=
) 1 (
) ( !
!
1
1
0
1
o
c
d 0 =
= |
) ( !
!
d n d
n
d n d
P P
) 1 (
2 2
MUESTREO DOBLE
Es un procedimiento en el que bajo ciertas circunstancias se necesita una segunda
muestra antes de juzgar un lote. Un plan de muestreo doble se define mediante cuatro
parmetros.
n
1
= Tamao muestral de la primera muestra
C
1
= Nmero de aceptacin de la primera muestra
n
2
= Tamao muestral de la segunda muestra
C
2
= Nmero de aceptacin para ambas muestras combinadas.
Como ejemplo, supongamos que n
1
= 50, c
1
= 1, n
2
= 100 y c
2
= 3. Se observa el nmero de
defectos d
1
. Si d
1
< C
1
= 1, se aceptar el lote en la primera muestra. Si d
1
>C
2
= 3, se
rechazar el lote en la primera muestra. Si C
1
< d
1
< C
2
, se tomar una segunda muestra
aleatoria de tamao n
2
= 100 del lote, y se observar el nmero de artculos defectuosos
observados en ambas muestras, d
1
+ d
2
, para determinar la suerte del lote. Si d
1
+ d
2
< C
2
= 3,
se aceptar el lote. Sin embargo, si d
1
+ d
2
> C
2
= 3, se le rechazar.
CURVA CO
El clculo para el caso del plan n
1
= 50, C
1
= 1, n
2
= 100, C
2
= 3 sera:
Si Pa denota la probabilidad de aceptacin, en las muestras combinadas, y P y Pa la
probabilidad de aceptacin en la primera y segunda muestras, entonces
Pa = P + Pa
Ahora:
Pa es la probabilidad de conservar d < C
1
= 1 artculos defectuosos en una muestra
aleatoria de n
1
= 50. Por lo tanto:
P =
1
0 =
d
1 1
50
1 1
) 1 (
)! 50 ( !
! 50
d d
P P
d d
= (0.220) (0.0059)
= 0.001
Por lo tanto, la probabilidad de aceptacin en la segunda muestra es:
Pa = P {d
1
= 2, d 1
2
< } + P {d
1
= 3, d 0
2
= }
= 0.009 + 0.001
= 0.010
La probabilidad de aceptacin de un lote que tiene una fraccin defectuosa P = 0.05
es, por lo tanto,
Pa = P + Pa
= 0.279 + 0.010
= 0.289
PLANES DE MUESTREO MLTIPLE
Es una extensin del muestreo doble en el que se pueden necesitar ms de dos
muestras para juzgar un lote. Un ejemplo de dicho plan es el que sigue:
Tamao muestral
acumulativo
Nmero de aceptacin Nmero de rechazo
20
40
60
80
100
0
1
3
5
8
3
4
5
7
9
Si al terminar cualquier etapa del muestreo, el nmero de artculos defectuosos es
menor que o igual al nmero de aceptacin, se aceptar el lote. Si la unidad de
artculos defectuosos, durante cualquier etapa del muestreo, es igual o mayor que el
nmero de rechazo, se descarta el lote; de otra manera se tomar la siguiente muestra.
Este procedimiento de muestreo mltiple contina hasta extraer la quinta muestra, y en
ese momento hay que tomar una decisin sobre la suerte del lote.
La ventaja principal de los planes de muestreo mltiple es que las muestras requeridas
en cada etapa son normalmente ms pequeas que las del muestreo doble o simple.
Sin embargo, el muestreo mltiple es mucho ms complicado de administrar
1
1 1
= < c d 1
1 1
= > c d
3 1
1
< <d d
1
> c
1
< c
2
= 3
3
2 2 1
= > + c d d
Figura 3. Funcionamiento del plan de muestreo doble, 50
1
= n , 3 , 100 , 1
2 2 1
= = = c n c
Sin embargo, la duda queda ah, Qu afecta ms a la Curva Caracterstica de
Operacin? n c?
Vemoslo en el siguiente ejercicio, para lo cual tambin ser necesario trazar las
grficas correspondientes.
3
2 2 1
= < + c d d
Inspeccinese una muestra
aleatoria de n
1
= 50 del lote
1
d =
nmero de artculos defectuosos
observados
Aceptacin
del lote
Aceptacin
del lote
Rechazo del
lote
Rechazo
del lote
Inspeccinese una muestra
aleatoria de 100
2
= n del lote
=
2
d nmero de artculos
defectuosos observados
PLANES DE MUESTREO SECUENCIAL
Este muestreo es una extensin del concepto de muestreo doble y mltiple. En el
muestreo secuencial se toma una sucesin de muestras del lote y los resultados del
proceso de muestreo determinan por completo el nmero de muestras que se toman.
El muestreo secuencial puede proseguir en teora indefinidamente, hasta realizar una
inspeccin al 100%. Sin embargo, en la prctica los planes de muestreo se cortan, por
lo regular despus de que el nmero de artculos inspeccionados es igual a tres veces
dicho nmero utilizando un plan de muestreo simple correspondiente.
PLANES DE MUESTREO DE DODGE-ROMIG
H. F. Dodge y H. G. Romig desarrollaron un conjunto de tablas de inspeccin muestral
para la inspeccin lote por lote por atributos de productos.
En las tablas se presentan dos tipos de planes de muestreo.
Planes para la Proteccin del Porcentaje Defectuoso Tolerable por Lote (PDTL).
Planes que proporcionan un Lmite de Calidad Media de Salida (LCMS).
LOS PLANES DE LCMS.
Los planes Dodge-Romig se aplican slo a programas que someten los lotes
rechazados a una inspeccin al 100%
Planes de LCMS.
Las tablas de Dodge-Romig indican los planes de muestreo del LCMS para valores de
0.1%, 0.25%, 0.75%, 1%, 1.5%, 2%, 2.5%, 3%, 4%. Para cada uno de stos, se
especifican 6 clases de valores para la media del proceso. Se proporcionan tablas para
el muestreo simple y doble a la vez.
PLANES DE PDTL
Las tablas del PDTL (de Dodge-Romig) se disearon de manera que la de aceptacin
de un lote para el PDTL sea 0.1. Se proporcionan tablas del PDTL de 0.5%, 1%. 2%,
3%, 4%, 5%, 7% y 10%.
TIPOS DE PLANES DE MUESTREO.
I. Plan de variables del porcentaje de no conformidad.
II. Plan de variables del parmetro del proceso.
1. Plan de variables para el porcentaje de no conformidad.
Estn diseados para calcular la proporcin de producto que est fuera de
especificaciones:
a) Grfica de lote de Shainin
b) Norma MIL-STD- 414/ZI.9.
II. Los planes de variables para el parmetro del proceso se disean a fin de
controlar las desviaciones promedio y estndar de la distribucin del producto
para que queden dentro de niveles especficos (poco usados):
a) Grfica de control de aceptacin
b) Muestreo secuencial por variable
c) La prueba de hiptesis.
I. a) Plan de la grfica de Shainin.
Fue concebido por Dorian Shainin. En este mtodo se emplea una distribucin de
frecuencia graficada (histograma) para calcular mediante una muestra la decisin
de aceptar o rechazar un lote. Es sencillo.
Ejemplo:
1. Se obtiene del lote una muestra aleatoria de 10 subgrupos, de 5 elementos cada
una, con un total de 50 elementos. En la tabla 9-16 (Besterfield) se muestran los
resultados obtenidos en la inspeccin.
2. Se calcula el promedio, x y el rango, R, correspondientes a cada uno de los
subgrupos. Los resultados se muestran en la tabla 9-16 (Besterfield, pg. 368)
3. Se construye un histograma utilizando las tcnicas ya conocidas. El plan de
Shainin prescribe que la cantidad de celdas debe estar entre 7 y 16, cantidades
mayores que las comentadas. En la fig. 9-14 (pg. 369) se muestra el histograma
correspondiente a un intervalo de 0.3 y 9 celdas.
I. PLAN DE VARIABLES PARA EL PORCENTAJE DE NO
CONFORMIDAD
b) MIL-STD-414 y ANSI/ASQC ZL.9-1980.
ANSI = American National Standards Institute.
ASQC = American Society for Quality Control.
La norma es un mtodo de aceptacin lote por lote por variables. En 1980, la
Sociedad Estadounidense para el Control de Calidad (ASQC) le hizo modificaciones
a fin de aproximarla lo ms posible a la norma MIL-STD-105 D/ZI,4.
Los valores numricos del NAC van desde 0.10 hasta 10.0%. Secontempla el uso de
inspeccin normal, rigurosa y restringida. El tamao de la muestra es funcin del
tamao del lote y del nivel de inspeccin. La variable es aleatoria y distribuida
normalmente. Tiene una extensin de 100 pginas.
Esta norma contempla nueve procedimientos que sirven para evaluar la aceptacin o
rechazo de un lote.
La conformacin de la norma es la siguiente:
Se desconoce variabilidad
(Mtodos del Rango)
0.9
Especificacin
Sencilla
Forma 1 Forma 2
Especificacin Doble
Forma 2
Se desconoce la variabilidad
(Mtodo desviacin estndar)
Si se sabe cul es la especificacin del proceso (o ) y sta es estable, el ms
econmico es el plan de la variabilidad conocida. Si no se conoce sta, se emplea
el mtodo de la desviacin estndar o el mtodo del rango. Puesto que para ste
se necesita un tamao de muestra mayor, es recomendable utilizar el mtodo de la
desviacin estndar. Existen dos tipos de especificaciones:
a) Sencilla
b) Doble
Se ofrecen dos procedimientos alternos, forma 1 y forma 2, que permiten obtener la
misma decisin de aceptacin-rechazo. Aunque la forma 1 es ms sencilla, slo se le
puede usar en casos ce especificacin sencilla por ello, el procedimiento que se
prefiere es la forma 2.
La norma MIL-STD-414 consta de cuatro secciones:
Seccin A. Se ofrece:
-Descripcin general
-Letras de cdigo (designan tamao de muestra
-Curvas OC correspondientes a los planes de muestreo.
Seccin B. Se ofrecen:
-Procedimientos y ejemplos para variabilidad desconocida:
-Mtodo de la desviacin estndar
Seccin C. Se ofrecen:
-Procedimientos y ejemplos para variabilidad desconocida:
-Mtodo del rango
Seccin D. Se ofrecen:
-Procedimientos y ejemplos para variabilidad conocida.
El tamao de la muestra de todos los mtodos se indica mediante letras de cdigo
que se determinan segn el tamao del lote y el nivel de inspeccin (Tabla 9-17,
Besterfield)
Hay cinco niveles de inspeccin: Niveles Especiales S3, S4 y Niveles Generales I, II,
y III. Los Niveles Especiales se usan cuando es necesario emplear tamaos de
muestra pequeos y se puede y debe tolerar grandes riesgos.
Los niveles de inspeccin general son similares a los de la norma MIL STD 105 D/Z
I.4. Debe utilizarse el nivel II. Con el nivel III se obtiene una curva CO con ms
pendiente, reduciendo as el riego del consumidor. Cuando es posible tolerar riesgos
de consumidor mayores, se usa el nivel de inspeccin 1.
Ejemplo para ilustrar el procedimiento en el que se desconoce la variabilidad; el
mtodo usado ser el de la desviacin estndar, especificacin sencilla y la forma 2.
1. La temperatura mnima de un cocedor es de 180
F. Se enva para su
inspeccin un lote de 40 elementos. El criterio que se aplica es el de una
inspeccin II, inspeccin normal y NAC = 1.O %.
La tabla (9.17) refiere la letra de cdigo D, que corresponde a una muestra R=5
(tabla 918, Besterfield) Las temperaturas posteriores de las primeras cinco
muestras son 197, 188, 184, 205 y 201F
F
n
X
X 195
5
201 205 184 188 197
=
+ + + +
=
=
80 . 8
1 5
125 . 190 435 . 190
1
) (
2
2
=
=
n
n
X
X
S
ndice de calidad inferior (QL =
S
L X
):
*L = especificacin menor
70 . 1
8 . 8
180 195
=
=
S
L X
QL
Clculo de porcentaje de no conformidad menor a L =
L
p
De la tabla 9-19,
L
p = 0.66%
L
p = no conformidad porcentual del lote =
u
p
*Porcentaje de no conformidad mximo permisible: M
De la tabla 9-18, M = 3.32%
El lote satisface el criterio de aceptacin cuando
L
p < M:
puesto que 0.66% < 3.32%, ACEPTE EL LOTE
Este problema corresponde a una especificacin menor (= L).
Si la especificacin sencilla hubiera correspondido a una especificacin superior, U,
el mtodo habra sido el mismo, excepto que Q
u
se habra calculado empleando la
frmula siguiente:
S
X U
Qu
=
El clculo del porcentaje de no conformidad anterior U,
u
p , se obtiene de la tabla 9-
19 y se compara con M para decidir la aceptacin o el rechazo.
Si el problema entraa una especificacin superior e inferior se calculan tanto
u
p
como
L
p y se comparan con M.