FISIKA MATERIAL

ANALISIS STRUKTUR BAHAN

KELOMPOK 5:

ANGELINA
ELFARISKA

HASIAN SINAGA
SIDEBANG

MAGDALENA
PROFITA

TIUR SARAGIH

DS MANALU

X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SPEKTROSKOPI

Spektroskopi XRF adalah teknik analisis

unsur yang membentuk suatu material
dengan dasar interaksi sinar-X dengan
material analit. Teknik ini banyak
digunakan dalam analisa batuan karena
membutuhkan jumlah sampel yang relatif
kecil (sekitar 1 gram). Teknik ini dapat
digunakan untuk mengukur unsur-unsur
yang terutama banyak terdapat dalam
batuan atau mineral.

Apabila elektron dari suatu kulit atom

bagian dalam dilepaskan, maka elektron
yang terdapat pada bagian kulit luar
akan berpindah pada kulit yang
ditinggalkan tadi menghasilkan sinar-X
dengan
panjang
gelombang
yang
karakteristik bagi unsur tersebut.

Pada teknik difraksi sinar-X suatu berkas

elektron digunakan, sinar-X dihasilkan
dari tembakan berkas elektron terhadap
suatu unsur di anoda untuk menghasilkan
sinar-X dengan panjang gelombang yang
diketahui. Peristiwa ini terjadi pada
tabung sinar-X.
Pada teknik XRF, kita menggunakan sinarX dari tabung pembangkit sinar-X untuk
mengeluarkan elektron dari kulit bagian
dalam untuk menghasilkan sinar-X baru
dari sampel yang di analisis.

Seperti pada tabung pembangkit sinar-X,

elektron dari kulit bagian dalam suatu atom
pada sampel analit menghasilkan sinar-X
dengan
panjang-panjang
gelombang
karakteristik dari setiap atom di dalam sampel.
Untuk setiap atom di dalam sampel, intensitas
dari sinar-X karakteristik tersebut sebanding
dengan jumlah (konsentrasi) atom di dalam
sampel.
Dengan demikian, jika kita dapat mengukur
intensitas sinar X karakteristik dari setiap
unsur, kita dapat membandingkan intensitasnya
dengan
suatu
standar
yang
diketahui
konsentrasinya, sehingga konsentrasi unsur
dalam sampel bisa ditentukan.

Instrumen yang digunakan untuk melakukan

pengukuran
tersebut
dinamakan
X-Ray
Fluorescence Spektrometer. Perlatan ini terdiri dari
tabung
pembangkit
sinar-X
yang
mampu
mengeluarkan elektron dari semua jenis unsur yang
sedang diteliti. Sinar-X ini yang dihasilkan harus
berenergi sangat tinggi.
Sinar-X yang dihasilkan ini, kemudian dilewatkan
melalui suatu kolimator untuk menghasilkan berkas
sinar yang koheren. Berkas sinar ini kemudian
didifraksikan oleh kisi kristal yang sudah diketahui
nilai d-nya. Dengan menggunakan persamaan Bragg
(n= 2dsin) kita dapat menentukan sudut dari
sinar-X
yang
telah
diketahui
panjang
gelombangnya. Kemudian kristal dan detektor
diatur untuk mendifraksikan hanya panjang
gelombang tertentu.

Intensitas sinar-X karakteristik untuk setiap

unsur yang sedang diselidiki ditentukan
dengan cara merotasikan kristal dan
detektor pada sudut yang dibutuhkn untuk
mendifraksi
panjang
gelombang
karakteristik tersebut. Intensitas sinar-X
kemudian diukur untuk setiap unsur dan
setiap unsur pada standar yang telah
diketahui konsentrasinya.

X-RD (X-RAY DIFFRACTIONS)

Tiga komponen dasar dari X-RD yaitu; sumber

sinar-X ( X-Ray source), contoh yang diuji
(specimen),
detektor
sinar-X
(
X-ray
detector).

Difraksi sinar-X merupakan suatu teknik

yang digunakan untuk mengidentifikasi
adanya fasa kristalin di dalam materialmaterial benda dan serbuk, dan untuk
menganalisis sifat-sifat struktur (seperti
stress, ukuran butir, fasa komposisi
orientasi kristal, dan cacat kristal) dari tiap
fasa. Metode ini menggunakan sebuah sinar
X yang terdifraksi seperti sinar yang
direfleksikan dari setiap bidang, berturutturut dibentuk oleh atom-atom kristal dari
material tersebut. Dengan berbagai sudut
timbul, pola difraksi yang terbentuk
menyatakan karakteristik dari sampel.

SKEMA DAN PRINSIP KERJA ALAT

DIFRAKSI SINAR-X (X-RD)
Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan
struktur suatu padatan kristalin adalah metode
difraksi sinar-X serbuk ( X- ray powder diffraction).
Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki
ukuran kecil dengan diameter butiran kristalnya
sekitar
m ditempatkan pada suatu plat kaca.
Sinar-X diperoleh dari elektron yang keluar dari
filamen panas dalam keadaan vakum pada tegangan
tinggi,
dengan
kecepatan
tinggi
menumbuk
permukaan logam, biasanya tembaga (Cu). Sinar-X
tersebut menembak sampel padatan kristalin,
kemudian mendifraksikan sinar ke segala arah dengan
memenuhi Hukum Bragg.

Detektor bergerak dengan kecepatan sudut yang

konstan untuk mendeteksi berkas sinar-X yang
didifraksikan oleh sampel. Sampel serbuk atau
padatan kristalin memiliki bidang-bidang kisi
yang tersusun secara acak dengan berbagai
kemungkinan orientasi, begitu pula partikelpartikel kristal yang terdapat di dalamnya.
mendifraksikan sinar ke segala arah dengan
memenuhi Hukum Bragg. Detektor bergerak
dengan kecepatan sudut yang konstan untuk
mendeteksi berkas sinar-X yang didifraksikan
oleh sampel. Sampel serbuk atau padatan
kristalin memiliki bidang-bidang kisi yang
tersusun
secara
acak
dengan
berbagai
kemungkinan orientasi, begitu pula partikelpartikel kristal yang terdapat di dalamnya.

Setiap kumpulan bidang kisi tersebut memiliki beberapa

sudut orientasi sudut tertentu, sehingga difraksi sinar-X
memenuhi Hukum Bragg :

n = 2 d sin
Dengan:
n : orde difraksi ( 1,2,3,)
: Panjang sinar-X
d : Jarak kisi
: Sudut difraksi
Bentuk keluaran dari difraktometer dapat berupa data
analog atau digital. Rekaman data analog berupa grafik
garis-garis yang terekam per menit sinkron, dengan
detektor dalam sudut 2 per menit, sehingga sumbu-x
setara dengan sudut 2. Sedangkan rekaman digital
menginformasikan intensitas sinar-X terhadap jumlah
intensitas cahaya per detik.

Pola difraktogram yang dihasilkan berupa

deretan puncak-puncak difraksi dengan
intensitas relatif bervariasi sepanjang nilai
2 tertentu. Besarnya intensitas relatif dari
deretan puncak-puncak tersebut bergantung
pada jumlah atom atau ion yang ada, dan
distribusinya di dalam sel satuan material
tersebut. Pola difraksi setiap padatan
kristalin sangat khas, yang bergantung pada
kisi kristal, unit parameter dan panjang
gelombang sinar-X yang digunakan. Dengan
demikian,
sangat
kecil
kemungkinan
dihasilkan pola difraksi yang sama untuk
suatu padatan kristalin yang berbeda

TERIMA KASIH