Anda di halaman 1dari 36

GELOMBANG DAN OPTIK

KELOMPOK 01 1. FITRIANI UTAMI PUTRI


2. REFORWANDI
3. REVA YOLANDA
4. YERNIS
5. YOLLA NOVITA PUTRI
DIFRAKSI

Difraksi adalah pembelokan cahaya bila


mengenai suatu pengahalang, misalnya
tepi celah, kawat atau benda-benda lain
yang bertepi tajam.
Difraksi pertama kali ditemukan oleh Francesco M. Grimaldi
(1618-1663) dan gejala ini juga diketahui oleh Huygens
(1620-1695) dan Newton (1642-1727). Akan tetapi, Newton
tidak melihat adanya kebenaran tentang teori gelombang
disini, sedangkan Huygens yang percaya pada teori
gelombang tidka percaya pada difraksi. Oleh karena itu, dia
tetep menyatakan bahwa cahay berjalan lurus. Fresnel
(1788-1827) secara tepat menggunakan teori Huygens, yang
disebut prinsip Huygens-Fresnel untuk menerangkan
difraksi.
Difraksi FRESNEL dan FRAUNTHOFER

difraksi Fraunhofer, yaitu difraksi dengan


sumber cahaya dan layar penerima berada
pada jarak tak terhingga dari benda penyebab
difraksi, sehingga muka gelombang tidak lagi
diperlakukan sebagai bidang sferis, melainkan
sebagai bidang data

difraksi ini melibatkan berkas cahaya sejajar.


• Beda lintasan ke titik P adalah (d/2) sinθ,
dengan θ adalah sudut antara garis tegak lurus
terhadap celah dan garis dari pusat celah ke P.
Jadi, pola gelap (difraksi minimum) terjadi jika:

d.sin θ = n. λ ;
n = 1, 2, 3 ……………………………… (1)

Pola terang (difraksi maksimum) terjadi bila:

d.sin θ = (n- 1/2) λ;


n = 1, 2, 3 ……………………… (2)
Macam-Macam Difraksi

Difraksi Frensel : Jarak Difraksi Fraunhofer: Letak


sumber ke celah dan celah sumber cahaya dan layar
ke layar dekat berkas tidak jauh sekali dari celah.
perlu sejajar celah lebar Berkas yang memasuki
dan tidak sempit. Topik celah harus sejajar dan
yang dibicarakan adalah yang keluar dari celah
difraksi oleh : lubang bulat, harus sejajar. Topik yang
celah persegi, penghalang akan dibicarakan adalah
berbentuk piringan dan difraksi oleh Celah tunggal
penghalang berbentuk (single slit), Lubang bulat
lancip (tajam). (circular aperture), Dua
celah sempit dan Kisi (celah
banyak).
INGAT !!!
• jika sebuah difraksi fresnel ditempatkan lensa
cembung pada sinar yang masuk dan sinar
yang keluar dari celah maka sinar dianggap
sejajar dan disebut sebagai difraksi faunhofer.
Difraksi Faunhofer Celah Tunggal

Kondisi untuk interferensi Kondisi untuk interferensi


destruktif oleh cahaya dari destruktif oleh cahaya dari
titik-titik yang terpisah titik-titik yang terpisah
sejauh a/2: a/2 sin θ = λ/2 sejauh a/4: a/4 sin θ = λ/2.

Kondisi untuk interferensi


destruktif oleh cahaya dari
titik-titik yang terpisah
sejauh a/2m (m = non-zero
integer) :a/2m sin θ = λ/2
• Sehingga, kondisi umum untuk interferensi
destruktif :

(m = ±1, ±2, ±3,. .) sin θ = m (λ/a)


Kisi Difraksi
• Suatu kisi difraksi terdiri dari sejumlah besar
celah sejajar yg serba sama. Kisi dapat dibuat
dengan membuat goresan-goresan halus pada
sekeping kaca.

Kisi Refleksi (Reflection


Kisi transmisi (Transmission
grating) – Suatu kisi dengan
grating) – Suatu kisi dengan
celah yang memantulkan
celah yang memugkinkan
cahaya .
cahaya dapat melewatinya.
• Pola difraksi maksimum (garis terang) terjadi jika:

• Pola difraksi minimum (garis gelap) terjadi jika:


Keterangan:
N = banyak goresan (celah) tiap satuan panjang (m)
d = jarak antar celah kisi (m)
θθ = sudut deviasi
p = jarak antara terang pusat ke gelap ke- atau terang
ke-
l = jarak antara kisi ke layar
m = orde difraksi (m = 1, 2, 3, ... )
n m = 0 menyatakan orde ke nol (terang pusat)
n m = 1 menyatakan orde terang ke satu (terang ke
satu), orde gelap pertama
Difraksi Fraunhofer Celah Ganda

• Pada pola intensitas gelombang interferensi semua titik


terang mempunyai amplitudo yang sama. Pola intensitas
pada difraksi mempunyai amplitudo yang makin lama
makin lemah. Kombinasi dari kedua amplitudo ini
menghasilkan pola campuran antara difraksi dan
interferensi

Terjadi gabungan antara difraksi celah


dengan interferensi dari kedua buah celah.
Interferensi masuk dalam pola difraksi
sehingga pada suatu tempat terdapat pola
interferensi maksimum yang tidak terlihat
disebut orde yang hilang (missing orde’s).
Difraksi Fresnel

Fresnel Number
Difraksi fresnel terjadi bila
didefinisikan
sumber gelombang dan titik
sebagai:
pengamatan yang berada
dekat dengan lubang atau
penghalang yang akan
mendifraksikan gelombang
datang. Fresnel number
F, merupakan besaran tanpa F=a2/Lλ
satuan, terdapat pada optika
dan pada beberapa teori
difraksi.
Keterangan

• λ merupakan panjang gelombang,


• a adalah ukuran yang memiliki karakteristik
(misalnya:jari-jari) dari sebuah penghalang
• L merupakan jarak dari sumber menuju layar
a. Difraksi Fresnel oleh sebuah lubang bulat

• Menurut huygens muka gelombang itu dapat dibagi-bagi menjadi


elemen-elemen permukaan yang berbentuk cincin-cincin dengan
pusatnya di Q. Proyeksi titik P di bidang S yang merupakan muka
gelombang. Maka gelombang di P dinyatakan sebagai superposisis
gelombang gelombang yang datang dari setiap cincin.

Elemen-elemen
permukaan ini
dinamakan daerah
(zona) Fresnel, dengan r1 – r0 = π
cara membuat garis-
garis r0, r1, r2, dst.
r2 – r1 = π dst.
yang berurutan selalu
berbeda ½ π, yaitu :
b. Difraksi Fresnel oleh Piringan
• Jika lubang berjari-jari a diganti dengan piringan,
maka ada kemungkinan beberapa daerah Fresnel
tertutup oleh piringan, sehingga pengiriman
cahaya ke titik pengamatan dimulai dari daerah
yang tidak tertutupi.

Pola difraksi yang terjadi sama dengan pola


difraksi oleh lubang, tetapi bagvia
tengahyang merupakan pusat bayangan
geometris sselalu tedapat titik terang, karena
titik ini selalu memperoleh cahaya dari daerah
Freesnel yang tidak tertutupi
Difraksi Sinar-X
• Difraksi sinar-X merupakan teknik yang digunakan
untuk menganalisis padatan kristalin. Sinar-X
merupakan radiasi gelombang elektromagnetik dengan
panjang gelombang sekitar 1 Å, berada di antara
panjang gelombang sinar gama (γ) dan sinar ultraviolet.
Sinar-X dihasilkan jika elektron berkecepatan tinggi
menumbuk suatu logam target
• Transisi Kα lebih mungkin terjadi dan memiliki
intensitas yang lebih tinggi daripada transisi
Kβ, sehingga radiasi Kα yang digunakan untuk
keperluan difraksi sinar-X. Sinar-X juga dapat
dihasilkan oleh proses perlambatan elektron
pada saat menembus logam sasaran.
Terdapat beberapa jenis pancaran panjang gelombang yang
dihasilkan dengan intensitas yang berbeda, dimana panjang
gelombang Kα1 memiliki intensitas yang lebih tinggi, sehingga
digunakan dalam difraksi sinar-X.

• Untuk sinar-X dari tabung tembaga, biasanya


digunakan lembaran nikel sebagai filter. Nikel
sangat efektif dalam meneruskan radiasi Cu Kα,
karena radiasi Cu Kβ memiliki cukup energi untuk
mengionisasi elektron 1s Nikel, sedangkan radiasi
Cu Kα tidak cukup untuk mengionisasi. Dengan
demikian, lembaran nikel tersebut akan
mengabsorpsi semua panjang gelombang
termasuk radiasi putih, kecuali radiasi Cu Kα.
Hukum Bragg
• Menurut pendekatan Bragg, kristal dapat
dipandang terdiri atas bidang-bidang datar (kisi
kristal) yang masing-masing berfungsi sebagai
cermin semi transparan.

Perumusan secara matematik dapat


dikemukakan dengan
menghubungkan panjang gelombang
sinar-X, jarak antar bidang dalam
kristal, dan sudut difraksi:

nλ = 2d sin θ
(Persamaan Bragg)
• λ = panjang gelombang sinar-X,
• d = jarak antar kisi kristal,
• θ = sudut datang sinar, dan
• n = 1, 2, 3, dan seterusnya adalah orde
difraksi.
Persamaan Bragg tersebut digunakan untuk
menentukan parameter sel kristal. Sedangkan
untuk menentukan struktur kristal, dengan
menggunakan metoda komputasi kristalografik,
data intensitas digunakan untuk menentukan
posisi-posisi atomnya.
• Pemantulan berkas sinar-X monokromatis oleh dua bidang kisi
dalam kristal, dengan sudut sebesar θ dan jarak antara bidang
kisi sebesar dhkl
Difraksi Sinar-X Serbuk

• Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur


suatu padatan kristalin, adalah metoda difraksi sinar-X serbuk
(X-ray powder diffraction).

Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki


sejumlah besar kristal kecil dengan diameter butiran kristalnya
sekitar 10-7 – 10–4 m ditempatkan pada suatu plat kaca dalam
difraktometer seperti terlihat pada Gambar 4.
• Tabung sinar-X akan mengeluarkan sinar-X yang yang
difokuskan sehingga mengenai sampel oleh pemfokus,
detektor akan bergerak sepanjang lintasannya, untuk
merekam pola difraksi sinar-X.

Pola difraksi yang dihasilkan berupa deretan puncak-puncak


difraksi dengan intensitas relatif yang bervariasi sepanjang nilai
2θ tertentu. Besarnya intensitas relatif puncak dari deretan
puncak tersebut bergantung pada jumlah atom atau ion yang
ada, dan distribusinya di dalam sel satuan material tersebut
Pola difraksi setiap padatan kristalin khas,
yang bergantung pada kisi kristal, unit
parameter, dan panjang gelombang sinar-X
yang digunakan. Dengan demikian, sangat
kecil kemungkinan dihasilkan pola difraksi
yang sama untuk suatu padatan kristalin yang
berbeda.
Metode Le Bail

• Pada pola difraksi sinar-X serbuk sering terjadi adanya overlap


pada puncak difraksi terutama pada nilai 2θ yang tinggi.

Dengan adanya overlap tersebut menyebabkan sulitnya


pemisahan intensitas dari tiap-tiap pemantulan sinar, sehingga
penentuan struktur sukar dilakukan.

Namun, dengan metoda Rietveld, kini dimungkinkan untuk


menentukan struktur kristal, terutama untuk struktur yang
relatif sederhana, dari data difraksi serbuk.
Sebagai langkah awal penggunaan metoda Rietveld, sering digunakan
metoda Le Bail. Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai puncak
difraksi dihitung dengan hanya menggunakan parameter sel satuan
dan parameter yang mendefinisikan puncak. Dari analisis Le Bail akan
didapatkan parameter sel dan plot Le Bail mirip plot Rietveld
• Sebuah kisi defrkasi dengan konstanta kisi 500 garis/cm digunakan
untuk mendefraksikan cahaya. pada layar yang berjarak 1 m dari
kisi. jika jarak antara dua garis terang berurutan pada layar 2,4 cm.
maka panjang gelombang cahaya yang digunakan adalah.....(UN
2011)
a. 400 nm c. 480 nm e. 600 nm
b. 450 nm d. 560 nm
Diketahui :
d = 1/N = 1/500 cm = 2.10-3 cm = 2.10-5 m
m=1
l=1m
p = 2,4 cm = 2,4 . 10-2 m
ditanyakan
λ = .......
jawab :
PERTANYAAN
• ARIN : MENJELASKAN MENGENAI CELAH
GANDA
• SUSTRI : PERBEDAAN DIFRAKSI Fraunhofer
DAN Fresnel