Prinsip

Kerja Alat

Kerugian dan Proses

Kelebihan
TEM Terjadinya

Gambar
Hasil
( Sumber : http://nurazizoctoviawan.blogspot.com )
( Sumber : http://nurazizoctoviawan.blogspot.com )
 Diffraction
Contrast

Scanning
Phase
Transmission
Contrast
Electron
Microscopy
Sinyal
utama yang
ditangkap /
dihasilkan
dari TEM
Electron
Energy Loss
Mass/Thickness
Spectroscopy
Contrast
(EELS +
EFTEM)

.
Characteristic
X-ray (EDS)

(sumber: hk-phy.org)
 Proses
Terjadinya TEM

• Virtual Source di bagian atas

1. menghasilkan elektron monokromatik.

• Aliran elektron difokuskan pada berkas

2.

• Berkas dibatasi oleh aperture dari

3. kondensor

• Berkas elektron menumbuk spesimen.

4.

• Difokuskan lensa objektif menjadi

5. sebuah gambar

•Melalui intermedit proyektor dan diperbesar

6.

•Gambar-gambar membentur layar fosfor

7.

http://www.microscopy.ethz.ch/TEM.htm
 Persiapan sampel
Kerugian perlukan banyak
TEM waktu
Keuntungan
TEM
 DAFTAR PUSTAKA
hk-phy.org
http://nurazizoctoviawan.blogspot.com
http://nurazizoctoviawan.blogspot.com
http://www.microscopy.ethz.ch/TEM.htm
www.google.com/images:elektron mikroskop
TERIMA KASIH