Interferencias y difraccin

Propiedades ondulatorias de la luz

Naturaleza ondulatoria de la luz

Interferencias: al combinarse dos ondas hay mximos y mnimos Difraccin: debido a la existencia de varias fuentes( al pasar por rendijas, por ejemplo..)

Coherencia y Monocromaticidad
Una fuente monocromtica es aquella que emite luz con una nica frecuencia
r E = E 0 cos( kx wt ) u

k =

Dos fuentes monocromticas se dicen coherentes cuando emiten luz con la misma frecuencia y longitud de onda. Deben tener una relacin de fase definida y constante.
Luz coherente

Luz no coherente

Superposicin de ondas
Principio de superposicin: cuando ondas o ms ondas se superponen, el desplazamientos resultante es la suma de los desplazamientos individuales producidos por cada una de ellas. r 2 Desfase inicial = k(r1 r2 ) = (r1 r2 ) E1 = E01 cos(kr1 t ) r r E2 = E02 cos(kr2 t ) r
= (2m+1)

= 2m
En fase

En oposicin

r r r E = E1 + E 2 = E0 cos(t ) r E01 sen kr1 + E02 sen kr2 tg = E01 cos kr1 + E02 cos kr2

Suma

2 2 E0 = E01 + E02 + 2 E01 E01 cos

Interferencias de dos fuentes

Constructivas
cos = 1 E0 = E01 + E02

Destructivas
cos = 1 E0 = E01 E02

=2m r =m Se refuerza el movimiento ondulatorio

= (2m + 1) r = (2m + 1)

Se atena el movimiento ondulatorio

Interferencias en pelculas delgadas I

Los colores se deben a las interferencias entre la luz reflejada por la superficie inferior y la superior . Diferencia de caminos pticos para ngulos pequeos = 2d desfase = 2 n 2d +

Interferencias constructivas

= (2m+1) = 4d (2m+1)
El rayo 1 tiene un desfase de respecto al incidente (pasa a un medio con un ndice de refraccin mayor) mientras el rayo 2 tiene la misma fase ( va de agua a aire, de mayor a menor ndice de refraccin).

Interferencias destructivas

= 2m = 2d m

Interferencia en pelculas delgadas I: cuas de aire

Interferencias en cuas de anchura h y longitud L: reflexin en una lmina de aire. Se producen franjas brillantes y oscuras
y = ( 2 m + 1)

Posiciones de las franjas brillante

4 x = ( 2 m + 1)

L
4 h

Posiciones franjas oscuras

y=m

x=m

L
2 h

Interferencias en pelculas delgadas I: Anillos de Newton

Interferencias en superficies esfricas situadas sobre un soporte plano: reflexin en una lmina de aire. Se producen franjas brillantes y oscuras
Posiciones de las franjas brillantes
y = (2m + 1) 4

Se puede utilizar para hallar defectos en lentes

Posiciones franjas oscuras

y=m

Interferencias en pelculas delgadas II

La pelcula delgada ( ndice de refraccin n) puede estar sobre otro soporte Diferencia de caminos pticos para ngulos pequeos = 2d desfase = 2 n 2d

Interferencias constructivas

= 2m = 2d m
Los rayos 1 y 2 tienen un desfase de respecto al incidente ( la superficie de reflexin separa en ambos casos un medio con un ndice de refraccin menor de otro con ndice mayor)

Interferencias destructivas

= (2m+1) = 4d (2m+1)

El interfermetro de Michelson
Se basa en la interferencia debida a lminas delgadas Fue crucial para el desarrollo de la relatividad Divide un haz de luz monocromtica en dos ondas que siguen trayectorias diferentes Si los dos brazos del interfermetro tiene la misma longitud y los dos espejos forman un ngulo recto, las imgenes debidas a los dos rayos son iguales

El interfermetro de Michelson
Si los espejos no forman un ngulo recto, sino un ngulo 90+ , se producen las interferencias tpicas de una cua

Posiciones de las franjas brillantes

y =(2m+1) 4

L x =(2m+1) 4h
x=m

Posiciones franjas oscuras

y=m

L
2h

Si movemos en estas condiciones el espejo mvil una distancia s, las franjas de interferencia se desplazarn

Desfase adicional

= 2s

2s Nmero de franjas n = 2 =

Interferencia de dos fuentes: franjas de Young

Realizado por Thomas Young (1880) Luz monocromtica procedente de una fuente puntual ( una rendija simple) que pasa por dos ranuras separadas una distancia d Las interferencias se recogen en una pantalla situada a distancia L de las rendijas

Young II
La diferencia de caminos pticos entre los rayos procedentes de las dos fuentes causa un desfase
= r
2

= d sen

Patrones de interferencia en la pantalla

Mximos

yn = n
Minimos

L d

1 L yn = (n + ) 2 d

Difraccin
Es una propiedad de las ondas Se observa cuando se distorsiona una onda por un obstculo cuyas dimensiones son comparables a la longitud de la misma Rendijas

Obstculos

Una partcula no produce estos efectos, sino sombras definidas

Difraccin por rendijas ( Fraunhofer)

Incidencia normal en una rendija plana y rectangular Aparece un gran mximo central y =0 Mximos secundarios Y mnimos que los separan

D ym = m ; m 0 a

Rendijas mltiples
Se suman los efectos de interferencias y difraccin En cada mximo de difraccin hay mximos y mnimos de interferencias

Redes de difraccin
Transmisin o reflexin Condicin de mximo d sen = m Mximos ms grandes y espaciados Para que se aprecie ~ d Transmisin

Comparacin con N rendijas para Diferentes longitudes de onda

Reflexin

Espectrmetros
Sirven para medir el espectro de luz emitido por una fuente. Se observan lneas espectrales

Resolucin espectral: diferencia mnima de longitudes de onda que se pueden medir

R= = Nm

Difraccin de rayos X
Descubiertos por Roetgen en 1895. Son ondas electromagnticas con ~ 0.1 nm En un slido cristalino los tomos estn separados d ~ 0.1 nm Pueden servir como rejillas de difraccin ( Von Laue 1912)

Condicin de Bragg para mximos

2dsen = m