Anda di halaman 1dari 22

DIFFRACTOM

ETER
( XRD )
Oleh

Melyawati (D1121171002)
Nur Ilma (D1121171011)
Nurul Hafiza (D1121171012)
Rian (D1121171017)
Fifi Ariani (D1121161017)
Boketa (D1121161001)
SEJARAH X-RAY Ditemukan pertama kali oleh
Roentgen (Wilhelm Conrad Roentgen),
seorang profesor fisika dan rektor Universitas
Wuerzburg di Jerman pada tahun 1895.

Pada saat ditemukan, sifat-sifat


sinar-x tidak langsung dapat
diketahui. Sifat-sifat alamiah (nature)
sinar-x baru secara pasti ditentukan
pada th 1912 seiring dengan
penemuan difraksi sinar-x.
Difraksi sinar-x ini dapat “melihat” atau “membedakan”
objek yang berukuran kurang lebih 1 angstroom.
PENGERTIAN
Sinar x merupakan radiasi elektromagnetik dengan 
panjang gelombang sekitar 1 angstoom, letaknya antara 
sinar UV dan sinar Gamma.
merupakan  alat  yang  digunakan  untuk 
mengkarakterisasi  struktur  kristal,  ukuran 
kristal dari suatu bahan padat. 

merupakan teknik analisis non­destruktif untuk 
mengidentifikasi  dan  menentukan  secara 
kuantitatif  tentang  bentuk­bentuk  berbagai 
kristal

XRD Radiasi elektromagnetik yang memiliki energi 
yang tinggi sekitas 200 eV­1 Mev.
Spektrum panjang gelombang 10^5 nm­10 nm. 
Frekuensi 1017 Hz­10120 Hz

Identifikasi  diperoleh  dengan 


membandingkan pola difraksi dengan sinar­X
PRINSIP XRD
 Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yang
melalui celah kristal. Difraksi cahaya oleh kisi-kisi
atau kristal ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut
berasal dari radius yang memiliki panjang
gelombang yang setara dengan jarak antar atom,
yaitu sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang digunakan
berupa radiasi sinar-X, elektron, dan neutron.
INTERAKSI SINAR X
DENGAN SAMPEL
 Berdasarkan  hukum  Bragg,   kristal  dapat  dipandang 
terdiri atas bidang­bidang datar (kisi kristal). 
INSTRUMENTASI
Komponen­komponen  utama  yang  terdapat  pada  XRD,  diantaranya 
adalah  tabung  elektron,  monokromator,  filter,  sampel  holder  dan 
detector
 Tabung elektron
Tabung elektron merupakan tempat pembentukan
elektron yang digunakan untuk menumbuk plat logam
sehingga menghasilkan sinar-X.

Sumber Sinar
Sinar X dihasilkan dari penembakan target (logam anoda) oleh
elektron berenergi tinggi yang berasal dari hasil pemanasan
filamen dari tabung sinar X (Rontgen). Tabung sinarX tersebut
terdiri atas empat komponen utama, yakni
filamen (katoda) yang berperan sebagai sumber elektron,

ruang vakum sebagai pembebas hambatan

target sebagai anoda

sumber tegangan listrik


Proses terjadinya
sinar-X • Di dalam tabung roentgent ada katoda
dan anoda dan bila katoda (filament)
dipanaskan lebih dari 20.000 OC sampai
menyala dengan mengantarkan listrik
dari transformator
• Karena panas maka elektron-elektron
dari katoda terlepas
• Dengan memberikan tegangan tinggi
maka elektron-elektron dipercepat
gerakannya menuju anoda (target)
• Elektron-elektron mendadak dihentikan
pada anoda (target) sehingga terbentuk
panas (99%) dan sinar X (1%)
• Sinar X akan keluar dan diarahkan dari
tabung melalui jendela yang disebut
diafragma.
Tumbukan Elektron
dengan Target

 merupakan  komponen  yang  berperan  untuk 
Monokrom
mengubah berkas polikromatik menjadi masing­
ator
masing berkas monokromatik. 

 Filter
 berguna  untuk  menyaring  sebagian  berkas  cahaya  yang  tidak 
diinginkan  yang  dapat  mengganggu  analisa  data  karena  menciptakan 
gangguan ( noise ). Filter dapat terbuat dari logam yang berbeda dengan 
logam yang terdapat pada tabung elektron, sebagai contoh nikel. 
Sampel holder
 merupakan  tempat  untuk  meletakan  sampel  yang  akan  dianalisa. 
Sampel  dapat  diletakan  dalam  berbagai  orientasi  untuk 
mendapatkan sudut difraksi.

Sampel
 Material  uji  (spesimen)  dapat  digunakan  berupa 
padatan, serbuk (kristal­kristal kecil) atau dalam 
bentuk kumparan
 Diletakkan  dalam  sampel  holder  dan  dipres 
untuk meratakan permukaan
Detektor
FUNGSI : 
Merekam  dan  memproses  sinyal 
sinar    X  dan  mengolahnya  dalam 
bentuk grafik 
Contoh Difraktogram XRD
“Kristal CdSe”
Contoh Difraktogram
XRD “Amorf”
INTERPRETASI
DATA
INTERPRETASI
DATA
APLIKASI
 Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf
 Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
 Karakterisasi material kristal
 Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
 Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:


 Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
 Analisis kuantitatif dari mineral
 Karakteristik sampel film