Qu es un SEM?

SEM significa microscopio electrnico de barrido. El SEM es un microscopio que utiliza electrones en lugar de luz para formar una imagen. Desde su desarrollo a principios de los aos 1950, microscopios electrnicos de barrido se han desarrollado nuevas reas de estudio en las comunidades de la ciencia mdica y fsica. La SEM ha permitido a los investigadores para examinar una variedad mucho ms grande de especmenes. El microscopio electrnico de barrido tiene muchas ventajas sobre los microscopios tradicionales. El SEM tiene una gran profundidad de campo, que permite que ms de un modelo que deber centrarse en una sola vez. El SEM tambin tiene una resolucin mucho mayor, tan estrechamente muestras separadas se pueden ampliar a niveles mucho ms altos. Debido a que el SEM utiliza electroimanes en lugar de lentes, el investigador tiene un control mucho ms en el grado de ampliacin. Todas estas ventajas, as como la actual sorprendentemente imgenes claras, que el microscopio electrnico de barrido de los instrumentos ms tiles en la investigacin hoy en da.

Cmo funciona el SEM?

Diagrama cortesa de la Universidad Estatal de Iowa

El SEM es un instrumento que produce una imagen aumentada en gran medida mediante el uso de electrones en lugar de luz para formar una imagen. Un haz de electrones se produce en la parte superior del microscopio por un can de electrones. El haz de electrones sigue una trayectoria vertical a travs del microscopio, que se celebra en el vaco. El rayo viaja a travs de los campos electromagnticos y las lentes, que se concentran el haz hacia abajo, hacia la muestra. Una vez que el rayo golpea la muestra, los electrones y los rayos X son expulsados de la muestra.

Detectores de recoger estos rayos X, los electrones retrodispersados y electrones secundarios y los convierte en una seal que se enva a una pantalla similar a una pantalla de televisin. Esto produce la imagen final.

Cmo se prepara una muestra?

Debido a que el SEM utiliza condiciones de vaco y utiliza electrones para formar una imagen, una preparacin especial debe hacerse a la muestra. Toda el agua debe ser retirado de las muestras porque el agua se evaporara en el vaco. Todos los metales son conductores y no requieren ninguna preparacin antes de ser utilizados. Todos los no metales tienen que hacer conductora cubriendo la muestra con una fina capa de material conductor. Esto se hace utilizando un dispositivo llamado "sputter coater." La pulverizacin catdica recubridora utiliza un campo elctrico y de gas argn. La muestra se coloca en una pequea cmara que est en el vaco. de gas argn y un campo elctrico causa un electrn para ser retirados de la argn, por lo que los tomos de carga positiva. Los iones de argn a continuacin, se atraen con una lmina de oro con carga negativa. Los iones de argn golpear los tomos de oro de la superficie de la lmina de oro. Estos tomos de oro caen y se depositan sobre la superficie de la muestra produciendo una capa delgada de oro.

Cules son los problemas de seguridad de radiacin?

Las preocupaciones de seguridad de radiacin estn relacionados con los electrones que son retrodispersados de la muestra, as como rayos-X producidos en el proceso. La mayora de SEM estn muy bien protegidos y no producen tasas de exposicin superior a un segundo plano. Sin embargo, microscopios electrnicos de barrido son dispositivos generadores de radiaciones y debe ser por lo menos un inventario. El Estado de Indiana, el Departamento de Salud requiere que las mquinas estn registrados en sus oficinas usando el Formulario de

Estado 16.866, la radiacin de la mquina Solicitud de Inscripcin. Tambin es importante que la integridad del blindaje se mantenga, que todos los dispositivos de seguridad existentes estn funcionando, y que los trabajadores son conscientes de los aspectos de seguridad radiolgica. Las razones principales para el desarrollo de un plan de seguridad SEM son:
y

y y

para mantener un inventario exacto de todos los SEM en el campus (fabricante y modelo, nmero de serie, ubicacin, persona de contacto y nmero de telfono) para advertir a los trabajadores del riesgo de interferir con los dispositivos de seguridad (el investigador debe tener permiso para anular cualquier dispositivos de seguridad o dispositivos de advertencia) para asegurarse de blindaje no se vea comprometida (tasa de exposicin no superior a 0,5 mrem / h en 5 cm de cualquier superficie de la mquina) para que los trabajadores sepan a quin contactar en caso de emergencia o si tiene alguna pregunta

Microscopio Electrnico de Barrido Directrices de seguridad radiolgica

1. Las evaluaciones de seguridad se llevar a cabo inicialmente cuando la mquina se compra y despus la mquina se ha movido. 2. Cada mquina debe ser controlado por llave cuando no est en uso. Dispositivos de seguridad, si existe, debe seguir funcionando sin la aprobacin de la RSO. 3. Blindaje debe ser suficiente para mantener las tasas de exposicin inferior a 0,5 mrem / h en 5 cm. 4. La Oficina de Seguridad Radiolgica mantendr un inventario y la informacin de la encuesta en los archivos de sus oficinas. El usuario debe tener SEM cuaderno diario de pesca de cualquier tipo de mantenimiento realizado en la mquina. RSO debe ser notificado en su caso se realicen modificaciones en los bloqueos o cualquier otro dispositivo de seguridad. El usuario SEM tambin debe tener una copia de los procedimientos operativos y de emergencia en el panel de acelerador. 5. No metros encuesta o dosimetra personal son requeridos.

Referencias:
1. Encyclopedia.Com 2. Estado de Iowa SEM Pgina de inicio 3. Lawrence Livermore radiacin Reglamento de Seguridad, de la aplicacin. B, Resumen de los dispositivos generadores de radiacin, los requisitos de seguridad radiolgica 4. Virginia Tech Pginas seguridad radiolgica

Qu es la Microscopa Electrnica de Barrido (MEB)

Un tpico instrumento SEM, mostrando la columna electrnica, cmara de la muestra, detector de EDS, la electrnica de la consola, y los monitores de pantalla visual.

El microscopio electrnico de barrido (SEM) utiliza un haz de electrones de alta energa para generar una variedad de seales en la superficie de las muestras slidas. Las seales que se derivan de la muestra las interacciones de electrones revelar informacin acerca de la muestra incluyendo la morfologa externa (textura), composicin qumica y estructura cristalina y la orientacin de los materiales que componen la muestra. En la mayora de las aplicaciones, los datos se recogen en un rea seleccionada de la superficie de la muestra, y una imagen de dos dimensiones se genera muestra que las variaciones espaciales en estas propiedades. reas que van desde aproximadamente 1 cm a 5 micras de ancho puede ser reflejado en el modo de exploracin utilizando tcnicas convencionales de SEM (aumento desde 20x a aproximadamente 30.000 X, la resolucin espacial de 50 a 100 nm). El SEM tambin es capaz de realizar anlisis de las ubicaciones de los puntos seleccionados en la muestra, este enfoque es especialmente til en forma cualitativa o semi-cuantitativamente determinar la composicin qumica (con EDS ), la estructura cristalina, y la orientacin de los cristales (con EBSD ). El diseo y la funcin del SEM es muy similar a la EPMA y una considerable superposicin en la capacidad que existe entre los dos instrumentos.

Principios fundamentales de la Microscopa Electrnica de Barrido (MEB)

electrones acelerados en un SEM llevar a cantidades significativas de energa cintica, y esta energa se disipa en forma de una variedad de seales producidas por las interacciones de electrones de la muestra cuando los electrones incidentes se desaceler en la muestra slida. Estas seales incluyen electrones secundarios (que producen imgenes SEM), los electrones retrodispersados ( EEB ), difraccin de electrones retrodispersados ( EBSD que se utilizan para determinar estructuras cristalinas y las orientaciones de los minerales), los fotones ( rayos X caractersticos que se utilizan para el anlisis elemental y continuo Los rayos X), luz visible ( catodoluminiscencia - CL ), y el calor. electrones secundarios y electrones retrodispersados son comnmente utilizados para las muestras de imgenes: electrones secundarios son ms valiosos para mostrar la morfologa y topografa de las muestras y los electrones retrodispersados son ms valiosos para ilustrar los contrastes en la composicin de muestras de varias fases (es decir, de discriminacin de fase rpida). Generacin de rayos X es producido por colisiones inelsticas de los electrones incidentes con los electrones en ortitals discretos (depsitos) de los tomos en la muestra. Como el regreso electrones excitados a estados de menor energa, producen rayos X que son de una longitud de onda fija (que se relaciona con la diferencia de niveles de energa de los

electrones en los depsitos diferentes para cada elemento). Por lo tanto, los rayos X caractersticos se producen para cada elemento en un mineral que es "emocionado" por el haz de electrones. anlisis SEM es considerado como "no-destructivo", es decir, los rayos X generados por las interacciones de electrones no conducen a la prdida de volumen de la muestra, por lo que es posible analizar los mismos materiales en varias ocasiones.

Microscopa Electrnica de Barrido (SEM) Instrumentacin - Cmo funciona?

Los componentes esenciales de todos los SEM son las siguientes:

y y y y y y

Fuente de electrones (Gun) Lentes de electrones Ejemplo de escenario Detectores para todas las seales de inters Mostrar / dispositivos de salida de datos Requisitos de infraestructura:

o o o o o

Fuente de alimentacin Sistema de aspiracin Sistema de refrigeracin piso sin vibraciones ambiente libre de campos magnticos y elctricos de habitaciones

SEM siempre tienen al menos un detector (normalmente un detector de electrones secundarios), y la mayora tienen detectores adicionales. Las capacidades especficas de un instrumento en particular son crticamente dependientes de que los detectores se acomoda.

Aplicaciones

El SEM se utiliza rutinariamente para generar imgenes de alta resolucin de las formas de los objetos (SEI) y para mostrar las variaciones espaciales en la composicin qumica: 1) la adquisicin de mapas elementales o anlisis qumicos in situ con EDS , 2) la discriminacin de las fases en funcin del nmero atmico medio ( comnmente relacionados con la densidad relativa) con la EEB , y 3) los mapas de composicin basada en las diferencias de los oligoelementos "activitors" (generalmente de metales de transicin y de la Tierra los elementos raros) con CL . El SEM tambin se usa ampliamente para identificar las fases basado en el anlisis qumico cualitativo y / o estructura cristalina. La medicin precisa de las caractersticas de objetos muy pequeos y hasta 50 nm de tamao tambin se logra mediante el SEM. imgenes de electrones Backescattered ( EEB ) se puede utilizar para la discriminacin rpida de las fases en las muestras de varias fases. SEM equipado con detectores de difraccin de electrones retrodispersados ( EBSD ) se puede utilizar para examinar microfbrica y la orientacin cristalogrfica en muchos materiales.

Ventajas y limitaciones de Microscopa Electrnica de Barrido (SEM)?

Fortalezas
No es, sin duda ningn otro instrumento con la amplitud de las aplicaciones en el estudio de materiales slidos que se compara con el SEM. El SEM es fundamental en todos los mbitos que requieren una caracterizacin de materiales slidos. Si bien esta contribucin est ms preocupado con las aplicaciones geolgicas, es importante sealar que estas aplicaciones son un subconjunto muy pequeo de las aplicaciones cientficas e industriales que existen para esta instrumentacin. La mayora de SEM son relativamente fciles de operar, con fcil uso "intuitivo" interfaces. Muchas aplicaciones requieren una preparacin mnima de la muestra. Para muchas

aplicaciones, la adquisicin de datos es rpida (menos de 5 minutos / imagen de SEI, la EEB, la mancha anlisis EDS). SEM moderno generar datos en formatos digitales, que son altamente porttil.

Limitaciones
Las muestras deben ser slidos y deben encajar en la cmara del microscopio. El tamao mximo en las dimensiones horizontal es generalmente del orden de 10 cm, dimensiones verticales son generalmente mucho ms limitada y rara vez superan los 40 mm. Para la mayora de las muestras de instrumentos deben ser estables en el vaco del orden de 10
-5 a

10

-6

torr. Las muestras probable que outgas a bajas

presiones (rocas saturados de hidrocarburos, "hmedo" muestras tales como el carbn, materia orgnica o arcillas hinchazn, y las muestras de probabilidad de decrepitar a baja presin) no son adecuados para el examen convencional en SEM. Sin embargo, "bajo vaco" y "medio ambiente" SEM tambin existen, y muchos de estos tipos de muestras puede ser correctamente examinados en estos instrumentos especializados. detectores de EDS en el SEM no puede detectar la luz elementos muy (H, He y Li), y muchos instrumentos no pueden detectar los elementos con nmeros atmicos menos de 11 (Na). La mayora de SEM utilizar un estado slido del detector de rayos X ( EDS ), y mientras que estos detectores son muy rpidos y fciles de utilizar, que tienen una energa relativamente baja resolucin y la sensibilidad a los elementos presentes en abundancia baja en comparacin con la longitud de onda de rayos X detectores de dispersin ( WDS ) en la mayora de la sonda microanalizadores de electrones ( EPMA ). Una capa elctricamente conductora se debe aplicar a las muestras de aislamiento elctrico para el estudio de SEM convencional, a menos que el instrumento es capaz de funcionar en un modo de bajo vaco.

La toma de muestras y preparacin - Gua del usuario

Preparacin de la muestra puede ser mnimo o elaborar para el anlisis SEM, segn la naturaleza de las muestras y los datos requeridos. preparacin mnima incluye la adquisicin de una muestra que se ajuste a la cmara de SEM y algunas habitaciones para evitar la acumulacin de carga elctrica en muestras de aislamiento. La mayora de las muestras elctricamente aislante se recubren con una fina capa de material conductor, normalmente de oro de carbono, o algn otro metal o aleacin. La eleccin de los materiales de recubrimientos conductores depende de los datos a adquirir: de carbono es ms deseable que el anlisis elemental es una prioridad, mientras que los revestimientos de metal son ms eficaces para aplicaciones de alta resolucin de imagen electrnica. Por otra parte, una muestra de aislamiento

elctrico puede ser examinado sin un revestimiento conductor en un instrumento capaz de "vaco de baja" la operacin.

La recoleccin de datos, resultados y Presentacin

Representante Imgenes de SEM de minerales asbestiformes del USGS en Denver Microbeam Laboratorio

Un "estndar de amianto crisotilo" UICC

amianto tremolita, Valle de la Muerte, California

amianto antofilita, Georgia

-Richterita amianto winchita, Libby, Montana

Literatura
La siguiente bibliografa se puede utilizar para explorar ms a fondo Microscopa Electrnica de Barrido (MEB)

Goldstein, J. (2003) Microscopa electrnica de barrido y microanlisis de rayos X. Adacemic Kluwer / Pulbishers Pleno, 689 p.

Reimer, L. (1998), microscopa electrnica de barrido: la fsica de la formacin de la imagen y microanlisis. Springer, 527 p.

Egerton, RF (2005) Principios fsicos de la microscopa electrnica: una introduccin a la TEM, SEM, y AEM. Springer, 202.

Clarke, AR (2002) las tcnicas de Microscopa de la ciencia de materiales. CRC Press (recurso electrnico)

Enlaces relacionados
Para obtener ms informacin acerca de Microscopa Electrnica de Barrido (SEM) seguir los enlaces de abajo.

Petroglifo - Un atlas de imgenes mediante microscopio electrnico, las imgenes de electrones retrodispersados, mapas elemento, energa dispersiva de rayos-x espectros, y el microscopio petrogrfico
lnea. ) ( Este sitio puede estar fuera de

- Eric Chrisensen, Brigham Young University

SEM / EDX pgina web de la Universidad de Indiana - Purdue University Fort Wayne

Enseanza Actividades y Recursos

Comparacin de los electrones (ED) y Difraccin de Rayos-X (DRX)

Ambos ED, y difraccin de rayos X , son causadas por la interferencia constructiva de las ondas dispersas, y la fundamental mismas leyes (por ejemplo, la ley de Bragg , las normas

de extincin) se puede aplicar para la interpretacin de los patrones de difraccin resultante. En ambos casos, los patrones de difraccin de polvos y de los cristales individuales aparecen. Sin embargo, ED muestra algunas caractersticas nicas: 1. La longitud de onda de los electrones (por ejemplo, 1.97 horas para 300 keV electrones) es mucho ms corta que la de los rayos X (alrededor de 100 horas). Por lo tanto, el radio de la esfera de Ewald es ms grande y mucho ms reflexiones surgen. 2. Los ngulos de difraccin son muy pequeas: ED: 0 < 0 < <180 ) <2 (cf., difraccin de rayos X:

3. Los electrones son dispersados por el potencial positivo dentro de la nube de electrones (la interaccin de Coulomb), mientras que los rayos X interactan con la nube de electrones. Como resultado, la interaccin de los electrones con la materia es mucho ms (10 6 -10 7 ) ms fuerte que la de rayos-X. Esto tiene la ventaja de que el electrn haces difractados tienen una alta intensidad y tiempos de exposicin son del orden de unos pocos segundos. patrones de disfuncin erctil se puede observar directamente en la pantalla de visin del microscopio electrnico. Por lo tanto, la orientacin de un cristal en una direccin se puede conseguir fcilmente por la inclinacin al observar los cambios del patrn de disfuncin erctil al mismo tiempo. Por otra parte, los patrones de difraccin se puede obtener a partir de pequeos cristales muy seleccionados con una apertura difractada (rea seleccionada difraccin de electrones SAED ) y por un haz de electrones enfocado incluso de regiones de tamao del nanmetro (convergente por haz de electrones difraccin CBED). La desventaja de la interaccin fuerte es que la dispersin mltiple juega un papel importante, y las intensidades de las reflexiones son mucho ms influidos por este efecto dinmico. Esto hace que la determinacin de la estructura de la ED ms difcil y menos fiable que la de los datos de difraccin de rayos X. Un mtodo para obtener datos cuantitativos ms fiables es la difraccin de precesin .