Dentro de la familia de microscopios electrnicos, se encuentran : Microscopio electrnico de transmisin (TEM). Microscopio electrnico de barrido (SEM). Cada uno de ellos, permite el estudio de diferentes caractersticas de una muestra. El SEM provee informacin sobre morfologa y caractersticas de la superficie. TEM podemos observar la estructura interna y detalles ultraestructurales.
Los microscopios de luz y electrnico son esencialmente, idnticos. Tanto uno como otro nos permiten amplificar aquellos objetos que son indistinguibles a nuestro ojo. La diferencia fundamental entre los dos es la fuente de iluminacin. Mientras el microscopio de luz utiliza un haz de luz. El microscopio electrnico emplea un haz de electrones de muy corta longitud de onda que permite obtener una mayor resolucin.
Haz de luz 2000 - 7500 Vidrio Atmsfera 2000 10 x - 2000 x Mecnica Absorcin - Reflexin
Magnificacin
Focalizacin Contraste
El primer microscopio electrnico fue diseado por Ernst Ruska y Max Knoll entre 1925 y 1930, quines se basaron en los estudios de Louis-Victor de Broglie acerca de las propiedades ondulatorias de los electrones.
RESOLUCION
El concepto de resolucin est relacionado con la capacidad de distinguir detalles finos en una imagen.
En otras palabras, es la distancia mnima r1 a la cual podemos distinguir, claramente, dos puntos como entidades separadas.
Si la partcula es un electrn y su velocidad 1/3 de la velocidad de la luz, l = 0.05 A. que es 100.000 veces ms corta que la luz verde. Por lo tanto, la resolucin de un microscopio que emplee este tipo de radiacin ser mucho mejor que la de un microscopio de luz. La naturaleza precisa de estas ondas de electrones es difcil de entender en trminos de la fsica clsica y su descripcin se hace mediante la mecnica cuntica.
Las ondas de electrones se pueden pesar como un quantum o paquete de radiacin que acompaa a cada electrn en su trayectoria, es parte de l y permanece con l. Las caractersticas de estas ondas dependen de la posicin exacta de un dado electrn en el espacio y en el tiempo; puede expresarse como la probabilidad de encontrar al electrn en esa posicin. Las ondas de electrones no deben confundirse con radiacin electromagntica.
Estos componentes estn ensamblados en una columna vertical la cual se encuentra en alto vaco. El can de electrones, es la fuente emisora del haz de electrones. Se encuentra ubicado en la parte superior de la columna. Est constitudo por un filamento (ctodo), un cilindro con una apertura central, llamado cilindro de Wehnelt que rodea al filamento y tiene un potencial ligeramente ms negativo que ste. El nodo se encuentra por debajo del cilindro de Wehnelt.
El filamento es calentado por el pasaje de corriente (alrededor de 2800 K). Los electrones emitidos termoinicamente por el ctodo son acelerados hacia el nodo, pasan por la apertura circular central de ste y un haz de alta energa es emitido hacia la columna del microscopio. El sistema de lentes est formado por lentes condensadores objetivo, intermedia y proyectora. Las lentes condensadoras, en los microscopios, ms modernos son dos. La primera, proyecta la imagen punto de entrecruzamiento demagnificada (spot size), mientras que la segunda controla su dimetro y el ngulo de convergencia en que incide sobre la muestra. limita al haz que incide sobre la muestra.
La lente objetivo forma la primera imagen, localizada debajo del especmen. Es considerada el componente ms importante del microscopio electrnico. Cualquier defecto en sta, ser magnificado y transmitido al resto del sistema ptico. Por lo tanto, de ella dependen, en gran medida, la resolucin final y la correccin de las aberraciones. Las lentes intermedia y proyectora son las encargadas de amplificar la imagen dada por la lente objetivo y proyectarla sobre la pantalla fluorescente.
Mediante el microscopio electrnico de transmisin podemos estudiar la ultraestruacura de un material orgnico o inorgnico. Para esto, existen diferentes formas de operacin que posibilitan el estudio de una caracterstica en particular. Entre las aplicaciones del TEM para el estudio de materiales no- biolgicos y biolgicos podemos nombrar :
Determinacin de estructura cristalina en minerales, metales, etc. Estudio de catalizadores. Determinacin de impurezas, precipitados, etc. Identificacin de bordes de grano e interfaces en metales. Estudio de fases y zonas cristalinas en polmeros. Determinacin de tamao de partcula en catalizadores, minerales, etc. Identificacin de planos cristalinos. Cambios estructurales de materiales sometidos a diferentes tratamientos trmicos. Realizacin de estudios de histoqumica para identificxar compuestos especficos. Estudios de ultraestructura de tejidos vegetales y animales. Reconocimiento de virus. Estudios de citoqumica. Estudios de estructuras moleculares.
En el microscopio electrnico de barrido, el haz electrnico, atraviesa la columna y llega a la muestra. Un generador de barrido es el responsable de producir el movimiento del haz , de manera que barra la muestra punto a punto. De la interaccin entre los electrones incidentes con los tomos que componen la muestra se generan seales, las cuales pueden ser captadas con detectores adecuados para cada una de ellas. El detector capta una seal y las convierte en una seal electrnica que es proyectada en un tubo de rayos catdicos (CRT). El barrido del haz est sincronizado con el barrido del CRT y produce una relacin uno a uno entre puntos de la muestra y puntos en el CRT.
Todas estas seales se producen simultneamente pero cada una de ellas son captadas por detectores diferentes. Uno de los detectores ms comunes es el de electrones secundarios. Los mismos son emitidos desde la muestra como consecuencia de las ionizaciones surgidas de las interacciones inelsticas. Por esta razn, poseen baja energa (50 ev). Ellos brindan una imagen de la morfologa superficial de la muestra.
Detalle de epidermis de semilla de justicia. Fotografa tomada con el microscopio electrnico de barrido. (1cm=10 micras)
Detalle de bacterias (bacilos) a 10000X. Las bacterias miden aproximadamente una micra.
Fin
Gracias por su atencin
Su amigo GATO Techero