Daniel Pottker
Daniel Pottker
Daniel Pottker
Daniel Pottker
Daniel Pottker
Daniel Pottker
Desenvolvimento e interpretao das cartas de controle por variveis: Passo 1: Criao da carta e coleta de dados Passo 2: Clculo dos limites de controle Passo 3: Interpretao da estabilidade do processo Passo 4: Interpretao da capacidade do processo
Daniel Pottker
Daniel Pottker
Daniel Pottker
10
Daniel Pottker
11
AMPLITUDE
R = R / nR = 5,00
4,00 3,00 2,00 1,00 0,00
SUBGRUPO
HORA DATA
Amostras Racionais
Daniel Pottker
1 2 3 4 5 Soma= X= R= Leituras
5,40 4,80 7,20 4,70 4,50 6,20 6,30 4,60 4,30 5,70 5,50 4,00 5,60 6,90 5,30 5,10 6,00 5,10 6,80 5,40 4,80 4,10 6,60 4,40 5,30 27,0 25,2 29,1 27,1 26,2 5,40 5,04 5,82 5,42 5,24 1,40 2,30 2,60 2,60 1,20
Mdia
Amplitude 12
X=
X1 + X2 +.......+ Xk k
n
R=
R1 + R2 +.......+ Rk k
n
X
i !1
X R
i !1
Daniel Pottker
13
CARTA DA MDIA
8,00 7,50 7,00 6,50 6,00 5,50 5,00 4,50 4,00 3,50 3,00 2,50
R = R / nR = AMPLITUDE 5,00
4,00 3,00 2,00 1,00 0,00
2,407
Daniel Pottker
14
X = x / nx
5,050
CARTA DA MDIA
LSC X = X LIC X =
R = R / nR = 2,407
LSCR = D4 x R
AMPLITUDE
2,50
5,00
4,00 3,00 2,00 1,00 0,00
LSCR = R
15
Daniel Pottker
16
Ponto mal calculado ou mal marcado. A variabilidade da pea-a-pea ou a disperso da distribuio aumentou. O sistema de medio mudou (inspetor dispositivo). Falta descriminao adequada no sistema de medio.
Abaixo:
Ponto mal calculado ou mal marcado. A variabilidade da pea-a-pea ou a disperso da distribuio diminuiu. O sistema de medio mudou (inspetor dispositivo). Falta descriminao adequada no sistema de medio.
Daniel Pottker Controle Estatstico do Processo 17
Mau funcionamento do equipamento Fixao com folga. Um novo lote de matria-prima menos uniforme. Mudana no sistema de medio.
7 pontos consecutivos abaixo da mdia ou tendncia decrescente. A menor disperso dos dados, geralmente uma boa condio, que deveria ser estudada para aplicao mais ampla.
Daniel Pottker
19
X = mdia X =
1,00 0,95 0,90 0,85 0,80 0,75 0,70 0,65 0,60 0,55 0,50 0,50 0,40 0,30 0,20 0,10 0,00
0 0 0 0 0
0,733
0,835
0,630
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Amplitudes
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Daniel Pottker
21
(Cont.)
O imediatismo importante na anlise dos problemas. Um dirio de bordo do processo uma fonte de informao til para a identificao de causas especiais. importante enfatizar que o tratamento dos problemas a parte mais difcil e a que consome mais tempo. Uma equipe deveria ser constituda e a aplicao de ferramentas da qualidade tal como, diagrama de Pareto de causa e efeito, deveria ser requerido.
Daniel Pottker
22
Daniel Pottker
23
X = mdia X =
1,00 0,95 0,90 0,85
0,716
0,81924
0,613
0,80
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
0 0
0 0
0 0
R = mdia de R =
0,50 0,40 0,30
0,178
LSC: D4 x R =
0
0,376
LIC: D3 x R =
0,00
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
0 0 0
Daniel Pottker
0 0
0 0 0 0 0 0 0 0 0
24
24
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
25
X = mdia X =
1,00 0,95 0,90 0,85 0,80
0
0,733
0,835
0,630
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
R = mdia de R =
0,50 0,40 0,30
0,177
LSC: D4 x R =
0,373
LIC: D3 x R =
0,00
0 0 0 0 0 0 0 0
0 0
Daniel Pottker
0 0 0 0 0 0 0
25
15 16 17 18 19 20 21 22 23
10
11
12
13
14
Daniel Pottker
26
R) d2
27
Exerccio
Daniel Pottker
28
Daniel Pottker
29
Estabilidade x Capacidade
ESTVEL
NO CAPAZ
ESTVEL
Daniel Pottker Controle Estatstico do Processo
CAPAZ
30
O Processo est estatisticamente estvel As medies individuais do processo esto conforme uma distribuio normal As especificaes de engenharia representam precisamente as necessidades dos clientes, O alvo projetado o meio da tolerncia especificada. Variao da medio relativamente pequena
Daniel Pottker
31
Histograma tpico: A curva mostrada aqui a normal, na qual a maioria das medidas concentram-se em torno da medida central e, a grosso modo, um igual nmero de
Daniel Pottker
32
Daniel Pottker
33
LSC X
LSC X
LIC
LIC
Daniel Pottker
34
Muitas vezes necessrio termos uma maneira simples e quantitativa de expressar a capacidade do processo.Uma maneira utilizar os ndices de capacidade que comparam os limites naturais do processo ou limites de controle com a amplitude da especificao do processo ou limites da especificao. muito importante salientar que somente deveremos utilizar ndices para avaliar um processo com histograma de curva normal, sem a presena de causas especiais. Caso contrrio, os valores encontrados no sero confiveis. Existem vrios ndices de capacidade do processo, isso se faz necesrio porque nenhum ndice pode ser universalmente aplicado para todos os processos e nenhum processo pode ser completamente descrito por apenas um ndice.
Daniel Pottker
35
Cp e Pp :Estes ndices indicam a potencial capacidade do processo, que poderia ser atingida se o processo estivesse centrado. Este ndice s deve ser utilizado para tolerncias bilaterais.
Processo descentrado
Processo centrado
Daniel Pottker
36
LIE
Centro
LSE
LIE
Centro
LSE
LIE
Centro
LSE
Daniel Pottker
37
dito que um processo est operando sob controle estatstico, quando as nicas fontes de variao vem das causas comuns. Uma funo do CEP, ento, fornecer um sinal estatstico que indique quando causas especiais de variao esto presentes. Mais usualmente, considera-se um processo capaz quando a sua ^ tolerncia igual ou maior que 6 W (sigma ou desvio Padro)
(R/d2)
Daniel Pottker
38
d2
n d2 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1,13 1,69 2,06 2,33 2,53 2,70 2,85 2,97 3,08
Daniel Pottker
39
Cp =
LIE Limite Inferior de Engenharia ^ Desvio Padro estimado (R/d2) = X Mdia do processo
Daniel Pottker
40
Sendo que o Cpk min decorre de uma das equaes abaixo. (a que apresentar menor valor). = X - LIE Cpk min = ^ 3.W (R/d2)
Equaes para encontrar o Cpk min.
LIE Limite Inferior de Engenharia ^ Desvio Padro estimado (R/d2) = X Mdia do processo
41
Daniel Pottker
Cp =
Daniel Pottker
42
Todos tm o Cp =
Daniel Pottker
43
Todos tm o Cp =
Daniel Pottker
44
Todos tm o Cp =
Daniel Pottker
45
Cp = Tolerncia de Engenharia
Tolerncia de Processo LSE LIE
Cpk =
3s
Cp =
Cpk =
Cp =
Cpk =
Cp =
Daniel Pottker Controle Estatstico do Processo
Cpk =
46
Nas figuras abaixo podemos verificar a localizao dos limites de controle conforme a capabilidade do processo considerando o processo centrado e sem a presena de causas especiais.
CPK = 1,33
LSE 1 2/3 1/3 1/3 2/3 1
LIC LSC
CPK = 2,00
LSE 1/2
LSC
CPK = 3,00
LSE 1 2/3 1/3 1/3
LSC x
1/2
x
x
1/2
LIC
2/3 1
LIC
1/2 LIE
LIE
LIE
Daniel Pottker
47
Na tabela abaixo podemos verificar a relao do ndice de capacidade do processo com outro ndice que mede a proporo de no conformidades, o PPM, utilizado tambm para medir a qualidade dos produtos fornecidos em nossos clientes.
Cpk = 1 = 1000 PPM Cpk = 1,33 = 100 PPM Cpk = 1,6 = 1 PPM
48
Daniel Pottker
49
Daniel Pottker
50
Daniel Pottker
51
Cartas X e s, assim como as cartas X e R, so desenvolvidas atravs da avaliao de dados resultados do processo em anlise, e so sempre usadas aos pares. Por facilitar o calculo, muito mais comum utilizar-se a carta X e R. O clculo do Desvio Padro (s) para as cartas X e s, apesar de mais preciso, especialmente para amostras de tamanho maiores que 9, apresenta mais complexidade no seu clculo e requer o uso de um sistema informatizado.
Daniel Pottker
52
a. Coleta de dados
Procedimentos idnticos a carta X e R
b. Desvio Padro
Calcule do Desvio Padro para cada subgrupo
s=
X i X
2
i !1
n -1
53
c. Limites de controle
n B4 B3 A3 2 3.27 * 2.66 3 2.57 * 1.95 4 2.27 * 1.63
LSCx = X + A3. s L I C x = X A 3. s
9 1.76 0.24 1.03 10 1.72 0.28 0.98
Daniel Pottker
54
^ Ws / C
^ W = s / C4
n c4
Daniel Pottker
55
Daniel Pottker
56
Daniel Pottker
57
~ Cartas X e R, assim como as cartas X e R, so desenvolvidas atravs da medio de resultados do processo, e so sempre usadas aos pares. Algumas vantagens:
No requer muito clculo. Isso pode facilitar a aceitao da fbrica A carta das medianas tambm permite uma leitura da disperso e da variao contnua do processo. O operador marca a carta com cada leitura individual, porm, os valores no precisam ser registrados.
Controle Estatstico do Processo 58
Daniel Pottker
a. Coleta de Dados
Procedimentos idnticos a carta X e R. Excees: Subgrupos de preferncia com tamanhos menores que 10. Tamanhos mpares so mais convenientes. Para tamanhos pares, fazer a mdia dos dois valores centrais. Marque as medies de cada subgrupo na linha vertical, e faa uma um crculo no ponto mediano de cada subgrupo.
Daniel Pottker
59
LSCx = X + A2. R LI C~ x
~ ~ = X - A 2. R
7 1.92 0.08 0.51 8 1.86 0.14 0.43 9 1.82 0.18 0.41 10 1.78 0.22 0.36
6 2.00 * 0.55
n d2
10
Daniel Pottker
61
Daniel Pottker
62
Daniel Pottker
63
Em alguns casos necessrio que o controle do processo seja baseado em leituras individuais, ao invs de subgrupos. Isso normalmente acontece quando os testes so caros (ex.: testes destrutivos), ou o resultado a qualquer tempo relativamente homogneo (ex.: PH de uma soluo qumica) Algumas consideraes:
Cartas de valores individuais no so to sensveis para a deteco de mudana no processo. Existindo apenas um valor individual por subgrupo, os valores de X podem ter variabilidade substancial (mesmo se o processo for estvel), at que o n de subgrupo seja maior de 100.
Daniel Pottker
64
a. Coleta de dados
Procedimentos idnticos a carta X e R.
Calcule a amplitude mvel (AM) entre os valores individuais Selecione a escala para a carta de valores individuais maior
que a tolerncia de especificao, ou uma vez e meia a duas vezes a diferena entre a maior e a menor leitura individual.
Daniel Pottker
65
D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 E2 2.66 1.77 1.46 1.29 1.18 1.11 1.05 1.01 0,98
Daniel Pottker
66
Daniel Pottker
68
Daniel Pottker
69