.
2.1.- PRINCIPIOS DE LA CONVERSIN A/D

2.1.1.FUNCIN DE TRANSFERENCIA IDEAL
En la imagen tenemos el caso genrico de un ADC de 3 bits:
Observar como la mxima tensin de entrada medible es 7/8 FS y no FS. (FS: Fondo de escala).
RESOLUCIN
La resolucin viene dada por el peso del bit menos significativos (LSB), que corresponde al cambio de seal analgica que se produce entre dos cdigos adyacentes:
LSB =
Valor del fondo de escala 2n de bits
(Ec. 9.1)
3 I.T.I. Electrnica
En el ejemplo de la imagen, si tenemos un intervalo de 10 voltios:
ADC 3 bits
LSB 001 - 000 Valor mximo 111 Valor mitad 100 Valor mnimo 000
UNIPOLAR 0 - 10 V = FS / 2n = 10/8 = 1,25 V = ((2 -1)/ 2 ) FS = FS 1 LSB = 8,75 V (FS/2) = 10/2 = 5 = 1002 0V 0V -5 V
n n
BIPOLAR -5 V y 5 V IDEM = 1,25 V 5 V 1 LSB = 3,75 V
PROPUESTO 9.1: Realizar una tabla anloga para una resolucin de 8 bits.
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2.1.2.-
CUANTIFICACIN
Cuando la tensin analgica a convertir no se corresponde exactamente con los valores de los cdigos disponibles, se debe decidir por aproximar al valor ms cercano. Esa diferencia recibe el nombre de error de cuantificacin.
Por ejemplo, si en la imagen tenemos una tensin de entrada de 13 V el cdigo de salida ser 001, cometiendo un error de +03 V.
En la imagen podemos observar el error de cuantificacin de forma de grfica.
Error de cuantificacin
Observar que el valor medio del error de cuantificacin es cero. Sin embargo podemos realizar una estimacin del error hallando su valor cuadrtico medio, es decir, su valor eficaz. El valor RMS del error viene dado por el factor Vp/Vrms de la seal en diente de sierra, que es 3:
ruido V rms
1 LSB v 1LSB = P = 2 = 0,289 LSB 3 3 12
(Ec. 9.2)
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2.2.- PARMETROS ESTTICOS

Cuando la seal a convertir procede de fenmenos que varan lentamente en el tiempo, y por tanto puede considerarse DC, la precisin del ADC puede evaluarse analizando sus parmetros estticos. Pero cuando la seal a convertir vara rpidamente, debemos fijarnos en otros parmetros que permiten analizar las prestaciones de un ADC. Las prestaciones en DC sern, en general, mejores que en AC.
2.2.1.-
ERROR DE OFFSET
Es el valor de entrada analgica que hay que aplicar para que la salida sea el cdigo 0.
En el ejemplo, el error cometido es de 1 LSB, que para un fondo de escala de 10V se corresponde a 125 + 125/4 = 1,56 V Este error puede corregirse mediante la calibracin previa al uso.
Supongamos que el ADC del ejemplo es de 12 bits con un intervalo de 2,5 V. El error de offset sera 1,25 * (2,5 V/4096) = 763 V. Que expresado en porcentaje es 100 (1,25/4096) = 0,03 %
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2.2.2.-
ERROR DE GANANCIA
Grficamente, cambios en la pendiente de la curva de transferencia.
Es la diferencia entre el valor mximo nominal y el valor mximo real de la entrada analgica, supuesto cero el error de offset. Es decir una variacin de la pendiente respecto a su valor ideal. En el ejemplo:
Error ganancia = valor mx. real - valor mx. nominal = 6 LSB 7 LSB = 3/4 LSB.
Este
error
puede
corregirse
mediante
la
calibracin previa al uso.
PROPUESTO 9.2: Cul es el fondo de escala del convertidor de la figura anterior?
2.2.3.-
ALINEALIDAD
De forma intuitiva podemos decir que la anchura de los escalones difiere de la ideal.
Alinealidad integral (INL)
(INL: Integral Non-Linearity) Es la desviacin de los valores reales respecto de la curva de transferencia ideal. Se especifica la mayor de ellas, por lo que en la imagen, el INL es de LSB. Este error es difcil corregirlo mediante la calibracin previa al uso.
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Alinealidad diferencial (DNL)

Es la diferencia entre la anchura del escaln real y la del ideal. En la figura el error DNL (Differential Non-Linearity) es de + LSB, y de LSB.
Precisin absoluta Error
Unifica todos los errores anteriores adems del error de cuantificacin. Se define como la mxima diferencia entre un valor analgico y el valor central del escaln ideal.
Ejemplo de especificaciones: MAXIM MAX197

PARAMETER Resolution Integral Nonlinearity Differential Nonlinearity Offset Error Gain Error (Note 2) Gain Temperature Coefficient (Note 2) Unipolar Bipolar Unipolar Bipolar Unipolar Bipolar 3 5 CONDITIONS MIN 12 1/2 1 3 5 7 7 TYP MAX UNITS Bits LSB LSB LSB LSB LSB LSB ppm/C
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Cdigos perdidos
En las especificaciones de los fabricantes, es habitual leer la frase No missing codes, es decir no hay prdida de cdigos. En la imagen podemos observar como un error de linealidad demasiado grande consigue que el cdigo 100 no llegue a darse en la salida: es lo que se llama missing code.
Ejemplo: Funcin de transferencia con un cdigo perdido En la figura anterior, se puede ver el cdigo perdido 00..0101. En otras palabras, no existe tensin de entrada que produzca ese cdigo de salida. Esto significa, por ejemplo que la tarjeta no distingue entre una entrada de 100 V y una de 140 V , a pesar de que los 40 V de diferencia son mayores que el valor de 1 LSB (i.e. 24 V). Cada cdigo perdido significa un peldao menos en la funcin de transferencia.
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2.3.- MUESTREO
2.3.1.MUESTREO IDEAL
Supongamos una seal de entrada de banda limitada a f1.
Dominio del tiempo:

El resultado del muestreo es un tren de pulsos cuya amplitud est modulada por la seal de entrada y que representan la amplitud de la seal de entrada en los instantes de muestreo.
Dominio de la frecuencia:
La multiplicacin en el tiempo es equivalente a la operacin convolucin en frecuencia. El espectro del tren de pulsos est compuesto de una serie de armnicos situados a mltiplos de la frecuencia de muestreo. El resultado es el espectro de la seal de entrada repetido cada fs y reflejado respecto a fs (doble banda lateral).
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2.3.2.-
VELOCIDAD DE MUESTREO
Teorema de Nyquist
Establece que para poder reconstruir una seal muestreada la velocidad de muestreo fs debe ser al menos el doble de la mayor de las componentes de la seal muestreada:
fs 2 * fmax
(Ec. 9.3)
En la prctica se toma al menos entre 3 y 5 veces mayor que la frecuencia mxima. Como explicaremos en el prximo punto, esto evita que las frecuencias superiores cercanas a la mxima produzcan aliasing..
Ej.: seales de audio Las seales de audio recogidas por un micrfono y convertidas a seal elctrica tienen componentes de hasta 20 KHz. Para digitalizar esta informacin y poder reconstruirla despus se debe muestrear a una velocidad mayor de 40 Kmuestras/s. (Los Compact Disc lo hacen a la velocidad normalizada de 44,8 Kmuestras/s)
Aliasing (solapamiento) EN EL DOMINIO DEL TIEMPO:
Seal muestreada a frecuencia superior a la de Nyquist
. Seal muestreada a frecuencia inferior a la de Nyquist, aparece el aliasing: Al reconstruir la seal se obtiene otra de frecuencia inferior.
PROPUESTO 9.3: En la imagen anterior, si la seal original fuera de 3 KHz, Qu frecuencia observaramos tras reconstruir la seal muestreada?
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EN EL DOMINIO DE LA FRECUENCIA:
Supongamos una seal de inters cuyo espectro est centrado en f1 y otra interferente cuyo espectro
est centrado en f2, como puede verse en la siguiente figura: Como puede apreciarse en la siguiente figura, cuando una seal cuyo espectro est centrado en fx se muestrea a una velocidad fs, su espectro aparece reflejado en fx-fs/2
Solapamient
En este caso, al muestrear la seal centrada en f1, el espectro reflejado f1-(fs/2) queda a la izquierda del origen de frecuencias, por lo que no hay problema. Sin embargo al muestrear la seal centrada en f2 su espectro reflejado f2-(fs/2), se solapa con f1 confundindose con l. De esta forma, la seal f2 interfiere con la seal til f1.
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Ejemplo: seal cuadrada de 500 Hz nicamente nos fijaremos en un ancho de banda limitado a 2 KHz, por lo que idealmente, adems del fundamental slo debera existir un armnico a 1500 Hz.
Primera imagen: la seal es muestreada a fs=4KHz y no
se ha filtrado. Observamos aliasing de los armnicos superiores.
Segunda imagen: fs=4KHz y previamente al muestreo se
realizado un filtrado paso-bajo con frecuencia de corte de 2 KHz que ha eliminado muchos de los picos debidos al aliasing.
Tercera imagen: adems del filtrado se ha subido fs= 8
KHz eliminando los picos. El armnico de 1000 Hz es debido a la imperfeccin de la seal cuadrada.
El filtrado debe ser previo al muestreo (i.e. filtrado analgico). Despus del muestreo, el aliasing no puede eliminarse; la seal alias no puede separarse de la seal til mediante ningn tipo de filtro, pus cae en su ancho de banda.
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2.3.3.-
MUESTREO-RETENCION (SAMPLE & HOLD)
Cuando la seal de entrada no puede considerarse DC, no es deseable que durante el intervalo de muestreo vare ms de LSB, ya que de ser as el error sera inaceptable. Por lo tanto se hace necesario un circuito que mantenga estable el valor de la seal mientras dure el muestreo.
Diagrama simplificado del ADC Texas Instruments ADS8342. www.ti.com
Problema: Mxima frecuencia de muestreo

Durante un periodo de muestreo (Ts) la seal analgica no debe variar ms de LSB para evitar la ambigedad en la cuantificacin y por tanto el error.
Seal de entrada
m = V/Ts
TS
Recordando la ec. 9.1, el LSB viene definido por LSB = luego para LSB tenemos que V
VFS 2n
VFS 2 2n
MXIMA FRECUENCIA DE SEAL:

Para averiguar la mxima frecuencia de seal admisible sin caer en ese error partiremos de nuestra seal patrn, es decir una sinusoide: f(t) = VFS sen t La variacin mxima de la seal sinusoidal la averiguamos igualando a cero su derivada segunda: f (t) = VFS cos t f (t) = - VFS sen t Por tanto igualamos - VFS sen t = 0 Esta igualdad se cumple en t = 0, , 2, ..... (Evidentemente tambin se cumple en = 0 y en t = 0). En esos instantes (pasos por cero de nuestra seal f(t) = sen t) la variacin de la seal vale: f (t) = VFS (t =0, , 2, .....)
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Si queremos que el error sea menor de LSB, esta variacin de la seal debe cumplir:
VFS
V Ts
Como esa variacin debe ser menor que LSB podemos establecer
VFS
VFS Ts 2 2
ya que V =
V 1 LSB = FSn 2 22
2 f VFS
En conclusin:
Ts 2 2 n
VFS
1 2 n + 2 TS
f mx . =
fs n +2
(Ec. 9.4)
Ejemplo: Convertidor A/D AD7820, 8 bits, tiempo de conversin = 2 s Tconversin = 2 s y por lo tanto fsmx = 500 kHz Sin embargo, segn lo hallado anteriormente:
f mx . =
fs n +2
500000Hz 155 Hz 28 + 2
Circuito de muestreo-retencin (Sample & Hold)

Los circuitos de muestreo-retencin toman una muestra de la seal (Sample) y mantienen fijo su valor (hold) hasta que el ADC haya realizado la conversin. Estos circuitos se basan en condensadores para conseguirlo. Circuito elemental de muestreo y retencin. En la imagen el conmutador se encuentra en posicin de retencin.
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Ejemplo: LF198, LF398
Observar la grfica del tiempo de adquisicin en funcin del condensador externo y de la precisin deseada: Se puede conseguir un mnimo de 6 us con una precisin del 001%, o de 3 us (1%). Para ello, el condensador ser de 1 nF.
2.3.4.-
SUBMUESTREO
Esta tcnica es utilizada en osciloscopios digitales para aumentar el ancho de banda de sus canales, aunque solo es vlida si las seales son repetitivas. El funcionamiento es similar al utilizado en los osciloscopios convencionales, donde solo pueden verse seales repetitivas (peridicas). La forma de onda es redibujada en cada barrido, de forma que si su frecuencia es suficiente se forma una imagen estable al ojo. En el submuestreo, se toman mltiples muestras y se solapan para formar una imagen.
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Restricciones:
No es posible submuestrear seales que estn armnicamente relacionadas con la frecuencia de muestreo. En la prctica esto supone que si la forma de onda est relacionada con la frecuencia de muestreo, los puntos muestreados siempre caen en la misma posicin relativa de la forma de onda, quedando las regiones intermedias desconocidas. Se necesita poder medir al menos la frecuencia fundamental para poder partir el buffer de muestras en trozos mltiplos del periodo y despus solaparlos. Vase la figura anterior.
A la hora de evaluar las prestaciones de un osciloscopio digital, hay que tener cuidado ya que el fabricante resalta una frecuencia mxima permitida que se alcanza mediante submuestreo. A la hora de capturar seales no repetitivas (Transitorios, espureos, picos, etc) la especificacin vlida es la frecuencia de muestreo real.
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2.4.- PARMETROS DINMICOS

Cuando la seal a convertir vara rpidamente como sucede, por ejemplo, en el anlisis de vibraciones, la precisin del ADC viene limitada por otros parmetros que no son los estticos. Como ya se dijo las prestaciones en DC sern, en general, mejores que en AC.
Relacin S/N (SNR) RELACIN S/N (SNR) DEL ADC IDEAL:

Aunque el ADC fuera perfecto siempre tendramos un error de cuantificacin. Se puede tratar ese error como ruido blanco, y por tanto estudiarlo como si lo fuera. Para estudiar el efecto de la cuantificacin, consideramos el ADC ideal, y por tanto no afectado por otras fuentes de ruido, la mxima relacin S/N que se puede obtener vendr dada por:
seal V rms ruido V rms
(S / N ) =
cuando inyectemos una sinusoide ajustada al rango, su amplitud, Vp, vendr dada
por el cdigo mitad del rango = 2N/2.
El valor eficaz ser entonces: V rms
seal
2N 1LSB vP 2 N 1 1LSB 2 = = = 2 2 2
Dividiendo amba expresiones:
seal V rms V ruido rms
dB
2N 1LSB 2 2 = 20 log 1LSB 12

(Ec. 9.5)
(6,02 N + 1,76 )dB
(S/N)mx = (602 n de bits) + 176 dB
Esca ecuacin nos da el valor ideal de la relacin S/N en un conversor A/D de n bits y nos indica que cada bit de ms que tenga nuestro A/D mejorar unos 6 dB la relacin S/N.
PROPUESTO 9.4: Comprobar la expresin S/N. PROPUESTO 9.5: Cual ser la tensin eficaz del ruido en un ADC de 16 bits cuyo rango de entrada es 10 V.?
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SNR DEL ADC REAL

En un ADC real existen, adems, otras fuentes de ruido (P. ej. Ruido trmico), de forma que la relacin S/N ser menor que la mxima terica expresada en la ecuacin anterior: Un ADC de 12 bits cuya SNR es idealmente de 74 dB, puede no ofrecer realmente ms de 68 dB. Este hecho da lugar a un parmetro que se denomina Efective Number Of Bits (ENOB).
ENOB (Effective Number Of Bits)

Si damos la vuelta a la ecuacin (Ec. 9.5) para obtener el nmero efectivo de bits en funcin de la relacin S/N real, obtenemos: ENOB = [(S/N)REAL 1,76 dB) / 6,02] (Ec. 9.6)
En el ejemplo, del ADC de 12 bits cuya S/N obtenida de forma experimental era de 68 dB obtenemos un ENOB de 11 bits. Podemos expresar el error relativo al fondo de escala de un ADC en funcin de su ENOB: Error (%FS) = 1/(2ENOB) x 100 % FS (Ec. 9.7)
La precisin mxima ideal sera (1/212) 100 = 0,024 % La precisin mxima real sera (1/211) 100 = 0,049 % Lgicamente, al perder un bit de precisin el error dobla su valor
SINAD
En la relacin S/N, adems del ruido, es conveniente tener en cuenta los armnicos que aparecen en el espectro y que no se corresponden con la seal inyectada al ADC (i.e. distorsin). Esto da lugar a una variante denominada S/(N+D) o SINAD, donde la D representa Distortion. Es inmediato suponer que la relacin S/N ser mayor que la relacin S/(N+D).
www.maxim-ic.com
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El parmetro SINAD es funcin de la frecuencia de la seal que inyectemos. A medida que la seal se acerca a la frecuencia de Nyquist (i.e. fs/2) la SINAD decrece. Si las especificaciones de un ADC vienen dadas para una seal de frecuencia inferior a la que nuestra aplicacin requiere, es de esperar que la SINAD que nos afecta sea peor. Si observamos el grfico del ENOB en funcin de la frecuencia en la hoja de caractersticas de cualquier ADC, observaremos que el ENOB se degrada con la frecuencia, principalmente debido a que la distorsin aumenta con la frecuencia. Una vez considerado el efecto de la distorsin, podemos expresar la ec. 9.6 en funcin del SINAD: ENOB = (SINAD 1,76 dB) / 6,02 (Ec. 9.8)
SNR, SINAD y ENOB en funcin de la frecuencia en el conversor A/D modelo AD7663. Texas Instruments Inc.
Rango dinmico
Expresa la diferencia mxima de magnitud que puede haber entre dos seales de entrada de forma que ambas puedan medirse. Suele expresarse en decibelios (dB).
Ejemplo: DAQ 12 bits, 10 V Mx. tensin medible: 10 V Mn. tensin medible: 1 LSB = 10V/212 = 2'44 mV Rango dinmico = 20 log10 (10 V/[10V/212]) = 20 log10 (212) = 72 dB Es obvio que se trata de un caso ideal donde no se han tenido en cuenta ruido ni distorsin.
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Observar que cada bit de resolucin aade 6 dB (tericos) al rango dinmico (20 log10 2 = 6)
N de bits 8 10 12 14 16 18 20 22 24 N de divisiones 256 1024 4096 16384 65536 262144 1048576 4194304 16777216 Resolucin en %,(100/2N) 0,4 0,1 0,025 0,006 0,0015 0,0004 0,0001 0,000025 0,000006 Rango dinmico (dB) 48 60 72 84 96 108 120 132 144
Ejemplo: mquina rotativa En una mquina rotativa, hay una frecuencia que determina la velocidad de rotacin del eje y otras componentes pequeas que pueden delatar un deterioro de los cojinetes. La relacin entre las componentes pequeas y la principal determina el mnimo rango dinmico. Las componentes pequeas aumentan con el uso, de forma que un mayor rango dinmico del sistema de medida puede significar una deteccin ms temprana.
20 log (1/212) = -72 dB 20 log (1/215) = -90 dB
En la figura puede verse: En trazo claro con un rango dinmico de 72 dB (12 bits) una pequea componente debida a una vibracin de 200 Hz pasa desapercibida. En trazo oscuro con un rango dinmico de 90 dB (15 bits) se puede distinguir dicha componente.
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SPURIOUS FREE DYNAMIC RANGE (SFDR)

A veces las componentes espectrales debidas a la distorsin superan en magnitud a las componentes debidas al ruido, limitando as el rango dinmico. Estos armnicos espreos no afectan significativamente a la SNR puesto que suman poca energia respecto a la que suma el ruido, pero s limitan el rango dinmico aprovechable.
Es el diferencia (dB) entre el valor RMS de la seal fundamental y el valor RMS de la mayor de las seales espreas. SFDR se expresa en las siguientes unidades: dBc: Respecto a la amplitud de la
fundamental dBFS: Respecto al fondo de escala del ADC.
http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/3359#toc4
Ejemplo de SFDR:
ADC ADS7805 de 16 bits: En la imagen puede observarse un tono de 20 kHz muestreado a 100 kSPS. Los 0 dB se refieren al fondo de escala que es 10 V
Para que nuestra seal pueda distinguirse del resto, debe superar en magnitud a la mayor de las presentes entre el ruido, es decir, la que est situada por encima de los 37,5 kHz, de amplitud aproximada 95 dB (El fabricante indica 94 dBFS en la tabla de especificaciones). 20 log (x /20 Vpp) = -94 dB log x log 20 = -94/20 x = 10-4,6 = 25,12 Vpp Observar que el rango dinmico terico de 96 dB se ve reducido por el SFDR de 94 dBFS
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Comparacin de especificaciones
Cuando se comparan ADCs, hay que tener en cuenta la frecuencia de la seal de prueba que se utiliza para hallar los parmetros SFDR, SINAD, THD, ENOB, SNR. No puede compararse el SFDR de un ADC obtenido con una sinusoide de 100 kHz con otro SFDR obtenido inyectando una seal de 300 kHz.
Ejemplo de especificaciones: ADC LTC1408 de 14 bits y fsmx = 600 kS/s Observar la variacin de ambos parmetros segn la frecuencia de la seal de prueba.
PARAMETER THD SFDR CONDITIONS 100kHz First 5 Harmonics 300kHz First 5 Harmonics 100kHz Input Signal 300kHz Input Signal TYP -90 -86 90 86 UNITS dB dB dB dB
Observar que el THD se especifica para los primeros 5 armnicos. Esta es una forma habitual de calcular el THD de la hoja de especificaciones, despreciando el escaso efecto del resto de armnicos. En otras ocasiones, el THD se calcula con los armnicos presentes en el ancho de banda (fs/2)que no tienen por que ser cinco.
Ejemplo de especificaciones: Conversor A/D ADS8342I

Especificaciones de precisin en AC del modelo ADS8342I de 16 bits Total haromonic distortion (THD) Spurious-free dynamic range (SFDR) Signal-to-noise ratio (SNR) Signal-to-noise + distortion (SINAD) Effective number of bits (ENOB) VIN = 2,5Vpp at 10kHz VIN = 2,5Vpp at 10kHz VIN = 2,5Vpp at 10kHz VIN = 2,5Vpp at 10kHz 89 dB 92 dB 86 dB 84,6 dB 14 Bits
Observar: La poca diferencia entre el SNR y el SINAD, debido a la escasa contribucin de los armnicos presentes en el ancho de banda respecto al valor RMS del ruido. Para hallar el ENOB, el fabricante ha utilizado el SNR en vez del SINAD. De esta forma obtiene una cifra ms generosa.
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2.5.- TIPOS DE CONVERTIDORES A/D

2.5.1.CONVERTIDOR PARALELO (FLASH)
Codificador V2
2
Partiendo del circuito, rellenar la tabla: Combinaciones posibles

Salida binaria
Iref
V1
1
(Salidas del comparador) Comparador 2 Comparador 1 Comparador 0 Salida binaria
V0
0 Comparadores
La corriente de referencia Iref es constante, pues los comparadores ideales no absorben corriente:
I ref =
R
2
V ref
+R +R +
R
2
V ref 3 R
si generalizamos la expresin para N bits:
I ref =
(2 1) R
V ref
Tensiones de umbral de los comparadores: Para el comparador 2: Para el comparador 1: Para el comparador 0:
V 2 = I ref 2R +
R
2
V 5R 5 V 2 = ref = V ref 3R 2 6
RESOLUCIN:
V 1 = I ref R +
2 V 3R 3 V 1 = ref = V ref 3R 2 6
V 0 = I ref V0 =
R 2
V ref R 1 = V ref 3R 2 6
Como se vi al principio del captulo, podemos observar que la resolucin no equivale a la tensin umbral de la combinacn 01:
Resolucin = V 2 V1 = V1 V o = Vref
2 Vo 6
PROPUESTO 9.6: Realizar el mismo ejemplo con 3 bits.
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En general, el convertidor tipo flash: Est compuesto por 2N -1 comparadores y 2N resistencias donde N es el n de bits. Es el ms simple en cuanto a su funcionamiento y adems el ms rpido (Por encima del GHz.), Con excepciones, es utilizado en sistemas de hasta 8 bits, ya que para ms bits se encarece demasiado.
Su velocidad los hace adecuados en sistemas de captura de transitorios como los osciloscopios digitales (tipicamente de 8 bits, i.e. 255 comparadores) que adems deben medir seales de alta frecuencia.
PROPUESTO 9.7: Analizar el siguiente circuito:
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2.5.2.-
APROXIMACIONES SUCESIVAS
Se utiliza un convertidor Digital/Analgico y un

comparador.
La lgica de control incluye entre otras cosas un

contador.
Funcionamiento
Realiza una bsqueda binomial, de forma similar al algoritmo que usamos en el juego de acertar un nmero dentro de un rango: Primero intentamos con el valor del rango. Si nos contestan que es menor, lo intentamos con el valor del rango; y as sucesivamente vamos acotando el nmero hasta acertar. Supongamos una entrada analgica correspondiente a la combinacin de 4 bits 1011: 1.- El contador comienza generando la combinacin intermedia, es decir MSB = 1 y el resto de bits son 0. En nuestro ejemplo 1000 1.1.- El convertidor DAC genera la tensin correspondiente a dicha combinacin (1/2 FS). 1.2.- A continuacin se realiza la comparacin entre esta tensin y la de entrada (Vinput): Si la entrada es mayor significa que el MSB debe permanecer a 1, en caso contrario se pone a 0. En nuestro ejemplo MSB permanecera a 1. 2.- El contador genera una combinacin que mantiene el MSB al valor hallado anteriormente y con el siguiente bit a 1. En el ejemplo 1100 2.1- El convertidor genera la tensin analgica correspondiente a dicha combinacin. Se vuelve a realizar la comparacin. En el ejemplo el resultado es que la tensin de entrada es menor que la tensin probada (i.e. 1011 < 1100), por lo que el 2 bit queda fijado a 0. 3.- La siguiente combinacin a probar sera la 1010, y as sucesivamente. Debe esperarse entre cada paso hasta que el DAC genere la combinacin y sta se estabilice.
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Caractersticas
Es ms lento que el convertidor flash, pero es habitual conseguir velocidades superiores a 200 kS/s. Es relativamente barato para implementar sistemas de 12-16 bits y es usado habitualmente en sistemas DAQ basados en PC.
Ejemplo el ADC080X de National Semiconductor
Resolucin 8 bits Error total 1 4 LSB, 1 2 LSB y 1 LSB para el 0801, 0802, y el 0803 respectivamente. Ojo!, Estas especificaciones son estticas y, por tanto, aplicables a seales DC o muy baja frecuencia. Tiempo de conversion 100 s Tensin de entrada analgica diferencial Generador de reloj incluido No requiere ajuste del cero El rango de entrada puede ser funcin de la seal de entrada, ser fijo de 5 VDC , 25 VDC, o ajustarse mediante una tensin de referencia. P. ej. Rango de entrada de 0V a 5V con una fuente nica de 5V De cara a su conexin con un microprocesador, este A/D aparece como una posicin de memoria o un puerto I/O. Por lo que no requiere circuito de interfaz.
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2.5.3.-
ADC POR INTEGRACIN
Integracin de doble rampa
Se carga el condensador mediante una corriente proporcional a la tensin de entrada Vinput, durante un tiempo fijo Ti Se descarga a corriente constante (Pendiente fija) midiendo el tiempo de descarga mediante un contador digital. La tensin de entrada se determina midiendo el tiempo de carga o descarga del condensador. Segn la figura, vendr dada por la expresin: Vinput = Vref (Ti/Td)
VENTAJAS
Reduce el ruido recogido de la linea elctrica si tomamos un tiempo de integracin mltiplo del periodo de la red: Ti = n 20 ms (20 ms = 1/50 Hz). Esto hace que se utilice en multmetros digitales de precisin. Son comunes resoluciones de 20 bits Coste relativamente bajo pues no requiere de componentes adicionales como un DAC o un VCO (Voltage Control Oscilator, Oscilador Controlado por Tensin).
DESVENTAJAS
Tiempo de conversin lento (mximo entorno a 60 Hz. Ms lento si se integra sobre varios ciclos de linea).
3 I.T.I. Electrnica
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ADC de Rampa digital (ADC de seguimiento)

Utiliza un contador ascendente/descendente para reducir este tiempo desperdiciado, el contador reemplaza al contador ascendente que proporciona las entradas al DAC Es relativamente lento debido a que el contador tiene que volver a ponerse en cero al inicio de cada conversin.
2.5.4.-
CONVERTIDOR TENSIN-FRECUENCIA
La tensin de entrada es convertida a frecuencia, es decir, se genera un tren de pulsos cuya frecuencia es proporcional a la tensin de entrada Vin. El bloque Pulse counter cuenta los pulsos sobre un intervalo fijo de tiempo. Se deduce la tensin de salida a partir de una relacin conocida
CARACTERSTICAS
Alto rechazo de ruido ya que la tensin de entrada es integrada sobre el intervalo de conteo. Indicado para seales lentas y ruidosas.
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2.5.5.-
COMPARACIN DE LOS A/D
La siguiente tabla resume la comparacin en cuanto a resolucin y velocidad de varios tipos de ADC.
Adems, la menor velocidad del los SAR les permite consumir menos que los Flash. Adems tambin son bastante ms baratos.
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Aplicaciones CONEXIN DEL A/D CON MICROCONTROLADOR
Ejemplo: ADC MAX186: 12 bit, 8 canales (4 en modo diferencial), salida de datos en serie.
Ejemplo: ADC Texas Instruments ADS5122 (8 Canales diferenciales, 10 bit, 65 MSPS, 1.8V)
PROPUESTO 9.8: Segn el cronograma anterior, Cul sera la frecuencia de la seal de reloj?
3 I.T.I. Electrnica
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Instrumentacin Electrnica

Ignacio Moreno Velasco

Area de Tecnologa Electrnica. Universidad de Burgos

Apuntes de Instrumentacin electrnica (ver. 6.0)

Ignacio Moreno Velasco

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2.- Conversin A/D

Diagrama de bloques de un sistema de adquisicin de datos multicanal conectable a un ordendor.

2.1.- PRINCIPIOS DE LA CONVERSIN A/D

En la imagen tenemos el caso genrico de un ADC de 3 bits:

Valor del fondo de escala 2n de bits

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En el ejemplo de la imagen, si tenemos un intervalo de 10 voltios:

BIPOLAR -5 V y 5 V IDEM = 1,25 V 5 V 1 LSB = 3,75 V

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En la imagen podemos observar el error de cuantificacin de forma de grfica.

1 LSB v 1LSB = P = 2 = 0,289 LSB 3 3 12

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2.2.- PARMETROS ESTTICOS

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Grficamente, cambios en la pendiente de la curva de transferencia.

calibracin previa al uso.

PROPUESTO 9.2: Cul es el fondo de escala del convertidor de la figura anterior?

Alinealidad integral (INL)

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Alinealidad diferencial (DNL)

Precisin absoluta Error

Ejemplo de especificaciones: MAXIM MAX197

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Supongamos una seal de entrada de banda limitada a f1.

Dominio del tiempo:

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Aliasing (solapamiento) EN EL DOMINIO DEL TIEMPO:

Seal muestreada a frecuencia superior a la de Nyquist

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Primera imagen: la seal es muestreada a fs=4KHz y no

se ha filtrado. Observamos aliasing de los armnicos superiores.

Segunda imagen: fs=4KHz y previamente al muestreo se

Tercera imagen: adems del filtrado se ha subido fs= 8