Fase de Medicin
Capacidad del Proceso
Mejorar
Verificar los efectos de las entradas clave con DOEs Analizar Determinar los puntos Evaluar el Plan de Control ptimos existente Determinar las entradas clave usando mtodos Controlar estadsticos Dar prioridad a entradas clave Actualizar el Plan de Control
Medir
Determinar variables clave de entrada / salida Llevar a cabo el ASM Calcular las capacidades iniciales
Resultados
Un valor del nivel Sigma del Proceso u otra medida adecuada del desempeo del proceso
Discretos
16 14 12 10 8 6 4 2 0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 0 1.1 1.2
Continuos
Ocasiones
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
Defectos
Dimensin cm
Mediciones Continuas
Capacidad del Proceso
LIE
Objetivo
LSE
La capacidad del Proceso para datos variables compara la variacin real con los requerimientos
5
LIE
Objetivo
LSE
Lmites
Variacin Real
Situaciones
En objetivo y Capaz
LIE
Objetivo
LSE
LSE
LIE
Objetivo
LSE
LIE
Objetivo
LSE
En objetivo y No Capaz
Z=
X- Z=
Para una muestra
X-X Z= s
Promedio
Area Buenas
-4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4
Area Total P = P 1 + P2
LIE
LSE
Area Buenas
-1 0 1 2 3 4 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4
-4
-3
-2
Z2
Z1 Area Defectos
Z2
Z1
P-value P2
Ejemplo
Un cliente demanda que la especificacin de un producto es 1.750.1 . Nosotros colectamos datos del proceso de manufactura y encontramos que la media es de 1.735 con una = 0.0855
Z =
Z=
Media = 1.735
1.85
= 0.0855
LIC
LIC
11
12
Largo plazo
lt
g subgrupos de n
j=1 i=1
(xij (lt)
x)2
=n (x j=1 (shift)
x)2
+ (xij - x)2
j=1 i=1
Variacin Total
(st)
13
14
Tiempo
En 6-Sigma, si no podemos calcular la variacin de largo plazo, asumimos el corrimiento de 1.5 sigma
16
Cp Cpk
Pp Ppk
17
Real
Fuera de especificacin
Variacin del proceso con media y desviacin estndar
Fuera de especificacin
LIE
Media Objetivo
LSE
18
Cp =
USL = Lmite superior de Esp LSL = Lmite inferior de Esp st = Desviacin estndar de corto plazo
Lower Spec
Target
Upper Spec
19
Cp y nivel Sigma
3 3
LSL
Target
USL
LSL
Target
USL
20
Ejemplo
= 0.08
Cp = ?
1.60
Target
1.90
21
Cpk= Min de
Fuera de especificacin
Esto nos dice que tan centrado esta el proceso en el corto plazo
Lower Spec
Target
Upper Spec
22
Mean
Fuera de especificacin
Fuera de especificacin
Esto nos dice que tan bueno pudiera ser el proceso en el largo plazo
Lower Spec
Target
Upper Spec
23
Ppk= Min de
Zlt = 3Ppk
Para seis Sigma
Fuera de especificacin
Ejemplo
Ppk = ?
1.60
Target 1.75
1.90
25
Cp - Ppk
Control
Corrimiento supuesto
Clase mundial
1.5
2 bueno
Cp
tecnologa
27
pobre
0.84 0.67
Pobre Control & Proceso
Estrategia de mejora Cp
Pobre control, buena tecnologa
LSL
USL
LSL
USL
Cp - Ppk
Control
0.5
Centrar el Proceso (control) primero luego reducir la dispersin mejorando la tecnologa Buen Control, pobre Proceso
Corrimiento supuesto
LSL
USL
LSL
USL
0.33
0.17
Reducir la dispersin cambiando Mantenerlo ! No se necesita el proceso. Proceso Nuevo, mejorar a menos que el cliente Rediseado, o la adicin de cambie la especificacin nueva tecnologa
bueno pobre
0.5
1.5
2 bueno
Cp
tecnologa
28
Precaucin
Cp, Cpk, Pp y Ppk estn basados en una distribucin normal. Valores pueden ser obtenidos an para distribuciones no normales - PERO pueden ser sospechosos SIEMPRE pruebe la normalidad de sus datos. Si no son normales considere el uso de una transformacin o utilice una medida de capacidad para datos no normales (Minitab puede hacerlo por ud.!) Si los datos no son normales, pida ayuda a un Black Belt o Master BB.
29
Diseo tiene la meta de incrementar el rango permitido a un mximo que todava permita deleitar al cliente
Capacidad Proceso =
Variacin de Proveedores
30