Anda di halaman 1dari 5
J: Mikroskopi dan Mikroanalisis Vol3No.1 2000 ISSN 1410-5594
J: Mikroskopi dan Mikroanalisis Vol3No.1 2000
ISSN 1410-5594
PENGOLAHAN CITRA DIGITAL DAN ANALISIS KUANTITATIF DALAM KARAKTERISASI CITRA MIKROSKOPIK
PENGOLAHAN
CITRA
DIGITAL
DAN ANALISIS
KUANTITATIF
DALAM
KARAKTERISASI
CITRA
MIKROSKOPIK
M. SyamsaArdisasmita Pusbangteklnformatika dan Komputasi -BATAN Kawasarl PUSPIPTEKSerpong 15310
M. SyamsaArdisasmita
Pusbangteklnformatika
dan Komputasi -BATAN
Kawasarl PUSPIPTEKSerpong 15310

ABSTRAKdan Komputasi -BATAN Kawasarl PUSPIPTEKSerpong 15310 PENGOI.AHAN CITRA DIGITAL DAN ANALISIS KUANnTATIF DALAM

PENGOI.AHAN CITRA DIGITAL DAN ANALISIS KUANnTATIF DALAM KARAKTERISASI CITRA MIKROSKOPIK. Banyak peralatanmikroskop
PENGOI.AHAN
CITRA
DIGITAL
DAN ANALISIS
KUANnTATIF
DALAM
KARAKTERISASI
CITRA
MIKROSKOPIK. Banyak peralatanmikroskop elektron walaupunsudahberupacitra digital tetapi belum seluruhnya dilengkapi
perangkatpenunjang untuk melakukan pengolahandan analisiscitra secarakuantitatif. Umumnya analisis dilakukan secaravisual
dan pengukuran dilakukan secaramanual.Perkembanganmetodamatematikabaik untuk analisisbentuk maupun untuk pengenalan
pola, memungkinkan dapat dilakukan analisis citra mikroskopik secaraotomatis menggunakan komputer. Program pengolahan
citra dapat digunakan untuk analisis tekstur atau struktur periodik daTicitra dengan menggunakan transformasi Fourier. Untuk
memperjelastampilan obyek terhadap latar belakang dapat dilakukan denganmengubah histogram citra. Dengan berkembangnya
bahan-bahankomposit, analisis Fourier dalam domain frekuensi menjadi penting yaitu untuk mengukur orientasi kristalograti
Analsis struktur periodik dan orientasi kristal adalahkunci untuk memahami banyak sifat-sifat material seperti kekuatan mekanik,
kelenturan, konduktivitas panas, resistansi,kapasitansidan sifat-sifat listrik dan magnit bahan lainnya. Dalam makalah ini akan
ditunjukkan aplikasi dari program pengolahan dan analisis citra digital pada citra mikroskopik

ABSTRACTpengolahan dan analisis citra digital pada citra mikroskopik THE DIGITAL IMAGE PROCESSING AND QUANTITATIVE ANALYSIS

THE DIGITAL IMAGE PROCESSING AND QUANTITATIVE ANALYSIS IN MICROSCOPIC IMAGE CHARACTERIZATION. Many
THE
DIGITAL
IMAGE
PROCESSING
AND
QUANTITATIVE
ANALYSIS
IN MICROSCOPIC
IMAGE
CHARACTERIZATION.
Many electronmicroscopesalthough have produced digital images, but not all of them are equipped
with a supporting unit to processand analyseimage dataquantitatively. Generallythe analysis of image has to be made visually
and the measurementis realizedmanually. The development of mathematical method for geometric analysisand pattern recogni-
tion, allows automatic microscopic image analysiswith computer. Image processingprogram can be used for image texture and
structure periodic analysis by the application of Fourier transform. Because the development of composite materials, Fourier
analysis in frequency domain become important for measurethe crystallographyorientation. The periodic structure analysis and
crystal orientation are the key to understand many material properties like mechanical strength, stress, heat conductivity,
resistance,capacitanceand other material electric and magnetic properties. In this paper will
image processing in microscopic image characterization and analysisin microscopic image.
be shown the application of digital
1. PENDAHULUAN
1. PENDAHULUAN
Mikroskop adalah alat yang memungkinkan perbesaran citra obyek untuk mengamati rincian daTi
Mikroskop
adalah alat yang memungkinkan
perbesaran citra obyek untuk mengamati rincian daTi
obyektersebut.Perkembangannyamulai daTimikroskop
optik yang menggunakan satu seri lensa gelas untuk
membelokkan gelombang cahaya tampak agar
menghasilkan citra yang diperbesar, mikroskop
petrografik, mikroskop medan-gelap, mikroskop rasa,
mikroskop ultraviolet,
mikroskop
medan dekat daD
mikroskop elektron yang menggunakanberkas elektron
untuk mengiluminasi obyek. Jenis mikroskop optik
umuoulya tidak dapat membentukcitra yang lebih kecil
daTipada panjang gelombang cahayayang digunakan,
jadi kekuatan perbesaran mikroskop optik dibatasi oleh
panjang gelombangcahaya. Elektron memiliki panjang
gelombang yang jauh lebih kecil daripada panjang
gelombangcahaya,jadi mikroskop elektrondapatmelihat
struktur yang lebih kecil. Panjang gelombang cahaya tampak terkecil adalah 4.000 angstroms, sedangkan panjang gelombang
struktur yang lebih kecil. Panjang gelombang cahaya
tampak terkecil adalah 4.000 angstroms, sedangkan
panjang gelombang elektron yang digunakan pada
mikroskop elektron biasanya dalam orde angstrom
tergantung tegangan pemercepat yang digunakan
(J. = .Ji5OlV). Dengan mikroskop elektron dapat
diperoleh perbesaran obyek dengan resolusi tinggi
sampai ratusan ribu kali dibandingkan mikroskop optik
yang maksimum hanyadua ribu kali perbesarandengan
rincian obyekkurang terlihat denganjelas. Daya pemisah
yang besarpada mikroskop elektron dapat diturunkan
daTi persamaan limit resolusi suatu lensa:
D
= 0,61),
/(n sin 8)
.
Ada dua jenis mikroskop elektron: mikroskop
eletron transmisi (TEM -transmission
electron micro-
PengolahanCitra Digital dan Analisis Kuantitatif dalam KarakterisasiCitra Mikroskopik (M. SyarnsaArdisasmita 25-29)
PengolahanCitra Digital dan Analisis Kuantitatif dalam KarakterisasiCitra Mikroskopik
(M. SyarnsaArdisasmita 25-29)
Mikroskopik (M. SyarnsaArdisasmita 25-29) scope) dan mikroskop elektron sapuan (SEM -scan- ning
scope) dan mikroskop elektron sapuan (SEM -scan- ning eleclron microscope). Setiap mikroskop elektron memiliki
scope) dan mikroskop elektron sapuan (SEM -scan-
ning eleclron microscope). Setiap mikroskop elektron
memiliki senapanelektron yaitu sumber filamen yang
dipercepat oleh suatu pelat anoda yang memancarkan
berkaselektronuntuk mengiluminasi lembarancuplikan.
Lensa magnetik silinder dibuat untuk mengfokuskan
elektron sehingga diperoleh citra obyek pacta sistem
penyimpan alau penampil. PactaTEM, berkas elektron
dipancarkan langsung melalui obyek yang akan
diperbesar, sebagian diserap dan sebagian lainnya
dilewatkan. Obyek tersebutharus dipotong sangattipis
agar dapatdilihat denganTEM yaitu tebalnya haruslebih
kecil daTi beberapa ribu angstrom. Biasanya pelat
fotografi atau layar flouresensi ditempatkan dibelakang
cuplikan untuk menangkap citra dan perbesaranyang
dihasilkan bisa mencapai satujuta kali.
SedangkanpactaSEM, berkaselektrondifokuskan
tajamdan digerakkansepanjangcuplikan.Berkaselektron
tersebut dihamburkan langsung oleh cuplikan
membentukelektronpantulan balik (backs-cattered)atau
menghasilkan pancaran elektron sekunder. Pancaran
elektron sekunderdan backscattered ini dihimpun dan
dicacah oleh detektor sekunder atau detektor backs-cal-
ler yang diletakkan dekat cuplikan, kemudian diubah
menjaditegangandan dikuatkan olehrangkaianpenguat.
Formasi citra pacta SEM tidak secara langsung jika
dapatdilakukan peIbaikan kualitas penampilan cilIa dan
beberapakoreksi linear yang menjadi somberdegradasi
seperti kurang fokusnya gambar yang menyebabkan
kekaburan. Transformasi Fourier dua dimensi
dipergunakan untuk menghitung spektrum energi citra
pada domain frekuensi. PeIbaikan penampilan citra dan
koreksi linear dapatdilakukan dengan filter komponen-
komponenfrekuensi. Pilihan jenis filter tergantung pada
frekuensi guling dari peralatan sistem optik dan faktor
linear yang menyebabkan kualitas citra mengalami
degradasi. Setelah itu transformasi Fourier balik pada
komponen-komponen frekuensi akan mengembalikan
citra terkoreksike domain spasial.Karena datacitra digi-
tal sangat besar maka untuk meningkatkan waktu
perhitungan algoritma transformasi Fourier cepat(FFT),
2. PRINSIP
PEMBENTUKKAN
CITRA
PADA MIKROSKOP
ELEKTRONIK
Gambar1 memperlihatkanbahwalensaproyektor
daD lensa obyektif memperbesar citra obyek. Dengan
memperlakukan elektronsebagaigelombangrnaka dapat
kita sederhanakan ada tiga bidang pada mikroskop
elektronik
yang kita
gunakan
untuk
menghitung
amplituda kompleks daTigelombangmedanelektron.
dibandingkan
dengan TEM. Sapuan pacta cuplikan
membetuk elemengambar (pixel) pactamonitortelevisi.
Jurnlahcacahakanmemberikanketerangandaripixel. Citra
permukaancuplikan sebagaibasil sapuanelektronterlihat
dipeIbesarpactalayartabungtelevisi. Sifat yang menarik
pactaSEM adalahmemberikan tingkat perbesaranyang
SenapanElektron
\7
tinggi dan kedalaman fokus yang besar. Tidak seperti
pacta TEM, SEM dapat memperlihatkan rincian daTi
permukaanobyekdalam kualitas tiga-dimensi.
Karena umumnya basil yang diperoleh daTi
pengamatanmikroskop berupa gambarfotografi, analisis
biasanya dilakukan secara visual. Walaupun sistem
pencitraanmikroskop elektroniksudahbempacitra digital
tetapi belum seluruhnyadilengkapi perangkatpenunjang
untuk melakukan pengolahan dan analisis citra secara
kuantitatif. Pactaperalatan tersebut, umumnya analisis
dilakukan secaravisual dan pengukuran, misalnya luas
dan keliling obyek dilakukan secaramanual. Kesulitan
akan dihadapijika jumlah obyekbesar,bentuknya tidak
beraturan dan actapula yang saling bertindihan. Jika
dapat dilakukan otomatisasi pengukuran parameter
obyek tentu akan sangat membantu kecepatananalisis
dan ketepatan interpretasinya. Oleh karena itu perlu
dikembangkan sistem pengolahan citra serbagunayang
andal dan murah dengan menerapkan berbagai metoda
matematika baru untuk pengolahan, analisis dan
interpretasi citra digital daTisuatu sistempencitraan.
Transformasi
Fourier
merupakan perangkat
matematikapentingdalam pengolahansinyaldananalisis
citra digital, yaitu untuk menghubungkanantara domain
spasialdengandomain frekuensi. Pactadomain frekuensi
Gambar. 1
Prinsip pembentukancitra pada mikroskop
elektron
spasialdengandomain frekuensi. Pactadomain frekuensi Gambar. 1 Prinsip pembentukancitra pada mikroskop elektron 26
J. Mikroskopi dan Mikroanalisis Vol3 No.1 2000
J. Mikroskopi dan Mikroanalisis Vol3 No.1 2000

ISSN1410-5594

Vol3 No.1 2000 I S S N 1 4 1 0 - 5 5 9 4
2.1.Bidang obyek
2.1.Bidang obyek
3. ANALISIS FOURIER
3. ANALISIS FOURIER
Untuk mengetahuigelombangmedanyang keluar daTipennukaan obyekmakahams kita ketahui sifat-sifat fisik dari interaksi
Untuk mengetahuigelombangmedanyang keluar
daTipennukaan obyekmakahams kita ketahui sifat-sifat
fisik dari interaksi antaraelektrontersebutdenganobyek.
Menumt Cowley dan Moodie (1957) interaksi antara
suatuberkas elektron dengan obyek dapat digambarkan
3.1. Transformasi Fourier Diskrit
Transformasi Fourier diskrit dipergunakanuntuk
menghitung spektrum amplituda
dan rasa dari suatu
sinyal.Jika diperolehN buah databasilpencuplikandalam
dengan pendekatanmullislice
dimana elektron menjalar
melalui lapisan-lapisan obyek dan dihamburkan oleh
potensialkristal. Hamburan elektronini dapatdinyatakan
dengan fungsi fasa-kisi (fungsi transmisi obyek), fungsi
kompleks dari proyeksi potensial dan fungsi propagasi
elektron.
domain waktu dari suatu fungsi x, maka transformasi
Fourer diskrit fungsi tersebut didetinisikan sebagai:
I
N-I
-j27l"\o!n
3{x(n)}
=
X(v)
=
-L
x(n)e
N
n=O
Hasil dari perhitungan ini merupakan bilangan
kompleks yang dinyatakan dengan :
2.2.Bidang fokallensa obyektif
X(v) = X
(v) + j XDllog(V)
Gelombang
medan
elektron
pada
bidang
fokal
dati
lensa
dapat
diturunkan
dengan
menggunakan
dimana X_, dan X adalah harga nilai real dan nilai
imajiner dari spektrum.Jika dipecah dalam komponen
.-unag
transformasi
Fourier
dari
medan
gelombang
yang
keluar
modul amplituda dan rasa spektrum menjadi :
daTi permukaan
obyek.
Hasilnya
adalah
distribusi
amplitudo
difraksi
dati
pembuka
obyektif.
X(v)
= IX(v)lej(}(V)
Modul spektrum Fourier
dinyatakan dengan :
2.3. Bidang citra
Medan
gelombang
elektron
pada
bidang
citra
diturunkan
dari
medan
gelombang
pada
bidang
fokal
daD sudut
rasa
spektrum
lensa
obyektif
dengan
memperhitungkan
pengarnh
dari
lubang
lensa
obyektif
dan
perubahan
rasa
yang
diakibatkan
oleh
lensa
obyektif.
Jadi untuk
menghitung
Ximag
(v)
O(v)
=
tan
amplitudo
citra
harns
ditentukan
fungsi
tranfer
lensa dan
X real
(v)
fungsi
lubang
lensa
terlebih
dahulu.
Masalah
untuk
mensimulasi
citra
mikroskop
Citra
mikroskopik
dapat
dikatakan
sebagai
sinyal
elektron
menjadi
masalah
untuk
menghitung
medan
dua dirnensi,
yang
digambarkan
dalarn
bentuk
fungsi
dua
gelombang
elektron
pada
tiga
bidang
mikroskop
diatas.
peubah
f(x,y).
Peubah
x
dan
y
rnenyatakan
koordinat
Elektron
sangat
peka
terhadap
potensial
kristal
sehingga
spasial
dan
nilai
fungsi
rnenyatakan
intensitas
cahaya.
mikroskop
elektron
resolusi
tinggi
sangat
terkait
dengan
Transforrnasi
Fourier
diskrit
dua dirnensi dari fungsi f(x,y)
distribusi
potensial
di dalam
kristal.
Akibatnya
besarnya
dinyatakan
dengan:
hamburan
elektron-elektron
oleh bahan
tergantung
pada
ketebalan
kristal.
Sistem
pencitraan
mikroskop
elektron
1 M-l
N-l
. 2
F(u, v) = -L
L
f(x,
y) e-.l
,.,UXIN +ry 1M)
1
dapat
dikarakterisasikan
oleh
fungsi
transfer
yang
mengubah
amplitudo
daD
rasa
komponen-komponen
Fourier.
Artinya
citra-citra
mikroskop
elektron
resolusi
NMy=Ox=O
denganN adalahjumlahbarisdaDMjumlah kolom.
tinggi sangat tergantung
pada
ketebalan
cuplikan
daD
fungsi
transfer
mikroskop
(defokus).
N-!
N-!
N-!
x (0,0)
(0,0)
(0,0)
Transforrnasi
~.~B .
T~~sfonn;
arls
Kolom
N-!
N.l
N-]
y
Gambar2. TransformasiFourier 2 dimensi melalui dua
Gambar2. TransformasiFourier 2 dimensi melalui dua
PengolahanCitra Digital danAnalisi.\"Kuantitatif dalamKarakteri.\"asiCitra Mikroskopik (M. SyamsaArdisasmita
PengolahanCitra Digital danAnalisi.\"Kuantitatif dalamKarakteri.\"asiCitra Mikroskopik
(M. SyamsaArdisasmita 25-29)
Digital danAnalisi.\"Kuantitatif dalamKarakteri.\"asiCitra Mikroskopik (M. SyamsaArdisasmita 25-29)
Dari persamaandiatasterlihatbahwatransfom1a5i Fourier dua dimensi merupakan gabungan daTi transformasi Fourier satu
Dari persamaandiatasterlihatbahwatransfom1a5i
Fourier dua dimensi merupakan gabungan daTi
transformasi Fourier satu dimensi, baris demi baris
sehinggadihasilkan fungsiF(u,y). Kemudiandilanjutkan
transformasi Fourier satu dimensi kolom demi kolom
sehingga diperoleh hasil akhir dalam domain frekuensi
F(u,v). Peubahu daDv pada domain frekuensi masing-
masing berhubungan dengan peubah spasial x daDy.
3.2.FungsiTransfer Mikroskop Fungsi transfer mikroskop ada.lah tanggap frekuensi dalam bentuk frekuensi spasial dari
3.2.FungsiTransfer Mikroskop
Fungsi
transfer
mikroskop
ada.lah tanggap
frekuensi dalam bentuk frekuensi spasial dari suatu
sistem yang berhubungan dengan distribusi sinusoida
dari intensitas cahaya pada bidang obyek. Gambar 3
memperlihatkanfungsi transfermodulasidari suatusistem
optik
yang mengalami defokalisasitanpa adanyaaberasi
yang dihitung denganmetoda analitis oleh Hopkins.
0,& 0.2 0.0 -O.~I I I I '- 0 0.5 1.0 1.5 2 Normalizedspatlilirequency. Gbr.
0,&
0.2
0.0
-O.~I
I
I
I
'-
0
0.5
1.0
1.5
2
Normalizedspatlilirequency.
Gbr. 3 -Kurva
terdefokalisasi
fungsi transfer modulasi dari suatu sistem
Filterisasi dalam domain frekuensi dilakukan dengan mengalikan fungsi transfer optik H(u, v) dengan spektrum
Filterisasi
dalam
domain
frekuensi
dilakukan
dengan mengalikan fungsi transfer optik H(u, v) dengan
spektrum frekuensi F(u, v) sehingga diperoleh spektrum
citra yang telah terkoreksi.
G(u, v) ==H(u, v).F(u, v)
Setelah itu transformasi Fourier inverse pada
komponen-komponen frekuensi akan mengembalikan
citra terkoreksi G(u, v) daTi domain frekuensi ke domain
spasial. Hasilnya adalah citra yang bebas daTi degradasi
alan penajaman pada komponen-komponen tertentu yang
lebih ditonjolkan.
pada komponen-komponen tertentu yang lebih ditonjolkan. 4. HASn DAN PEMBAHASAN 4.1.Analisis spektrumenergi

4. HASn DAN PEMBAHASAN 4.1.Analisis spektrumenergi

4. HASn DAN PEMBAHASAN 4.1.Analisis spektrumenergi Penggunaan analisis Fourier terutama untuk
Penggunaan analisis Fourier terutama untuk mengoreksipola-pola gangguan yang bersifat periodik. Misalnya pola-polapita
Penggunaan analisis Fourier terutama untuk
mengoreksipola-pola gangguan yang bersifat periodik.
Misalnya pola-polapita horizontal yang diakibatkan oleh
perbedaan intensitas latar belakang pada waktu
penyapuankamera. Polapola pita periodik padaspektrorn
frekuensi identik dengan transformasi Fourier jendela
segi-empatyang hasilnya berupa sinus kardinal sempit.
Hasilnya terlihat pactaspektrum frekuensi berupa titik- titik terangvertikal. Jika titik -titik terang vertikal tersebut
Hasilnya terlihat pactaspektrum frekuensi berupa titik-
titik terangvertikal. Jika titik -titik terang vertikal tersebut
dihilangkan, maka akan diperoleh citra awal tanpa
gangguanpola-pola pita horizontal dari latar belakang.
Gambar4a meperlihatkancitraobyekdenganJatar
belak~mg pita-pita horizontal. Kemudian dilakukan
transformasi Fourier sehingga menghasilkan spektrum
frekuensi citra pactagambar 4b. Filter dilakukan pacta
spektrum frekuensi dari titik-titik vertikal yang
berhubungan dengan pola pita-pita horizontal
(Gambar 4c). Akhirnya dengan transformasi Fourier
inverse diperolehcitra tanpapola-pola pita (Gambar 4d).
Analisis
Fourier
dapat
digunakan
untuk
mengukur posisi,areadanparameterpartikellcunnya dari
suatucitra. Gambar 5 memperlihatkcm bclhwaelemen-
elemenperiodik partikel ernasdalam daerclhpcngamataJl
segi-empat adalah mempunyai struktur periodik dari
kanan ataske kiri bawah. Perhitunganjarak garis aJltclfa
dua posisi batasspektra ditunjukkan pactakotak kontrol
yaitu8,71 (I/nm). Makajarak rucmgdari partikel awllah
4,35 (I/nm)
atau 0,23 nm, yang berhubungan dengan
bidangkisi [1,1,1].
atau 0,23 nm, yang berhubungan dengan bidangkisi [1,1,1]. Gambar 4. Filter pacta citra awal. untuk menghilangkan
atau 0,23 nm, yang berhubungan dengan bidangkisi [1,1,1]. Gambar 4. Filter pacta citra awal. untuk menghilangkan
atau 0,23 nm, yang berhubungan dengan bidangkisi [1,1,1]. Gambar 4. Filter pacta citra awal. untuk menghilangkan
Gambar 4. Filter pacta citra awal. untuk menghilangkan pola-pola pita
Gambar 4. Filter
pacta citra awal.
untuk
menghilangkan
pola-pola
pita
pacta citra awal. untuk menghilangkan pola-pola pita Gambar 5. Analisis metrik spektrum frekuensi ci1
Gambar 5. Analisis metrik spektrum frekuensi ci1 partikel emas.
Gambar
5. Analisis
metrik
spektrum
frekuensi
ci1
partikel
emas.
1: Mikro.5kopi dun Mikroanalisis Vol3 No.1 2000 ISSN 14JO-5594
1: Mikro.5kopi dun Mikroanalisis
Vol3 No.1 2000
ISSN 14JO-5594
dun Mikroanalisis Vol3 No.1 2000 ISSN 14JO-5594 4.2. Penajaman struktur periodik citra Pengolahan cilIa
4.2. Penajaman struktur periodik citra Pengolahan cilIa dengan metoda Fourier dapat juga dilakukan untuk menajamkan
4.2. Penajaman struktur periodik citra
Pengolahan cilIa dengan metoda Fourier dapat
juga dilakukan untuk menajamkan struktur periodik daTi
suatucitra. Gambar 6 memperlihatkan tahapan-tahapan
yangdilakukan untuk menajamkanstruktur periodik citra
rnikroskopik grafit karbon. PengamatandaTispektrum
frekuensi memperlihatkan adanya cincin puncak terang
yang berhubungan dengan granularity pada citra awal.
Dengan melakukan
mask kita
dapat memperoleh
spektrum frekuensi yang berhubungan dengan
transformasi Fourier struktur granularity tersebut.
Transformasi Fourier inverse memberikan citra daTi
Transformasi Fourier inverse memberikan citra daTi Gambar6. Penajamanstruktur periodikcitra mikroskopik grafit
Gambar6. Penajamanstruktur periodikcitra mikroskopik grafit karbon
Gambar6. Penajamanstruktur periodikcitra mikroskopik
grafit karbon
Penajamanstruktur periodikcitra mikroskopik grafit karbon Gambar7. Koreksi citra yang buram karenatidak fokus dalam
Gambar7. Koreksi citra yang buram karenatidak fokus dalam pengambilan
Gambar7. Koreksi citra yang buram karenatidak fokus
dalam pengambilan
struktur granularity pacta domain spasial. Dengan melakukan operasi penambahandua kali citra struktur granularity ke
struktur
granularity
pacta domain spasial. Dengan
melakukan operasi penambahandua kali citra struktur
granularity ke citra awal (f + 2i) kita dapat memperoleh
citra mikroskopik graftt karbonyang lebihjelas.
4.3. Perbaikan out-of-focus <Jengan de- konvolusi digital Perbaikandegradasicitra akibatkurang fokusnya
4.3. Perbaikan
out-of-focus
<Jengan de-
konvolusi digital
Perbaikandegradasicitra akibatkurang fokusnya
engambilan dilakukan dengan perhitungan parameter-
parameterdefokalisasi. Parameter-parameterkritis yang
hams diperhatikan pactaTEM adalah fokus, astign1atism
daDketidak tepatanpenempatan.
5. KESIMPULAN
5. KESIMPULAN
Perkembangan metoda matematik baik untuk analisis bentuk maupun untuk pengena.lan pola, memungkinkan
Perkembangan metoda matematik baik untuk
analisis
bentuk
maupun
untuk
pengena.lan pola,
memungkinkan dapatdilakukannya analisis citra secara
otomatis menggunakankomputer. Program pengolahan
citra tersebutdapatdigunakan untuk ana.lisistekstur dan
struktur periodik da.iam digital mikrografi dengan
menggunakantransformasiFourier. Penggunaananalisis
Fouriertemtama untuk mengkoreksipola-pola gangguan
yang bersifat periodik.
Denganberkembangnyabahan-bahankomposit,
ana.iisis kuantitatif
untuk mengukur
jumlah orientasi
kristalografi menjadi sangatpenting. Analisis struktur
periodik
daD orientasi
kristal
adalah kunci
untuk
memahami banyak sifat-sifat material seperti kekuatan
mekanik daDkelenturan, konduktivitas panas,resistensi
daDkapasitansi listrik, dan sifat-sifat listrik dan magnit
bahan.
6. DAFTAR PUSTAKA
6. DAFTAR PUSTAKA
[I]. M.BORNANDW. WOLF, "Principles of Optics", 1980,PergamonPress. [2]. M.COWLEY
[I].
M.BORNANDW.
WOLF, "Principles of Optics",
1980,PergamonPress.
[2].
M.COWLEY ANDA.F.MOODIE,ActaCry.'Jt. 1957,
10609-619.
[3].
MCOWLEY
ANDA.F.MOODIE,ActaC'ry.~t.1959.
12,353-357.
[4].
K. ISHIZUKA, Ultramicroscopy, 1980,5,55-65.
[5].
C.S. WILLIAMS AND O.A.
BECKLUND, 'intro-
duction to Optical Transfer Function", W., 1989,
John Wiley & Sons.
[6].
J.C.H.
Spence
and
J.M.
Zuo,
"Electron
Microdiffraction", 1992, New York -London, Ple-
numPress.