CONTROL

ESTADSTICO
DE PROCESOS
Presentado Por:
Cumbrera
Victoria
Flores Yazmn
Gonzlez
Alma
Lpez Juan
Vsquez

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

APLCACIONE
S

Se aplica a todo. Su aplicacin incide directamente, en el

logro de la productividad de todos los recursos de la
empresa.
Este control estadstico de puede aplicar en todos los
tipos de empresas donde se tiene un conjunto de
operaciones materiales ejecutadas para la obtencin,
transformacin o transporte de uno o varios productos.

Un proceso est
bajo control
estadstico
cuando slo se
producen
variaciones
debidas a causas
comunes.

Control Estadstico
de Procesos es
ayudar a identificar
las causas especiales
que producen
variaciones en el
proceso y
suministrar
informacin para

Causas internas, comunes o no

asignables
Son de carcter aleatorio.
- Existe gran variedad de este tipo de causas en un proceso y
cada una de ellas tiene poca
importancia en el resultado final.
- Son causas de variabilidad estable y, por tanto, predecible.
- Es difcil reducir sus efectos sin cambiar el proceso.

Causas externas, especiales o

asignables
Son pocas las que aparecen simultneamente en un proceso,
pero cada una de ellas produce un efecto importante.
- Producen una variabilidad irregular e imprevisible, no se
puede predecir el momento en que aparecer.
- Sus efectos desaparecen al eliminar las causas.

CAPACIDAD DEL PROCESO

Las compaas con procesos Six-Sigma insisten
en que el proceso de fabricacin de una pieza sea
capaz de operar de modo que los lmites de las
especificaciones del diseo se encuentren a seis
desviaciones estndar de la media del proceso.

 Suponga que en un principio se selecciona un diseo y que el dimetro de un

cojinete se establece en 1.250 pulgadas 0.005 pulgadas. Esto significa que
las piezas aceptables debern tener un dimetro que vara entre 1.245 y
1.255 pulgadas.

Qu

tan pequea debe ser la desviacin

estndar con el fin de que el proceso
tenga una capacidad Six-Sigma?
0.005/6= 0.00083

De modo que, para que ste tenga una capacidad Six-Sigma, el

dimetro medio producido necesita ser exactamente de 1.250
pulgadas y la desviacin estndar del proceso debe ser menor
o igual a 0.00083 pulgadas

CONTROL DE PROCESOS CON MEDICIONES

DE VARIABLES:
USO DE GRFICAS X Y R.

Grficos basados en la observacin de la variacin de

caractersticas medibles del producto o servicio.

Se quiere trazar grficas y R para un proceso.

Se muestra las medidas para las 25 muestras.

PASO 1: Determinar el tipo

de Grafico de Control que es
conveniente utilizar:
a) Grficos de Control " X , R <
8
b) b) Grficos de Control " X , s >
8

PASO 2:

Calcular la media ( ) y el

recorrido (R) para cada muestra

Clculo de la media: = (x1 + x2 +......+
xn)/n
xi = valor de la caracterstica medida
n = tamao de la muestra
Clculo del recorrido medio: R = (x
mxima x mnima)

PASO

3:

Calcular la media () de
los valores medios de las muestras
(X i).
= (N +........ N) /N
X i = media obtenida para la muestra i
N = nmero de muestras

PASO 4:

Calcular el recorrido

medio ()
R = (R1 +.RN)/N
Ri= recorrido de la muestra i
N= nmero de muestras

GRFICOS DE CONTROL

Control de Procesos con mediciones de Atributos

Por atributos: Este trmino se utiliza para referenciar a las

caractersticas de calidad cualitativas tales como los defectos de
un metal el mal funcionamiento o no de un aparato, etc.
Los grficos de control por atributos son los np y p utilizados para
controlar la proporcin de piezas defectuosas que genera el
proceso.
Existen caractersticas de calidad que, por contra, no pueden ser
representadas
mediante
un
nmero
por
tratarse
de
caractersticas cualitativas, por ejemplo, la existencia o no de
poros en una pieza metlica, el funcionamiento o no de un
transistor, la aparicin o no de burbujas o crteres en la pintura
del cap de un automvil, etc., a estas caractersticas de calidad
se les denomina atributos.

Grficas P
Promedio de fraccin defectuosa. Esta carta
muestra las variaciones en la fraccin o
proporcin de artculos defectuosos, por
muestra o subgrupo. La carta p (proporcin de
defectuosos) es ampliamente usada para
evaluar el desempeo de una parte o todo un
proceso, tomando en cuenta su variabilidad y
detectar as causas o cambios especiales en el
proceso.
De cada lote, embarque, pedido o de cada
cierta parte de la produccin, se toma una
muestra o subgrupo de ni artculos, que puede
ser la totalidad o una parte de las piezas bajo
anlisis. Las ni piezas de cada subgrupo son
inspeccionadas y cada una es catalogada como
defectuosa o no.

FORMULAS
= =
Si la proporcin de unidades defectuosas p es conocida, el
grfico de control ser:
Desviacin estndar(Sp) =
Lmite de Control Superior(LCS) = + 3
Lnea Central =
Lmite de Control Inferior(LCI) = - 3
dondees la fraccin defectuosa, sp es la desviacin estndar y n
es el tamao de la muestra.

EJEMPLO
Una compaa de seguros quiere disear una grfica de
control para vigilar si las formas de cobro de los seguros
se llenan de manera correcta. La compaa quiere usar la
grfica para saber si las mejoras en el diseo de la forma
son efectivas. Para iniciar el proceso, la empresa recopila
la informacin sobre el nmero de formas llenadas de
manera incorrecta durante los ltimos 10 das. La
compaa de seguros procesa miles de estas formas al da
y, debido al alto costo de inspeccionar cada forma, slo se
recopila una pequea muestra representativa cada da.
Los datos y el anlisis se muestran en la ilustracin:

SOLUCIN
Para elaborar la grfica de control, primero se debe calcular la fraccin
general de defectos de todas las muestras. sta constituye la lnea central
para la grfica de control.
== = 0.03033
A continuacin, se calcula la desviacin estndar de la muestra:
sp = = =0.00990
Por ltimo, calcule los lmites de control ms alto y ms bajo. Un valor z de 3
da 99.7% de confianza en que el proceso se encuentra dentro de estos lmites.
LCL =+ 3sp = 0.03033 + 3(0.00990) = 0.06003
LCI = + 3sp = 0.03033 + 3(0.00990) = 0.00063
Como apreciamos en el grfico ninguno de los puntos supera los lmites
establecidos, por lo tanto podemos concluir que el sistema est bajo
control y las formas de cobro de los seguros se estn llenando de manera
correcta.

Grficonp
np
Grfico
El diagrama NP est basado en el
El diagrama NP est basado en el
nmero de unidades defectuosas.
nmero de unidades defectuosas.
Este tipo de grficos permite tanto
Este tipo de grficos permite tanto
analizar el nmero de artculos
analizar el nmero de artculos
defectuosos
como
la
posible
defectuosos
como
la
posible
existencia de causas especiales en
existencia de causas especiales en
el proceso
el proceso
Productivo. El objeto de ste
Productivo. El objeto de ste
grfico es controlar la proporcin
grfico es controlar la proporcin
de piezas defectuosas que genera
de piezas defectuosas que genera
el proceso y, sobretodo de evitar
el proceso y, sobretodo de evitar
que aumente. Implcitamente el
que aumente. Implcitamente el
uso de este tipo de grficos
uso de este tipo de grficos
conlleva la aceptacin de que
conlleva la aceptacin de que
nuestro proceso genera piezas
nuestro proceso genera piezas
defectuosas. Lo ideal es conseguir
defectuosas. Lo ideal es conseguir
el objetivo "cero defectos pero la
el objetivo "cero defectos pero la
aceptacin de la existencia de
aceptacin de la existencia de

Los lmites de control son:

LCS = n +3
LC= n
LCI = n - 3
donde es la fraccin defectuosa media. Dado que lo normal
es que sea un valor muy bajo, los tamaos de muestra
requeridos son muy altos. Por esta razn se aplican
frecuentemente al anlisis de datos de inspecciones 100%.
Si el valor calculado para el LCI, se toma 0.

Ejemplo
Un inspector se coloca al final de la lnea de produccin de tornillos, y cada hora
retira una muestra de n = 45 tornillos, comprueba que cada uno enrosque, en la
rosca calibrada y anota el nmero de defectuosos.
El resultado, slo tiene dos posibilidades: Defectuoso-No Defectuoso ( ConformeDisconforme). Si el tornillo no entra en la rosca, se lo considera defectuoso o
disconforme. Imaginando la poblacin de tornillos que podra fabricar el proceso
trabajando siempre en las mismas condiciones, una cierta proporcin, p de estos
seran defectuosos. Entonces la probabilidad de tomar un tornillo y que sea
Se
toma el nmero
de defectuosos en cada muestra y se registra, obtenindose la
defectuoso
es p.
siguiente tabla:

En
cada muestra, la fraccin de defectuosos es:
P=
N = N Defectuosos en Muestra i
n = Nmero de elementos de la muestra
Entonces, a partir de la tabla podemos calcular p como promedio de las fracciones de defectuosos en
la muestra:
=

Lmites de Control:
LCC= n = 45(0.093)= 4.2
LCS = n +3
LCS = 4.2+3
LCS= 4.2+3

LCI= n - 3
LCI= 4.2 -3
LCI= 4.2 5.855

LCS= 4.2+ 5.855

LCI= -1.655

LCS = 10.055

LCI= 0

Como vemos en la grfica uno de los puntos toca el Lmite de Control inferior pero
ninguno de ellos sobrepasa ambos lmites, por lo que podemos concluir que el
sistema de produccin de tornillos est bajo control.

DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO

SIMPLE PARA ATRIBUTOS

El propsito de un
plan de muestreo
simple para
atributos es probar
el lote para:
1) conocer su
calidad
2) garantizar que la
calidad sea la que
se supone que debe

Diseo de un plan de muestreo simple para

atributos respecto a las otras formas de
inspeccin

Ventajas Vs
Desventajas

Aplicacin:

En materias primas, Productos semielaborados, para determinar si stos

cumplen con el nivel mnimo exigido.

 El diseo de un plan de muestreo simple para

atributos es uno de los ms empleados y
probados requiriendo inspeccionar slo una
pequea muestra aleatoria para tomar una
decisin sobre aceptar un lote.
Un plan de muestreo simple est definido por n y
c, donde n es el nmero de unidades en la
muestra y c es el nmero de aceptacin. El
tamao de n puede variar de uno hasta todos los
artculos del lote (casi siempre indicado con N) del
que se toman las muestras

Los valores para n y c se determinan

mediante la interaccin de cuatro
factores (NCA, , PTDL y )
Nivel de Calidad Aceptable (NCA): Los lotes se definen como
de alta calidad si contienen no ms de un nivel especfico de
defectos, lo que se conoce como nivel de calidad aceptable.
Porcentaje De Tolerancia De Defectos En El Lote (PTDL): Los
lotes se definen como de baja calidad si el porcentaje de
defectos es mayor que una cantidad especfica, lo que se
conoce como porcentaje de tolerancia de defectos en el lote.
Alfa (): La probabilidad asociada con el rechazo de un lote
de alta calidad y se conoce como riesgo del productor.
Beta (): La probabilidad relacionada con la aceptacin de un
lote de baja calidad y se llama riesgo del consumidor.

Ejemplo:
Valores de n y c
Hi-Tech Industries fabrica escneres de radar Z-Band, que
se utilizan para detectar trampas de velocidad. Las
tarjetas de circuito impreso de los escneres se compran
a un distribuidor externo. El distribuidor produce las
tarjetas con un NCA de 2% y est dispuesto a correr un
riesgo de 5% () de que se rechacen lotes con este nivel
o menor nmero de defectos. Hi-Tech considera
inaceptables los lotes con 8% o ms defectos (PTDL) y
quiere asegurarse de que aceptar esos lotes de baja
calidad no ms de 10% de las veces (). Se acaba de
entregar un envo grande. Qu valores de n y c se deben
seleccionar para determinar la calidad de este lote?

Solucin
Los parmetros del problema son NCA = 0.02, = 0.05, PTDL
= 0.08 y = 0.10. Puede tomarse la ilustracin
Primero, se divide PTDL entre NCA (0.08 0.02 = 4).
Luego, encuentre la razn en la columna 2 que es igual o
mayor que la cantidad (4). Este valor es 4.057, que est
asociado con c = 4.
Por ltimo, encuentre el valor en la columna 3 que est en la
misma fi la que c = 4 y divida esa cantidad entre NCA para
obtener n (1.970 0.02 = 98.5).

Curvas Caractersticas de
Operacin

Representa grficamente la
relacin existente entre un
porcentaje
de
artculos
defectuosos
de
un
lote
productivo y la probabilidad
de aceptacin que se obtiene
del mismo luego de aplicar un
plan de muestreo como los
detallados en la seccin de
Proporciona
una
muestreo simple.
caracterizacin del potencial
desempeo del mismo, ya
que con sta se puede saber
la probabilidad de aceptar o
rechazar un lote que tiene

O
G Es
utilizado
para
N
RA VILmonitorear y detectar

cambios en la desviacin
M
estndar
entre
las

mediciones de mltiples
ubicaciones de un tipo
En algunos idntico
casos es
necesario
de caracterstica
basarnos en lecturas individuales
ms que en subgrupos. Esto ocurre
comnmente cuando las mediciones
son costosas, o cuando la salida en
cualquier punto en el tiempo es
relativamente homognea.

GRFICOS DE CONTROL
BASADOS EN LA
DISTRIBUCIN DE POISSON

Esta distribucin se puede hacer derivar de un proceso

experimental de observacin en el que tengamos las
siguientes caractersticas:
Se observa la realizacin de hechos de cierto tipo durante un cierto
periodo de tiempo o a lo largo de un espacio de observacin.
Los hechos a observar tienen naturaleza aleatoria; pueden
producirse o no de una manera no determinstica.
La probabilidad de que se produzcan un nmero x de xitos en un
intervalo de amplitud t no depende del origen del intervalo
(Aunque, s de su amplitud).
La probabilidad de que ocurra un hecho en un intervalo infinitsimo
es prcticamente proporcional a la amplitud del intervalo.

La distribucin de Poisson se emplea para

describir varios procesos, entre otros:
El nmero de autos que pasan a travs de un cierto punto en
una ruta (suficientemente distantes de los semforos) durante un
periodo definido de tiempo.
El nmero de llamadas telefnicas en una central telefnica por
minuto.
El nmero de servidores web accedidos por minuto.
El nmero de mutaciones de determinada cadena de ADN
despus de cierta cantidad de radiacin.
El nmero de defectos por metro cuadrado de tela.

Grfico c

Grfico u
Sirve para controlar el nmero de medio de defectos en una
muestra de tamao n (por ej. nmero de unidades
inspeccionadas, longitud o superficie de producto, etc.).
Los lmites de control son:
LCS=u+3(u/n)
LC=u
LCI=u-3(u/n)
Si el valor calculado para el LCI, se toma 0.
Puesto que c=un,_x=_c/|n| =c/|n| =un/|n| =(u/n)

APLICACIN A UN GRFICO TIPO C

Una empresa de desarrollos de SW ha

registrado las siguientes tasas de error
(medidas en errores por 1000 lneas de
cdigo) en los ltimos 30 das. Analice el
procesos de desarrollo de SW.

SOLUCIN:

Los lmites de control y lnea central para un grfico tipo c

son:
LCS=4.467+34.4467=10.807
LC=4.467
LCI=0

GRACIAS