X-RAY FLUORESCENCE (XRF)

X-RAY FLUORESCENCE (XRF)

• XRF (X-ray fluorescence) merupakan teknik analisa non-destruktif
yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi
elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair.
• Analisis unsur di lakukan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis
kualitatif dilakukan untuk menganalisi jenis unsur yang terkandung
dalam bahan dan analisis kuantitatif dilakukan untuk menentukan
konsentrasi unsur dalam bahan.
• Unsur yang dapat dideteksi berkisar dari Mg sampai Uranium pada
level trace element, bahkan dibawah level ppm.
• XRF banyak digunakan untuk mengkarakterisasi unsur secara cepat di
laboratorium ataupun lapangan.
Prinsip Analisis XRF
• Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan
karakteristik sinar-X yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi
karena electron dalam atom target pada sample terkena sinar berenergi tinggi
(radiasi gamma, sinar-X). Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan
mentransfer energinya pada elektron yang terdapat pada kulit yang lebih dalam
disebut efek fotolistrik.
• Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray atau
sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau
dihamburkan oleh material.
PRINSIP KERJA XRF
….

Elektron yang berada

Radiasi di kulit K akan
elektromagnetik yang memiliki energi
Menembakkan
dipancarkan akan kinetik yang cukup
radiasi foton
berinteraksi dengan untuk melepaskan
elektromagnetik ke
elektron yang berada diri dari ikatan inti,
material yang diteliti.
di kulit K suatu sehingga elektronitu
unsur. akan terpental
keluar.
1. Elektron di kulit K terpental keluar dari
atom akibat dari radiasi sinar X yang datang.
Akibatnya, terjadi kekosongan/vakansi
elektron pada orbital. Selama proses ini,
bila sinar-X primer memiliki cukup energi,
elektron pindah dari kulit yang di dalam
menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini
menghasilkan keadaan atom yang tidak
stabil.
 2. Apabila atom kembali pada keadaan
stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit
yang lebih dalam dan proses ini menghasilkan
energi sinar-X yang tertentu dan berbeda
antara dua energi ikatan pada kulit tersebut.
• Emisi sinar-X dihasilkan dari proses yang
disebut X Ray Fluorescence (XRF).
• Proses deteksi dan analisa emisi sinar-X
disebut analisa XRF.
• Pada umumnya kulit K dan L terlibat pada
deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah
Kα dan Kβ serta Lα dan Lβ pada XRF. Jenis
spektrum X ray dari sampel yang diradiasi
akan menggambarkan puncak-puncak pada
intensitas yang berbeda
Contoh Spektra Hasil XRF
 KELEBIHAN KEKURANGAN

Cukup mudah, murah dan analisanya cepat Tidak cocok untuk analisa element yang ringan
seperti H dan He

Jangkauan elemen Hasil analisa akurat Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas
helium yang cukup besar

Mudah digunakan dan Sample dapat berupa Preparasi sampel biasanya membutuhkan
padat, bubuk (butiran) dan cairan waktu yang cukup lama dan memebutuhkan
perlakuan yang banyak

Tidak merusak sample (Non Destructive Test), tidak dapat menentukan struktur dari atom
sample utuh dan analisa dapat yang membentuk material itu.
dilakukan berulang-ulang

Membutuhan sedikit sampel pada tahap

preparasinya(untuk Trace elemen)