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INSTITUTO TECNOLGICO DE LA PAZ

INGENIERA BIOQUMICA, ESTADISTICA




TRABAJO DE INVESTIGACION


ARRIOLA MACHADO JOS BERNARDO



MC: JUAN MANUEL RODRIGEZ TORRES









FECHA DE ENTREGA: LUNES 4 DE JUNIO




TIPOS DE MUESTREO
En ocasiones en que no es posible o conveniente realizar un censo (analizar a todos los
elementos de una poblacin), se selecciona una muestra, entendiendo por tal una
parte representativa de la poblacin.
El muestreo es por lo tanto una herramienta de la investigacin cientfica, cuya
funcin bsica es determinar que parte de una poblacin debe examinarse, con la
finalidad de hacer inferencias sobre dicha poblacin.
La muestra debe lograr una representacin adecuada de la poblacin, en la que se
reproduzca de la mejor manera los rasgos esenciales de dicha poblacin que son
importantes para la investigacin. Para que una muestra sea representativa, y por lo
tanto til, debe de reflejar las similitudes y diferencias encontradas en la poblacin, es
decir ejemplificar las caractersticas de sta.
Los errores ms comunes que se pueden cometer son:
1.- Hacer conclusiones muy generales a partir de la observacin de slo una parte de
la Poblacin, se denomina error de muestreo.
2.- Hacer conclusiones hacia una Poblacin mucho ms grandes de la que
originalmente se tomo la muestra. Error de Inferencia.
En la estadstica se usa la palabra poblacin para referirse no slo a personas si no a
todos los elementos que han sido escogidos para su estudio y el trmino muestra se
usa para describir una porcin escogida de la poblacin.
TIPOS DE MUESTREO
Existen diferentes criterios de clasificacin de los diferentes tipos de muestreo,
aunque en general pueden dividirse en dos grandes grupos: mtodos de muestreo
probabilsticos y mtodos de muestreo no probabilsticos.
I. Muestreo probabilstico
Los mtodos de muestreo probabilsticos son aquellos que se basan en el principio de
equiprobabilidad. Es decir, aquellos en los que todos los individuos tienen la misma
probabilidad de ser elegidos para formar parte de una muestra y, consiguientemente,
todas las posibles muestras de tamao n tienen la misma probabilidad de ser
seleccionadas. Slo estos mtodos de muestreo probabilsticos nos aseguran la
representatividad de la muestra extrada y son, por tanto, los ms recomendables.
Dentro de los mtodos de muestreo probabilsticos encontramos los siguientes tipos:
1.- Muestreo aleatorio simple:
El procedimiento empleado es el siguiente: 1) se asigna un nmero a cada individuo de
la poblacin y 2) a travs de algn medio mecnico (bolas dentro de una bolsa, tablas
de nmeros aleatorios, nmeros aleatorios generados con una calculadora u
ordenador, etc.) se eligen tantos sujetos como sea necesario para completar el tamao
de muestra requerido. Este procedimiento, atractivo por su simpleza, tiene poca o nula
utilidad prctica cuando la poblacin que estamos manejando es muy grande.
2.- Muestreo aleatorio sistemtico:
Este procedimiento exige, como el anterior, numerar todos los elementos de la
poblacin, pero en lugar de extraer n nmeros aleatorios slo se extrae uno. Se parte
de ese nmero aleatorio i, que es un nmero elegido al azar, y los elementos que
integran la muestra son los que ocupa los lugares i, i+k, i+2k, i+3k,...,i+(n-1)k, es decir
se toman los individuos de k en k, siendo k el resultado de dividir el tamao de la
poblacin entre el tamao de la muestra: k= N/n. El nmero i que empleamos como
punto de partida ser un nmero al azar entre 1 y k.
El riesgo este tipo de muestreo est en los casos en que se dan periodicidades en la
poblacin ya que al elegir a los miembros de la muestra con una periodicidad
constante (k) podemos introducir una homogeneidad que no se da en la poblacin.
Imaginemos que estamos seleccionando una muestra sobre listas de 10 individuos en
los que los 5 primeros son varones y los 5 ltimos mujeres, si empleamos un muestreo
aleatorio sistemtico con k=10 siempre seleccionaramos o slo hombres o slo
mujeres, no podra haber una representacin de los dos sexos.
3.- Muestreo aleatorio estratificado:
Trata de obviar las dificultades que presentan los anteriores ya que simplifican los
procesos y suelen reducir el error muestral para un tamao dado de la muestra.
Consiste en considerar categoras tpicas diferentes entre s (estratos) que poseen gran
homogeneidad respecto a alguna caracterstica (se puede estratificar, por ejemplo,
segn la profesin, el municipio de residencia, el sexo, el estado civil, etc.). Lo que se
pretende con este tipo de muestreo es asegurarse de que todos los estratos de inters
estarn representados adecuadamente en la muestra. Cada estrato funciona
independientemente, pudiendo aplicarse dentro de ellos el muestreo aleatorio simple
o el estratificado para elegir los elementos concretos que formarn parte de la
muestra. En ocasiones las dificultades que plantean son demasiado grandes, pues
exige un conocimiento detallado de la poblacin. (Tamao geogrfico, sexos,
edades,...).
La distribucin de la muestra en funcin de los diferentes estratos se denomina
afijacin, y puede ser de diferentes tipos:
Afijacin Simple: A cada estrato le corresponde igual nmero de elementos
mustrales.
Afijacin Proporcional: La distribucin se hace de acuerdo con el peso (tamao) de la
poblacin en cada estrato.
Afijacin Optima: Se tiene en cuenta la previsible dispersin de los resultados, de
modo que se considera la proporcin y la desviacin tpica. Tiene poca aplicacin ya
que no se suele conocer la desviacin.
4.- Muestreo aleatorio por conglomerados:
Los mtodos presentados hasta ahora estn pensados para seleccionar directamente
los elementos de la poblacin, es decir, que las unidades mustrales son los elementos
de la poblacin.
En el muestreo por conglomerados la unidad muestral es un grupo de elementos de la
poblacin que forman una unidad, a la que llamamos conglomerado. Las unidades
hospitalarias, los departamentos universitarios, una caja de determinado producto,
etc., son conglomerados naturales. En otras ocasiones se pueden utilizar
conglomerados no naturales como, por ejemplo, las urnas electorales. Cuando los
conglomerados son reas geogrficas suele hablarse de
"muestreo por reas".
El muestreo por conglomerados consiste en seleccionar aleatoriamente un cierto
numero de conglomerados (el necesario para alcanzar el tamao muestral establecido)
y en investigar despus todos los elementos pertenecientes a los conglomerados
elegidos.



TIPOS DE PLANES DE MUESTREO
VARIABLES: Son caractersticas de calidad que se miden en una escala numrica.
ATRIBUTOS: Son caractersticas de calidad que se expresan en forma de pasa-no-
pasa.
PLANES DE MUESTREO SIMPLES:
Es un procedimiento en el que se toma una muestra aleatoria de n unidades del lote
para su apreciacin, y se determina el destino del lote con base a la informacin
contenida en la muestra. Por ejemplo, un plan de muestreo simple para atributos
consistira en una muestra de tamao n y un nmero de aceptacin c.
PLAN DE MUESTREO DOBLE:
Despus de una muestra inicial se toma una decisin en base a la informacin de esta
muestra para: 1) aceptar el lote, 2) rechazarlo, 3) tomar una segunda muestra. Si se
toma esta ltima, se combina la informacin de ambas muestras para decidir sobre la
aceptacin o el rechazo del lote.
PLAN DE MUESTREO MLTIPLE:
Es una extensin del concepto de muestreo doble, en el que pueden necesitarse ms
de dos muestras para llegar a una decisin acerca de la suerte del lote. Los tamaos
muestrales suelen ser menos que en un muestreo simple o doble.
PLAN DE MUESTREO SECUENCIAL:
Es una extensin del muestreo mltiple, en el que se seleccionan artculos (uno a la a
vez) del lote y, segn la inspeccin de cada unidad, se toma una decisin para aceptar
o rechazar el lote, al seleccionar otro artculo.

CONFORMACIN DEL LOTE
Los lotes deben adecuarse al sistema de manejo o manipulacin de materias que se
utilizan en las instalaciones del proveedor y el consumidor.
MUESTREO ALEATORIO: Las unidades de un lote deben elegirse al azar para la
inspeccin, y estas unidades deben ser representativas de todos los artculos del lote.
Para que no exista un sesgo.
Se asigna un nmero a cada artculo en el lote. Luego se eligen n nmeros aleatorios,
que pueden variar del 1 a un mximo, que corresponde al nmero de unidades en el
lote.
DIRECTRICES SOBRE EL USO DEL MUESTREO PARA ACEPTACION

- Un plan de muestreo de aceptacin es un planteamiento del tamao muestral que
hay que utilizar y de los criterios de aceptacin o de rechazo correspondientes para
juzgar lotes individuales.
- La seleccin de un procedimiento de muestreo para aceptacin depende del objetivo
de la organizacin del muestreo, as como del historial de la empresa cuyo producto
se muestrea.
- En realidad, hay que confiar ms en controles adecuados de procesos al nivel del
proveedor con objeto de asegurar la calidad.

PLANES DE MUESTREO SIMPLES POR ATRIBUTOS

DEFINICION: Se define mediante el tamao muestral n y el nmero de aceptacin c.
Por lo tanto, si el tamao del lote es N = 10,000, entonces el plan de muestreo es:
n = 89
c = 2

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACION: Una medida importante del
funcionamiento de un plan de muestreo para aceptacin es la CCO que representa la
probabilidad de aceptar el lote contra la fraccin muestral defectuosa, es decir muestra
la probabilidad de que un lote con cierta fraccin de artculos defectuosos sea aceptado
o rechazado.

DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO SIMPLE CON UNA CURVA CO
ESPECIFICADA

Un mtodo comn para el diseo de un plan de muestreo para aceptacin, consiste en
exigir que la curva CO pase por dos puntos designados. Supongamos que se quiere
elaborar un plan de muestreo tal que la probabilidad de aceptacin sea 1 - o para lotes
con fraccin defectuosa P
1
y | para los lotes con una fraccin defectuosa P
2
.
d n
c
d
d
P P
d n d
n

=

=

) 1 (
) ( !
!
1
1
0
1
o
c
d 0 =
= |
) ( !
!
d n d
n

d n d
P P

) 1 (
2 2


MUESTREO DOBLE

Es un procedimiento en el que bajo ciertas circunstancias se necesita una segunda
muestra antes de juzgar un lote. Un plan de muestreo doble se define mediante cuatro
parmetros.

n
1
= Tamao muestral de la primera muestra
C
1
= Nmero de aceptacin de la primera muestra
n
2
= Tamao muestral de la segunda muestra
C
2
= Nmero de aceptacin para ambas muestras combinadas.

Como ejemplo, supongamos que n
1
= 50, c
1
= 1, n
2

= 100 y c
2
= 3. Se observa el nmero de
defectos d
1
. Si d
1
< C
1
= 1, se aceptar el lote en la primera muestra. Si d
1
>C
2
= 3, se
rechazar el lote en la primera muestra. Si C
1
< d
1
< C
2
, se tomar una segunda muestra
aleatoria de tamao n
2
= 100 del lote, y se observar el nmero de artculos defectuosos
observados en ambas muestras, d
1
+ d
2
, para determinar la suerte del lote. Si d
1
+ d
2

< C
2
= 3,
se aceptar el lote. Sin embargo, si d
1
+ d
2
> C
2
= 3, se le rechazar.

CURVA CO
El clculo para el caso del plan n
1
= 50, C
1
= 1, n
2
= 100, C
2
= 3 sera:
Si Pa denota la probabilidad de aceptacin, en las muestras combinadas, y P y Pa la
probabilidad de aceptacin en la primera y segunda muestras, entonces

Pa = P + Pa

Ahora:
Pa es la probabilidad de conservar d < C
1
= 1 artculos defectuosos en una muestra
aleatoria de n
1
= 50. Por lo tanto:

P =
1
0 =

d

1 1
50
1 1
) 1 (
)! 50 ( !
! 50
d d
P P
d d



= (0.220) (0.0059)
= 0.001
Por lo tanto, la probabilidad de aceptacin en la segunda muestra es:

Pa = P {d
1
= 2, d 1
2
< } + P {d
1
= 3, d 0
2
= }
= 0.009 + 0.001
= 0.010

La probabilidad de aceptacin de un lote que tiene una fraccin defectuosa P = 0.05
es, por lo tanto,

Pa = P + Pa
= 0.279 + 0.010
= 0.289

PLANES DE MUESTREO MLTIPLE

Es una extensin del muestreo doble en el que se pueden necesitar ms de dos
muestras para juzgar un lote. Un ejemplo de dicho plan es el que sigue:

Tamao muestral
acumulativo
Nmero de aceptacin Nmero de rechazo
20
40
60
80
100
0
1
3
5
8
3
4
5
7
9


Si al terminar cualquier etapa del muestreo, el nmero de artculos defectuosos es
menor que o igual al nmero de aceptacin, se aceptar el lote. Si la unidad de
artculos defectuosos, durante cualquier etapa del muestreo, es igual o mayor que el
nmero de rechazo, se descarta el lote; de otra manera se tomar la siguiente muestra.
Este procedimiento de muestreo mltiple contina hasta extraer la quinta muestra, y en
ese momento hay que tomar una decisin sobre la suerte del lote.
La ventaja principal de los planes de muestreo mltiple es que las muestras requeridas
en cada etapa son normalmente ms pequeas que las del muestreo doble o simple.
Sin embargo, el muestreo mltiple es mucho ms complicado de administrar






1
1 1
= < c d 1
1 1
= > c d

3 1
1
< <d d
1
> c
1
< c
2
= 3






3
2 2 1
= > + c d d



Figura 3. Funcionamiento del plan de muestreo doble, 50
1
= n , 3 , 100 , 1
2 2 1
= = = c n c

Sin embargo, la duda queda ah, Qu afecta ms a la Curva Caracterstica de
Operacin? n c?
Vemoslo en el siguiente ejercicio, para lo cual tambin ser necesario trazar las
grficas correspondientes.

3
2 2 1
= < + c d d
Inspeccinese una muestra
aleatoria de n
1
= 50 del lote
1
d =
nmero de artculos defectuosos
observados
Aceptacin
del lote
Aceptacin
del lote
Rechazo del
lote
Rechazo
del lote
Inspeccinese una muestra
aleatoria de 100
2
= n del lote
=
2
d nmero de artculos
defectuosos observados

PLANES DE MUESTREO SECUENCIAL

Este muestreo es una extensin del concepto de muestreo doble y mltiple. En el
muestreo secuencial se toma una sucesin de muestras del lote y los resultados del
proceso de muestreo determinan por completo el nmero de muestras que se toman.
El muestreo secuencial puede proseguir en teora indefinidamente, hasta realizar una
inspeccin al 100%. Sin embargo, en la prctica los planes de muestreo se cortan, por
lo regular despus de que el nmero de artculos inspeccionados es igual a tres veces
dicho nmero utilizando un plan de muestreo simple correspondiente.

PLANES DE MUESTREO DE DODGE-ROMIG

H. F. Dodge y H. G. Romig desarrollaron un conjunto de tablas de inspeccin muestral
para la inspeccin lote por lote por atributos de productos.

En las tablas se presentan dos tipos de planes de muestreo.

Planes para la Proteccin del Porcentaje Defectuoso Tolerable por Lote (PDTL).
Planes que proporcionan un Lmite de Calidad Media de Salida (LCMS).

LOS PLANES DE LCMS.

Los planes Dodge-Romig se aplican slo a programas que someten los lotes
rechazados a una inspeccin al 100%

Planes de LCMS.
Las tablas de Dodge-Romig indican los planes de muestreo del LCMS para valores de
0.1%, 0.25%, 0.75%, 1%, 1.5%, 2%, 2.5%, 3%, 4%. Para cada uno de stos, se
especifican 6 clases de valores para la media del proceso. Se proporcionan tablas para
el muestreo simple y doble a la vez.
PLANES DE PDTL
Las tablas del PDTL (de Dodge-Romig) se disearon de manera que la de aceptacin
de un lote para el PDTL sea 0.1. Se proporcionan tablas del PDTL de 0.5%, 1%. 2%,
3%, 4%, 5%, 7% y 10%.
TIPOS DE PLANES DE MUESTREO.
I. Plan de variables del porcentaje de no conformidad.
II. Plan de variables del parmetro del proceso.

1. Plan de variables para el porcentaje de no conformidad.

Estn diseados para calcular la proporcin de producto que est fuera de
especificaciones:
a) Grfica de lote de Shainin
b) Norma MIL-STD- 414/ZI.9.

II. Los planes de variables para el parmetro del proceso se disean a fin de
controlar las desviaciones promedio y estndar de la distribucin del producto
para que queden dentro de niveles especficos (poco usados):
a) Grfica de control de aceptacin

b) Muestreo secuencial por variable

c) La prueba de hiptesis.



I. a) Plan de la grfica de Shainin.

Fue concebido por Dorian Shainin. En este mtodo se emplea una distribucin de
frecuencia graficada (histograma) para calcular mediante una muestra la decisin
de aceptar o rechazar un lote. Es sencillo.

Ejemplo:

1. Se obtiene del lote una muestra aleatoria de 10 subgrupos, de 5 elementos cada
una, con un total de 50 elementos. En la tabla 9-16 (Besterfield) se muestran los
resultados obtenidos en la inspeccin.
2. Se calcula el promedio, x y el rango, R, correspondientes a cada uno de los
subgrupos. Los resultados se muestran en la tabla 9-16 (Besterfield, pg. 368)
3. Se construye un histograma utilizando las tcnicas ya conocidas. El plan de
Shainin prescribe que la cantidad de celdas debe estar entre 7 y 16, cantidades
mayores que las comentadas. En la fig. 9-14 (pg. 369) se muestra el histograma
correspondiente a un intervalo de 0.3 y 9 celdas.




I. PLAN DE VARIABLES PARA EL PORCENTAJE DE NO
CONFORMIDAD

b) MIL-STD-414 y ANSI/ASQC ZL.9-1980.
ANSI = American National Standards Institute.
ASQC = American Society for Quality Control.

La norma es un mtodo de aceptacin lote por lote por variables. En 1980, la
Sociedad Estadounidense para el Control de Calidad (ASQC) le hizo modificaciones
a fin de aproximarla lo ms posible a la norma MIL-STD-105 D/ZI,4.

Los valores numricos del NAC van desde 0.10 hasta 10.0%. Secontempla el uso de
inspeccin normal, rigurosa y restringida. El tamao de la muestra es funcin del
tamao del lote y del nivel de inspeccin. La variable es aleatoria y distribuida
normalmente. Tiene una extensin de 100 pginas.
Esta norma contempla nueve procedimientos que sirven para evaluar la aceptacin o
rechazo de un lote.
La conformacin de la norma es la siguiente:

















Se desconoce variabilidad
(Mtodos del Rango)
0.9
Especificacin
Sencilla
Forma 1 Forma 2
Especificacin Doble
Forma 2
Se desconoce la variabilidad
(Mtodo desviacin estndar)
Si se sabe cul es la especificacin del proceso (o ) y sta es estable, el ms
econmico es el plan de la variabilidad conocida. Si no se conoce sta, se emplea
el mtodo de la desviacin estndar o el mtodo del rango. Puesto que para ste
se necesita un tamao de muestra mayor, es recomendable utilizar el mtodo de la
desviacin estndar. Existen dos tipos de especificaciones:

a) Sencilla

b) Doble

Se ofrecen dos procedimientos alternos, forma 1 y forma 2, que permiten obtener la
misma decisin de aceptacin-rechazo. Aunque la forma 1 es ms sencilla, slo se le
puede usar en casos ce especificacin sencilla por ello, el procedimiento que se
prefiere es la forma 2.


La norma MIL-STD-414 consta de cuatro secciones:

Seccin A. Se ofrece:

-Descripcin general

-Letras de cdigo (designan tamao de muestra

-Curvas OC correspondientes a los planes de muestreo.


Seccin B. Se ofrecen:
-Procedimientos y ejemplos para variabilidad desconocida:
-Mtodo de la desviacin estndar

Seccin C. Se ofrecen:
-Procedimientos y ejemplos para variabilidad desconocida:
-Mtodo del rango

Seccin D. Se ofrecen:
-Procedimientos y ejemplos para variabilidad conocida.


El tamao de la muestra de todos los mtodos se indica mediante letras de cdigo
que se determinan segn el tamao del lote y el nivel de inspeccin (Tabla 9-17,
Besterfield)
Hay cinco niveles de inspeccin: Niveles Especiales S3, S4 y Niveles Generales I, II,
y III. Los Niveles Especiales se usan cuando es necesario emplear tamaos de
muestra pequeos y se puede y debe tolerar grandes riesgos.
Los niveles de inspeccin general son similares a los de la norma MIL STD 105 D/Z
I.4. Debe utilizarse el nivel II. Con el nivel III se obtiene una curva CO con ms
pendiente, reduciendo as el riego del consumidor. Cuando es posible tolerar riesgos
de consumidor mayores, se usa el nivel de inspeccin 1.

Ejemplo para ilustrar el procedimiento en el que se desconoce la variabilidad; el
mtodo usado ser el de la desviacin estndar, especificacin sencilla y la forma 2.

1. La temperatura mnima de un cocedor es de 180

F. Se enva para su
inspeccin un lote de 40 elementos. El criterio que se aplica es el de una
inspeccin II, inspeccin normal y NAC = 1.O %.

La tabla (9.17) refiere la letra de cdigo D, que corresponde a una muestra R=5
(tabla 918, Besterfield) Las temperaturas posteriores de las primeras cinco
muestras son 197, 188, 184, 205 y 201F

F
n
X
X 195
5
201 205 184 188 197
=
+ + + +
=

=

80 . 8
1 5
125 . 190 435 . 190
1
) (
2
2
=


=
n
n
X
X
S

ndice de calidad inferior (QL =
S
L X
):
*L = especificacin menor

70 . 1
8 . 8
180 195
=

=
S
L X
QL

Clculo de porcentaje de no conformidad menor a L =
L
p
De la tabla 9-19,
L
p = 0.66%
L
p = no conformidad porcentual del lote =
u
p

*Porcentaje de no conformidad mximo permisible: M

De la tabla 9-18, M = 3.32%

El lote satisface el criterio de aceptacin cuando
L
p < M:

puesto que 0.66% < 3.32%, ACEPTE EL LOTE

Este problema corresponde a una especificacin menor (= L).
Si la especificacin sencilla hubiera correspondido a una especificacin superior, U,
el mtodo habra sido el mismo, excepto que Q
u
se habra calculado empleando la
frmula siguiente:
S
X U
Qu

=
El clculo del porcentaje de no conformidad anterior U,
u
p , se obtiene de la tabla 9-
19 y se compara con M para decidir la aceptacin o el rechazo.

Si el problema entraa una especificacin superior e inferior se calculan tanto
u
p
como
L
p y se comparan con M.

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