En la actualidad, la informacin del tamao de partcula es de gran importancia para muchos

proyectos de investigacin y procesos industriales, por esa razn varias tcnicas analticas
se encargan de proveer los datos relacionados con este aspecto.

Por consiguiente, el primer paso cuando se efecta un anlisis de

tamao de partcula es elegir la tcnica analtica apropiada.
El mtodo especfico de determinacin del
tamao de partcula elegido depende del tipo de
informacin que se requiere acerca del tamao y
tambin de las propiedades qumicas y fsicas de
la muestra.

Microscopia
electrnica de barrido,
dispersin de luz lser
de
ngulo
bajo,
dispersin
de
luz
dinmica
y
fotosedimentacin.

MICROSCOPA ELECTRNICA DE BARRIDO

(SEM)
La fuente de
electrones
es un
filamento de
tungsteno

Proporciona
imgenes
de la
morfologa
externa,
similares a
las que se
ven con
el ojo
humano

FIGURA 21.18 Esquema de un microscopio

electrnico

Hay un
enfoque de
un haz de
electrones
muy
fino sobre
la
superficie
de la
muestra
slida.
El haz de
electrones se
pasa por la
muestra en un
barrido de trama
mediante bobinas
de
barrido.

REPRESENTACIN DE RESULTADOS DE UN SEM

Figura 1. Micrografas por electrones secundarios del Mg granular

(a) y Mg(OH)2 (b)

DISPERSIN DE LUZ LSER DE NGULO BAJO (DLAB)

Dcada de
1970
Las mediciones se
realizan
exponiendo la
muestra a un
haz de luz y
detectando los
patrones angulares
de luz
dispersada por
partculas de
distintos tamaos.

Mide tamaos de
partcula y
distribuciones de
tamao de 0.1 m
a 2000 m.

El haz
proveniente
de un lser
de onda es
de He-Ne.

Figura 1. Aparato de difraccin lser.

REPRESENTACIN DE RESULTADOS DE UN DLAB

La intensidad de la
funcin de
autocorrelacin se
forma promediando
los productos de las
intensidades en
estos pequeos
intervalos de tiempo
como una funcin
del tiempo
Figura 2. Funcin de autocorrelacin para un ltex de poliestireno
constituido por partculas monodispersas.

DISPERSIN DINMICA DE LUZ

(DDL)
Partculas de
Los lseres de He-Ne
dimetros que van de
algunos nanmetros
hasta casi 5 m.

Se lleva acabo en
pocos minutos por
lo que es rpida de
realizar.
La luz
dispersada se
mide en un
ngulo de 90.

(632.8 nm) y los

lseres
de Ar(488.0 nm y
514.5 nm)

la concentracin de la
muestra depende del
tamao de partcula,la
potencia del laser.

Figura 2. Configuracin instrumental caracterstica para la DDL.

REPRESENTACIN DE RESULTADOS DE UN DLD

FIGURA 3. Tamao de a) polmeros de quitosano QS

(dimetro
promedio 583.0 64.8 nm)

FOTOSEDIMENTACIN
Miden tamaos de partcula
que van de 0.01 m a 300 m.

Determina la
distribucin del
tamao de
partcula

Velocidades
corresponden
a fuerzas
centrfugas
desde 8 G a
300 rpm hasta
9000 G a
10 000 rpm.

Figura 3. Diagrama del sistema de fotosedimentacin.

(Horiba CAPA-700)

Se utiliza
para
determinar
tamaos de
partcula de
polmeros,
colorantes,
preparaciones
farmacuticas
y materiales
biolgicos.