Anda di halaman 1dari 16

ANALISA INSTRUMENT 2

INSTRUMENT XRD & XRF

1. Rofilian Julizen
18036021
2. Dwi Hartati
18036029

UNIVERSITAS NEGERI PADANG


2021
INSTRUMENTASI XRD (X-Ray
Diffraction) 3.
2.
Tempat Detektor
sampel

1.
Tabung sinar x
1.
Tabung sinar x

 Di dalam tabung ada katoda dan


anoda. Anoda (logam
 Jika ke dalam tabung dialiri listrik, target).

maka katoda akan melepaskan


elektron yang bergerak dengan Katoda

kecepatan tinggi yang bergerak


menuju anoda.
 Berkas elektron akan mengenai logam
target
 Kemudian logam target akan
mengemisikan sinar
 Sehingga terbentuknya sinar x
2.
Tempat sampel.

 Tempat objek berisi sampel yang akan


dianalisis oleh specktrometer XRD
 Syarat sampel yang dianalisis : serbuk (kristal-
kristal kecil), dalam bentuk kumparan.
 Sampel dapat diletakan dalam berbagai
orientasi untuk mendapatkan sudut difraksi.
3.
Detektor

 Fungsi dari detektor merekam dan memproses


sinyal sinar x dan mengolahnya dalam bentuk
grafik.

 Mendeteksi berkas cahaya yang terdifraksi pada


sudut-sudut tertentu dengan intensitasnya
masing-masing. Berkas cahaya yang mengalami
difraksi terekam pada pita.
Praktek pengujian sampel dengan XRD.
Menganalisa spektrun XRD
Tahapan interprestasi data spectra XRD untuk menentukan struktur Kristal.
Contoh spectrum XRD
X-Ray Fluorescence Analysis
(XRF)
Teknik fluoresensi sinar x (XRF) merupakan suatu teknik
analisis yang dapat menganalisa unsur-unsur yang
membangun suatu material.
Teknik ini juga dapat digunakan untuk menentukan
konsentrasi unsur berdasarkan pada panjang gelombang
dan jumlah sinar x yang dipancarkan kembali setelah
suatu material ditembaki sinar x berenergi tinggi.
PRINSIP KERJA
 Menembakkan radiasi foton elektromagnetik ke
material yang diteliti.
 Radiasi elektromagnetik yang dipancarkan akan
berinteraksi dengan elektron yang berada di kulit
K suatu unsur.
 Elektron yang berada di kulit K akan memiliki
energi kinetik yang cukup untuk melepaskan diri
dari ikatan inti, sehingga elektron itu akan
terpental keluar.
Prinsip Kerja XRF

 Pada teknik XRF, diggunakan sinar-X dari tabung


pembangkit sinar-X untuk mengeluarkan electron
dari kulit bagian dalam untuk menghasilkan sinar-
X baru dari sample yang di analisis.
 Untuk setiap atom di dalam sample, intensitas
dari sinar-X karakteristik tersebut sebanding
dengan jumlah (konsentrasi) atom di dalam
sample.
 Intensitas
sinar–X karakteristik dari setiap
unsur, dibandingkan dengan suatu standar
yang diketahui konsentrasinya, sehingga
konsentrasi unsur dalam sample bisa
ditentukan.
SYARAT SAMPEL
SUMBER CAHAYA
Thank You

Anda mungkin juga menyukai