INSTITUTO

TECNOLOGICO DE
SALTILLO
INTRODUCCION A LOS NANOMATERIALES
MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA AFM
ALUMNOS: JOSE MIGUEL TORRES PARGAS
JORGE LUIS
FUNDAMENTO
El microscopio de fuerza atmica (AFM) es una herramienta estndar de caracterizacin de
muestras a escala atmica. Es utilizado rutinariamente como herramienta de caracterizacin a
nano escala.
No utiliza ondas electromagnticas ni haces de partculas, ni esta restringida su aplicacin al
estudio de muestras conductivas. Se puede utilizar en condiciones ambientales en aire o lquidos
y tambin en vaco.
Se estudia la deflexin de una sonda mientras esta interacta con la superficie de la muestra.
Como consecuencia de esta interaccin se produce una imagen tridimensional de la topografa
de la muestra o de las fuerzas entre la sonda y la superficie.
Se pueden estudiar muestras inorgnicas rgidas hasta muestras biolgicas blandas.
 FUNCIONAMIENTO

Se divide en dos clasificaciones:

1. modos de contacto continuo
2. modos dinmicos
Modo contacto continuo
Es el diseo experimental mas simple. La punta de la sonda esta en contacto con la muestra por
lo que tambin se llama modo esttico.
Modo contacto continuo

La variable de control es la deflexin de la micro palanca. La variable de control es mantenida

constante por medio de un circuito de retroalimentacin.
El escner debajo de la muestra se encarga de moverla en x o y para analizar distintas lneas.
La micro palanca al interactuar con la muestra sufre una deflexin proporcional a la fuerza de
interaccin con la superficie.
La seal de deflexin es leda en el foto detector y transmitida a la caja electrnica donde se
compara el valor actual con el de setpoint.
De acuerdo con la diferencia la caja electrnica enva una seal al escner para ajustar la
posicin z de la muestra para mantener la variable control constante. Como consecuencia de
las exploraciones en ejes x y y y los cambios en z se genera una imagen topogrfica de la
superficie de la muestra.
Modo contacto continuo

Muestras: metales, xidos de metales, grafito altamente orientado y muestras inorgnicas

rgidas.
Aplicaciones: Es posible realizar determinaciones espectroscpicas de fuerza, estudio de
conductividad elctrica de muestras.
METODO DINAMICO

Para evitar los problemas intrnsecos del modo contacto fue propuesta la idea
de oscilar la micro palanca sobre la muestra. Para reducir la interaccin entre
sonda y muestra.
Se necesita un esfuerzo tcnico adicional y en el anlisis de resultados.
Adems se disminuye el desgaste de la punta y la muestra, as como el
problema de los saltos.
Ventajas: movimiento de la punta es sensible tanto a fuerzas como a
gradientes de fuerzas, tambin e obtiene informacin mas amplia de la
interaccin como la amplitud de la oscilacin, la frecuencia y cambios de fases.