Anda di halaman 1dari 7

Nama : Cristian Alboin R S NPM : 140310080043 Dosen : Dr.

Camellia Panatarani -Tugas Makalah Nanoteknologi-

ATOMIC FORCE MICROSCOPY (AFM)

Pendahuluan Pada pemrosesan/pembuatan bahan terutama pada skala atomic/molecular, diperlukan suatu ketepatan yang tepat serta efisiensi yang tinggi dalam proses karakterisasi. Karakterisasi berfungsi untuk mengetahui sifat tertentu dari suatu bahan sebelum diproses lebih lanjut. Berbagai metode telah dikembangkan sampai saat ini, satu metoda dengan metoda lainnya memiliki banyak perbedaan tergantung konsep apa yang digunakan. Satu metoda dipilih berdasarkan banyak pertimbangan, baik itu jenis bahan, efisiensi, karakter tertentu yang ingin diketahui dari bahan tersebut sampai pada biaya yang dikeluarkan. Setiap metoda karakterisasi bertanggungjawab pada satu nilai tertentu dari bahan, yaitu nilai karakter apa yang hendak diamati dari bahan tersebut. Konsep electron tunneling yang dikemukakan oleh Giaever menyatakan bahwa jika beda potensial diberikan pada dua logam yang dipisahkan oleh lapisan tipis insulator maka akan terjadi aliran muatan dikarenakan adanya kemampuan electron untuk menembus potensial barrier. Penemuan ini yang telah membawa Binnig dan Rohler, dua ilmuwan sains terpikir untuk menemukan Scanning Tunneling Microscopy (STM), cikal bakal semua metoda SPM. AFM salah satu metoda karakterisasi dari keluarga SPM (Scanning Probe Microscopy) bekerja pada bagian permukaan bahan dengan melibatkan interaksi antara probe dan permukaan bahan melalui proses fisis tertentu. Interaksi ini kemudian dapat men-generate citra permukaan bahan pada skala mikroskopik, sehingga susunan partikel pada permukaan bahan dapat terlihat dengan jelas. Berbeda dengan microscopy lainnya, metoda karakterisasi ini hanya melibatkan gaya yang terjadi antara tip dan sampel. Gaya yang terjadi bisa berupa gaya tarikan atau dorongan. Setiap gaya akan mengakibatkan pembengkokan tertentu pada bagian cantilever dimana akan terdeteksi oleh berkas laser dan kemudian ditangkap oleh detector yang kemudian akan dicitrakan menjadi sebuah image yang bernilai.

Atomic Force Microscopy (AFM)

Gbr 1. Skema cara kerja SPM (AFM)

Terlihat bahwa prinsip kerja AFM yang terbilang sederhana, melibatan interaksi antara tip (yang terpasang pada cantilever) dengan sampel yang telah dipasang pada bahan piezoelektrik. Setiap permukaan bahan akan terlihat halus secara kasat mata, namun sacara mikroskopik susunan partikel tidak selamanya rata pada permukaan alias kasar. Pola susunan partikel inilah yang akan diamati melalui AFM. Prinsip kerjanya melibatkan gaya yang terjadi selama interaksi terjadi, secara umum dapat berupa tarikan atau dorongan. Gaya-gaya yang terjadi akan dideteksi melalui pergerakan/pembengkokan cantilever yang otomatis akan merubah sudut refleksi sinar laser kea rah detector yang menangkap semua berkas laser yang dipantulkan. Selanjutnya sinyal-sinyal laser tadi diolah lebih lanjut oleh perangkat-perangkat elektonik lainnya yang nantinya akan berakhir pada computer untuk dijadikan image(citra) 3D permukaan benda secara detail pada skala nano. Gaya yang terjadi antara probe dan permukaan sample berupa : F= -k.x Dimana F= gaya k=konstanta pegas x=defleksi cantilever

Komponen-komponen penting AFM: Piezoelektrik, merupakan bahan keramik yang mengalami perubahan (kontraksi atau ekspansi) saat diberikan tegangan, dan sebaliknya menghasilkan potensial listrik ketika diberi tekanan mekanik. Probe, bagian yang secara langsung berinteraksi dengan permukaan sampel (tip), dan cantilever dengan panjang 100 200 m dengan lebar 10-40 nm, serta ketebalan 0.32 m. Sumber laser, devais elektronik yang berfungsi untuk menembakkan laser ke arah cantilever. Detector, pendeteksi laser pantulan Perangkat komputer sebagai pengolah data

Gbr 2. Skema komponen AFM

Mode Operasi AFM Terdapat tiga imaging mode AFM tergantuk dari bentuk interaksi antara probe dan sample. Mode AFM terbagi atas tiga : Mode kontak ( contact mode ), repulsive (VdW) ketika konstantan pegas cantilever lebih kecil dibandingkan permukaan, maka cantilever mengalami pembengkokan. Gaya pada tip bersifat repulsive. Dengan mempertahankan defleksi cantilever tetap konstan, gaya antara probe dan sampel tetap konstan

Separasi antara tip-sampel <0.5 nm

Mode non-kontak ( non-contact mode), attractive (VdW) probe tidak mengalami kontak dengan sampel, tetapi mengalami osilasi di atas lapisan permukaan sampel ketika sedang proses scan. Dengan menggunakan feedback loop untuk mengamati perubahan amplitude dikarenakan gaya tarikan VdW, topography permukaan didapatkan.

Separasi antara tip-sampel 0.1nm - 10nm Mode Tapping (Tapping Mode), hamper sama dengan mode contact namun pada mode ini cantilever berosilasi pada frekuensi resonannya. Probe melakukan proses tap pada permukaan sample ketika proses scanning berjalan.

Separasi tip-sampel 0.5nm 2nm

Gbr 3.Perbedaan antara STM dan AFM

Keuntungan dan Kerugian dari mode AFM Mode Contact AFM Keuntungan: -Scanning kecepatan tinggi -Resolusi skala atomik -Sangat bagus pada bahan kasar dengan tingkat perubahan yang besar pada topography vertical. Kerugian : -Gaya lateral dapat merusak citra -Resolusi yang dihasilkan kurang baik terutama pada sample yang terbilang soft.

Mode Non-contact AFM Keuntungan: -Gaya lemah diberikan pada permukaan sampel tanpa merusak permukaan sampel. Kerugian: -Resolusi lateral yang rendah,diakibatkan separasi tip-sample -Biasanya digunakan pada sampel hidropobik

Mode Tapping Keuntungan -Resolusi lateral yang tinggi (1nm 5nm) -Gaya yang lemah serta kerusakan yang minim pada sampel -Hampir tidak ada gaya lateral Kerugian -Kecepatan scan yang lebih lamabat daripada mode contact

Images dari AFM Tip pada AFM digunakan: -Untuk proses imaging -Untuk mengukur gaya ( dan propertis mekanikal lainnya) pada skala nano. -sebagai alat skala nano, berfungsi untuk melakukan proses bending,cutting, extracting bahan-bahan lunak/halus seperti polimer, DNA, dan nanotubes pada skala submicron di bawah control resolusi tinggi.

Gbr 4. Contoh gambar 3D AFM dari tiga tipe yang berbeda bahan Pd, dibangun pada 6H-SiC

Gbr 5. Contoh gambar tapping mode dari sampel biologi, nucleosomal DNA

Gbr 6.Gambar hasil non-contact modedari butir titanium-nitrida, a) scanner 10m b)5 m

Aplikasi AFM -Analisa kekasaran substrat -Step formation pada deposisi epitaxial film tipis -Analisa ukuran grain (grain size) -Melalui proses AFM In situ dengan perubahan temperature, kita dapat mempelajari perubahan struktur

Kesimpulan AFM adalah suatu alat bantu yang dilakukan untuk proses karakterisasi bahan tertentu sama hal seperti STM. AFM dapat digunakan baik untuk bahan konduktor, semikonduktor dan insulator. Faktor ketelitian (accuracy) dan sensitivitas adalah factor yang harus dipenuhi, disamping hal tersebut factor pengulangan pembacaan (Reapetability) yang baik juga factor yang harus dipenuhi karena semuanya berpengaruh pada hasil pengukuran topography permukaan.