Tempo Mdio Entre Avarias (MTBF Mean Time Between Failures): Explicaes e Normalizaes

Por Wendy Torell Victor Avelar

Aplicao Tcnica N 78

Sumrio Executivo
O Tempo Mdio Entre Avarias (MTBF) um termo de fiabilidade frequentemente utilizado por vrias indstrias e a sua banalizao levou a que algumas fizessem uma m utilizao generalizada do mesmo. Ao longo dos anos, o significado original do termo sofreu adulteraes, o que levou a alguma confuso e dvida. O MTBF em grande parte baseado em pressupostos e na definio de avaria, e a ateno a estes factos fundamental para uma correcta interpretao. Este documento explica as complexidades e equvocos relativamente ao MTBF, bem como os mtodos existentes para o calcular.

2004 American Power Conversion. Todos os direitos reservados. Nenhuma parte desta publicao pode ser utilizada, reproduzida, fotocopiada, transmitida ou armazenada num sistema de recuperao de qualquer natureza, sem a autorizao por escrito do proprietrio dos direitos de autor. www.apc.com Rev 2004-0

Introduo
O Tempo Mdio Entre Avarias (MTBF) utilizado h mais de 60 anos como base para vrias decises. Ao longo dos anos, foram desenvolvidos mais de 20 mtodos e procedimentos para previses de ciclos de vida. Portanto, no admira que o MTBF tenha sido objecto de infindveis e complicados debates. Se h rea em que isso particularmente evidente na concepo de instalaes cruciais de equipamento TI e telecomunicaes. Para casos em que alguns minutos de perodo de inactividade so suficientes para causar impacto negativo no valor de mercado de uma empresa, vital que as infra-estruturas fsicas de suporte ao ambiente em rede sejam fiveis. Sem uma compreenso cabal do MTBF, a fiabilidade projectada da empresa pode no ser atingida. Este documento explora os vrios aspectos do MTBF, com recurso a vrios exemplos, numa tentativa de simplificar a complexidade inerente ao assunto e clarificar os equvocos.

O que uma avaria? Quais so os pressupostos?

Estas questes devem ser respondidas imediatamente aps examinar qualquer valor de MTBF. Sem responder a estas perguntas, de pouco vale a discusso. O MTBF muitas vezes citado sem que se adiante uma definio de avaria. Esta prtica no s enganadora, como completamente intil. Era o mesmo que definir o consumo de combustvel de um automvel como quilmetros por depsito sem especificar a capacidade do depsito em litros ou outra medida qualquer. Para desfazer esta ambiguidade, poderamos dizer que existem duas definies fundamentais de avaria: 1) 2) Cessao da capacidade de o produto executar a sua funo como um todo.1 Cessao da capacidade de um determinado componente executar a sua funo, sem impedir a capacidade de o produto funcionar como um todo.2 Os dois exemplos seguintes mostram se um determinado modo de avaria de um produto ou no classificado como avaria, consoante a definio escolhida. Exemplo 1: Se falhar um disco redundante de um sistema RAID, tal no impede que o sistema RAID continue a desempenhar a sua funo de fornecimento de dados cruciais. Contudo, a falha no disco impede um dos componentes do sistema de discos de executar a funo de fornecimento de capacidade de armazenamento. Como tal, se pela definio 1 isto no pode ser considerado avaria, pela definio 2 j se passa o contrrio.

1 2

IEC-50 IEC-50

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Exemplo 2: Se o inversor de uma UPS falhar e a UPS mudar para bypass esttico, a avaria no impede que a UPS execute a sua funo de alimentao de energia para a carga crucial. No entanto, a falha no inversor impede um dos componentes do sistema UPS de executar a funo de fornecimento de alimentao condicionada. Tal como no exemplo anterior, isto s considerado avaria pela definio 2. Se s existissem duas definies era bastante fcil definir avaria. Mas, infelizmente, quando est em causa a reputao de um produto, a questo torna-se quase to complicada como para o MTBF. Mas h mais que duas definies para avaria. Na realidade, h infinitas. Os fabricantes podem ter inmeras definies para avaria, conforme o tipo de produto. Aqueles que so guiados pela qualidade despistam todo o gnero de avarias, por uma questo de controlo do processo, o que entre outras vantagens, elimina os defeitos do produto. Assim sendo, necessrio colocar mais questes para poder definir correctamente avaria. A incorrecta utilizao do produto pelo cliente considerada avaria? Quem concebe o produto pode descurar vrios factores humanos que potenciem um uso incorrecto do mesmo pelos utilizadores. As quebras de corrente provocadas por um tcnico de vendas do servio contam como avarias? A prpria concepo do produto pode aumentar a probabilidade de avaria de um procedimento j de si arriscado? Se um LED (Dodo emissor de luz) de um computador falhasse, isso era considerado avaria mesmo que no impedisse o funcionamento do computador? Se um consumvel, como por exemplo uma bateria, se gastar ou deixar de funcionar antes do tempo previsto, isso considerado avaria? Os danos durante o transporte do produto so considerados avarias? Tal facto pode indiciar um empacotamento mal pensado pelos fabricantes. A importncia da definio de avaria deve ser, portanto, uma evidncia para todos e deve tambm ser compreendida antes de se tentar interpretar qualquer valor de MTBF. So questes como as acima colocadas que lanam os fundamentos sobre os quais devem assentar as decises de fiabilidade. Costuma-se dizer que os engenheiros nunca se enganam; apenas formulam pressupostos errados. Os mesmo se pode dizer dos que tentam calcular os valores de MTBF. So necessrios pressupostos para simplificar o processo de clculo do MTBF. Seria praticamente impossvel recolher os dados necessrios para calcular um nmero exacto. Todavia, todos os pressupostos devem ser realistas. Ao longo do documento so descritos alguns pressupostos usados no clculo do MTBF.

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Definio de Fiabilidade, Disponibilidade, MTBF e MTTR

O MTBF tem influncia tanto sobre a fiabilidade como sobre a disponibilidade. Antes de expor os mtodos de MTBF, importante ter uma base slida sobre estes conceitos. Em muitos casos, desconhece-se ou interpreta-se mal a diferena entre fiabilidade e disponibilidade. Os conceitos de elevada disponibilidade e elevada fiabilidade andam muitas vezes de mos dadas, mas nunca querem dizer a mesma coisa. Fiabilidade a capacidade que um sistema ou componente tem de executar as suas funes sob determinadas condies e durante um certo perodo de tempo [IEEE 90]. Por outras palavras, a probabilidade de um sistema ou componente levar a cabo a sua misso dentro do tempo previsto e sem avarias. Uma misso area o exemplo perfeito para ilustrar este conceito. Quando um avio parte para a sua misso, s existe um objectivo em mente: completar o voo, dentro do previsto e em segurana (sem falhas catastrficas). A Disponibilidade, por seu turno, o grau a que um sistema ou componente est operacional e acessvel, quando necessria a sua utilizao [IEEE 90]. Pode ser vista como a probabilidade de o sistema ou componente estar em posio para executar determinada funo sob certas condies e numa dada altura. A disponibilidade determinada pela fiabilidade do sistema, assim como o seu tempo de recuperao quando ocorre uma avaria. Quando os sistemas tm perodos operacionais longos e contnuos (por exemplo, um centro de dados com 10 anos), as avarias so inevitveis. A disponibilidade muitas vezes tida em conta, porque quando h uma avaria a varivel crucial passa a ser a rapidez com que o sistema recupera. Pegando no exemplo do centro de dados, a varivel crucial ter uma concepo de sistema fivel, mas quando ocorre uma avaria o aspecto mais importante a ter em conta pr o equipamento TI e os processos de novo a funcionar, fazendo-o com a mxima rapidez, para reduzir ao mnimo o perodo de inactividade.

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MTBF, ou Tempo Mdio Entre Avarias, a medida bsica para a fiabilidade do sistema. A unidade costuma ser exprimida em horas. Quando maior o MTBF, maior a fiabilidade do produto. A Equao 1 mostra esta relao.

Fiabilidade = e

Tempo MTBF

Equao 1

Um equvoco vulgar em relao ao MTBF dizer que equivalente ao nmero estimado de horas de funcionamento antes de uma falha do sistema, ou seja, ao tempo de validade. No invulgar, no entanto, ver um nmero de MTBF na ordem de 1 milho de horas e seria irrealista pensar que o sistema poderia funcionar ininterruptamente 100 anos sem uma nica avaria. Estes nmeros so muitas vezes elevados por se basearem na taxa de avaria do produto durante o seu perodo de vida til ou vida normal e parte-se do princpio de que as avarias se mantero a esta taxa indefinidamente. Durante esta fase, os produtos tm a mais baixa (e constante) taxa de avaria. Na realidade, o facto de ser um produto gastvel determinaria uma vida mais curta que o nmero apresentado de MTBF. Como tal, no deve ser estabelecida correlao directa entre o tempo de vida do produto e a taxa de avaria ou o MTBF. bastante provvel ter um produto com elevadssima fiabilidade (MTBF) e baixo tempo estimado de vida. Veja-se por exemplo um ser humano:

Existem 500.000 pessoas de 25 anos na amostra de populao. No perodo de um ano, recolhem-se dados sobre o nmero de avarias (mortes) nesta amostra da populao. A vida funcional da populao de 500.000 x 1 ano = 500.000 pessoas ano. Durante o ano morreram 625 pessoas. A taxa de avaria de 625 mortes / 500.000 pessoas ano = 0,125 % / ano. O MTBF a inverso da taxa de avaria ou 1 / 0,00125 = 800 anos. Assim, mesmo que as pessoas de 25 anos tenham valores elevados de MTBF, a sua esperana de vida (vida til) muito mais curta e no se correlaciona.

A verdade que os seres humanos no tm taxas de avaria constantes. medida que as pessoas envelhecem, mais problemas surgem (vo perdendo capacidades). Como tal, a nica maneira correcta de calcular um MTBF compatvel com o tempo de vida era esperar que toda uma amostra de populao de pessoas de 25 anos atingisse a fase final da vida. S ento se poderia calcular a respectiva esperana de vida. Penso que ser consenso geral que o nmero rondaria os 75 - 80 anos. Mas qual afinal o MTBF das pessoas de 25 anos, 80 ou 800 anos? Ambos! Mas como que uma mesma populao pode ter valores de MTBF to dspares? tudo uma questo de pressupostos!

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Tendo em conta que o MTBF de 80 anos reflecte melhor a vida do produto (neste caso os seres humanos), ser este o melhor mtodo? Intuitivamente, assim parece. No entanto, h muitas variveis que limitam a praticabilidade deste mtodo no que respeita a produtos comercializveis, como sejam os sistemas UPS. A maior limitao o tempo. Para p-lo em prtica, todo o conjunto da amostra teria de avariar, e o que acontece que para muitos produtos isto se d no espao de 10 - 15 anos. Alm disso, mesmo que fosse mais sensato esperar este tempo para calcular o MTBF, era complicado localizar os produtos. Por exemplo, como que um fabricante pode saber se os produtos ainda esto em funcionamento, se estes deixarem de ser utilizados sem que isso seja comunicado? Por ltimo, mesmo que tudo acima descrito fosse possvel, a tecnologia muda com tal rapidez, que na altura em que o nmero fosse comunicado, j no teria qualquer utilidade. Quem que ia querer saber o MTBF de um produto j ultrapassado por vrias novas verses? MTTR, ou Tempo Mdio de Reparao (ou recuperao), o tempo estimado de recuperao do sistema perante uma avaria. Pode abranger o tempo que leva a diagnosticar o problema, o tempo que leva a chegar um tcnico ao local e o tempo que leva a reparar fisicamente o sistema. Tal como no caso do MTBF, a unidade do MTTR expressa em horas. Como se v pela Equao 2, o MTTR tem impacto sobre a disponibilidade e no a fiabilidade. Quando maior o MTTR, maior a avaria do sistema. Pondo de maneira mais simples, quanto mais tempo leva a recuperar o sistema, menos disponibilidade ele tem. A frmula abaixo ilustra a forma como o MTBF e o MTTR influenciam a disponibilidade geral do sistema. Se o MTBF aumentar, a disponibilidade tambm aumenta. Se o MTTR aumentar, a disponibilidade diminui.

Disponibilidade =

MTBF ( MTBF + MTTR)

Equao 2

Para as Equaes 1 e 2 serem vlidas, preciso efectuar um pressuposto bsico ao analisar o MTBF de um sistema. Ao contrrio dos sistemas mecnicos, a maioria dos sistemas electrnicos no tem peas mveis. Como tal, geralmente aceite que os sistemas ou componentos electrnicos possuem taxas de avaria constantes durante o seu perodo de vida til. A Figura 1, designada como curva da banheira da taxa de avaria, mostra a base do pressuposto de taxa de avaria constante mencionado anteriormente. O perodo til normal ou perodo de vida til da curva a fase em que o produto est a ser usado. nessa altura que a qualidade do produto est a uma taxa de avaria constante em relao ao tempo. As origens de avaria nesta fase podem ir desde defeitos indetectveis, a factores de segurana mal concebidos de origem, maior esforo aleatrio que o esperado, factores humanos ou avarias naturais. Perodos amplos de seleco dos componentes pelos fabricantes, manuteno cuidada e substituio imediata das peas gastas, devem chegar para prevenir o gnero de curva de declnio que se v no perodo de desgaste. A discusso anterior fornece alguma base no que respeita aos conceitos de fiabilidade e disponibilidade e respectivas diferenas, permitindo uma interpretao devida do MTBF. A seco seguinte discute os vrios mtodos de previso do MTBF.

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Figura 1 Curva da banheira que mostra as taxas de avaria constantes

Perodo de avaria precoce Perodo de vida normal Perodo de desgaste

Taxa de avaria

Zona de taxa constante de avaria 0

Tempo

Mtodos de prever e estimar o MTBF

Os termos previso e estimativa so muitas vezes usados para designar a mesma coisa, o que incorrecto. Os mtodos que prevem o MTBF calculam um valor com base apenas na concepo do sistema, o que normalmente feito no incio do ciclo de vida do produto. Os mtodos de previso so teis quando h poucos ou nenhuns dados no terreno, como o caso do Vaivm Espacial ou de novas linhas de produtos. Quando existem dados suficientes, no se devem usar os mtodos de previso, mas sim mtodos que estimam o MTBF, porque estes representam medies de avarias que ocorreram de facto. Os mtodos que estimam o MTBF calculam um valor com base numa amostra estudada de sistemas semelhantes, que normalmente retirada de um grande conjunto acabado de colocar no mercado. O mtodo de estimativa de longe o mais utilizado para o calcular o MTBF, principalmente por ser baseado em produtos reais, que esto sujeitos a um uso efectivo no terreno. Todos estes mtodos so de natureza estatstica, o que significa que fornecem apenas uma aproximao do MTBF real. No existe um mtodo padronizado para toda a indstria. , portanto, fundamental que o fabricante compreenda e escolha o mtodo mais adequado respectiva aplicao. Os mtodos abaixo apresentados, muito embora no constituam uma lista completa, do uma ideia das vrias maneiras de calcular o MTBF.

Mtodos de previso da fiabilidade

Os primeiros mtodos de previso da fiabilidade surgiram por volta dos anos 40, atravs de um cientista alemo chamado Braun e um matemtico alemo de seu nome Eric Pieruschka. Na tentativa de fazer face a inmeros problemas de fiabilidade da bomba voadora V-1, Pieruschka ajudou Von Braun na modelao da fiabilidade da bomba voadora, criando desta forma o primeiro modelo documentado de previso da fiabilidade. Posteriormente, a NASA, na sequncia do crescimento da indstria nuclear, incentivou o aprofundamento no terreno das anlises de fiabilidade. Actualmente h vrios mtodos de previso do MTBF.

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MIL-HDBK 217
Publicado pelo exrcito americano em 1965, o Guia Militar 217 foi criado para fixar um padro para estimar a fiabilidade de equipamentos e sistemas electrnicos militares, de maneira a aumentar a fiabilidade do equipamento em estruturao. Estabelece uma base para comparar a fiabilidade de duas ou mais concepes semelhantes. O Guia Militar 217 tambm designado de Mil Standard 217, ou simplesmente 217. H duas maneiras de prever a fiabilidade segundo o 217: Previso pela contagem das peas ou Previso de anlise de esforo das peas. A Previso pela contagem das peas geralmente usada para prever a fiabilidade do produto no incio do ciclo de desenvolvimento, para obter uma estimativa aproximada de fiabilidade em relao ao objectivo ou especificao de fiabilidade. calculada uma taxa de avaria contando literalmente os componentes semelhantes de um produto (ex: condensadores), que so agrupados nos vrios tipos de componentes (ex: condensadores de pelcula). O nmero de componentes de cada grupo depois multiplicado por uma taxa de avaria genrica e um factor de qualidade existente no 217. Por ltimo, somam-se as taxas de avaria dos diferentes grupos de peas para obter uma taxa de avaria final. Por definio, a Contagem das peas parte do princpio que todos os componentes esto em srie e requer que as taxas de avaria dos componentes que no estejam em srie sejam calculadas parte. A Previso de anlise de esforo das peas normalmente usada muito mais tarde no ciclo de desenvolvimento, quando a concepo dos circuitos reais e o hardware esto prximos da produo. H semelhanas com a Contagem das peas, porque tambm se somam as taxas de avaria. Contudo, no Esforo das peas, a taxa de avaria para todo e qualquer componente calculada individualmente com base nos nveis de esforo especficos a que cada componente sujeito (ex: humidade, temperatura, vibrao, voltagem). De forma a atribuir os nveis de esforo correctos a cada um dos componentes, a concepo de um produto e o seu ambiente esperado tm de ser bem documentados e compreendidos. O Mtodo de esforo das peas d normalmente uma taxa de avaria mais baixa que o Mtodo de contagem das peas. Devido extenso de anlise necessria, este mtodo, a comparar com os outros, consome imenso tempo. Actualmente o 217 quase no usado. Em 1996, o exrcito americano decretou que se devia deixar de utilizar o MIL-HDBK-217, porque provou ser falvel, e a sua utilizao pode conduzir a previses de fiabilidade erradas e enganadoras3. O 217 foi excludo por vrias razes, mas a maior parte prende-se com o facto de a fiabilidade dos componentes melhorar imenso com os anos, ao ponto de j no ser o principal factor de avaria dos produtos. As taxas de avaria dadas pelo 217 so mais cautelosas (elevadas) que as dos componentes electrnicos existentes hoje em dia. Uma investigao exaustiva das avarias actuais dos produtos electrnicos revelaria que as causas mais provveis de avaria estariam na m aplicao (erro humano), controlo de processos ou concepo do produto.

Cushing, M., Krolewski, J., Stadterman, T., and Hum, B., 1996, U.S. Army Reliability Standardization Improvement Policy and Its Impact, IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology, Part A, Vol. 19, No. 2, pp. 277-278.

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Telcordia
O modelo de previso de fiabilidade Telcordia evoluiu a partir da indstria de telecomunicaes e conquistou o seu espao atravs de uma srie de alteraes ao longo dos anos. Foi desenvolvido primeiro pela Bellcore Communications Research sob o nome de Bellcore, como forma de estimar a fiabilidade do equipamento de telecomunicaes. Embora o Bellcore se baseasse no 217, os seus modelos de fiabilidade (equaes) foram alterados em 1985 de maneira a reflectir as experincias no terreno, de equipamentos de telecomunicaes. A ltima verso do Bellcore foi o TR-332 Nmero 6, de Dezembro de 1997. A SAIC comprou posteriormente o Bellcore em 1997 e rebaptizou-o de Telcordia. A ltima verso do Modelo de previso Telcordia foi o SR-332 Nmero 1, lanada em Maio de 2001. Disponibiliza vrios mtodos de clculo para alm dos presentes no 217. Actualmente, o Telcordia continua a ser aplicado como ferramenta de concepo de produtos nesta mesma indstria.

HRD5
O HRD5 o Guia para a fiabilidade dos dados de componentes electrnicos que utilizado nos sistemas de telecomunicaes. O HRD5 foi desenvolvido pela British Telecom e usado principalmente no Reino Unido. semelhante ao 217, s que no cobre tantas variveis ambientais, e fornece um modelo de previso de fiabilidade que abrange um espectro mais vasto de componentes electrnicos, incluindo telecomunicaes.

RBD (Diagrama de blocos de fiabilidade)

O Diagrama de blocos de fiabilidade, ou RBD, um desenho representativo e uma ferramenta de clculo usada para modelar a disponibilidade e fiabilidade do sistema. A estrutura de um diagrama de blocos de fiabilidade determina a interaco lgica de avarias no sistema e no necessariamente a sua interligao lgica ou fsica. Cada bloco pode representar a falha de um componente individual, subsistema ou qualquer outra avaria representativa. O diagrama pode representar todo um sistema ou qualquer subconjunto ou combinao desse sistema, o que implica uma anlise de avaria, fiabilidade ou disponibilidade. Tambm serve como ferramenta de anlise para mostrar como cada um dos elementos funciona e afecta a operacionalidade do sistema.

Modelo de Markov
O modelo de Markov possibilita a capacidade de analisar sistemas complexos, como arquitecturas elctricas. Os modelos de Markov tambm so conhecidos como diagramas de estado espacial ou grficos de estado. Pode definir-se estado espacial como o conjunto de todos os estados em que um sistema pode estar. Ao contrrio dos diagramas de blocos, os grficos de estado fornecem uma representao mais exacta do sistema. Os grficos de estado abrangem ramificaes das avarias dos componentes, assim como vrios estados que os diagramas de blocos no conseguem representar, como o estado de uma UPS a funcionar com bateria. Para alm do MTBF, os modelos de Markov fornecem uma srie de outras medidas de sistema, incluindo a disponibilidade, MTTR, a probabilidade de estar num determinado estado numa dada altura, e muitas outras.

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FMEA / FMECA
A FMEA (Anlise de modos e efeitos de avarias Failure Mode and Effects Analysis) um processo usado para analisar os modos de avaria de um produto. Esta informao depois usada na determinao do impacto de cada avaria no produto, conduzindo a uma concepo melhorada do produto. A anlise pode ser aprofundada se for atribudo um nvel de gravidade a cada um dos modos de avaria, passando a chamar-se FMECA (Anlise de modos, efeitos e criticidade de avarias Failure Mode, Effects and Criticality Analysis). A FMEA utiliza uma abordagem de baixo para cima. Por exemplo, no caso de uma UPS, a anlise comea com o componente ao nvel da placa de circuito e vai subindo na escala at abranger o sistema todo. Para alm de ser usada como ferramenta de concepo de produto, tambm pode ser utilizada para calcular a fiabilidade do sistema geral. Para muitas das peas de equipamento, os dados de probabilidade necessrios aos clculos podem ser difceis de obter, especialmente se tiverem vrios estados ou modos de funcionamento.

rvore de falhas
A anlise por rvore de falhas foi uma tcnica desenvolvida pela Bell Telephone Laboratories para executar aferies de segurana no Sistema de Controlo de Lanamento do Minuteman. Foi mais tarde aplicada s anlises de fiabilidade. As rvores por falhas podem ajudar a dissecar os vrios passos dos acontecimentos, no que respeita s falhas ou ao funcionamento normal, que conduzem at falha ao nvel dos componentes ou ao acontecimento indesejado que est a ser investigado (abordagem de cima para baixo). A fiabilidade calculada atravs da converso da rvore por falhas final num conjunto de equaes equivalente, que por sua vez se obtm atravs da lgebra de acontecimentos, tambm conhecida como lgebra booleana. Tal como na FMEA, os dados de probabilidade necessrios aos clculos podem ser difceis de obter.

HALT
O Teste de Vida Ultra-rpido (HALT Highly Accelerated Life Testing) um mtodo usado para aumentar a fiabilidade geral de uma concepo de produto. O HALT usado para aferir o tempo que um produto demora a atingir literalmente o ponto de ruptura, pela submisso a condies extremas meticulosamente medidas e controladas, por exemplo de temperatura ou de vibrao. usado um modelo matemtico para estimar o tempo real que um produto no terreno demoraria a ter falhas. Embora o HALT permita estimar o MTBF, a sua principal funo melhorar a fiabilidade da concepo do produto.

Mtodos de estimativa de fiabilidade

Mtodo de Previso de Itens Semelhantes
Este mtodo permite estimar, de forma rpida, a fiabilidade com base em dados histricos de fiabilidade de itens semelhantes. A eficcia deste mtodo depende acima de tudo do grau de semelhana entre o novo equipamento e o actualmente existente, ou seja, aquele para o qual existem dados no terreno. Deve haver similaridade de processos de fabrico, ambientes de funcionamento, funes do produto e concepo. Este mtodo de previso especialmente til para produtos que seguem uma linha evolutiva, j que tira partido da experincia passada no terreno. Todavia, as diferenas apresentadas pelas novas concepes devem ser meticulosamente estudadas e tidas em conta para a previso final.
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Mtodo de Medio de Dados no Terreno

O mtodo de medio de dados no terreno baseia-se na experincia factual de produtos no terreno. Este mtodo talvez o mais utilizado pelos fabricantes, por ser parte integrante do programa de controlo de qualidade. Estes programas so muitas vezes designados no geral como Gesto de crescimento de fiabilidade. Pela despistagem da taxa de avaria de produtos no terreno, o fabricante consegue rapidamente identificar e combater os problemas, suprimindo os defeitos dos produtos. Como baseado em avarias reais no terreno, este mtodo abarca modos de avaria que escapam por vezes aos mtodos de previso. O mtodo consiste em seguir um grupo de amostragem de novos produtos e recolher os dados de avaria. Uma vez recolhidos os dados, calcula-se a taxa de avaria e o MTBF. A taxa de avaria a percentagem de um conjunto de unidades que se estima que vo falhar num ano civil. Para alm de os dados serem usados para controlo de qualidade, eles servem igualmente para informar clientes e parceiros sobre a fiabilidade e processos de qualidade dos produtos. Como um mtodo muito banalizado entre fabricantes, serve como base de comparao de valores MTBF. Tais comparaes permitem aos utilizadores avaliarem as diferenas de fiabilidade entre produtos, o que um instrumento importante na hora de fazer especificaes ou tomar decises de compra. Tal como em qualquer outra comparao, imperativo que as variveis fundamentais sejam iguais para todos os sistemas em avaliao. Quando isto no acontece, mais provvel que se tomem decises erradas e que da resultem impactos financeiros negativos.

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Concluses
MTBF uma palavra de gria vulgarmente utilizada pela indstria TI. So lanados nmeros sem a devida compreenso daquilo que representam. Embora o MTBF seja um indicador de fiabilidade, nada tem a ver com a vida til estimada de um produto. Em ltima anlise, um valor de MTBF de pouco ou nada serve se a avaria for indefinida e os pressupostos forem irrealistas ou no existirem de todo.

Referncias
1. 2. 3. 4. 5. Pecht, M.G., Nash, F.R., Predicting the Reliability of Electronic Equipment, Procedimentos do IEEE, Vol. 82, No. 7, Julho 1994 Leonard, C., MIL-HDBK-217: Its Time To Rethink It, Electronic Design, 24 Outubro, 1991 http://www.markov-model.com MIL-HDBK-338B, Electronic Reliability Design Handbook, 1 Outubro, 1998 IEEE 90 Institute of Electrical and Electronics Engineers, Dicionrio informtico standard do IEEE: Compilao dos glossrios informticos standard do IEEE. New York, NY: 1990

Acerca dos autores:

Wendy Torell Engenheira de Disponibilidade da APC em W. Kingston, RI. Faz consultadoria na rea de estratgias cientficas de disponibilidade e concepo de prticas para optimizar a disponibilidade dos ambientes de centros de dados. Completou o bacharelato em Engenharia mecnica pela Union College em Schenectady, NY. Wendy uma Engenheira de qualidade certificada pela ASQ. Victor Avelar Engenheiro de Disponibilidade da APC. responsvel pela consultoria de disponibilidade e anlise de arquitecturas elctricas e concepo de centros de dados para clientes. Victor completou o bacharelato em Engenharia mecnica no Rensselaer Polytechnic Institute em 1995 e membro da ASHRAE e da Sociedade americana para a qualidade (ASQ).

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